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emission x-ray analysisの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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emission x-ray analysisとは 意味・読み方・使い方

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日英・英日専門用語辞書での「emission x-ray analysis」の意味

emission X-ray analysis


「emission x-ray analysis」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 12



例文

X-RAY ANALYSIS APPARATUS AND EMISSION ANALYZER例文帳に追加

X線分析装置および発光分析装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロX線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

OBSERVATION/ANALYSIS METHOD FOR SAMPLE SURFACE BY OBLIQUE EMISSION PROTON BEAM INDUCED CHARACTERISTIC X- RAY ANALYSIS AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

斜出射プロトンビーム誘起特性X線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置 - 特許庁

To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加

斜出射EPMA分析において、複数の波長分散形X線分光器に対するX線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁

As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加

表面分析方法としては、XPS分析法等が挙げられ、ICP−AES分析と併用すれば、ICP−AES分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁

To provide an efficient and economical elemental analysis method not requiring formation of a vacuum environment for executing elemental analysis by corpuscular beam induced X-ray emission spectroscopy in the atmosphere.例文帳に追加

粒子線励起X線法による元素分析を大気中で行い、真空環境の形成を必要としない効率的で、経済的な元素分析装置を提供する。 - 特許庁

例文

To enable the analysis, fluorescent X-ray analysis and X-ray diffraction analysis of an object to be inspected which has concaves and convexes on its surface by making it possible to prolonging the working distance from an opening end on the emission side to the object to be inspected.例文帳に追加

出射側開口端から被検査体までの作動距離を長くすることができ、表面に凹凸がある被検査体の分析、蛍光X線分析、X線回折分析を被検査体の大きさに拘わらず行うことができるX線集束素子及び該X線集束素子を備えるX線照射装置を提供する。 - 特許庁

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「emission x-ray analysis」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 12



例文

To provide an X-ray analysis apparatus and an emission analyzer capable of investigating a cause of an abnormality in an operation of the apparatus easily in a short time and bringing the abnormal part back to normal in a short time.例文帳に追加

装置の動作異常の原因究明を短時間で簡単に行え、その異常部分を短時間で正常にすることができるX線分析装置および発光分析装置を提供する。 - 特許庁

In the above two stages of spectral analysis, the X-ray source is located at the same position and holds the same posture, and an emission slit 104 is located at the same position even though the position and posture of the multilayer mirror 102 are changed.例文帳に追加

上述の2種類の分光段階において、X線源の位置及び姿勢は同じであり、多層膜ミラー102の位置と姿勢は変化するが出射スリット104の位置は同じである。 - 特許庁

As the carbon material, the content of each of Zn and Cu by ICP emission spectral analysis is preferably 15 ppm or lower, furthermore, perferably, the content of Fe is 100 ppm or lower and the content of Cl by X-ray fluorescent analysis is preferably 70 ppm or lower.例文帳に追加

前記炭素材料としては、ICP発光分析によるZn、Cuの含有量がそれぞれ15ppm以下で、かつFeの含有量が100ppm以下であることが好ましく、また、ケイ光X線分析によるClの含有量が70ppm以下であることが好ましい。 - 特許庁

The toner for electrostatic charge image development includes at least a binder resin and a colorant, characterized in that: the binder resin contains polyester resin; the aluminum content of the toner ranges 0.005 to 0.040 mass% by fluorescent X-ray analysis; and the proportion of titanium ranges 50 to 500 ppm by IPC (induction plasma coupling) emission spectrochemical analysis.例文帳に追加

少なくとも結着樹脂及び着色剤からなる静電荷像現像用トナーであって、前記結着樹脂がポリエステル樹脂を含み、蛍光X線分析によるアルミニウム含有量が0.005〜0.040質量%の範囲であり、かつ、IPC発光分光分析によるチタン含有率が50〜500ppmの範囲である静電荷像現像用トナーである。 - 特許庁

例文

To provide an X-ray fluorescence analyzer or the like for judging a pretreatment method whereby the pretreatment method appropriate for executing an ICP emission analysis or the like is automatically judged on the basis of detection of a sample type, thereby enabling even unskilled operators to correctly analyze at a time and also eliminating the fear of contaminating the analyzer.例文帳に追加

試料の品種判定に基づいて、ICP発光分析などをするための適切な前処理方法の判断が自動的になされ、熟練していない操作者でも1回で正確な分析ができ、分析装置を汚染するおそれもない前処理方法判断用の蛍光X線分析装置などを提供する。 - 特許庁

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