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depletion processとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 消耗過程
「depletion process」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
To provide a process for fabricating a semiconductor device through a simpler process by suppressing gate depletion.例文帳に追加
ゲート空乏化が抑制され、より簡易な工程で製造することができる半導体装置を提供する - 特許庁
By executing the former process, depletion of oxygen contained in the insulation film which is the TaO_X film is filled and the oxygen depletion is removed.例文帳に追加
前者の工程を実行することにより、TaO_X膜たる絶縁膜中に含まれる酸素空乏を埋めることができ、酸素空乏を除去することができる。 - 特許庁
To uniformize constitutions regardless of presence or absence of a depletion process and permit the change of selection of pull-down or pull-up before wiring process.例文帳に追加
デプレッション工程の有無にかかわらず構成を同一にでき、配線工程前のプルダウン又はプルアップの選択変更を可能にする。 - 特許庁
To prevent operational failure by suppressing depletion of a control gate, or the like, when a silicide process and a dual gate process are applied onto a split gate type flash EEPROM.例文帳に追加
スプリットゲート型フラッシュEEPROMに対して、サリサイド・プロセス、デュアルゲート・プロセスを適用した場合に、コントロールゲート等の空乏化を抑え、動作不良を防止する。 - 特許庁
To provide a method for fabricating a semiconductor device in which the fabrication process is simplified by fabricating a full depletion device and a partial depletion device separately on an SOI substrate by self alignment.例文帳に追加
同一SOI基板上で完全空乏型デバイスと部分空乏型デバイスを自己整合的に作り分けることにより製造工程を簡略化した半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and its fabricating method in which process control is facilitated and a full depletion transistor can be fabricated easily.例文帳に追加
プロセス制御が容易であり完全空乏型トランジスタを容易に製造できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
For suppressing the depletion of the electrode 17A, annealing process is carried out in a PH3 atmosphere, to cause the phosphorous in the grains 18 to be diffused.例文帳に追加
この下部電極17Aの空乏化抑制のために、PH_3 雰囲気中でアニール処理を行い、微結晶18にリンを拡散させる。 - 特許庁
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「depletion process」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
The N-channel depletion type transistor has process fluctuations that are linked with those of a detection transistor, and hence a short-circuit current may be set accurately without trimming.例文帳に追加
Nchデプレッション型トランジスタは検出用トランジスタとプロセスばらつきが連動するためトリミングを行うことなく短絡電流を正確に設定することが出来る。 - 特許庁
By repeating the process, a plurality of depletion parts 12a are generated in an epitaxial layer 12 to provide a hetero N- buffer structure.例文帳に追加
そして、この工程を繰り返すことにより、エピタキシャル層12中に複数の空洞部12aを作り込んで、ヘテロなNバッファ構造を実現する構成となっている。 - 特許庁
To provide a delivery device that can deliver a uniform and high concentration of precursor vapor throughout the process up to depletion of the solid precursor compound from the delivery device.例文帳に追加
送達装置から固体前駆体化合物が枯渇するまでのプロセス全体にわたって均一で高濃度の前駆体蒸気を送達することができる送達装置を提供する。 - 特許庁
To provide a power supply circuit capable of executing output control of two output voltages by one control voltage in an MMIC process for providing only one kind of a depletion FET.例文帳に追加
1種類のデプレッション型FETのみを提供するMMICプロセスにおいて、1つの制御電圧で2つの出力電圧の出力制御が可能である電源回路を提供する。 - 特許庁
A channel forming process in the method of manufacturing the full depletion type SOI transistor, especially, the NMOS transistor has a process of forming an insulation film on a thin film, a process of forming an additional insulation film for the insulation film, and a process of implanting first conductive type impurities into a part near an interface between a semiconductor thin film and the insulation film.例文帳に追加
完全空乏型SOIトランジスタ、特にNMOSトランジスタの製造方法におけるチャネル形成工程において、薄膜上に絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜に対し追加絶縁膜を形成する工程と半導体薄膜と絶縁膜との界面近傍に第1導電型の不純物の注入を行う工程を有するようにした。 - 特許庁
Respective programmable elements are constituted of depletion type transistors D100, D101 being same as memory cells of a mask ROM apparatus, the depletion type transistors are programmed in a first program state of a conduction state in an ion injection process for memory cells of the mask ROM apparatus or in a second program state of a non-conduction state.例文帳に追加
プログラム可能な素子の各々はマスクROM装置のメモリセルと同一の空乏型トランジスタD100,D101で構成され、空乏型トランジスタはマスクROM装置のメモリセルに対するイオン注入工程で導通状態の第1プログラム状態又は非導通状態の第2プログラム状態にプログラムされる。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a partial SOI substrate, whereby complete depletion type MOS transistors can be formed in the SOI structure and silicide process is easy to apply.例文帳に追加
SOI構造部分に完全空乏型MOSトランジスタを形成することができるとともに、サリサイドプロセスを容易に適用できる部分SOI基板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The water feeding process data (including initial flow value, control time, and depletion period) that has been calculated from the water feeder characteristics of an electronic scope 10, is stored in EEPROM of the electronic scope 10.例文帳に追加
電子スコープ10の送水管路の特性に基づいて演算された送水処理に関するデータ(初期流量値、制御時間、減少期間)を電子スコープ10のEEPROMに格納する。 - 特許庁
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