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gate‐recessの英語
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「gate‐recess」を含む例文一覧
該当件数 : 37件
Immediately after the gate electrode 35 is formed inside the gate recess 32 following the formation of the gate recess 32, the side face and the bottom face defining the gate recess 32 are subject to radical oxygen 40 for an oxide treatment to form an oxide treatment layer 37, and then the protective film 36 is formed.例文帳に追加
ゲートリセス32を形成し、ゲートリセス32内にゲート電極35を形成した直後に、ゲートリセス32を規定する側面および底面を、ラジカル酸素40によって酸化処理することによって、酸化処理層37を形成した上で、保護膜36を形成するようにする。 - 特許庁
A guide roller unit 20 formed by integrating the guide rails 21, 22 with each other is installed in the gate-recess of the gate apparatus 1.例文帳に追加
門扉装置1の戸袋3内に、ガイドレール21、22を一体化したガイドローラユニット20を備える。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of easily burying a conductive material into a gate recess.例文帳に追加
導電材料のゲートトレンチへの埋め込みが容易な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
An insulating film 109 is formed on at least an exposed part from the gate recess 108 in the barrier layer 104, and a gate electrode 112 is formed on the bottom surface of the gate recess 108, with the insulating film 109 being interposed in between.例文帳に追加
少なくとも障壁層104におけるゲートリセス108からの露出部分の上には絶縁膜109が形成され、ゲートリセス108の底面上には、絶縁膜109を介在させてゲート電極112が形成されている。 - 特許庁
To prevent the lowering of the maximum drain current in MIS-HEMT wherein a gate recess portion is formed penetrating through a 2DEG (two-dimensional electron gas) layer.例文帳に追加
ゲートリセス部が2DEG(2次元電子ガス)層を貫通して形成されたMIS-HEMTにおいて、最大ドレイン電流の低下を防止する。 - 特許庁
To enable stable control of depth of a gate recess to allow constant production of a normally-off operation device.例文帳に追加
ゲートリセスの深さの制御を安定的に行なえるようにして、ノーマリオフ動作のデバイスを安定的に作製できるようにする。 - 特許庁
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「gate‐recess」を含む例文一覧
該当件数 : 37件
To provide a field effect transistor having a small parasitic resistance by suppressing a highly increasing of a resistance caused by an influence of a stress generated in a gate recess region, in the field effect transistor using a group III-V nitride semiconductor having a gate recess structure.例文帳に追加
ゲートリセス構造を有するIII−V族窒化物半導体を用いた電界効果トランジスタにおいて、ゲートリセス領域に生じる応力の影響に起因する高抵抗化を抑制し、寄生抵抗が小さい電界効果トランジスタを実現できるようにする。 - 特許庁
To form a gate recess as designed with no current leakage from a gate and low contact resistance of an ohmic electrode, related to an FET comprising the gate recess where a mesa structure is formed to separate elements.例文帳に追加
化合物電界効果型半導体装置に関し、メサ構造を形成することで素子間分離され、且つ、ゲート・リセスをもつFETに於いて、ゲートからの漏れ電流がなく、オーミック電極の接触抵抗が低く、設計通りのゲート・リセスが形成できるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor structure that makes it possible to construct a semiconductor device with a gate recess structure, which hardly causes variations of threshold voltage, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加
閾値電圧のバラつきが生じにくいゲートリセス構造の半導体装置を提供することが可能な、半導体構造を提供する。 - 特許庁
To obtain a manufacturing method of a semiconductor device capable of making a semiconductor device such as a high frequency element having a gate recess structure with a good yield.例文帳に追加
ゲートリセス構造を有する高周波素子等の半導体装置を良好な歩留まりで製造することのできる半導体装置の製造方法を得る。 - 特許庁
A gate recess 5a is formed, by laminating a semiconductor layer 11 consisting of a III-V group nitride semiconductor on a substrate 1 and by etching the semiconductor layer 11.例文帳に追加
基板1の上にIII-V族窒化物半導体からなる半導体層11を積層し、半導体層11をエッチングすることによりゲートリセス5aを形成する。 - 特許庁
The compound semiconductor device includes: an i-InP etching stopper layer 5 which contains P as one of constituent components and is opposite to a gate recess 6A; an area which is within a region of the i-InP etching stopper layer 5 demarcated by the gate recess 6A and is formed thinner than the other area; and a gate electrode 9 formed in the thinned area.例文帳に追加
Pを組成の一部として含んでゲートリセス6Aに対向するi−InPエッチングストッパ層5と、i−InPエッチングストッパ層5のゲートリセス6Aで画成された領域内に在って該領域内の他の領域に比較して薄くされた領域と、該薄くされた領域に形成されたゲート電極9とを備える。 - 特許庁
Here, before the second photoresist pattern 110 is removed, the semi-insulating GaAs substrate 101 is subjected to a plasma processing in an H_2S-containing atmosphere in order to stabilize the surface of the gate recess 111 with sulfur.例文帳に追加
ここで、ゲートリセス111を硫黄で表面安定化するため、第2のフォトレジストパターン110を除去する前にH_2Sを含む雰囲気下でプラズマ処理を加える。 - 特許庁
The respective GaAs layers 25, 27 are etched with a citric acid/hydrogen peroxide solution, respectively, whereby the gate recess of a two-stage structure is formed in these GaAs layers 25, 27.例文帳に追加
そして、各GaAs層25,27をそれぞれクエン酸/過酸化水素溶液によってエッチングすることにより、これらのGaAs層25,27に二段構造のゲートリセスを形成する。 - 特許庁
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