JP2554345B2 - Semiconductor element pickup method - Google Patents
Semiconductor element pickup methodInfo
- Publication number
- JP2554345B2 JP2554345B2 JP62292519A JP29251987A JP2554345B2 JP 2554345 B2 JP2554345 B2 JP 2554345B2 JP 62292519 A JP62292519 A JP 62292519A JP 29251987 A JP29251987 A JP 29251987A JP 2554345 B2 JP2554345 B2 JP 2554345B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor element
- collet
- adhesive tape
- push
- vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 半導体素子のピックアップの際のコレットによる真空
吸着時に発生する半導体素子が受けるダメージを防止す
る方法に関し、 コレットへの真空の供給時点の変更により、半導体素
子に発生する角カケの障害を防止することが可能な半導
体素子のピックアップ方法の提供を目的とし、 粘着テープ上に接着して配置された半導体素子を、突
き上げピンで突き上げてこの粘着テープからこの半導体
素子を剥離し、コレットに真空吸着させる半導体素子の
ピックアップ工程において、この粘着テープを貫通した
複数のこの突き上げピンによる突き上げにより、この半
導体素子がこの粘着テープから完全に剥離した時点後
に、このコレットへの真空の供給を行うように構成す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Overview] A method for preventing damage to a semiconductor element that occurs when a semiconductor element is picked up by a collet during vacuum suction is described. For the purpose of providing a method of picking up a semiconductor element capable of preventing damage to a corner chip, a semiconductor element adhered and arranged on an adhesive tape is pushed up by a push-up pin, and the semiconductor element is removed from this adhesive tape. In a semiconductor element pickup process in which the semiconductor element is peeled off and vacuum-adsorbed to the collet, the semiconductor element is completely peeled from the adhesive tape by the push-up by a plurality of push-up pins penetrating the adhesive tape. It is configured to supply a vacuum.
本発明は、半導体素子のピックアップ方法に係り、特
にコレットによる真空吸着時に発生する半導体素子が受
けるダメージを防止する方法に関するものである。The present invention relates to a method for picking up a semiconductor element, and more particularly to a method for preventing damage to a semiconductor element which is generated during vacuum adsorption by a collet.
粘着テープ上に接着して配置された半導体素子を、突
き上げピンで突き上げてこの粘着テープから半導体素子
を剥離し、コレットに真空吸着させる半導体素子のピッ
クアップ工程においては、突き上げピンで粘着テープ上
の半導体素子を突き上げて剥離するのと平行して、真空
が供給されて半導体素子を吸着できる状態のコレットを
半導体素子の上に接近させ、粘着テープから剥離した半
導体素子をコレットにより吸着している。In the semiconductor element pick-up process in which the semiconductor element adhered on the adhesive tape is pushed up by the push-up pin, the semiconductor element is peeled off from this adhesive tape, and the collet is vacuum-sucked, the semiconductor on the adhesive tape is pushed up by the push-up pin. In parallel with pushing up and peeling the element, a collet in a state in which a vacuum is supplied and capable of sucking the semiconductor element is brought close to above the semiconductor element, and the semiconductor element peeled from the adhesive tape is sucked by the collet.
このため吸着される半導体素子に隣接する半導体素子
の角にカケが発生する障害が発生している。For this reason, there is a failure in which a corner of the semiconductor element adjacent to the attracted semiconductor element is chipped.
以上のような状況から障害を発生させずに半導体素子
を粘着テープから剥離し、コレットに吸着させることが
可能な半導体素子のピックアップ方法が要望されてい
る。Under the circumstances as described above, there is a demand for a semiconductor element pickup method capable of peeling a semiconductor element from an adhesive tape and adsorbing the semiconductor element onto a collet without causing any trouble.
従来の半導体素子のピックアップ方法を第4図により
説明する。A conventional semiconductor element pickup method will be described with reference to FIG.
先ず第4図(a)に示すように、粘着テープ5を移動
させて次にピックアップする半導体素子6を突き上げピ
ン1の上の所定の位置に停止させる。First, as shown in FIG. 4A, the adhesive tape 5 is moved and the semiconductor element 6 to be picked up next is stopped at a predetermined position on the push-up pin 1.
次に粘着テープ固定用の真空を供給して粘着テープ5
をテープ吸着面3に吸着し、一方コレット4にも真空を
供給する。Next, a vacuum for fixing the adhesive tape is supplied to the adhesive tape 5.
Is sucked onto the tape suction surface 3, while a vacuum is also supplied to the collet 4.
次いで第4図(b)に示すように、ピンホルダ2を上
昇して突き上げピン1で半導体素子6を突き上げると同
時に、コレット4を降下させて半導体素子6を吸着させ
る。Next, as shown in FIG. 4B, the pin holder 2 is raised to push up the semiconductor element 6 with the push-up pin 1, and at the same time, the collet 4 is lowered to adsorb the semiconductor element 6.
最後に第4図(c)に示すように、コレット4は半導
体素子6を吸着した状態で上昇し、ピンホルダ2が降下
して元の位置に戻り、粘着テープ5をテープ吸着面3に
吸着していた真空を切り、半導体素子6のコレット4へ
のピックアップが完了する。Finally, as shown in FIG. 4 (c), the collet 4 rises with the semiconductor element 6 adsorbed, the pin holder 2 descends and returns to its original position, and the adhesive tape 5 is adsorbed on the tape adsorption surface 3. Then, the vacuum is removed, and the pickup of the semiconductor element 6 to the collet 4 is completed.
以上説明の従来の半導体素子のピックアップ方法で問
題となるのは、ピックアップされる半導体素子に隣接す
る半導体素子の素子形成面の周辺の角にカケが発生する
ことである。A problem with the conventional semiconductor element pickup method described above is that chipping occurs at the corners around the element formation surface of the semiconductor element adjacent to the semiconductor element to be picked up.
即ち、半導体素子が突き上げピンによる粘着テープか
ら完全に剥離されていな時に、既に真空が供給されてい
るコレットが半導体素子に接近していて強力な吸着力が
半導体素子に働くと、半導体素子の早く粘着テープから
剥離した部分から吸着されるため、半導体素子が傾斜し
た状態でコレットに吸着され、その際に隣接する半導体
素子の素子形成面の周辺の角に、吸着される半導体素子
の角が強く当たりカケが発生するのである。That is, when the semiconductor element is not completely peeled off from the adhesive tape by the push-up pin, the collet to which the vacuum has already been supplied approaches the semiconductor element and a strong suction force acts on the semiconductor element, which causes the semiconductor element to move quickly. Since it is adsorbed from the part peeled off from the adhesive tape, the semiconductor element is adsorbed by the collet in a tilted state, and at that time, the corner of the semiconductor element adsorbed on the corner of the element formation surface of the adjacent semiconductor element has a strong corner. A chip occurs.
本発明は以上のような状況から容易に実施可能なコレ
ットへの真空の供給時点の変更により、半導体素子に発
生する角カケの障害を防止することが可能な半導体素子
のピックアップ方法の提供を目的としたものである。It is an object of the present invention to provide a semiconductor element pickup method capable of preventing an obstacle of a corner chip occurring in a semiconductor element by changing a vacuum supply time point to a collet, which can be easily implemented from the above situation. It is what
本発明の半導体素子のピックアップ方法は、粘着テー
プ上に接着して配置された半導体素子を、突き上げピン
で突き上げてこの粘着テープからこの半導体素子を剥離
し、コレットに真空吸着させる半導体素子のピックアッ
プ工程において、この粘着テープを貫通した複数のこの
突き上げピンによる突き上げにより、この半導体素子が
この粘着テープから完全に剥離した時点後に、このコレ
ットへの真空の供給を行うように構成する。The semiconductor element pickup method of the present invention is a semiconductor element pickup step in which a semiconductor element adhered and arranged on an adhesive tape is pushed up by a push-up pin to separate the semiconductor element from the adhesive tape, and the collet is vacuum-adsorbed. In this case, a vacuum is supplied to the collet after the semiconductor element is completely peeled from the adhesive tape by the push-up by the plurality of push-up pins penetrating the adhesive tape.
即ち本発明においては、複数の突き上げピンによる突
き上げにより、半導体素子が粘着テープから完全に剥離
した時点後に、半導体素子を吸着するコレットへの真空
の供給を行うので、半導体素子が粘着テープから完全に
剥離しないで、傾斜したままで隣接する半導体素子の角
に当たった状態でコレットにより強力に吸着されること
がないので、隣接する半導体素子に角カケ障害を発生さ
せることがなくなる。That is, in the present invention, by pushing up with a plurality of push-up pins, after the semiconductor element is completely peeled from the adhesive tape, since the vacuum is supplied to the collet for adsorbing the semiconductor element, the semiconductor element is completely removed from the adhesive tape. Since it is not peeled off and is strongly attracted by the collet in a state of hitting the corner of the adjacent semiconductor element while being inclined, the corner chipping failure does not occur in the adjacent semiconductor element.
以下第1図〜第2図について本発明の一実施例を、第
3図について他の実施例を工程順に説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2, and another embodiment will be described with reference to FIG.
先ず第1図(a)に示すように、粘着テープ5を移動
させて次にピックアップする半導体素子6を複数の突き
上げピン1の上の所定の位置に停止させ、粘着テープ固
定用の真空を供給して粘着テープ5をテープ吸着面3に
吸着させる。First, as shown in FIG. 1 (a), the adhesive tape 5 is moved and the semiconductor element 6 to be picked up next is stopped at a predetermined position on the plurality of push-up pins 1, and a vacuum for fixing the adhesive tape is supplied. Then, the adhesive tape 5 is sucked onto the tape suction surface 3.
次に第1図(b)に示すように、ピンホルダ2を上昇
して複数の突き上げピン1で半導体素子6を突き上げる
と同時に、コレット4を降下させる。この時点ではコレ
ット4には真空は供給されていない。Next, as shown in FIG. 1B, the pin holder 2 is raised to push up the semiconductor element 6 with the plurality of push-up pins 1, and at the same time, the collet 4 is lowered. No vacuum is supplied to the collet 4 at this point.
次いで第1図(c)に示すように、半導体素子6が粘
着テープ5から完全に剥離した状態でコレット4に真空
を供給して半導体素子6を吸着する。Next, as shown in FIG. 1C, a vacuum is supplied to the collet 4 in a state where the semiconductor element 6 is completely peeled off from the adhesive tape 5 to adsorb the semiconductor element 6.
その後第1図(d)に示すように、コレット4は半導
体素子6を吸着した状態で上昇し、ピンホルダ2が降下
した元の位置に戻り、粘着テープ5をテープ吸着面3に
吸着していた真空を切り、半導体素子6のコレット4へ
のピックアップが完了する。Thereafter, as shown in FIG. 1 (d), the collet 4 ascends with the semiconductor element 6 adsorbed, returns to the original position where the pin holder 2 has descended, and adsorbs the adhesive tape 5 on the tape adsorbing surface 3. The vacuum is cut off, and the pickup of the semiconductor element 6 to the collet 4 is completed.
これらの動作のタイミングを第2図に示すタイミング
チャートのようなものにし、コレット4が最下点まで降
下した時点でコレット4へ真空を供給すると、吸着され
る半導体素子による隣接する半導体素子の素子形成面の
周辺部の角カケの防止が可能となる。When the timing of these operations is set as shown in the timing chart of FIG. 2 and a vacuum is supplied to the collet 4 when the collet 4 descends to the lowest point, the element of the adjacent semiconductor element by the adsorbed semiconductor element It is possible to prevent chipping around the formation surface.
尚、本実施例による効果は下記の実験結果によって実
証されている。The effect of this example is verified by the following experimental results.
分子は発生件数で、分母は実験を行った半導体素子6
の数である。 The numerator is the number of occurrences, and the denominator is the semiconductor device 6 on which the experiment was conducted.
Is the number of.
以上の実験結果により、複数の突き上げピンで突き上
げて半導体素子6を粘着テープ5から剥離するのみで、
コレットで吸着しない場合には角カケは発生していな
い。従来技術では角カケがスクライブラインを越えてい
るものが42件中9件も発生している。本実施例では角カ
ケがスクライブラインに達していないものが186件中1
件のみ発生していることがわかる。From the above experimental results, it is only necessary to push up with a plurality of push-up pins to separate the semiconductor element 6 from the adhesive tape 5,
If it is not adsorbed by the collet, there will be no chipping. In the conventional technology, 9 out of 42 cases where the corner chip crosses the scribe line occur. In this example, 1 of 186 cases where the corner chip did not reach the scribe line
It can be seen that only cases have occurred.
なお、第3図に示す他の実施例においては、第1図
(b)を更に二工程に分けて、第3図(a)に示すよう
に、先ず複数の突き上げピン1の上昇のみとし、次に第
3図(b)に示すように、その後にコレット4を降下さ
せると、半導体素子6の粘着テープ5からの剥離がより
確実となり、更に安定した半導体素子6のピックアップ
を行うことが可能となる。In another embodiment shown in FIG. 3, FIG. 1 (b) is further divided into two steps, and as shown in FIG. 3 (a), first, only the plurality of push-up pins 1 are raised, Next, as shown in FIG. 3 (b), when the collet 4 is subsequently lowered, the semiconductor element 6 is more reliably peeled off from the adhesive tape 5, and the semiconductor element 6 can be picked up more stably. Becomes
〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように本発明によれば極めて
簡単なコレットへの真空の供給のタイミング変更によ
り、ピックアップされる半導体素子に隣接する半導体素
子の素子形成面の周辺の角にカケを発生させないで半導
体素子のピックアップを行うことが可能となる利点があ
り、著しい信頼性向上の効果が奇態でき工業的には極め
て有用なものである。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, the corners around the element formation surface of the semiconductor element adjacent to the semiconductor element to be picked up can be changed by the extremely simple change of the vacuum supply timing to the collet. There is an advantage that a semiconductor element can be picked up without causing chipping, and the remarkable effect of improving reliability can be miraculously achieved, which is extremely useful industrially.
第1図は本発明による一実施例を工程順に示す側断面
図、 第2図は本発明にる一実施例のタイミングチャート、 第3図は本発明による他の実施例を工程順に示す側断面
図、 第4図は従来の半導体素子のピックアップ方法を工程順
に示す側断面図、 である。 図において、 1は突き上げピン、 2はピンホルダ、 3はテープ吸着面、 4はコレット、 5は粘着テープ、 6は半導体素子、 を示す。FIG. 1 is a side sectional view showing an embodiment of the present invention in the order of steps, FIG. 2 is a timing chart of the embodiment according to the present invention, and FIG. 3 is a side cross section of another embodiment of the present invention in the order of steps. 4 and 5 are side sectional views showing a conventional method of picking up a semiconductor element in the order of steps. In the figure, 1 is a push-up pin, 2 is a pin holder, 3 is a tape suction surface, 4 is a collet, 5 is an adhesive tape, and 6 is a semiconductor element.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古矢 佳郎 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 向坂 年光 宮城県柴田郡村田町大字村田字西ケ丘1 番地の1 株式会社富士通宮城エレクト ロニクス内 (72)発明者 岩田 輝幸 鹿児島県薩摩郡入来町副田5950番地 株 式会社九州富士通エレクトロニクス内 (56)参考文献 実開 昭63−70153(JP,U) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (72) Inventor Yoshiro Furuya 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited (72) Inventor, Toshimitsu Kosaka 1 Nishigaoka, Murata, Shibata-gun, Miyagi Prefecture No. 1 Fujitsu Miyagi Electronics Co., Ltd. (72) Teruyuki Iwata Inventor Teruyuki Iwata 5950 Soeda Iruki-cho, Satsuma-gun, Kagoshima Prefecture Kyushu Fujitsu Electronics Co., Ltd. (56) References 63-70153 (JP, U)
Claims (1)
素子を、突き上げピンで突き上げて前記粘着テープから
前記半導体素子を剥離し、コレットに真空吸着させる半
導体素子のピックアップ工程において、前記粘着テープ
を貫通した複数の前記突き上げピンによる突き上げによ
り、前記半導体素子が前記粘着テープから完全に剥離し
た時点後に、前記コレットへの真空の供給を行うことを
特徴とする半導体素子のピックアップ方法。1. A semiconductor element picked up in a step of picking up a semiconductor element adhered and arranged on an adhesive tape by a push-up pin to separate the semiconductor element from the adhesive tape and vacuum-sucking it to a collet. A method for picking up a semiconductor element, characterized in that a vacuum is supplied to the collet after the semiconductor element is completely peeled from the adhesive tape by the push-up by a plurality of push-up pins penetrating therethrough.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292519A JP2554345B2 (en) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Semiconductor element pickup method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292519A JP2554345B2 (en) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Semiconductor element pickup method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01134944A JPH01134944A (en) | 1989-05-26 |
| JP2554345B2 true JP2554345B2 (en) | 1996-11-13 |
Family
ID=17782859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62292519A Expired - Fee Related JP2554345B2 (en) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Semiconductor element pickup method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2554345B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0937478A (en) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Hitachi Koki Co Ltd | Charger |
| JP4156460B2 (en) * | 2003-07-09 | 2008-09-24 | Tdk株式会社 | Work pickup method and apparatus, and mounting machine |
| WO2009056469A1 (en) * | 2007-10-31 | 2009-05-07 | Oerlikon Assembly Equipment Ag, Steinhausen | Foil perforating needle for detaching a small die from a foil |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6370153U (en) * | 1986-10-27 | 1988-05-11 |
-
1987
- 1987-11-19 JP JP62292519A patent/JP2554345B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01134944A (en) | 1989-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3209736B2 (en) | Pellet pickup device | |
| US20110084377A1 (en) | System for separating a diced semiconductor die from a die attach tape | |
| CN107452648A (en) | Die Picking Method | |
| US8226796B2 (en) | Flanged collet for die pick-up tool | |
| JP2002280330A (en) | Pickup method of chip-type component | |
| US20100077590A1 (en) | Die pickup method | |
| JP2554345B2 (en) | Semiconductor element pickup method | |
| JPS59117235A (en) | Wafer breaking process and device therefor | |
| KR100639553B1 (en) | Die pickup device | |
| JP6366223B2 (en) | Semiconductor chip pickup device | |
| JP2005011836A (en) | Method and device for picking up die | |
| JPH0376139A (en) | Upward pushing movement of semiconductor element | |
| WO2014185446A1 (en) | Semiconductor-chip pickup device | |
| JPS62166536A (en) | Protruding unit for electronic part | |
| JPH05190665A (en) | Pickup collet for semiconductor chip with bump and pickup method for semiconductor chip with bump | |
| JPH0697211A (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| JP2004259811A (en) | Die pick-up method and device | |
| JP2004273529A (en) | Die pick-up device | |
| JPS62232935A (en) | Apparatus for removing chip | |
| JP2606890B2 (en) | Semiconductor chip pickup method | |
| JPH0214547A (en) | Picking-up apparatus of electronic component | |
| KR102792628B1 (en) | Apparatus for transferring die and method thereof | |
| JP3918352B2 (en) | Ceramic green sheet handling method and handling apparatus, and multilayer ceramic electronic component manufacturing method | |
| US6158944A (en) | Automated laser bar transfer apparatus and method | |
| JPH0226044A (en) | Pickup method of semiconductor chip |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |