sem-4とは 意味・読み方・使い方

System wide maximum number of semaphore sets: policy dependent (on Linux, this limit can be read and modified via the fourth field of /proc/sys/kernel/sem ).発音を聞く 例文帳に追加

システム全体のセマフォ集合の最大数: 方針依存(Linux では、この制限値は/proc/sys/kernel/semの第4フィールドに対応し、読み出しも変更もできる)。 - JM

CD-SEM 1 measures the line width of a resist pattern by lots as units of several wafers and stores measurement data in a database 4.例文帳に追加

ＣＤ−ＳＥＭ１は、何枚かのウェハーを単位としたロット毎にレジストパターンの線幅を測定し、測定データをデータベース４に記憶して行く。 - 特許庁

When X-ray mapping is conducted, a SEM image in a scanning area on a sample 4 is stored as a reference image in a first scanning.例文帳に追加

Ｘ線マッピングを行うに際して、最初の１回目の走査時に、試料４上の走査領域のＳＥＭ像を基準像として記憶しておく。 - 特許庁

As for the sealant 10, a resin adhesive is employed, wherein the PH of the solution obtained by the extraction of the adhesive in accordance with SEM standard G29-1296 after calcification is not less than 4 and not more than 10.例文帳に追加

封止剤１０には、硬化後にＳＥＭＩ規格Ｇ２９−１２９６に準拠して抽出した溶液のｐＨが４以上１０以下である樹脂接着剤が用いられる。 - 特許庁

When information of the scanning set 101 is defined, a scanning control part of the SEM type visual inspection device carries out a scanning control to perform scanning of the scanning lines for the number of scanning lines "4" for every distance between the scanning lines "2" from the scanning line of a reference position address, based on the information of that scanning set 101.例文帳に追加

走査セット１０１の情報が定められると、ＳＥＭ式外観検査装置の走査制御部は、その走査セット１０１の情報に基づき、基準位置アドレスの走査ラインから走査ライン間距離「２」ごとに走査ライン数「４」本の走査ラインの走査を行う走査制御を行う。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁