JP2551143B2 - ATM switch communication path failure detection system - Google Patents
ATM switch communication path failure detection systemInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はディジタル電子交換システムの通話路系装置
に係わり、特に現用系と予備系の通話路障害の検出を行
うことのできるATMスイッチ通話路障害検出システムに
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a communication path device of a digital electronic switching system, and more particularly to an ATM switch communication path capable of detecting a communication path failure between an active system and a standby system. Fault detection system.
従来からパケット交換システムでは、プロセッサによ
る蓄積制御を行っている。このため、通話路障害の検出
にはパリティチェック方式やソフトウエア制御によるセ
ルの廃棄の有無等のチェック方式が一般に使用されてい
る。Conventionally, in a packet switching system, storage control is performed by a processor. For this reason, a parity check method and a check method of presence / absence of cell discard by software control are generally used for detecting a channel failure.
ところが、このような従来の通話路障害検出の手法で
は、画像のように高密度の情報の処理を達成することが
できない。そこで、ATM(非同期転送モード)方式のセ
ル(パケット)交換システムでは、ハードウェアによる
セルの高速交換を行うことにして、面倒な誤り制御はネ
ットワークの頭ごしにエンド・ツー・エンドの端末間で
行うことにしている。However, such a conventional method for detecting a communication path failure cannot achieve processing of high-density information such as an image. Therefore, in the ATM (Asynchronous Transfer Mode) cell (packet) switching system, high-speed cell switching is performed by hardware, and troublesome error control is carried out at the end of the network between end-to-end terminals. I'm going to do it.
このようにして従来のATM方式のセル交換システムで
は、ネットワーク側の通話路や伝送路で誤りの検出や処
理を行っていない。したがって、間歇的なビットエラー
が発生した場合のように、エンド・ツー・エンドの端末
間で誤りの検出が可能なものについては再送等の誤り制
御が可能であるが、ATMスイッチ通話路等の固定障害に
対しては対処することができないという問題があった。
更に、従来の障害検出の手法では、ハードウェアの障害
に対応するために予備系を有するシステムで予備系の正
常法を確認することができないという問題もあった。In this way, the conventional ATM cell switching system does not detect or process errors on the communication path or transmission path on the network side. Therefore, as in the case where an intermittent bit error occurs, it is possible to perform error control such as retransmission for those that can detect errors between end-to-end terminals. There was a problem that fixed failures could not be dealt with.
Further, the conventional failure detection method has a problem that it is not possible to confirm the normal method of the standby system in the system having the standby system in order to cope with the hardware failure.
そこで本発明の目的は、ATMスイッチ通話路の現用系
および予備系の障害を検出する検出システムを提供する
ことにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a detection system for detecting a fault in the active system and the standby system of an ATM switch communication path.
本発明では、(i)入回線の入力セルを現用系と予備
系の双方に分配する分配回路と、(ii)入回線に障害検
出用のテストセルを挿入する挿入回路と、(iii)現用
系と予備系の双方の出力側に配置されテストセルを抽出
する第1の抽出回路と、(iv)両系の出力の一方を現用
系として選択する切替回路と、(v)この切替回路と出
回線の間に配置された第2の抽出回路と、(vi)この第
2の抽出回路によって所定時間内にテストセルが検出さ
れるかどうかにより現用系の通話路の障害を検出する検
出回路と、(vii)第1の抽出回路によって抽出された
両系のテストセルを比較し、検出回路の検出結果と論理
をとって予備系の障害を検出する比較回路とをATMスイ
ッチ通話路障害検出システムに具備させる。According to the present invention, (i) a distribution circuit that distributes an input cell of an incoming line to both a working system and a standby system, (ii) an insertion circuit that inserts a test cell for detecting a failure into the incoming line, and (iii) a working circuit A first extraction circuit arranged on the output side of both the system and the standby system to extract a test cell; (iv) a switching circuit for selecting one of the outputs of both systems as the active system; and (v) this switching circuit. A second extraction circuit arranged between the outgoing lines, and (vi) a detection circuit for detecting a fault in the active communication channel depending on whether a test cell is detected within a predetermined time by the second extraction circuit. And (vii) a comparison circuit that compares the test cells of both systems extracted by the first extraction circuit and detects the failure of the standby system by taking the logic of the detection result of the detection circuit and the ATM switch communication path failure detection Prepare for the system.
すなわち本発明では、挿入回路によってATMスイッチ
通話路の手前でテストセルを挿入させ、切替回路の後の
段階でこのテストセルが検出されるか否かをチェックし
て現用系の障害の有無をチェックする。また、挿入回路
によって挿入したテストセルを分配回路で現用系と予備
系に分配して、これらのATMスイッチ通話路を通過した
後のテストセルを比較回路で比較することによって、予
備系の障害の有無をチェックする。That is, in the present invention, a test cell is inserted before the ATM switch communication path by the insertion circuit, and it is checked whether or not this test cell is detected at a stage after the switching circuit to check whether there is a failure in the active system. To do. In addition, the test circuit inserted by the insertion circuit is distributed to the active system and the standby system by the distribution circuit, and the test cells after passing through these ATM switch communication paths are compared by the comparison circuit to check the failure of the standby system. Check for existence.
以下、実施例につき本発明を詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples.
第1図は本発明の一実施例におけるATMスイッチ通話
路の構成を表わしたものである。FIG. 1 shows the structure of an ATM switch communication path in an embodiment of the present invention.
このATMスイッチ通話路で入回線11を伝送されてきた
セル“A",“B",“C"……は入力セル分配回路12に入力さ
れるようになっている。入力セル分配回路12ではこれを
“0系”および“1系”の2つのATMスイッチ通話路1
3、14に分配する。これらATMスイッチ通話路13、14の出
側にはテストセル抽出回路(第1の抽出回路)15、16が
それぞれ配置されている。これらの回路15、16は、入回
線11にテストセル挿入回路17を通じて挿入されるテスト
セル“T"またはそのコピー“T1"を抽出する回路であ
る。テストセル抽出回路15、16の後段には切替回路18が
配置されており、現用系のセルのみがここを通過してテ
ストセル抽出回路(第2の抽出回路)19を経て出回線21
に送出される。The cells “A”, “B”, “C”, ..., Which have been transmitted through the incoming line 11 through this ATM switch communication path, are input to the input cell distribution circuit 12. The input cell distribution circuit 12 uses this as two ATM switch communication paths 1 for "0 system" and "1 system".
Distribute into 3 and 14. Test cell extraction circuits (first extraction circuits) 15 and 16 are arranged on the output sides of these ATM switch communication paths 13 and 14, respectively. These circuits 15 and 16 are circuits for extracting the test cell “T” or its copy “T1” inserted into the incoming line 11 through the test cell inserting circuit 17. A switching circuit 18 is arranged at the subsequent stage of the test cell extraction circuits 15 and 16, and only the active cell passes through this and passes through the test cell extraction circuit (second extraction circuit) 19 to the outgoing line 21.
Sent to
ここでテストセル抽出回路19は、テストセル抽出回路
15、16を通過したテストセル“T2“または“T3"を抽出
する回路である。抽出されたテストセル“T2"または“T
3"は、テストセル検出回路22に入力され、検出結果は現
用系の障害表示24として通話路制御回路25に送られる。
この通話路制御回路25には、両テストセル抽出回路15、
16の抽出したテストセル“T",“T1"をテストセル比較回
路26で比較した比較結果としての予備系の障害表示27も
入力されるようになっている。通話路制御回路25はテス
トセル挿入回路17を制御する他、両障害表示24、27に応
じて通話路の必要な制御を行うようになっている。Here, the test cell extraction circuit 19 is a test cell extraction circuit.
This is a circuit that extracts the test cell “T2” or “T3” that has passed 15 and 16. Extracted test cell “T2” or “T
3 "is input to the test cell detection circuit 22, and the detection result is sent to the communication path control circuit 25 as a fault display 24 of the active system.
This speech path control circuit 25 includes both test cell extraction circuits 15,
The spare system fault display 27 as a comparison result obtained by comparing the 16 extracted test cells "T" and "T1" by the test cell comparison circuit 26 is also input. The speech path control circuit 25 controls the test cell insertion circuit 17 and also performs necessary control of the speech path in accordance with both the failure indications 24 and 27.
今、“0系”のATMスイッチ通話路14が現用となって
いる場合を例にとり、本実施例のATMスイッチ通話路障
害検出システムの動作を説明する。Now, the operation of the ATM switch communication path failure detection system of this embodiment will be described by taking as an example the case where the "0" ATM switch communication path 14 is in use.
入回線11から入ってきた各セル“A",“B",“C"は入力
セル分配回路12に入力され、現用系のATMスイッチ通話
路14にこれがそのまま送られる。予備系のATMスイッチ
通話路13には、各セルのコピー“A1",“B1",“C1"が送
られる。The cells "A", "B", and "C" that have entered from the incoming line 11 are input to the input cell distribution circuit 12 and are sent to the active ATM switch communication path 14 as they are. Copies "A1", "B1", and "C1" of each cell are sent to the ATM switch communication path 13 of the standby system.
ところで、通話路制御回路25は障害検出用のテストセ
ル“T"をテストセル挿入回路17から入回線11り送り込
む。本実施例では、セル“A“と次のセル“B"の間にテ
ストセル“T"が挿入されるものとする。この結果、入力
セル分配回路12には各セル“A",“T",“B",“C"がこの
順で送り込まれる。したがって入力セル分配回路12は、
各セル“A",“T",“B",“C"をこの順序で現用系のATMス
イッチ通話路14に送出する。予備系のATMスイッチ通話
路13には、コビーされた各セルが“A1",“T1",“B1",
“C1"の順序で送り込まれることになる。By the way, the speech path control circuit 25 sends a test cell "T" for detecting a failure from the test cell insertion circuit 17 to the incoming line 11. In this embodiment, the test cell "T" is inserted between the cell "A" and the next cell "B". As a result, each cell "A", "T", "B", "C" is sent to the input cell distribution circuit 12 in this order. Therefore, the input cell distribution circuit 12
The cells "A", "T", "B", and "C" are transmitted in this order to the active ATM switch communication path 14. In the standby ATM switch communication path 13, the Cobyed cells are "A1", "T1", "B1",
It will be sent in the order of "C1".
この結果、テストセル抽出回路16からはテストセル
“T"が、また他のテストセル抽出回路15からはテストセ
ル“T1"がそれぞれ抽出されてテストセル比較回路26に
入力される。テストセル比較回路26では両者が一致しな
ければ、後に説明する検出回路によって現用系のATMス
イッチ通話路14が正常であるとの前提の下で予備系のAT
Mスイッチ通話路13の障害を検出し、障害表示27を行
う。As a result, the test cell “T” is extracted from the test cell extraction circuit 16 and the test cell “T1” is extracted from the other test cell extraction circuits 15 and input to the test cell comparison circuit 26. If they do not match in the test cell comparison circuit 26, the standby circuit AT is assumed to be normal by the detection circuit described later on the assumption that the active ATM switch communication path 14 is normal.
A failure of the M switch communication path 13 is detected and a failure display 27 is displayed.
一方、テストセル抽出回路16では、抽出されたテスト
セル“T"のコピー“T2"を作成し、これを代わりに組み
込んで、各セル“A",“T2",“B",“C"として切替回路18
に送出する。他のテストセル抽出回路15でも同様にして
テストセル“T1"のコピー“T3"を作成し、これをテスト
セルとして代わりに組み込んで各セル“A1",“T3",“B
1",“C1"を切替回路18に送出する。On the other hand, the test cell extraction circuit 16 creates a copy "T2" of the extracted test cell "T", and incorporates this copy in place of each of the cells "A", "T2", "B", "C". As switching circuit 18
To send to. In the other test cell extraction circuit 15 as well, a copy "T3" of the test cell "T1" is made in the same manner, and this is incorporated as a test cell instead of each cell "A1", "T3", "B".
1 "and" C1 "are sent to the switching circuit 18.
切替回路18は、現用系のATMスイッチ通話路14側を選
択しているため、抽出回路15から送られてきた各セル
“A1",“T3",“B1",“C1"はここで廃棄される。そし
て、テストセル抽出回路16から送られてきた各セル
“A",“T2",“B",“C"が出力され、テストセル抽出回路
19に入力される。テストセル抽出回路19ではテストセル
“T2“を抽出し、これをテストセル検出回路22に供給す
る。残りの各セル“A",“B",“C"は、出回線21に送出さ
れる。Since the switching circuit 18 selects the ATM switch communication path 14 side of the active system, each cell “A1”, “T3”, “B1”, “C1” sent from the extraction circuit 15 is discarded here. To be done. Then, the cells “A”, “T2”, “B”, and “C” sent from the test cell extraction circuit 16 are output, and the test cell extraction circuit
Entered in 19. The test cell extraction circuit 19 extracts the test cell “T2” and supplies it to the test cell detection circuit 22. The remaining cells “A”, “B”, and “C” are sent to the outgoing line 21.
さて、テストセル抽出回路19は抽出されたテストセル
“T2"を入力する検出論理回路28を備えている。検出論
理回路28には検出タイミング回路29からタイミング信号
31も供給されるようになっている。検出論理回路28は、
タイミング信号31が入力されるそのタイミングでテスト
セル“T2"が検出されるか否かを判定し、検出されなけ
れば現用系の障害表示24を行う。Now, the test cell extraction circuit 19 includes a detection logic circuit 28 for inputting the extracted test cell "T2". The detection logic circuit 28 has a timing signal from the detection timing circuit 29.
31 is also being supplied. The detection logic circuit 28 is
At the timing when the timing signal 31 is input, it is determined whether or not the test cell "T2" is detected, and if not detected, the fault display 24 of the active system is performed.
検出論理回路28の検出結果によって現用系に障害が発
生しているかどうかは把握されている。したがって、比
較回路26の比較結果が両系のテストセルの一致を示して
いる場合には、予備系が正常であることが分かる。逆に
比較結果が両系の不一致を示している場合には、現用系
が正常であるので、予備系に障害が生じていることが分
かる。このようにして予備系の障害の検出を行う。It is known from the detection result of the detection logic circuit 28 whether a failure has occurred in the active system. Therefore, when the comparison result of the comparison circuit 26 indicates that the test cells of both systems match, it is understood that the standby system is normal. On the contrary, when the comparison result shows the disagreement between the two systems, it means that the active system is normal and therefore the standby system has a failure. In this way, the failure of the standby system is detected.
以上説明したように本発明によれば、第2の抽出回路
によって所定時間内にテストセルが検出されるかどうか
をチェックすることにより現用系の通話路の障害を検出
することができる。また、第1の抽出回路によって抽出
された両系のテストセルを比較して予備系の障害を検出
できるので、予備系障害の潜在化を防止することができ
るという効果がある。As described above, according to the present invention, it is possible to detect a fault in the active communication path by checking whether the test cell is detected within the predetermined time by the second extraction circuit. Further, since the failure of the standby system can be detected by comparing the test cells of both systems extracted by the first extraction circuit, there is an effect that the latent failure of the standby system can be prevented.
第1図は本発明の一実施例におけるATMスイッチ通話路
障害検出システムの構成を示すシステム構成図である。 11……入回線、12……入力セル分配回路、 13、14……ATMスイッチ通話路、 15、16……テストセル抽出回路(第1の抽出回路)、 17……テストセル挿入回路、 18……切替回路、 19……テストセル抽出回路(第2の抽出回路)、 21……出回線、22……テストセル検出回路、 26……テストセル比較回路。FIG. 1 is a system configuration diagram showing the configuration of an ATM switch communication path failure detection system according to an embodiment of the present invention. 11 …… Incoming line, 12 …… Input cell distribution circuit, 13,14 …… ATM switch communication path, 15,16 …… Test cell extraction circuit (first extraction circuit), 17 …… Test cell insertion circuit, 18 ...... Switching circuit, 19 …… Test cell extraction circuit (second extraction circuit), 21 …… Outgoing line, 22 …… Test cell detection circuit, 26 …… Test cell comparison circuit.
Claims (1)
に分配する分配回路と、 入回線に障害検出用のテストセルを挿入する挿入回路
と、 現用系と予備系の双方の出力側に配置されテストセルを
抽出する第1の抽出回路と、 両系の出力の一方を現用系として選択する切換回路と、 この切換回路と出回線の間に配置された第2の抽出回路
と、 この第2の抽出回路によって所定時間内にテストセルが
検出されるかどうかにより現用系の通話路の障害を検出
する検出回路と、 前記第1の抽出回路によって抽出された両系のテストセ
ルを比較する比較回路と、 この比較回路による比較結果と前記検出回路の検出結果
との論理をとって予備系の障害を検出する予備系障害検
出回路 とを具備することを特徴とするATMスイッチ通話路障害
検出システム。1. A distribution circuit for distributing an input cell of an incoming line to both a working system and a standby system, an insertion circuit for inserting a test cell for detecting a fault into the incoming line, and outputs of both the working system and the standby system. A first extraction circuit arranged on the side for extracting a test cell, a switching circuit for selecting one of the outputs of both systems as an active system, and a second extraction circuit arranged between this switching circuit and the outgoing line. A detection circuit for detecting a fault in the active communication path depending on whether or not a test cell is detected within a predetermined time by the second extraction circuit, and test cells for both systems extracted by the first extraction circuit An ATM switch call characterized by including a comparison circuit for comparing the above and a standby system fault detection circuit for detecting a fault in the standby system by taking the logic of the comparison result by the comparison circuit and the detection result of the detection circuit. Road obstacle detection system
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Publications (2)
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- 1989-04-14 JP JP1092954A patent/JP2551143B2/en not_active Expired - Lifetime
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