layer insulation testとは 意味・読み方・使い方

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

By making a thickness of the inside craft paper layer 6 at 1/3 to 2/3 of that of the total paper layer constituting the oil-immersed insulation layer 3, the manufacturing time needed of the cable 1 can be shortened without deteriorating direct-current breakdown voltage during the cooling period of the heat cycle test.例文帳に追加

内側クラフト紙層６の厚さを、油浸絶縁層３を構成する全紙層の厚さの１／３〜２／３としたことにより、ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなくケーブル１の製造所要時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing device capable of detecting deterioration in insulation performance by pin holes and stably measuring the value of impedance without damaging an insulating layer accompanied by the test.例文帳に追加

試験に伴って絶縁層を破壊する事がなく、しかも、ピンホールによる絶縁性能の悪化を検知でき、更にはインピーダンスの値を安定して測定できる試験方法及び装置を実現する。 - 特許庁

The stator coil insulation test device 1 detects a layer short-circuit which is a short-circuit of the winding in a stator coil 24 of a stator 22 in the combined state between the stator 22 of a motor 21 as a specimen and a rotor 23.例文帳に追加

ステータコイル絶縁試験装置１は、試験品であるモータ２１のステータ２２とロータ２３とが組み合わされた状態でステータ２２のステータコイル２４における巻線の短絡であるレアショートを検出する。 - 特許庁

To provide a multilayer ceramic capacitor which can inhibit decrease in insulation resistance, accompanying the temporal variations in high-temperature load test and can keep high insulation, even if reduction treatment is carried out, in a multilayer ceramic capacitor which is constituted of a dielectric porcelain, constituted of crystal particles of barium titanate and crystal particles of barium calcium titanate as the dielectric layer.例文帳に追加

チタン酸バリウム結晶粒子とチタン酸バリウムカルシウム結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う絶縁抵抗の低下を抑制でき、還元処理を行っても高絶縁性の積層セラミックコンデンサを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for circuit board which can precisely judge quality in continuity/insulation performance of a circuit within the inspecting circuit board even if the circuit board has no inside layer conductive plane, in order to promote efficiency of circuit board inspection process.例文帳に追加

検査対象の回路基板が内層導電プレーンを持たなくとも、回路基板内の回路の導通性能、絶縁性能の良否を高速で高精度で判定できる回路基板検査装置及び検査方法を提供し、回路基板検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

A test facilitating circuit interior SIP1c is configured by bonding a plurality of core substrates, on at least one of which an integrated circuit chip is mounted, via an insulation resin layer and is configured by connecting wiring layers formed on the core substrates via a through-hole.例文帳に追加

テスト容易化回路内装ＳＩＰ１ｃは、少なくともその１つに集積回路チップが搭載された複数のコア基板を、絶縁樹脂層を介して貼り合わせて構成するとともに、コア基板に形成された配線層を、スルーホールを介して接続して構成される。 - 特許庁

A detector 2b is connected to a serial power connector 24 of an energy storage device 22 disposed in the container to detect a condition change of a test signal derived from the serially connected energy storage device and existence of failure on an insulation layer 27.例文帳に追加

容器内に配置されたエネルギー蓄積装置２２の直列電力接続体２４に対して検出器２ｂが連結され、直列接続エネルギー蓄積装置から導出された試験信号の状態変化を検出し、絶縁層２７における破損箇所の存在を検出する。 - 特許庁