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意味・対訳 不良検出
「detection of defects」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 231件
DETECTION OF FINE STRUCTURE DEFECTS例文帳に追加
微小構造欠陥の検出 - 特許庁
DETECTION OF DEFECTS ON PATTERNED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
パタ—ン形成ずみの半導体基板における欠陥の検出 - 特許庁
To suppress the detection of pseudo defects due to a stage surface.例文帳に追加
ステージ表面による疑似欠陥の検出を抑制すること。 - 特許庁
To provide a detection method of pixel uneveness defects, capable of accurately detecting the pixel uneveness defects existing in images.例文帳に追加
画像に存在する画素ムラ欠陥を精度よく検出する画素ムラ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region.例文帳に追加
疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。 - 特許庁
To provide a detection apparatus for detecting the defects of a liquid crystal array.例文帳に追加
液晶アレイの欠陥を検出する探知設備を提供する。 - 特許庁
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「detection of defects」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 231件
To prevent the detection leakage of defects exceeding a processing range in median processing, when detecting defects in the median processing.例文帳に追加
メディアン処理による欠陥検出において、メディアン処理での処理範囲を越える欠陥の検出漏れを防ぐこと。 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING WELD DEFECTS OF CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING MACHINE AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加
コンデンサ放電型スタッド溶接機の溶接良否判定方法及び判定装置 - 特許庁
To improve a detection precision of defects by eliminating the influence of noise at the peripheral section of a substrate in an inspection of defects in the transparent substrate have a large plate thickness.例文帳に追加
板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺部のノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a laminate with less defects, which enables detection of micro defects.例文帳に追加
微小な欠陥を検出することを可能とし、欠陥の少ない積層体の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a method for automatic detection of red-eye defects in photographic image data.例文帳に追加
この発明は、写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法に関する。 - 特許庁
To provide a method for the automatic detection of red-eye defects in photographic image data.例文帳に追加
この発明は、写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法に関する。 - 特許庁
To prevent degradation of image quality due to the increase of defects of pixel over aging without generating problems in accordance with generation of time lag to be generated due to detection of detect data for compensation of the defects of pixel.例文帳に追加
画素欠陥補償のための欠陥データ検出によって生じるタイムラグの発生に伴う問題点を生じることなく、経時的画素欠陥増加による画質劣化を防止する。 - 特許庁
The number of defects due to the hydrogen factors is calculated on the basis of a difference between the number of defects detected in the second flaw detection step and the number of defects detected in the first flaw detection step, and if the calculated value exceeds a predetermined value, the conditions of dehydrogenation are changed.例文帳に追加
第2回探傷ステップによって検出された欠陥数と第1回探傷ステップによって検出された欠陥数との差に基づいて水素要因による欠陥数を算出し、所定値を上回った時に脱水素処理の条件を変更する。 - 特許庁
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