defect testとは 意味・読み方・使い方

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PIECE FOR CALIBRATION OF SEAM DEFECT INSPECTION MACHINE, AND TEST PIECE FOR CALIBRATION例文帳に追加

巻締め不良検査機の較正用試験片の作成方法および較正用試験片 - 特許庁

To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.例文帳に追加

ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁

The dynamic defect detection test pattern can contain a last-shift-launch test pattern and a broad-side test pattern, for example.例文帳に追加

動的欠陥検出テストパターンは、例えば、ラスト−シフト−ローンチテストパターン及びブロードサイドテストパターンを含むことができる。 - 特許庁

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.例文帳に追加

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁

To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.例文帳に追加

パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁