re focusingとは 意味・読み方・使い方

The two kinds of sequences consist of a pulse string which follows an ASE method where the echo times TE are mutually equal, re-focusing echo periods τ are mutually different (τ1 and τ2) and also echo signal collection start times are mutually different.例文帳に追加

この２種のシーケンスは、エコー時間ＴＥが相互に同じで、リフォーカスエコー期間τが相互に異なり（τ１、τ２）、かつエコー信号収集開始時刻が相互に異なるＡＳＥ法に従うパルス列でなる。 - 特許庁

By adjusting the phases of an RF excitation pulse 305 and an FR re-focusing pulse 307 in an FSE pulse sequence by a prescan process for the FSE pulse sequence, spatially invariant phase errors (zeroth order) are reduced.例文帳に追加

ＦＳＥパルス・シーケンス用のプレスキャン処理により、ＦＳＥパルス・シーケンス内のＲＦ励起パルス３０５及びＲＦ再集束パルス３０７の位相を調節して、空間的に不変な位相誤差（ゼロ次）を減少させる。 - 特許庁

The readout controller sequentially reads out time-series images related to a partial region RB including a focusing confirming region RG among the entire region RE of the imaging element 5 from the imaging element 5 in a predetermined photographing mode.例文帳に追加

読出制御手段は、所定の撮影モードにおいて、撮像素子５の全体領域ＲＥのうち合焦確認用領域ＲＧを含む一部領域ＲＢに関する時系列の画像を撮像素子５から順次に読み出す。 - 特許庁

An MRI instrument is provided with a scanning means for performing two respective kinds of sequences with mutually different parameters concerning the re-focusing of a spin in the blood vessel of a head part in a subject and collecting echo signals and a data processing means for processing the echo signals to suppress the blood vessel and generating the fMRI image where the cerebral cortex is emphasized.例文帳に追加

被検体頭部の血管のスピンのリフォーカスに関するパラメータが相互に異なる２種のシーケンスの夫々を実行してエコー信号を収集するスキャン手段と、エコー信号を処理して血管を抑制し且つ大脳皮質を強調したｆＭＲＩ画像を作成するデータ処理手段とを備える。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁

To accurately measure the position of patterns and the patterns by highly precisely matching the patterns over the entire surface of a flat sample without being influenced by the change of a parameter in an electro-optical system due to re-focusing when there is a distortion exceeding the focus depth in the electro-optical system on the flat sample, as to a method and a device for collating the patterns.例文帳に追加

本発明は、パターン照合方法およびパターン照合装置に関し、平坦試料上で電子光学系の焦点深度を超えた歪みがある場合などに再フォーカス合わせによる電子光学系のパラメータの変化による影響を受けることなく平坦試料の全面に渡って高精度にパターンマッチングしてパターンの位置およびパターン測長を正確に行うことを目的とする。 - 特許庁