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MULTIPLE-REFLECTIONとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 多重反射; 繰返し反射
「MULTIPLE-REFLECTION」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 307件
PRODUCTION METHOD FOR MULTIPLE SIDED REFLECTION MIRROR, MULTIPLE SIDED REFLECTION MIRROR AND PROJECTION EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加
多面反射鏡の製造方法、多面反射鏡および投影露光装置 - 特許庁
LIGHT TRANSMISSION SYSTEM AND DETECTING METHOD OF MULTIPLE REFLECTION例文帳に追加
光伝送システムおよび多重反射の検出方法 - 特許庁
MULTIPLE REFLECTION TYPE CELL AND INFRARED-TYPE GAS DETECTOR例文帳に追加
多重反射式セルおよび赤外線式ガス検知装置 - 特許庁
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「MULTIPLE-REFLECTION」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 307件
Thus, it is possible to effectively suppress a spurious wave component caused by multiple reflection even on the occurrence of the multiple reflection.例文帳に追加
従って、多重反射が生じてもこれにより生じる不要波成分を効果的に抑圧することが可能になる。 - 特許庁
MANUFACTURE OF MULTIPLE LIGHT SOURCE FORMATION REFLECTION MIRROR AND OPTICAL DEVICE USING THE REFLECTION MIRROR例文帳に追加
多光源形成反射鏡の製造方法及び該反射鏡を用いた光学装置 - 特許庁
PRODUCTION OF MULTIPLE LIGHT SOURCE FORMING REFLECTION MIRROR AND OPTICAL DEVICE USING THIS REFLECTION MIRROR例文帳に追加
多光源形成反射鏡の製造方法及び該反射鏡を用いた光学装置 - 特許庁
MULTIPLE REFLECTION PRISM AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
複合反射プリズム及びこれを採用した光ピックアップ装置 - 特許庁
Further, following the multiple reflection judging process E5, a delete process E6 where a space code judged to be multiple reflection in the multiple reflection judging process is deleted, are provided.例文帳に追加
さらに、図1に示す例では、多重反射判定工程E5に続いて、当該多重反射判定工程によって多重反射と判定された空間コードを削除する削除工程E6を備えている。 - 特許庁
MULTIPLE REFLECTION INFLUENCE ELIMINATION METHOD AND DEVICE FOR ULTRASONIC WAVE SENSOR例文帳に追加
超音波感知器多重反射影響除去方法及び装置 - 特許庁
To provide a light transmission system and a detection method of multiple reflection which can detect the generation of the multiple reflection by an online base.例文帳に追加
多重反射の発生をオンラインで検出することの可能な光伝送システムおよび多重反射の検出方法を提供する。 - 特許庁
A reflection point specifying function (42) of a CPU (20) specifies the position of the reflection point which causes the multiple reflection from a measurement result of the OTDR measuring device (44) and a measurement result of the multiple reflection measuring device (10).例文帳に追加
CPU(20)の反射点特定機能(42)が、OTDR計測装置(44)の計測結果と多重反射計測装置(10)の計測結果とから多重反射をもたらす反射点の位置を特定する。 - 特許庁
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