「defect group」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To surely apply a liquid over the whole coating area with a normal nozzle group by applying the liquid at a high speed when a defect nozzle group does not exist and by degrading a coating speed only when the defect nozzle group occurs.例文帳に追加

不良ノズル群が無い場合は高速で液体を塗布し、不良ノズル群が発生したときのみ塗布速度を低下させて確実に全ての塗布領域にわたり正常ノズル群で液体を塗布する。 - 特許庁

To provide a III group nitride semiconductor substrate with low defect density and with reduced warpage.例文帳に追加

欠陥密度が低く、かつ反りの少ないIII族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁

Many functional groups such as OH group are present in the internal defect and the noble metal is easily carried in the functional group by the ion exchange.例文帳に追加

内部欠陥にはOH基などの官能基が多く存在するため、貴金属はその官能基にイオン交換担持されやすい。 - 特許庁

To provide an object-shape evaluating device which properly performs congruence transformation on a measurement point group and a reference point group and reducing a defect incorrect detection caused by mold correction, when detecting a defect on the basis of the shift between the reference point group and the measurement point group.例文帳に追加

測定点群と基準点群との合同変換が適正に行われるとともに、基準点群と測定点群とのずれから欠陥を検出する際に型修正に起因する欠陥誤検出が低減される物体形状評価装置を提供する。 - 特許庁

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.例文帳に追加

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁

For example, in a main defect list of a defect management region of the optical disk, a group of consecutive region numbers is recorded using (N, L) format.例文帳に追加

例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストには、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマットを用いて記録される。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

To provide a group III nitride semiconductor substrate having low defect density and small warpage.例文帳に追加

欠陥密度が低く、かつ反りの少ないＩＩＩ族窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared.例文帳に追加

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。 - 特許庁

Even if a micro defect is formed in the film part 14c, this constitution can stop the progress of crack developed with the defect set as an origin at the rib group 15.例文帳に追加

これにより、膜部１４ｃに微小な欠陥が生じても、その欠陥を起点として発生する亀裂の進行をリブ群１５で止めることができる。 - 特許庁

(B) In cases where a guided wave has a second frequency, a second group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加

（Ｂ）ガイド波が第２の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第２の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

(A) In cases where a guided wave has a first frequency, a first group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加

（Ａ）ガイド波が第１の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第１の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

To provide a method for producing a semipolar group III nitride substrate having a low defect density and high quality.例文帳に追加

欠陥密度が低く高品質な半極性面III族窒化物基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Symmetries in CBED patterns allow the point and space group to be determined in defect-free regions. 例文帳に追加

CBED図形の中の対称性は、欠陥がない領域で点群と空間群が決定されることを可能にする。 - 科学技術論文動詞集

As a result, out of the data of the feature quantities f51-f100 of the second group, the defect data, for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", are defined as discard class data.例文帳に追加

この結果、第２群の特徴量ｆ５１〜ｆ１００のデータのうち、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない疵データを棄却クラスのデータとする。 - 特許庁

One or more closed areas wherein any defect exists on each of substrates are extracted, and a group of defects occupying the closed areas is determined as a target defect cluster (S101).例文帳に追加

各基板上で欠陥が存在する閉領域を１個以上抽出して、その閉領域を占める欠陥の群を対象欠陥クラスタとして定める（Ｓ１０１）。 - 特許庁

To relate to a method for manufacturing a low-defect interface between a dielectric and a group III/V compound.例文帳に追加

本発明は、誘電体材料とＩＩＩ／Ｖ化合物との間に低欠陥界面を製造する方法に関する。 - 特許庁

SURFACE-COATED TUNGSTEN CARBIDE GROUP SINTERED ALLOW- MADE CUTTING TOOL WHICH DISPLAYS EXCELLENT DEFECT RESISTANCE IN INTERRUPTED DOUBLE CUTTING例文帳に追加

断続重切削ですぐれた耐欠損性を発揮する表面被覆炭化タングステン基超硬合金製切削工具 - 特許庁

When the number of defective chips belonging to a defective group is larger than a preset defective chip number threshold, it is determined that the defective group forms a concentrated defect distribution (S3).例文帳に追加

不良グループに属する不良チップ数が予め設定された不良チップ数しきい値以上のときにその不良グループを集中不良分布と判定する（Ｓ３）。 - 特許庁

A trace of laser (group) on a standard sample which is a semiconductor substrate formed the trace of laser (group) thereon is detected optically as a pseudo defect on a scattering light image, and the detected pseudo defect is used as an evaluation reference to perform the evaluation.例文帳に追加

表面にレーザー痕（群）が形成された半導体基板である標準試料上の該レーザー痕（群）を散乱光画像において擬似欠陥として光学的に検出し、検出された擬似欠陥を評価基準として、前記評価を行う。 - 特許庁

To suppress resistance increase of a clad layer due to time-dependent diffusion of hydrogen while preventing introduction of group-V defect into an active layer.例文帳に追加

活性層へのＶ族欠陥導入を防止しつつ水素の経時拡散によるクラッド層の抵抗上昇を抑制する。 - 特許庁

At the time, since the number of constituting mirrors of each mirror group is small, the mirror which is the cause of accuracy defect is easily searched.例文帳に追加

この際、各ミラー群の構成ミラー数は少ないため、精度不良の原因となっているミラーの探索は容易である。 - 特許庁

To provide a method of preventing space formation along a conveyor produced by the non-supply of a group having a defect since this is the method of forming a group of tobacco in a packing machine.例文帳に追加

包装機にタバコのグループを形成する方法であって、欠陥を有するグループの未供給により生ずるコンベアに沿った空間の形成を防止する方法を提供する。 - 特許庁

The target defect clusters classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups, so that the groups of substrates classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups (S105).例文帳に追加

未知グループに分類された対象欠陥クラスタを複数のサブグループに分類することによって、未知グループに分類された基板群を複数のサブグループに分類する（Ｓ１０５）。 - 特許庁

As for feature quantities f1-f50 of a first group, a learning model A is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of values of the feature quantities f1-f50 of the first group with defect types "C1" and "C2".例文帳に追加

第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０について、第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＡを形成する。 - 特許庁

To provide a method and a device of classifying substrates by which, according to knowledge information concerning a known defect distribution, a group of substrates having the corresponding defect distribution can be accurately classified, and even substrates wherein an unknown defect distribution occurs can be automatically classified.例文帳に追加

既知の欠陥分布に関する知識情報に基づいてそれに対応した欠陥分布をもつ基板群を精度良く分類でき、未知の欠陥分布が発生した基板をも自動的に分類できる基板分類方法および基板分類装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a flying capacitor type voltage detection device for performing determination of abnormality while discriminating the disconnection defect and the abnormality of power generation of group battery.例文帳に追加

断線不良と組電池の発電異常とを区別して、異常判定を行うフライングキャパシタ式電圧検出装置を提案する。 - 特許庁

any of a group of genetic disorders involving a defect in the metabolism of mucopolysaccharides resulting in greater than normal levels of mucopolysaccharides in tissues 例文帳に追加

遺伝子障害の一群のいずれかで、新陳代謝に欠陥を伴い、組織内のムコ多糖類のレベルが通常より高くなるもの - 日本語WordNet

In the surface defect evaluation, the surface area defined by a mismatching measurement point group as the surface defect, on the basis of a distribution density of the mismatching measurement point group, including a plurality of measurement points that do not properly correspond to the reference point and adjacent to one another.例文帳に追加

表面欠陥評価において、基準点と適正に対応せず互いに隣接する複数の測定点からなる誤対応測定点群の分布密度に基づいて当該誤対応測定点群によって規定される表面領域を表面欠陥と判定する。 - 特許庁

To provide a disk storage and a method for managing a sector group of the disk storage which can efficiently register defect sectors caused by a large defect area existing across a plurality of tracks and which can prevent a size of a defect management table from becoming too large.例文帳に追加

この発明は、複数のトラックに跨る巨大な不良領域に起因する欠陥セクタを効率よく登録でき、欠陥管理テーブルのサイズが大きくなりすぎることを防止可能なディスク記憶装置およびディスク記憶装置のセクタ群管理方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a small-sized optical control element having a group speed delay effect and a dispersion control effect, which is capable of giving a controllable light propagation mode while keeping a group speed delay effect of a coupled defect waveguide.例文帳に追加

結合欠陥導波路の群速度遅延効果を保ちつつ、制御可能な光伝搬モードを与えられる、小型の群速度遅延効果と分散制御効果を有する光制御素子を提供する。 - 特許庁

In the temperature-reducing process after growing a p-type GaAs cap layer 508, the substrate is exposed to AsH3 atmosphere to prevent introduction of group-V defect into the active layer.例文帳に追加

p型GaAsキャップ層５０８成膜後の降温過程において、基板をAsH_3雰囲気に曝し、活性層にＶ族欠陥が導入されることを防止する。 - 特許庁

To provide a group III nitride compound semiconductor substrate of high quality which has little crystal defect and a large area, a manufacturing method of the substrate, and a light emitting element.例文帳に追加

結晶欠陥の少ない高品質かつ大面積のIII族窒化物の半導体基板およびその作製方法および発光素子を提供する。 - 特許庁

Group constitution of the defect management and allocation of the spare region are constituted so as to be appropriately selected and set according to the usage at the time of initializing the optical disk.例文帳に追加

光ディスクの初期化時に、欠陥管理のグループ構成とスペア領域の割り当てを、用途に応じて適切に選択・設定するように構成した。 - 特許庁

To produce a large-size large-area and high-quality group-III nitride crystal having a practical size and having more reduced defect density compared to a conventional crystal.例文帳に追加

従来よりもより一層、欠陥密度が低減された、実用的な大きさの大型，大面積の高品質なＩＩＩ族窒化物結晶を作製する。 - 特許庁

To provide a technique for detecting a critical defect quickly by executing an efficient inspection to each group of patterns on a substrate.例文帳に追加

基板上のそれぞれのパターン群に対し効率的な検査を実施し、致命性のある欠陥を短時間で検出することができる技術を提供する。 - 特許庁

In the feature quantities for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", a learning model B is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of the values of the feature quantity with the defect types "C1" and "C2".例文帳に追加

そして、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない特徴量について、当該特徴量の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＢを形成する。 - 特許庁

To provide an optical delay element having a line defect waveguide structure made of photonic crystal wherein a group refractive index is high and a region where wavelength dispersion is fixed or small of the group refractive index is kept as a band of practical level.例文帳に追加

群屈折率が大きく、かつ、群屈折率の波長分散が一定若しくは小さい領域が実用レベルの帯域で保たれたフォトニック結晶による線欠陥導波路構造を有する光遅延素子を提供する。 - 特許庁

One method for selecting defects for defect analysis includes binning defects into group(s) based on proximity of the defects to each other and spatial signatures formed by the group(s).例文帳に追加

欠陥解析のために欠陥を選択する一方法は、これらの欠陥の互いの近接性、及び、グループ（１つ又は複数）により形成される空間シグネチャに基づいて、欠陥をこのグループ（１つ又は複数）にビン分類することを含む。 - 特許庁

To record and reproduce data to and from disks having formats different in group configuration without changing firmware of a conventional device in an optical disk subjected to defect control.例文帳に追加

欠陥管理がなされた光ディスクにおいて、グループ構成の異なるフォーマットのディスクに対し、従来装置のファームウェアを変更することなく記録再生可能とすること。 - 特許庁

To provide a repair apparatus for automatically deciding repair determination or a repair operation without performing a manual operation even concerning a defect which requires a complicated repair operation group.例文帳に追加

複雑なリペア動作群を必要とするような欠陥に対しても、人手を介することなく、リペア判定やリペア動作の決定を自動で行うリペア装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lead frame continuum and a manufacturing method of lead frames in which an easily manufacturable dot group having high read accuracy is formed in each lead frame or a lead frame group and a defect of lead frames produced, especially, on a reel-to-reel basis is found early.例文帳に追加

読み取り精度が高くしかも製造も容易なドット群を各リードフレーム又はリードフレーム群に形成し、特に、リールトゥリールで生産されるリードフレームの不良を早期に発見するリードフレーム連続体及びリードフレームの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a group III-V nitride based semiconductor substrate capable of matching lattice constants with an epitaxial growth layer and giving a group III-V nitride based device having little distortion or defect, and to provide a method for inexpensively manufacturing the substrate with high reproducibility.例文帳に追加

エピタキシャル成長層との格子定数がマッチでき、歪みや欠陥の少ないIII-Ｖ族窒化物系デバイスを製造できるIII-Ｖ族窒化物系半導体基板、及びこの基板を安価に再現性良く製造できる製造方法を提供する。 - 特許庁

By moving the group of rolls 20 along the base material W in adding tensile strength to the base material W, the irregularity defect 25 on the surface of the base material W can be smoothed.例文帳に追加

基材Ｗに張力を加えた状態でロール群２０を基材Ｗに沿って移動させることにより、基材Ｗ表面の凹凸欠陥２５を平滑化することができる。 - 特許庁

When a defect exists in at least one buffer out of respective page buffers of the first and the second page buffer groups, a fuse corresponding to a page buffer group including a defective page buffer is cut off.例文帳に追加

第１及び第２ページバッファグループの各々のページバッファのうち少なくとも一つに欠陥がある時、欠陥があるページバッファを含むページバッファグループに対応するヒューズは切断される。 - 特許庁