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recombination lifetimeとは 意味・読み方・使い方
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「recombination lifetime」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
PREPROCESSING METHOD FOR RECOMBINATION LIFETIME EVALUATION例文帳に追加
再結合ライフタイム評価の前処理方法 - 特許庁
To provide a preprocessing method for recombination lifetime evaluation in which a suitable recombination lifetime is measured by suppressing a recombination process on a wafer surface of a low-contamination and long-lifetime silicon wafer.例文帳に追加
低汚染で高ライフタイムのシリコンウェーハにおいてウェーハ表面での再結合過程を抑制し、適切な再結合ライフタイムが測定できるような前処理方法を提供する。 - 特許庁
To determine metal contamination in a wafer substrate by discriminating between surface recombination and recombination of the bulk, and discriminatingly measuring a recombination lifetime τ_r of minority carriers of the bulk.例文帳に追加
表面再結合とバルクの再結合とを区別することを可能とし、バルクの少数キャリアの再結合ライフタイムτ_r を区別して測定できる事を可能とし,ウェハ基板内の金属汚染であるかどうかの選別できるようにする。 - 特許庁
Consequently, the recombination performance of the metal catalyst is monitored and the lifetime and replacement timing of the metal catalyst are grasped.例文帳に追加
これにより、金属触媒の再結合性能を監視するとともに、金属触媒の寿命および交換時期を把握する。 - 特許庁
The recombination region (5) functions as a carrier capture region controlling the lifetime of carriers in the specified depth region (15) of the semiconductor substrate (1).例文帳に追加
再結合領域(5)は、半導体基板(1)の所定の深さ領域(15)でキャリアのライフタイムを制御するキャリア捕獲領域となる。 - 特許庁
To provide a life time measurement method of a silicon wafer capable of maintaining and measuring the passivation effect for controlling surface recombination over a long time in measuring the lifetime of a silicon wafer.例文帳に追加
シリコンウェーハのライフタイムを測定するに際し、長時間にわたり表面再結合を抑制するためのパッシベーション効果を持続して測定する方法を提供する。 - 特許庁
For example, contaminations which are considered to be produced from a carrier box to stick and cannot be removed with the HF solution can be removed, so recombination of the carrier on the silicon surface is more suppressed to measure the recombination lifetime which is close to a bulk lifetime and from which the quality of the silicon wafer is evaluated.例文帳に追加
例えばキャリアボックスから発生して付着したと思われるようなHF溶液による処理によって除去できない有機汚染物も除去できるため、シリコンウェーハ表面でのキャリアの再結合を一層抑制することができ、バルクライフタイムに近く適切にシリコンウェーハの品質評価が行えるような再結合ライフタイムを測定することができる。 - 特許庁
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「recombination lifetime」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
A method for evaluating the lifetime of the diffusion wafer is provided, wherein after forming an oxide film with thickness of 1.4 μm or more and 1.5 μm or less in the surface of the diffusion wafer, recombination lifetime is measured by μ-PCD method.例文帳に追加
本発明によると、拡散ウエハ表面に膜厚1.4μm以上1.5μm以下の酸化膜を形成したのち、μ−PCD法により再結合ライフタイムを測定することを特徴とする拡散ウエハのライフタイム評価方法が提供される。 - 特許庁
To provide a means enabling to remedy a recombination from products of various different product constitutions, which is treated as the scrap by the reasons except lifetime, to a reproduction object model in the order of redeemable recovery machines.例文帳に追加
寿命要因外で廃棄扱いとなった異なる様々な製品構成の製品から再生対象モデルへの組換えを、救済し易い回収機の順に救済可能とする。 - 特許庁
In the method of measuring the lifetime of a silicon wafer by a microwave light electric conductive vibration decay method, the electric charge charged on the silicon wafer surface is maintained in the fixed state by performing chemical passivation processing so as to control surface recombination.例文帳に追加
シリコンウェーハをマイクロ波光導電減衰法によりライフタイムを測定する方法において、表面再結合を抑制するためにケミカルパシベーション処理し、シリコンウェーハ表面に帯電した電荷を一定状態に維持する。 - 特許庁
Organic substances sticking on the silicon wafer surface are removed using a mixed liquid of ammonia and a hydrogen peroxide solution etc., a natural oxide film on the silicon surface is removed with an HF solution, and passivation is carried out by an iodine ethanol method, so that the recombination lifetime of a carrier is measured by a reflective microwave photoconduction attenuation method.例文帳に追加
まずシリコンウェーハ表面に付着した有機物をアンモニアと過酸化水素水との混合液等を用いて除去し、次にHF溶液によりシリコンウェーハ表面の自然酸化膜を除去し、ヨウ素エタノール法によりパッシベーションを行い、反射マイクロ波光導電減衰法によりキャリアの再結合ライフタイムを測定する。 - 特許庁
To provide a high output, long lifetime, and high luminance organic electroluminescence semiconductor element by balancing charge recombination in the light emitting layer of the organic electroluminescence semiconductor element, and eliminating deviation in current distribution thereby preventing a hole injection layer from being deteriorated by electrons, improving hole mobility of a host layer and preventing oxidation of the host layer.例文帳に追加
本発明は、有機エレクトロルミネセンス半導体素子の発光層内における電荷再結合バランスを取り、電流分布の片寄りをなくして、ホール注入層が電子により劣化することを防ぎ、ホスト層のホール移動度を改善し、ホスト層の酸化を防止して高出力で、長寿命で、高輝度な有機エレクトロルミネセンス半導体素子を提供することにある。 - 特許庁
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再結合寿命
日英・英日専門用語
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