mass defectとは 意味・読み方・使い方

To improve the problem of a defect such as scratch onto a surface layer and to enhance yields and mass-productivity, in a polishing process of manufacture of a recording medium.例文帳に追加

記録媒体製造の研磨加工において、表面層に対するスクラッチ等の欠陥発生の問題を改善し、歩留りの向上、量産化を阻害はかる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a piezoelectric sheet with excellent mass-productivity whereby defect or the like is not caused to a piezoelectric element chip and exfoliation of a resin film is not required.例文帳に追加

圧電素子チップを破損等することがなく、しかも樹脂膜の除去作業が不要となる、量産性に優れた圧電シートの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hot film air mass meter for measuring air mass flow flowing in direction of main flow especially in the suction pipe of internal combustion engine capable of avoiding the heretofore known defect from conventional technology.例文帳に追加

従来技術から公知の装置の欠点を回避することのできる、とりわけ内燃機関の吸気管において主通流方向に通流する空気質量流を測定するためのホットフィルム空気質量計を提供する。 - 特許庁

To provide a hot film air mass meter for measuring air mass flow flowing in direction of main flow especially in the suction pipe of internal combustion engine capable of avoiding the heretofore known defect from conventional technology.例文帳に追加

従来技術から公知の装置の欠点を回避することのできる、とりわけ内燃機関の吸気管において主通流方向に通流する空気質量流を測定するためのホットフィルム空気質量計を提供することである。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for producing a tube with grooves on the inner surface with which the long tube with the grooves on the inner surface can be mass-produced at a low cost without developing any defect.例文帳に追加

長尺な内面溝付き管を欠陥を招くことなく安価に量産することが可能な内面溝付き管の製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

After removing the resist 15 and the SiO2 film 14, when heat treatment is performed at 1050°C by nitrogen and ammonia gas atmosphere, a low-defect GaN layer 16 is formed at the groove part by a mass transport phenomenon.例文帳に追加

レジスト15とSiO_2膜14を除去した後、窒素とアンモニアガス雰囲気で、1050℃で熱処理を行うと、マストランスポート現象により溝部に低欠陥なGaN層16が形成される。 - 特許庁

In the hollow panel 10, a mass per unit area is made partially different, so that a sound insulation defect can be prevented from being caused by coincidence effects at a specific frequency.例文帳に追加

この中空パネル１０は、面密度を部分的に異ならせることによって、特定周波数におけるコインシデンス効果による遮音欠損を防止するものである。 - 特許庁

This method comprises a process to compare relative isotope intensity of the measured isotope peaks (A+1, A+2, ... A+n) with calculated relative isotope intensity of the isotope ion proposed in the experimental formula, and a process to compare relative mass defect of the measured isotope peaks with calculated relative mass defect of the isotope ion proposed in the experimental formula.例文帳に追加

当該方法は、測定同位体ピーク（Ａ＋１、Ａ＋２、・・・Ａ＋ｎ）の相対同位体強度を、実験式案の同位体イオンの算出相対同位体強度と比較すること、並びに測定同位体ピークの相対質量欠損を、実験式案の同位体イオンの算出相対質量欠損と比較することを包含する。 - 特許庁