diffraction instrumentとは 意味・読み方・使い方

X-RAY DIFFRACTION MEASURING INSTRUMENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASURING INSTRUMENT EQUIPPED WITH DEBYE-SCHERRER OPTICAL SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのためのＸ線回折測定方法 - 特許庁

ALIGNING METHOD, POINT DIFFRACTION INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT, AND HIGH-ACCURACY PROJECTION LENS MANUFACTURING METHOD USING THE SAME INSTRUMENT例文帳に追加

アライメント方法、点回折干渉計測装置、及び該装置を用いた高精度投影レンズ製造方法 - 特許庁

FRESNEL ZONE PLATE, AND INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

フレネルゾーンプレートおよびＸ線回折測定装置ならびにＸ線回折測定方法 - 特許庁

Three techniques of electron diffraction, microscopy and EELS can be combined in a single instrument without sacrifice of performance.発音を聞く 例文帳に追加

電子回折、顕微法、EELSの3つの技法は、性能の犠牲なしに1つの装置の中に結合できる。 - 科学技術論文動詞集

To provide a spectroscopic instrument and detector that are improved in wavelength resolution and diffraction efficiency, and a method for manufacturing the spectroscopic instrument, etc.例文帳に追加

波長分解能と回折効率をともに向上できる分光装置、検出装置及び分光装置の製造方法等を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an instrument for measuring diffusion of a biosubstance by a transient diffraction grating method.例文帳に追加

過渡回折格子法による生体物質の拡散測定方法及び装置を提供しようとする。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction measuring instrument equipped with a Debye-Scherrer optical system eliminating the shading due to a conventional analyzer and excellent in resolving power, and a X-ray diffraction measuring method therefor.例文帳に追加

従来のナライザによるけられ（遮蔽）を解消し、分解能に優れたデバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのための方法を提供する。 - 特許庁