compression testsとは 意味・読み方・使い方

Setting information that makes the one first I/O terminal different for each chip is registered in the group of registers, so that each chip memory inputs or outputs data by using a different I/O terminal number for each chip, so that I/O compression tests by the I/O compression circuits can be performed concurrently in parallel in the plurality of chips without a bus fight.例文帳に追加

前記レジスタ群に、前記一つの第１のＩ／Ｏ端子をそれぞれチップ毎に異ならせる設定情報を登録することにより、各チップメモリは、チップ毎に異なるＩ／Ｏ端子の番号を使用してデータを入力または出力することにより、バスファイトすることなく複数のチップにおいて同時並行して前記Ｉ／Ｏ圧縮回路によるＩ／Ｏ圧縮テストを可能とした。 - 特許庁

This compression tester tests the ceramic measurement sample 1 by injecting a hydrostatic pressure medium between a cylindrical container 8 and an elastic body sheet 9 and pressurizing the sample in a state that the sample is installed in the cylindrical container 8 so as to interpose the elastic body sheet 9 between them.例文帳に追加

セラミック製測定試料１を、弾性体シート９を介在させて筒状容器８内に設置した状態で、筒状容器８と弾性体シート９との間に静水圧加圧媒体を注入して加圧することによるセラミック製測定試料の圧縮試験機である。 - 特許庁

A BIST circuit 3 which tests the logic circuit 4 under test comprises a control circuit 11, a test pattern generation circuit 12, a first pattern generation circuit 13, a second pattern generation circuit 14, a signal compression pattern generation circuit 15 and a failure detection analysis circuit 16.例文帳に追加

被テスト回路である論理回路４をテストするＢＩＳＴ回路３には、制御回路１１、テストパターン発生回路１２、第１のパターン生成回路１３、第２のパターン生成回路１４、信号圧縮パターン生成回路１５、及び故障検出解析回路１６が設けられる。 - 特許庁

The stress test method implements one or two or more compression tests or tensile tests for applying a distortion of 1.5% or more to the test piece.例文帳に追加

試験片の端部を保持することができる凹部を有するフランジを２個有し、これらのフランジの一方又は両方から試験片に対して圧縮応力又は引張応力を作用させることによって試験片に圧縮応力又は引張応力を負荷する応力試験用治具であって、応力試験中に試験片に対する応力負荷方向と試験片長手方向が常に一致するように少なくとも２本のガイド材が試験片に対する応力負荷方向に平行に設置されてなることを特徴とする応力試験用治具と、試験片に１．５％以上の歪みを付与する圧縮試験又は引張試験を１回又は２回以上行う応力試験方法。 - 特許庁