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heat generation testの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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意味・対訳 発熱試験


JST科学技術用語日英対訳辞書での「heat generation test」の意味

heat generation test


「heat generation test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

METHOD FOR COMPENSATING HEAT GENERATION OF SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER例文帳に追加

半導体素子テストハンドラの発熱補償方法 - 特許庁

HEAT GENERATION COMPENSATING DEVICE FOR MODULE IC TEST HANDLER例文帳に追加

モジュールICのテストハンドラ用発熱補償装置 - 特許庁

APPARATUS FOR COMPENSATING HEAT GENERATION OF SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST HANDLER例文帳に追加

半導体素子テストハンドラの発熱補償装置 - 特許庁

To provide an apparatus for compensating the heat generation of a semiconductor element test handler, which compensates the temperature deviation due to the heat generation of the semiconductor element itself, in the temperature test of the semiconductor element, and which can perform the test at an accurate temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度テスト中に半導体素子自体の発熱による温度偏差を補償して、正確な温度下でテストを遂行できる半導体素子テストハンドラの発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To provide a heat generation compensating device which is used in a test handler which tests an module IC attached to a test socket, and can efficiently compensate the heat generation of the IC during tests.例文帳に追加

モジュールICをテストソケットに装着してテストを行うテストハンドラに使用され、テスト中のICの発熱補償を効果的に行うことのできる発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To produce a retardation film the retardation of which hardly fluctuates before and after a moist-heat endurance test while restraining the generation of wrinkles.例文帳に追加

シワの発生を抑えつつ、湿熱耐久試験の前後におけるレターデーションの変動が小さい位相差フィルムを製造する。 - 特許庁

例文

A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.例文帳に追加

内部短絡及び/又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁

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「heat generation test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 21



例文

Generation of moisture is prevented by thus blocking heat from a light source of a light beam to be used for the test to the chip under test cooled to a low temperature via a chuck 13.例文帳に追加

このようにテストに用いる光線の光源からの熱をチャック13で低温に冷却されているテスト対象チップに対して遮断することによって、水気の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a loading system for a cell load test by which consumption of power generated by a fuel cell is suppressed in the cell load test, and heat generation involved in such consumption of power is suppressed.例文帳に追加

電池の負荷試験において、燃料電池が発生する電力の消費を抑制し、この電力の消費に伴う発熱を抑制する電池試験用負荷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a handler for semiconductor element inspection capable of maintaining stable temperature of inspecting conditions, even when the number of elements under test during the time of parallel inspection or heat generation of elements under test itself and of maintaining stable contact.例文帳に追加

並列検査時に被検査素子の数が増加するか、被検査素子自体が発熱される場合にも、テスト環境の安定的温度維持が可能であり、安定したコンタクトを維持しうる半導体素子検査用のハンドラを提供する。 - 特許庁

To provide a leakage detector equipped with an inexpensive and compact test device for checking performance of the leakage detector without using resistor components of high rated power or high heat resistance, while reducing heat generated by test operation, possibility of disconnection and burning of electric wires due to heat generation, and impact on periphery components by heat as much as possible, thereby reducing power consumption for test operation.例文帳に追加

漏電検出器の動作を確認するためのテスト装置を,定格電力や耐熱性能の高い抵抗部品を用いることなく安価で小型に構成でき,また,テスト動作に伴う発熱や,該発熱に伴う電線の断線や焼損が起こる可能性,ならびに熱による周辺部品への影響を極力低減でき,しかも,テスト動作のために消費する電力を低減できるテスト装置を備えた漏電検出器を提供すること。 - 特許庁

To carry on improvement of a lithium ion secondary battery for higher capacity, higher output and a longer life, with safety further improved, especially in a nailing test, and to surely prevent generation of thermal runaway by restraining heat generation due to internal short circuit.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池の高容量化、高出力化および長寿命化を進めるとともに、安全性を一層向上させ、特に釘刺し試験において、内部短絡による発熱を抑制し、熱暴走の発生を確実に防止する。 - 特許庁

To enable evaluation which suppresses variations of test results, while shortening the time for evaluation, by holding generation of heat of a part to be tested within the appropriate limits.例文帳に追加

タイヤのドラム耐久試験方法において、試験部位の発熱を適切な範囲に保つことにより、評価時間を短縮しつつ、試験結果のバラツキも抑える評価が可能とする。 - 特許庁

To achieve high capacity, a high output, and long life of a lithium ion secondary battery, and further to improve safety, and especially, to suppress heat generation due to an internal short-circuit in a nailing test.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池の高容量化、高出力化および長寿命化を進めるとともに、安全性を一層向上させ、特に釘刺し試験において、内部短絡による発熱を抑制する。 - 特許庁

例文

To provide a mounting structure for an electronic component with a bump by which the generation of an open defect in a heat cycle test or the like is prevented, and by which a migration defect between electrode pads can be prevented effectively.例文帳に追加

本発明は、温度サイクル試験等におけるオープン不良の発生を防止し、電極パッド間のマイグレーション不良を有効に防止できるバンプ付電子部品の実装構造を提供することにある。 - 特許庁

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「heat generation test」の意味に関連した用語

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