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normal inspectionとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 なみ検査; 並検査
「normal inspection」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 332件
The vehicle diagnosis device 14 monitors an inspection state, continues the inspection when determining that the inspection state is normal, suspends the inspection when determining that the inspection state is not normal, and then resumes inspection when determining that the inspection state has become normal.例文帳に追加
車両診断装置１４では、検査状態を監視し、正常な検査状態であると判定した場合には検査を継続し、正常な検査状態ではないと判定した場合には検査を中断し、その後、正常な検査状態になったと判定した場合には検査を再開する。 - 特許庁
To securely and easily identify a faulty inspection point and a normal inspection point.例文帳に追加
不良が生じている検査ポイント、および正常な検査ポイントを確実かつ容易に認識させる。 - 特許庁
An inspection mode setter 101 selectively sets any of a normal inspection mode, a post-JAM treatment inspection mode, and an inspection mode with belt life determination.例文帳に追加
検査モード設定部１０１が通常検査モード、ＪＡＭ処理後検査モード、ベルト寿命判定付き検査モードのいずれかを選択的に設定する。 - 特許庁
The inspection according to the normal plan is the inspection usually taken according to the plan and in exact specified time.例文帳に追加
通常計画に従った査察は通常、計画に従い正確に指定された期日に行われる。 - 特許庁
To improve the efficiency of inspection by sharing an apparatus in normal lighting inspection and simple lighting inspection and reducing the replacement frequency of components.例文帳に追加
通常点灯検査と簡易点灯検査とで装置の共有化を図って部品の交換頻度を低減して、検査効率を向上させる。 - 特許庁
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normal inspection
「normal inspection」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 332件
An operation mode of a service control device 21 includes a normal mode for providing normal service, and an inspection mode different from the normal mode.例文帳に追加
運行制御装置２１の運転モードには、通常のサービスを提供するための通常モードと、通常モードとは異なる検査モードとが含まれている。 - 特許庁
A wiring-harness inspection apparatus 1 gives a signal sequentially to terminals 5 of a normal wiring harness 2, and the inspection data is generated.例文帳に追加
ワイヤハーネス検査装置１は正常なワイヤハーネス２の端子５に順に信号を与えて検査データを生成する。 - 特許庁
The inspection exceeding normal plan by informing in advance is the inspection outside the scope of plan when it is necessary but informing must be made in advance.例文帳に追加
事前通告による通常計画以外の査察は必要に応じて行われるが、事前通告がされねばならない。 - 特許庁
To provide a semiconductor device-inspecting method for comparing inspection data in detail in the different inspection temperatures of normal- temperature wafer inspection and high-temperature product shipment inspection, and for supplying a stable yield.例文帳に追加
常温ウエハ検査と高温製品出荷検査の異なる検査温度間での詳細な検査データ比較を行い安定した歩留まりを供給する半導体装置検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method where a normal burn-in inspection is performed and vain power may be reduced upon inspection and a semiconductor integrated circuit used therefore.例文帳に追加
正常なバーンイン検査を行うとともに、検査時の無駄な電力を削減できる検査方法、およびこれに用いられる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a surface inspection apparatus for performing a precise inspection based on a high-magnification image as needed while performing a normal high-speed inspection.例文帳に追加
通常は高速な検査を行いながら、必要に応じて高倍率の画像に基づく高精度な検査を行うことが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁
Accordingly, productivity can be improved by reducing the inspection time by normal lighting, and malfunction by normal use can be prevented.例文帳に追加
これにより、通常点灯による検査時間を短縮して生産性の向上と通常使用時の誤動作の抑制することができる。 - 特許庁
When inspection of the operation checking board is conducted by the board wiring inspection device, inspection (first inspection) in which the wiring of the prescribed pattern is regarded as normal is conducted to the wiring of the good piece regions, and inspection (second inspection) in which the wiring of the prescribed pattern is regarded as normal is also conducted to the wiring of the defective piece regions.例文帳に追加
そして、動作チェック用基板の検査を基板配線検査装置において行う場合、良ピース領域の配線については、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査（第１検査）が実施され、不良ピース領域の配線についても、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査（第２検査）が実施される。 - 特許庁
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