retention testとは 意味・読み方・使い方

The control circuit 10 breaks electrical connection between the RAM 2 and other internal circuits 3 during the retention test.例文帳に追加

コントロール回路１０は、リテンションテスト中、ＲＡＭ２と他の内部回路３との間の電気的接続を遮断する。 - 特許庁

Thereby, increment of circuit elements is suppressed, the retention test accelerated with a voltage base can be performed easily.例文帳に追加

これによって、回路素子の増加を抑えて、電圧ベースで加速したリテンション試験を容易に行うことが可能となる。 - 特許庁

The measurement is made each in the presence or absence of load applied to the test piece of pleat and the retention ratio of pleat is calculated from the results.例文帳に追加

計測は、プリーツ試験片に対する荷重の有無それぞれに行い、その結果によりプリーツ率を算出する。 - 特許庁

To provide a method for testing horny layer retention, which can carry out the test by using a human skin and is excellent in safety.例文帳に追加

人の皮膚で試験することができ、しかも安全性の高い角層貯留性試験方法を提供すること - 特許庁

Four compression coil springs 38 are disposed vertically between the support plate 32 and the retention plate 35, with the compression coil springs 38 energizing the retention plate 35 toward a test head part 8.例文帳に追加

支持板３２と保持板３５の間に、４個の圧縮コイルばね３８を垂直方向に向けて配置し、保持板３５を圧縮コイルばね３８によりテストヘッド部８側に付勢する。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加

データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁

To improve reliability of a semiconductor apparatus by detecting efficiently a nonvolatile memory cell of defective retention in a screening test.例文帳に追加

スクリーニングテストにおいて、リテンション不良の不揮発性メモリセルを効率よく検出し、半導体装置の信頼性を向上させる。 - 特許庁