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major defectsとは 意味・読み方・使い方
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「major defects」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 5件
The fixed defects 4 are separated from random defects 1b, 2b, and 3b, on each of the major surfaces of the disks 1, 2, and 3, by extracting the fixed defects 4 from each of the disks 1, 2, and 3.例文帳に追加
それぞれのディスク1,2,3から固定欠陥4を抽出することによって、それぞれのディスク1,2,3の主面で、固定欠陥4とランダム欠陥1b,2b,3bとを分離する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a film for reducing even such surface defects that the height is very low and the major axis is large.例文帳に追加
非常に高さが低く長径の大きい表面欠点をも低減できるフィルムの製造方法の提供。 - 特許庁
After the formation of magnetic films on the plural disk substrate, the defects existing on the surfaces of the disks 1, 2, and 3 are detected, and the fixed defects 4 existing at approximately the same positions each other are extracted by the detection result of the defects existing on the major surfaces of the three disks 1, 2, and 3, respectively.例文帳に追加
複数枚のディスク基板上に磁性膜を形成した後、ディスク1,2,3の表面に存在する欠陥を検出して、3枚のディスク1,2,3の主面にそれぞれ存在する欠陥の検出結果から、互いにほぼ等しい位置に存在する固定欠陥4を抽出する。 - 特許庁
Then, the method can inhibit defects such as pits from occurring on the major plated layer 44, make the Young's modulus of the major plated layer 44 higher than that of the other plated layers, and manufacture a spiral contact shoe 20 superior in spring characteristics.例文帳に追加
これにより前記主メッキ層44にピット等の欠陥部が生じることを抑制できるとともに、前記主メッキ層44のヤング率を他のメッキ層よりも高めることができ、ばね性に優れたスパイラル接触子20を製造することができる。 - 特許庁
At the chamfer part of the glass substrate 10 for the magnetic recording medium, the number of circular or elliptic recesses of 10 μm or larger in diameter (or major diameter) as pit defects is measured.例文帳に追加
磁気記録媒体用ガラス基板10の面取り部において、直径(または長径)が10μm以上の円形状または楕円形状を有する凹をピット欠陥とし、その数を計測した。 - 特許庁
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