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scanning spotとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 走査点
「scanning spot」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 278件
OPTICAL SPOT SCANNING CONTROL DEVICE例文帳に追加
光スポット走査制御装置 - 特許庁
LIGHT SPOT-MEASURING DEVICE OF SCANNING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
走査光学系の光スポット測定装置 - 特許庁
SCANNING LIGHT BEAM SPOT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加
走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SCANNING LIGHT BEAM SPOT例文帳に追加
走査光ビームスポット測定方法及び測定装置 - 特許庁
SPOT SCANNING LASER SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING THE SAME例文帳に追加
スポット走査式レーザ走査型顕微鏡及び同顕微鏡を調整する方法 - 特許庁
To suppress the deterioration of the form of a beam spot in a laser scanning.例文帳に追加
レーザ走査におけるビームスポット形状の劣化を抑制する。 - 特許庁
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「scanning spot」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 278件
BEAM SPOT SHAPING METHOD, OPTICAL SCANNING APPARATUS, AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加
ビームスポット整形方法、光走査装置、及び画像形成装置 - 特許庁
To perform a treatment by scanning a laser spot on the eye of a patient in a recumbent position.例文帳に追加
横臥位の患者眼にレーザスポットを走査した治療を行う。 - 特許庁
The laser beam for scanning the sample is the slit light or a spot row.例文帳に追加
試料を走査するレーザ光は、スリット光またはスポット列である。 - 特許庁
MEASUREMENT APPARATUS FOR LIGHT SPOT DIAMETER AND LIGHT SPOT POSITION, METHOD OF ADJUSTING SCANNING OPTICAL SYSTEM UNIT, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加
光スポット径及び光スポット位置測定装置、走査光学系ユニットの調整方法、及び画像形成装置 - 特許庁
DEVICE FOR OPTOELECTRONICALLY SCANNING ORIGINAL PICTURE BY PICTURE-SPOT SYSTEM AND LINE SYSTEM例文帳に追加
原画を画像点及びライン方式でオプトエレクトロニクス式に走査する装置 - 特許庁
A position and spot size detecting sensor 20 detects a spot size at every main scanning to input the detected spot size to a beam diameter judging means 22.例文帳に追加
位置検出兼スポットサイズ検出センサ20は、各主走査毎にスポットサイズを検出し、検出されたスポットサイズをビーム径判定手段22に入力する。 - 特許庁
To obtain an optical scanning device which has excellent flexibility in layout of a scanning optical system and small variation in beam spot diameters, and to obtain an image forming apparatus using the optical scanning device.例文帳に追加
走査光学系のレイアウト性に優れ、ビームスポット径ばらつきが少ない光走査装置およびそれを用いた画像形成装置を得る。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LINEAR SPOT VELOCITY OR POSITION VARIATION IN SCANNING SYSTEM例文帳に追加
走査システムの線形スポット速度又は位置変化の測定方法及び装置 - 特許庁
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