projection sとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 projectionの複数形。投射、 発射、 放射
「projection s」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 287件
The screens S 1 to S 9 of projection objects are allocated to the respective projectors P 1 to P 3.例文帳に追加
各プロジェクタP1〜P3には投影対象のスクリーンS1〜S9が割り当てられている。 - 特許庁
The ratio L/S of width L of the projection-shaped magnetic layer pattern in the circumferential direction thereof to an interval S between the projection-shaped magnetic layer patterns in the circumferential direction thereof is defined as L/S <1.例文帳に追加
突起状磁性層パターンの円周方向の幅Lと、突起状磁性層パターン同士の円周方向の間隔Sとの比L/SをL/S<1とする。 - 特許庁
The projector 107 projects a projection image S composed on one image screen.例文帳に追加
プロジェクタ107は、一画面構成の投影画像Sを投射する。 - 特許庁
To provide stable finger recess/projection information by improving the S/N ratio.例文帳に追加
S/N比を向上して安定した指の凹凸情報を得る。 - 特許庁
METAL GASKET OF S-SHAPED SECTION HAVING PROJECTION AND SEALING CONSTRUCTION例文帳に追加
突起部を有するS字形断面金属ガスケット及びシール構造体 - 特許庁
The plate thickness s for the mounting plate 70 is set lower than the projection height h of the engaging projection 26.例文帳に追加
取付板70の板厚sは、嵌合突部26の突出高さhよりも小さく設定される。 - 特許庁
Space S is provided between the 1st and the 2nd projection parts 52 and 53.例文帳に追加
第1及び第2の突起部52、53の間にスペースSを設ける。 - 特許庁
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「projection s」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 287件
Thus, impact force applied from the card is received by the projection(s).例文帳に追加
こうして、カードから加わる衝撃力を突起により受けるようにした。 - 特許庁
The projection surface S is arranged at the predetermined position of an XYZ three-dimensional coordinate system.例文帳に追加
投影面SをXYZ三次元座標系の所定位置に配置する。 - 特許庁
The slave projector S is constituted to acquire the projection data from the master projector M and to carry out projection by a projector 44 in accordance with the acquired projection data.例文帳に追加
スレーブプロジェクタSは、マスタプロジェクタMから投影データを取得し、取得した投影データに基づいて投影器44による投影を行うようになっている。 - 特許庁
For example, the projection data s(α_di, β_di, γ_di) is multiplied by the weighting coefficient.例文帳に追加
例えば、投影データs(α_di,β_di,γ_di)に乗算する加重係数ω_di=(ΔZ_ci+ΔZ_offset)/[(ΔZ_di+ΔZ_offset)+(ΔZ_ci+ΔZ_offset)]。 - 特許庁
An imaging data processing part 24 derives the inclination of the projector 1 to a projection surface S on the basis of a result (picked-up image) obtained by imaging the projection surface S by an imaging part 23.例文帳に追加
撮像データ処理部24は、撮像部23で投写面Sを撮像した結果(撮像画像)に基づいて、投写面Sに対するプロジェクタ1の傾斜を導出する。 - 特許庁
200 μm≥H≥50 μm, L≥100 μm, S≥40%, H: height of the projection part, L: (the outer periphery of the semiconductor element)-(the outer periphery of the projection part) and S: a ratio of the area of the upper face of the projection part to the area of the lower face of the semiconductor element).例文帳に追加
200μm≧H≧50μm L≧100μm S≧40% H:凸部の高さ L:(半導体素子の外周)−(凸部の外周) S:半導体素子の下面面積に対する凸部の上面面積の比率 - 特許庁
The projection part 3 has a shape that is tapered from the boundary surface S toward the distal end 32.例文帳に追加
突起部3は、境界面Sから先端32に向けて先細る形状を有している。 - 特許庁
It is preferable that the average diameter of the solid particles used for the projection is 10 to 300 μm, the projection speed is 30 to 300 m/s and the projection density is 0.2 to 40 kg/m^2.例文帳に追加
投射する固体粒子は、平均粒子径が10〜300μm、投射速度が30〜300m/s、投射密度が0.2〜40kg/m^2であることが好ましい。 - 特許庁
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