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testpieceとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 供試体; 試験片
「testpiece」を含む例文一覧
該当件数 : 134件
TESTPIECE POSITIONING DEVICE例文帳に追加
試料位置決め装置 - 特許庁
TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁
ION SOURCE TESTPIECE PLATE IRRADIATION SYSTEM例文帳に追加
イオン源試料プレート照射システム - 特許庁
TESTPIECE MOUNTING ELECTRODE FOR PLASMA PROCESSING APPARATUS例文帳に追加
プラズマ処理装置用試料載置電極 - 特許庁
TESTPIECE EDGE PROCESSOR, TESTPIECE EDGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試料エッジ処理装置、試料エッジ処理方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
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「testpiece」を含む例文一覧
該当件数 : 134件
To provide a testpiece edge processor and a testpiece edge processing method that can detect the edge of a testpiece with less efforts.例文帳に追加
少ない労力で試料のエッジを検出することができる試料エッジ処理装置及び試料エッジ処理方法を提供する。 - 特許庁
TESTPIECE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND HOLDING METHOD OF TESTPIECE例文帳に追加
試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置、および試料の保持方法 - 特許庁
TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加
集束イオンビーム装置の試片冷却システム - 特許庁
METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁
The electron beam device is provided with a testpiece retaining pallet to take an electric contact with a measured testpiece and a testpiece retaining pallet not to take an electric contact, and a pallet is selected according to the measured testpiece.例文帳に追加
被測定試料と電気的なコンタクトをとる試料保持パレットと電気的なコンタクトをとらない試料保持パレットとを設け、被測定試料に応じてパレットを選択する。 - 特許庁
MICRO TESTPIECE PROCESSING AND OBSERVATION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
When a sectional processing is carried out as a pre-treatment to observe a cross section of a testpiece, the testpiece is processed with the testpiece inclined to a first angle with regard to the angle of incidence of the ion beam, and after processing is finished, the testpiece is observed with the testpiece inclined to a second angle.例文帳に追加
試料断面観察の前処理としての断面加工を行う際、イオンビームの入射角に対し、試料を第一の角度に傾斜して加工を行い、加工終了後、試料を第二の角度に傾斜して観察する。 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER TESTPIECE例文帳に追加
半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁
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