| 意味 | 例文 (4件) |
KFMとは 意味・読み方・使い方
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遺伝子名称シソーラスでの「KFM」の意味 |
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KFM
| human | 遺伝子名 | KFM |
| 同義語(エイリアス) | KFS; Klippel-Feil malformation | |
| SWISS-PROTのID | --- | |
| EntrezGeneのID | EntrezGene:3793 | |
| その他のDBのID | HGNC:6311 |
本文中に表示されているデータベースの説明
「KFM」を含む例文一覧
該当件数 : 4件
Note also that the name ``kfm'' is used even when using the konqueror command with KDE 2 -- the implementation selects the best strategy for running Konqueror.例文帳に追加
また、KDE 2でkonquerorコマンドを使うときにも、``kfm''が使われます -- Konquerorを動作させるのに最も良い方法が実装によって選択されます。 - Python
For instance, the reading is conducted by measuring a potential plane of each fullerene carbon molecule 11 by the use of an STS or a KFM.例文帳に追加
また、例えばSTSあるいはKFMを用いて、各フラーレン系炭素分子11の電位面を計測することにより読み出しを行う。 - 特許庁
To measure not only accurate surface potential in the measurement of KFM but also a change in the electric capacity of a depletion layer in the measurement of SCM by efficiently applying voltage only to a semiconductor layer or a metal layer being a measuring target.例文帳に追加
効率的に電圧を測定対象である半導体層または金属層のみに印加して、KFM測定では正確な表面電位を測定し、SCM測定では高感度な空乏層の電気容量変化を測定する。 - 特許庁
In the evaluation of the semiconductor device 1 provided with a semiconductor layer 2 and a metal layer 3, the surface potential of the semiconductor layer 2 and the surface potential of the metal layer 3 are measured by using the same cantilever 6 of a Kelvin probe force microscope (KFM).例文帳に追加
半導体層2及び金属層3を有する半導体装置1の評価において、ケルビンプローブフォース顕微鏡(KFM)の同一のカンチレバー6を使用して半導体層2の表面電位及び金属層3の表面電位を測定する。 - 特許庁
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