ionization spectrumとは 意味・読み方・使い方

The computer 8 corrects the mass spectrum data based on an ionization ratio and an isotope ratio, and produces corrected mass spectrum data and displays it.例文帳に追加

コンピュ−タ８は質量スペクトルデ−タをイオン化率及び同位体比にもとづいて補正して、補正された質量スペクトルデ−タを生成し、表示する。 - 特許庁

CHEMICAL IONIZATION REACTION OR PROTON TRANSFER REACTION MASS SPECTRUM ANALYSIS USING QUADRUPOLE OR TIME-OF-FLIGHT TYPE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

四重極または飛行時間型質量分光計を用いた化学イオン化反応または陽子移動反応質量分光分析 - 特許庁

To provide a laser ionization mass spectroscope that can analyze polymer material with high sensitivity and has high selectivity for mass spectrum and polymer type.例文帳に追加

高分子材料を高感度に分析可能であり、且つ、質量スペクトルと高分子の種類の選択性も高いレーザイオン化質量分析装置を提供する。 - 特許庁

Also, when no mass spectrum is obtained by the mass spectrograph, an ionization acceleration solution can be added from an injection port 2 being provided for the post column system of a separation column for the next mass sweeping.例文帳に追加

また、これでも質量分析計でマススペクトルが得られない時、次の質量掃引は分離カラムの出口にポストカラム方式用に設けてある注入口よりイオン化促進溶液を添加できる。 - 特許庁

In this system, many kinds of 5-valent or more polyvalent ions are generated by ionization method using gas atomization, and the mass spectrometric spectra thereof are detected and compared with mass spectrum patterns predicted to a non-polymorphic type and polymorphic type to determine the base in a polymorphic position.例文帳に追加

ガス噴霧を用いたイオン化法により５価以上の多数種類の多価イオンを生成し、その質量分析スペクトルを検出するとともに、多型でない場合と多型である場合に対して予測した質量スペクトルパターンと比較して多型箇所の塩基を決定する。 - 特許庁

In this surface analyzing method by means of the matrix assist laser deionization time-of-flight mass spectrometer, after vacuum deposition of a matrix on the sample surface, ionization is carried out by ultraviolet laser irradiation for providing a mass spectrum about a chemical substance on the sample surface.例文帳に追加

マトリックス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間質量分析計による表面分析方法において、試料の表面にマトリックスを真空蒸着した後に紫外線レーザーを照射してイオン化を行って試料表面の化学物質に関連するマススペクトルを得る。 - 特許庁

In the measurement method for abrasion loss of a measurement sample surface having a substrate and a coating layer, a standard sample surface spectrum is formed by using a surface element analyzer analyzing element of a material surface from charged particle energy spectrum obtained by measuring charged particles generated out of the material surface when excited ionization radiation is irradiated to a sample identical to the measurement sample.例文帳に追加

基体と、被覆層とを有する測定試料の表面の摩耗量を測定する方法において、測定試料と同等な標準試料に、励起電離放射線を照射して物質表面から発生する荷電粒子を計測することによって得られる荷電粒子エネルギースペクトルから物質表面の元素を分析する表面元素分析装置を使用し、標準試料表面のスペクトルを作成する。 - 特許庁