defect groupとは 意味・読み方・使い方

Many functional groups such as OH group are present in the internal defect and the noble metal is easily carried in the functional group by the ion exchange.例文帳に追加

内部欠陥にはOH基などの官能基が多く存在するため、貴金属はその官能基にイオン交換担持されやすい。 - 特許庁

To provide an object-shape evaluating device which properly performs congruence transformation on a measurement point group and a reference point group and reducing a defect incorrect detection caused by mold correction, when detecting a defect on the basis of the shift between the reference point group and the measurement point group.例文帳に追加

測定点群と基準点群との合同変換が適正に行われるとともに、基準点群と測定点群とのずれから欠陥を検出する際に型修正に起因する欠陥誤検出が低減される物体形状評価装置を提供する。 - 特許庁

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.例文帳に追加

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁

For example, in a main defect list of a defect management region of the optical disk, a group of consecutive region numbers is recorded using (N, L) format.例文帳に追加

例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストには、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマットを用いて記録される。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

To provide a group III nitride semiconductor substrate having low defect density and small warpage.例文帳に追加

欠陥密度が低く、かつ反りの少ないＩＩＩ族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared.例文帳に追加

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。 - 特許庁

Even if a micro defect is formed in the film part 14c, this constitution can stop the progress of crack developed with the defect set as an origin at the rib group 15.例文帳に追加

これにより、膜部１４ｃに微小な欠陥が生じても、その欠陥を起点として発生する亀裂の進行をリブ群１５で止めることができる。 - 特許庁