atom probeとは 意味・読み方・使い方

To facilitate making a sample for atom probe observation.例文帳に追加

アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。 - 特許庁

To provide a laser atom probe system and a method for analyzing a specimen by laser atom probe tomography.例文帳に追加

優れたレーザーアトムプローブシステム、およびレーザーアトムプローブトモグラフィによって試料を分析するための方法を提供する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

The atom position fixing device detects a change amount of a frequency of the probe 10 based on an inter-atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 by vibrating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen in two directions parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR ATOM PROBE ANALYSIS BY FIB, AND DEVICE FOR EXECUTING THE METHOD例文帳に追加

ＦＩＢによるアトムプローブ分析用試料の作製方法とそれを実施する装置 - 特許庁

To provide an atom position fixing device and atom position fixing method suppressing deviation in relative position between a probe and a sample atom due to the influence of thermal drift and creep.例文帳に追加

熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法を提供する。 - 特許庁

A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁