feed inspectionとは 意味・読み方・使い方

An inspection system is equipped with a feed device for feeding an object to be inspected and an inspection device for inspecting the object to be inspected.例文帳に追加

被検査物を搬送する搬送装置と、前記被検査物を検査する検査装置とを備えた検査システムである。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus that eliminates inspection errors due to deformations of printed wiring boards and feed speed variations.例文帳に追加

プリント配線基板の変形や搬送速度変動に起因する検査の誤りが無い外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The automatic optical inspection system comprises a feed roller which is provided with the inspection object; a vision inspecting part for inspecting the object of inspection provided from the feed roller; and a winding roller which unloads the inspection-finished object.例文帳に追加

本発明の自動光学検査システムは検査対象物が提供される巻き出し部、前記巻き出し部から提供される前記検査対象物の表面を検査するビジョン検査部、検査を終えた前記検査対象物がアンローディングされる巻き取り部を含む。 - 特許庁

The substrate 2 is moved to the stage 3 for inspecting the substrate of the visual inspection system 1 from the feed stand 5 of a manufacturing line by a robot 10 and returned to the feed stand after the completion of inspection.例文帳に追加

基板２を製造ラインの搬送台５からロボット１０によって外観検査装置１の基板検査用のステージ３に移動させ、検査終了後に搬送台に戻す。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for performing stable inspection with respect to fluctuations, such as fluttering or skews, caused during feed process, even if high-speed feed devices are combined.例文帳に追加

高速な搬送装置と組み合わせても、その搬送過程で生じるバタツキやスキューといった変動に対して安定した検査を行う表面検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This substrate inspection device 1 has a feed part 3 for feeding a wafer W being the substrate and an inspection part 4 for inspecting the wafer W.例文帳に追加

基板検査装置１は、基板であるウェハＷを搬送する搬送３とウェハＷの検査をする検査部４とを有する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of efficiently performing the automatic inspection of a two-material resin-molded article on a feed line, with high reliability.例文帳に追加

２材質樹脂成形品の自動検査を搬送ライン上で高い信頼性をもって能率よく行い得る検査装置を提供する。 - 特許庁

A first inspection part 3 is provided between the injection molding machine 10 and the feed part 90.例文帳に追加

射出成形機１０と搬送部９０との間に第１の検査部３が設けられている。 - 特許庁