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misinspectionとは 意味・読み方・使い方
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Wiktionary英語版での「misinspection」の意味 |
misinspection
名詞
misinspection (countable かつ uncountable, 複数形 misinspections)
- An inspection that fails to identify something important; the act of misinspecting.
- 1985, Madhav N. Sinha, Walter W. O. Willborn, The Management of Quality Assurance, page 263:
- On-line installation of this inspection equipment resulted in a 20 % reduction in misinspection of defects in travelling strip.
- 1988, United States. National Labor Relations Board, Decisions and Orders of the National Labor Relations Board, page 2:
- Quality control, a separate department, spot checks first-line tubes ( those tubes passed by the inspectors ) for defects or other misinspections.
「misinspection」を含む例文一覧
該当件数 : 4件
The misinspection caused by fouling of the semiconductor element 10 and/or the probe 18 can be discovered from regularity of an inspection result generated in the scanning direction of the probe 18.例文帳に追加
探針１８の走査方向に生じる検査結果の規則性から、半導体素子１０および／または探針１８の汚れに起因する検査ミスを発見することが可能となる。 - 特許庁
Consequently, the inspection method capable of minimizing misinspection can be provided, concerning the inspection method of the semiconductor element 10 for inspecting the characteristic of the semiconductor element 10 by bringing the probe 18 into contact with the semiconductor element 10, by performing reinspection after cleaning treatment is applied to a semiconductor wafer 12 and/or the probe 18 where the misinspection is discovered.例文帳に追加
この為、検査ミスが発見された半導体ウェハ１２および／または探針１８に清浄化処理を施した後に再検査することにより、半導体素子１０に探針１８を接触させてその半導体素子１０の特性を検査する半導体素子１０の検査方法に関して、検査ミスを可及的に減少させる検査方法を提供することができる。 - 特許庁
To provide an inspection method capable of minimizing misinspection, concerning the inspection method of a semiconductor element for inspecting the characteristic of the semiconductor element by bringing a probe into contact with the semiconductor element.例文帳に追加
半導体素子に探針を接触させてその半導体素子の特性を検査する半導体素子の検査方法に関して、検査ミスを可及的に減少させる検査方法を提供する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of misinspection and the outflow of defective products by surely specifying a piece to be inspected in an RF-ID inspection system for inspecting the quality of produced RF-ID.例文帳に追加
本発明は、製造されるＲＦ−ＩＤの良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムに関し、確実に対象検査片を特定することで誤検査を防止して不良品流出の防止を図ることを目的とする。 - 特許庁
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