random inspectionとは 意味・読み方・使い方

A card 110b that is the inspection object is formed with the minute random pattern on the surface by mixing of minute elements.例文帳に追加

検査対象物であるカード１１０ｂには、微細阻止の混入により、表面に微細なランダムパターンが形成されている。 - 特許庁

To provide a two-probe Kelvin probe for being used for a circuit inspection in the case an electrode to be measured is arranged in a random order.例文帳に追加

被測定電極の配置がランダムの場合の回路検査に使用することのできる２探針ケルビンプローブを提供する。 - 特許庁

In a quality inspection device 110 of the inspection device 100, a plurality of species of articles are conveyed at random, and the articles of different species are inspected by a weighing conveyor 612.例文帳に追加

当該検査装置１００の品質検査装置１１０においては、複数種の物品がランダムに搬送され、該種類の異なる物品の検査を計量コンベア６１２にて行う。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of correctly distinguishing articles carried in at random and correctly determining the quality of the articles.例文帳に追加

ランダムに搬入される物品の識別を正確に行い、かつ当該物品の品質を正確に判定することができる検査装置を提供することである。 - 特許庁

When the time preset in an inspection time setting table comes, a random number generated by a random number generation routine is stored as the optional information of this time in an optional information table on a hard disk drive 110d.例文帳に追加

検査時刻設定テーブルにて予め設定された時刻が到来すると、乱数生成ルーチンによって生成された乱数がハードディスクドライブ１１０ｄ上の任意情報テーブルに今回の任意情報として記憶される。 - 特許庁

To provide an automatic chemical analyzer reducing a delay of inspection due to a simple error and improving efficiency and speed of data submission of an inspection department by providing a function storing the whole reaction process during an analysis, applied to a concentration calculation of a random sample by a random calibration result and recalculating it.例文帳に追加

分析時の全反応過程を記憶しておき、任意のキャリブレーション結果により任意の試料の濃度計算に適用し、再計算する機能を有することにより、単純ミスによる検査の遅れが減少し、検査室のデータ提出スピードアップ化や効率向上が図れる自動化学分析装置を実現する。 - 特許庁

A process ST 210 in which a value of a memory 101 is initialized before inspection is provided, after the value of the memory 101 is decided, a random pattern is applied to logic circuits 102, 103 accessing the memory 101 from a pseudo random pattern generation circuit 105.例文帳に追加

検査前にメモリ１０１の値を初期化する工程ＳＴ２０１を設けて、メモリ１０１の値を確定させた後に、メモリ１０１をアクセスする論理回路１０２，１０３に対して、擬似ランダムパタン発生回路１０５からランダムパタンを印加する。 - 特許庁

In step S2, a border of a random inspection shape is traced by sequentially determining a next searching direction, determining a next searching range, and selecting a template for a next borderline detection on the basis of geometric characteristics of an inspection object.例文帳に追加

次にステップＳ２において、検査対象の幾何学的特徴をもとに次探索方向の決定、次探索範囲の決定、次輪郭線検出のためのテンプレート選定を逐次行い任意検査形状の輪郭を追跡する。 - 特許庁