「detection of defects」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region.例文帳に追加

疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。 - 特許庁

To provide a detection apparatus for detecting the defects of a liquid crystal array.例文帳に追加

液晶アレイの欠陥を検出する探知設備を提供する。 - 特許庁

To prevent the detection leakage of defects exceeding a processing range in median processing, when detecting defects in the median processing.例文帳に追加

メディアン処理による欠陥検出において、メディアン処理での処理範囲を越える欠陥の検出漏れを防ぐこと。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING WELD DEFECTS OF CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING MACHINE AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接機の溶接良否判定方法及び判定装置 - 特許庁

To improve a detection precision of defects by eliminating the influence of noise at the peripheral section of a substrate in an inspection of defects in the transparent substrate have a large plate thickness.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺部のノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a laminate with less defects, which enables detection of micro defects.例文帳に追加

微小な欠陥を検出することを可能とし、欠陥の少ない積層体の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for automatic detection of red-eye defects in photographic image data.例文帳に追加

この発明は、写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法に関する。 - 特許庁

To provide a method for the automatic detection of red-eye defects in photographic image data.例文帳に追加

この発明は、写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法に関する。 - 特許庁

To prevent degradation of image quality due to the increase of defects of pixel over aging without generating problems in accordance with generation of time lag to be generated due to detection of detect data for compensation of the defects of pixel.例文帳に追加

画素欠陥補償のための欠陥データ検出によって生じるタイムラグの発生に伴う問題点を生じることなく、経時的画素欠陥増加による画質劣化を防止する。 - 特許庁

The number of defects due to the hydrogen factors is calculated on the basis of a difference between the number of defects detected in the second flaw detection step and the number of defects detected in the first flaw detection step, and if the calculated value exceeds a predetermined value, the conditions of dehydrogenation are changed.例文帳に追加

第２回探傷ステップによって検出された欠陥数と第１回探傷ステップによって検出された欠陥数との差に基づいて水素要因による欠陥数を算出し、所定値を上回った時に脱水素処理の条件を変更する。 - 特許庁

To enable detection/registration of acquired defects of detection while avoiding destruction of initial defect data in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの初期欠陥データが破壊される危険を回避しつつ、後発性の検出欠陥についても検出・登録できるようにする。 - 特許庁

The existence ensuring of internal defects is 10.0 pieces or less per flaw detection volume of 1×10^6 mm^3.例文帳に追加

内部欠陥の存在保証は、探傷体積１×１０^6 ｍｍ^3 当たり１０．０個以下とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and an apparatus, capable of accurately detecting even defects present in the vicinity of the bottom surface of the object material of flaw detection.例文帳に追加

被探傷材底面近傍に存在する欠陥をも精度良く検出することが可能な超音波探傷方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To allow accurate detection of surface defects and surface layer defects of a material even when the material such as a steel plate is being transported or moved.例文帳に追加

鋼板等の材料が搬送されている、或いは移動している場合でも、精度良く材料の表面欠陥及び表層欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

To reduce the number of over detection of defects while maintaining the inspection accuracy in an automatic optical inspection of a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路板の自動光学式検査において、検査精度を保ちながら欠陥の過検出を低減する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF WELDING GUN FOR CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置 - 特許庁

To efficiently prevent degradation of image quality due to increase of defects of pixels over aging by preventing generation of duplication with detected pixels already registered in the case of detection of new defects.例文帳に追加

新規欠陥の検出に際して既に登録されている検出画素との重複が生じないようにし、経時的画素欠陥増加による画質劣化を効率よく防止する。 - 特許庁

The detection technique of pixel uneveness defects detects pixel uneveness defects (a detection process ST300 for uneven pixels) from images acquired in an inspection image acquiring process ST100, and by a quantitative evaluation, based on the detected result in the detecting process of pixel uneveness, discrimination of pixel uneveness defects is conducted (a discrimination process ST400 of defects) in the images.例文帳に追加

検査画像取得工程ＳＴ１００で取得した画像から画素ムラを検出して（画素ムラ検出工程ＳＴ３００）、画素ムラ検出工程で検出された結果に基づいた定量的な評価により、画像に画素ムラ欠陥があることの判別を行う（欠陥判別工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

The driving circuit 20 obtains the detection signal S from either the plurality of first detection circuits U2 or the plurality of second detection circuits U2 included in the plurality of detection circuits U the total number of whose defects is smaller.例文帳に追加

駆動回路２０は、複数の検出回路Ｕに含まれる複数の第１検出回路Ｕ1および複数の第２検出回路Ｕ2のうち欠陥の総数が少ない方から検出信号Ｓを取得する。 - 特許庁

To easily and properly classify defects, when carrying out sequentially a plurality of kinds of defect detection.例文帳に追加

複数種類の欠陥検出処理を順次行うような場合、欠陥の分類処理を容易かつ適切に行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector and a method, capable of improving the detection probability of closure defects.例文帳に追加

閉口欠陥検出確率を向上できる超音波探傷装置及び方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a detection device having a simple structure, capable of detecting various defects of a transparent body.例文帳に追加

透明体における様々な欠陥を検出することができる構造簡単な検出装置を提供する。 - 特許庁

To improve the signal-to-noise ratio, and to improve detection of defects of edge, in edge flaw detections for components.例文帳に追加

部品の縁部の傷検出において 信号対雑音比を向上し 縁部の欠陥検出を改善する。 - 特許庁

To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device which can easily detect defects, and can detect even defects at a corner part of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The detection of defects of the surfaces is executed by detecting the defects of the particles and the other surfaces by acquiring the transmitted and darkfield reflected images and using the upper part of the bonds.例文帳に追加

表面の欠陥の検出は透過及び暗視野反射画像を取得すると共に結合上方を使用して粒子及び他の表面の欠陥を検出することにより行われる。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加

金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.例文帳に追加

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects.例文帳に追加

欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method capable of detecting accurately the positions of defects in a rod material R, and to provide an ultrasonic flaw detection system used for the method.例文帳に追加

ロッド材Ｒ中の欠陥の位置が正確に検知される超音波探傷方法、及び該方法に用いられる超音波探傷システムを提供する。 - 特許庁

To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects.例文帳に追加

コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection apparatus for detecting defects, without fail, by suppressing reflection of illumination obstructing detection of defects to a target having a curved surface of a mirror surface.例文帳に追加

鏡面の曲面を有する対象物に対する、欠陥検出の支障となる照明の映り込みを抑制し、確実な欠陥検出を可能とする画像検査装置を提供する。 - 特許庁

The detection method is a defect detection method for detecting defects of the sample, where a upper-plated layer (60) is formed on an SiO_2 layer (62) provided with trench portions.例文帳に追加

溝部を設けたＳｉＯ_２層（６２）上に銅メッキ層（６０）が形成された試料の欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁

The detection apparatus for detecting the defects of the liquid crystal array is equipped with a main chamber, a detection device, a base, and a main heating device.例文帳に追加

液晶アレイの欠陥を検出する探知設備であって、当該探知設備は、主チャンバと、検出装置と、ベースと、主加熱装置と、を備える。 - 特許庁

To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.例文帳に追加

検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁

To easily and surely perform observation, detection of anomalies of crystal defects or destructive marks or the like of the interior of a compound semiconductor of a laser diode chip or the like.例文帳に追加

レーザダイオードチップ等の化合物半導体内部の結晶欠陥や破壊痕等の異常の観察、検出を容易かつ確実に行う。 - 特許庁

To provide a detection method, which after forming a plated layer on a sample, is capable of immediately detecting defects thereof.例文帳に追加

試料にメッキ層を形成した後直ちにその欠陥を検出することができる検出方法を提供する。 - 特許庁

To quantitatively measure sizes and shapes of internal defects in laser ultrasonic detection.例文帳に追加

レーザ超音波検出において、内部欠陥の大きさや形状を定量的に計測することを目的とする。 - 特許庁

To lessen the detection error of pixel defects, even using a solid state imaging device having color filters.例文帳に追加

色フィルタが配置された固体撮像素子を使用した場合においても、画素欠陥の検出誤りを少なくする。 - 特許庁

To provide an electromagnetic ultrasonic flaw detection method and an electromagnetic ultrasonic flaw detection apparatus for measuring defects with an improved S/N ratio and setting a high evaluation even if reflection waves by separate defects spread in the direction of a time axis in ultrasonic flaw detection using an electromagnetic ultrasonic sensor.例文帳に追加

電磁超音波センサを用いた超音波探傷において、単独の欠陥による反射波が時間軸方向に広がっていてもＳＮ比良く欠陥の測定と評価が得られるようにした超音波探傷方法と装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a display defects detection method for a flat-panel display device which can detect faulty gray scales, a type of display defects in an FPD, mechanically, with high precision, and in a short time.例文帳に追加

平面表示装置の表示欠陥検出方法に関し、ＦＰＤの表示欠陥である階調不良を機械的に精度良く且つ短時間で検出する。 - 特許庁

To reliably detect defects on the surface of an inspection object, which is represented by a semiconductor wafer or a glass substrate, reflecting the detection results on the defects on the backside of the inspection object.例文帳に追加

半導体ウェハやガラス基板に代表される被検査物の裏面における欠陥に関する検出結果を反映して、上述した被検査物の表面の欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

To stably detect defects with little computational complexity even when there is little difference in the featured values of normal parts and defective parts, or even when the types of defects being the target of detection is variable when checking defects by image processing.例文帳に追加

画像処理による欠陥検査の際に、正常部分と欠陥部分の特徴量の差異が少なくても、また、検出対象となる欠陥の種類が多様でも、安定して、しかも少ない計算量で欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

Each of number-of-defects counters 101, 011, 012 counts, for each divided range, the number of defective pixels detected by a defective pixel detection means.例文帳に追加

欠陥個数カウンタ１０１，０１１，０１２は、該範囲分けした範囲毎に当該埴中にて検出した欠陥画素の個数を数える。 - 特許庁