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JP2551143B2 - Atmスイッチ通話路障害検出システム - Google Patents
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JP2551143B2 - Atmスイッチ通話路障害検出システム - Google Patents

Atmスイッチ通話路障害検出システム

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JP2551143B2
JP2551143B2 JP1092954A JP9295489A JP2551143B2 JP 2551143 B2 JP2551143 B2 JP 2551143B2 JP 1092954 A JP1092954 A JP 1092954A JP 9295489 A JP9295489 A JP 9295489A JP 2551143 B2 JP2551143 B2 JP 2551143B2
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cell
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はディジタル電子交換システムの通話路系装置
に係わり、特に現用系と予備系の通話路障害の検出を行
うことのできるATMスイッチ通話路障害検出システムに
関する。
〔従来の技術〕
従来からパケット交換システムでは、プロセッサによ
る蓄積制御を行っている。このため、通話路障害の検出
にはパリティチェック方式やソフトウエア制御によるセ
ルの廃棄の有無等のチェック方式が一般に使用されてい
る。
ところが、このような従来の通話路障害検出の手法で
は、画像のように高密度の情報の処理を達成することが
できない。そこで、ATM(非同期転送モード)方式のセ
ル(パケット)交換システムでは、ハードウェアによる
セルの高速交換を行うことにして、面倒な誤り制御はネ
ットワークの頭ごしにエンド・ツー・エンドの端末間で
行うことにしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
このようにして従来のATM方式のセル交換システムで
は、ネットワーク側の通話路や伝送路で誤りの検出や処
理を行っていない。したがって、間歇的なビットエラー
が発生した場合のように、エンド・ツー・エンドの端末
間で誤りの検出が可能なものについては再送等の誤り制
御が可能であるが、ATMスイッチ通話路等の固定障害に
対しては対処することができないという問題があった。
更に、従来の障害検出の手法では、ハードウェアの障害
に対応するために予備系を有するシステムで予備系の正
常法を確認することができないという問題もあった。
そこで本発明の目的は、ATMスイッチ通話路の現用系
および予備系の障害を検出する検出システムを提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では、(i)入回線の入力セルを現用系と予備
系の双方に分配する分配回路と、(ii)入回線に障害検
出用のテストセルを挿入する挿入回路と、(iii)現用
系と予備系の双方の出力側に配置されテストセルを抽出
する第1の抽出回路と、(iv)両系の出力の一方を現用
系として選択する切替回路と、(v)この切替回路と出
回線の間に配置された第2の抽出回路と、(vi)この第
2の抽出回路によって所定時間内にテストセルが検出さ
れるかどうかにより現用系の通話路の障害を検出する検
出回路と、(vii)第1の抽出回路によって抽出された
両系のテストセルを比較し、検出回路の検出結果と論理
をとって予備系の障害を検出する比較回路とをATMスイ
ッチ通話路障害検出システムに具備させる。
すなわち本発明では、挿入回路によってATMスイッチ
通話路の手前でテストセルを挿入させ、切替回路の後の
段階でこのテストセルが検出されるか否かをチェックし
て現用系の障害の有無をチェックする。また、挿入回路
によって挿入したテストセルを分配回路で現用系と予備
系に分配して、これらのATMスイッチ通話路を通過した
後のテストセルを比較回路で比較することによって、予
備系の障害の有無をチェックする。
〔実施例〕
以下、実施例につき本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例におけるATMスイッチ通話
路の構成を表わしたものである。
このATMスイッチ通話路で入回線11を伝送されてきた
セル“A",“B",“C"……は入力セル分配回路12に入力さ
れるようになっている。入力セル分配回路12ではこれを
“0系”および“1系”の2つのATMスイッチ通話路1
3、14に分配する。これらATMスイッチ通話路13、14の出
側にはテストセル抽出回路(第1の抽出回路)15、16が
それぞれ配置されている。これらの回路15、16は、入回
線11にテストセル挿入回路17を通じて挿入されるテスト
セル“T"またはそのコピー“T1"を抽出する回路であ
る。テストセル抽出回路15、16の後段には切替回路18が
配置されており、現用系のセルのみがここを通過してテ
ストセル抽出回路(第2の抽出回路)19を経て出回線21
に送出される。
ここでテストセル抽出回路19は、テストセル抽出回路
15、16を通過したテストセル“T2“または“T3"を抽出
する回路である。抽出されたテストセル“T2"または“T
3"は、テストセル検出回路22に入力され、検出結果は現
用系の障害表示24として通話路制御回路25に送られる。
この通話路制御回路25には、両テストセル抽出回路15、
16の抽出したテストセル“T",“T1"をテストセル比較回
路26で比較した比較結果としての予備系の障害表示27も
入力されるようになっている。通話路制御回路25はテス
トセル挿入回路17を制御する他、両障害表示24、27に応
じて通話路の必要な制御を行うようになっている。
今、“0系”のATMスイッチ通話路14が現用となって
いる場合を例にとり、本実施例のATMスイッチ通話路障
害検出システムの動作を説明する。
入回線11から入ってきた各セル“A",“B",“C"は入力
セル分配回路12に入力され、現用系のATMスイッチ通話
路14にこれがそのまま送られる。予備系のATMスイッチ
通話路13には、各セルのコピー“A1",“B1",“C1"が送
られる。
ところで、通話路制御回路25は障害検出用のテストセ
ル“T"をテストセル挿入回路17から入回線11り送り込
む。本実施例では、セル“A“と次のセル“B"の間にテ
ストセル“T"が挿入されるものとする。この結果、入力
セル分配回路12には各セル“A",“T",“B",“C"がこの
順で送り込まれる。したがって入力セル分配回路12は、
各セル“A",“T",“B",“C"をこの順序で現用系のATMス
イッチ通話路14に送出する。予備系のATMスイッチ通話
路13には、コビーされた各セルが“A1",“T1",“B1",
“C1"の順序で送り込まれることになる。
この結果、テストセル抽出回路16からはテストセル
“T"が、また他のテストセル抽出回路15からはテストセ
ル“T1"がそれぞれ抽出されてテストセル比較回路26に
入力される。テストセル比較回路26では両者が一致しな
ければ、後に説明する検出回路によって現用系のATMス
イッチ通話路14が正常であるとの前提の下で予備系のAT
Mスイッチ通話路13の障害を検出し、障害表示27を行
う。
一方、テストセル抽出回路16では、抽出されたテスト
セル“T"のコピー“T2"を作成し、これを代わりに組み
込んで、各セル“A",“T2",“B",“C"として切替回路18
に送出する。他のテストセル抽出回路15でも同様にして
テストセル“T1"のコピー“T3"を作成し、これをテスト
セルとして代わりに組み込んで各セル“A1",“T3",“B
1",“C1"を切替回路18に送出する。
切替回路18は、現用系のATMスイッチ通話路14側を選
択しているため、抽出回路15から送られてきた各セル
“A1",“T3",“B1",“C1"はここで廃棄される。そし
て、テストセル抽出回路16から送られてきた各セル
“A",“T2",“B",“C"が出力され、テストセル抽出回路
19に入力される。テストセル抽出回路19ではテストセル
“T2“を抽出し、これをテストセル検出回路22に供給す
る。残りの各セル“A",“B",“C"は、出回線21に送出さ
れる。
さて、テストセル抽出回路19は抽出されたテストセル
“T2"を入力する検出論理回路28を備えている。検出論
理回路28には検出タイミング回路29からタイミング信号
31も供給されるようになっている。検出論理回路28は、
タイミング信号31が入力されるそのタイミングでテスト
セル“T2"が検出されるか否かを判定し、検出されなけ
れば現用系の障害表示24を行う。
検出論理回路28の検出結果によって現用系に障害が発
生しているかどうかは把握されている。したがって、比
較回路26の比較結果が両系のテストセルの一致を示して
いる場合には、予備系が正常であることが分かる。逆に
比較結果が両系の不一致を示している場合には、現用系
が正常であるので、予備系に障害が生じていることが分
かる。このようにして予備系の障害の検出を行う。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、第2の抽出回路
によって所定時間内にテストセルが検出されるかどうか
をチェックすることにより現用系の通話路の障害を検出
することができる。また、第1の抽出回路によって抽出
された両系のテストセルを比較して予備系の障害を検出
できるので、予備系障害の潜在化を防止することができ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におけるATMスイッチ通話路
障害検出システムの構成を示すシステム構成図である。 11……入回線、12……入力セル分配回路、 13、14……ATMスイッチ通話路、 15、16……テストセル抽出回路(第1の抽出回路)、 17……テストセル挿入回路、 18……切替回路、 19……テストセル抽出回路(第2の抽出回路)、 21……出回線、22……テストセル検出回路、 26……テストセル比較回路。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入回線の入力セルを現用系と予備系の双方
    に分配する分配回路と、 入回線に障害検出用のテストセルを挿入する挿入回路
    と、 現用系と予備系の双方の出力側に配置されテストセルを
    抽出する第1の抽出回路と、 両系の出力の一方を現用系として選択する切換回路と、 この切換回路と出回線の間に配置された第2の抽出回路
    と、 この第2の抽出回路によって所定時間内にテストセルが
    検出されるかどうかにより現用系の通話路の障害を検出
    する検出回路と、 前記第1の抽出回路によって抽出された両系のテストセ
    ルを比較する比較回路と、 この比較回路による比較結果と前記検出回路の検出結果
    との論理をとって予備系の障害を検出する予備系障害検
    出回路 とを具備することを特徴とするATMスイッチ通話路障害
    検出システム。
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