reduction testとは 意味・読み方・使い方

To achieve reduction in the load of a test verifier and the shortening of a test verification time.例文帳に追加

テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

REDUCTION GEAR WITH BUILT-IN ONE WAY CLUTCH FOR AUTOMOBILE BRAKE SPEED TEST例文帳に追加

自動車ブレーキスピードテスト用一方向クラッチ内蔵型減速機 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of contributing to reduction in test cost.例文帳に追加

テストコストの低減に資することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize reduction in the increase of the circuit scale normally caused by adding a test section and to fulfill a test function by selecting a self-test section.例文帳に追加

セルフテスト部を採用することによるテスト機能の充実とテスト部追加による回路規模の増大を軽減することの双方を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which obtaining a redundant relieving address and interference test between adjacent memory cells can be performed in one kind of an IO reduction test, and which can contribute to reduction of the chip size, shortening of the test time, and reduction of the unit cost.例文帳に追加

１種のＩＯ縮約テストで、冗長救済アドレス取得と隣接するメモリセル間の干渉試験を可能とし、チップサイズの縮小、テスト時間および原価低減に寄与することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁