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JP2633360B2 - Image display device - Google Patents
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JP2633360B2 - Image display device - Google Patents

Image display device

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JP2633360B2
JP2633360B2 JP15540589A JP15540589A JP2633360B2 JP 2633360 B2 JP2633360 B2 JP 2633360B2 JP 15540589 A JP15540589 A JP 15540589A JP 15540589 A JP15540589 A JP 15540589A JP 2633360 B2 JP2633360 B2 JP 2633360B2
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vertical signal
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文昭 江本
晃 中村
耕司 千田
英治 藤井
和憲 小林
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁基板上に薄膜トランジスタを用いて形
成した液晶画像表示装置に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a liquid crystal image display device formed using a thin film transistor on an insulating substrate.

従来の技術 以下に従来の画像表示装置について説明する。第3図
に従来の構成図を示す。垂直走査回路11及び水平走査回
路12による駆動回路があり、水平走査回路12の各出力部
には、水平走査回路12の出力により制御される転送用ト
ランジスタスイッチ群13が形成されている。画素部14は
二次元マトリクス状に配列され、アクティブマトリクス
方式で駆動される。垂直走査回路11の出力である水平ゲ
ート線はポリシリコンで形成され、垂直信号線はアルミ
ニウム(Al)により形成されており、画素部へ点順次に
書き込まれるようになっている。
2. Description of the Related Art A conventional image display device will be described below. FIG. 3 shows a conventional configuration diagram. There is a driving circuit including a vertical scanning circuit 11 and a horizontal scanning circuit 12. At each output of the horizontal scanning circuit 12, a transfer transistor switch group 13 controlled by an output of the horizontal scanning circuit 12 is formed. The pixel units 14 are arranged in a two-dimensional matrix and are driven by an active matrix system. A horizontal gate line, which is an output of the vertical scanning circuit 11, is formed of polysilicon, and a vertical signal line is formed of aluminum (Al), and is written to a pixel portion in a dot-sequential manner.

発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の構成では、垂直走査
回路11の出力である水平ゲート線と水平走査回路12から
の垂直信号線との短絡がある場合、回路検査手段のみで
その箇所を見つけることは非常に困難であり、通常回路
作製後、液晶工程を通し、表示装置完成後に、画像を表
示させて検査しなければならないという欠点があった。
However, in such a conventional configuration, when there is a short circuit between the horizontal gate line, which is the output of the vertical scanning circuit 11, and the vertical signal line from the horizontal scanning circuit 12, only the circuit inspection means is required. It is very difficult to find the location, and there is a drawback that an image must be displayed and inspected after the fabrication of the circuit, through the liquid crystal process, and after the display device is completed.

本発明は上記欠点に鑑み、水平ゲート線と垂直信号と
の線間短絡がある場合、液晶工程以前に短絡の箇所が判
定できる画像表示装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above-described drawbacks, and provides an image display device that can determine a short-circuit portion before a liquid crystal process when there is a line short-circuit between a horizontal gate line and a vertical signal.

課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明の画像表示装置は
画素部を通る垂直信号線及び水平ゲート線のそれぞれの
終端で各々、論理和回路形成のための多制御端子型検査
用スイッチを設け、各信号線が前記各検査用スイッチの
各々の制御端子に接続されることにより構成されてい
る。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, an image display device according to the present invention comprises a multi-control terminal for forming a logical sum circuit at each end of a vertical signal line and a horizontal gate line passing through a pixel portion. A pattern inspection switch is provided, and each signal line is connected to each control terminal of each inspection switch.

作用 上記構成により、画素部を通る垂直信号線の終端及び
水平ゲート線の終端には各々、多制御端子型検査用スイ
ッチが設けられており、各検査用スイッチは抵抗とによ
りそれぞれNOR回路を構成することができる。水平走査
回路からの出力により制御される転送用トランジスタス
イッチの入力端子に、水平走査回路からの出力の選択期
間よりも短いパルスを入力する。垂直信号線と水平ゲー
ト線との線間に短絡があれば、信号線と水平ゲート線と
の各終端に設けられた各検査用スイッチの出力は、両方
とも、短絡のある所で互いに同じ波形となる。
Operation According to the above configuration, a multi-control terminal type inspection switch is provided at each of the end of the vertical signal line passing through the pixel portion and the end of the horizontal gate line, and each inspection switch forms a NOR circuit with a resistor. can do. A pulse shorter than the selection period of the output from the horizontal scanning circuit is input to the input terminal of the transfer transistor switch controlled by the output from the horizontal scanning circuit. If there is a short circuit between the vertical signal line and the horizontal gate line, the output of each test switch provided at each end of the signal line and the horizontal gate line will have the same waveform at the place where the short circuit occurs. Becomes

本発明は、上記の原理に基づくものであり、垂直信号
線と水平ゲート線との線間の短絡の有無及びその位置を
簡単に調べることのできる画像表示装置を提供するもの
である。
The present invention is based on the above principle, and provides an image display device capable of easily examining whether or not there is a short circuit between a vertical signal line and a horizontal gate line and its position.

実施例 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。
Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の実施例における画像表示装置の構成
図を示す。1は垂直走査回路、2は水平走査回路、3は
転送用トランジスタスイッチ(群)、4は画素部、5は
垂直信号線多制御端子型スイッチ素子としての多ゲート
型トランジスタ、6は水平ゲート線多制御端子型スイッ
チ素子としての多ゲート型トランジスタ、7は水平ゲー
ト線、8は垂直信号線である。画素部4の各画素はアク
ティブマトリクス方式で、スイッチング用薄膜トランジ
スタを有している。また、水平走査回路2の出力部に
は、水平走査回路2の出力により制御される転送用トラ
ンジスタスイッチ(群)3が備えられており、画素部4
へAl配線により点順次書き込みで信号伝達を行う。
FIG. 1 shows a configuration diagram of an image display device according to an embodiment of the present invention. 1 is a vertical scanning circuit, 2 is a horizontal scanning circuit, 3 is a transfer transistor switch (group), 4 is a pixel portion, 5 is a multi-gate transistor as a vertical signal line multi-control terminal switch element, and 6 is a horizontal gate line. A multi-gate transistor as a multi-control terminal switch element, 7 is a horizontal gate line, and 8 is a vertical signal line. Each pixel of the pixel section 4 is of an active matrix type and has a switching thin film transistor. The output section of the horizontal scanning circuit 2 includes a transfer transistor switch (group) 3 controlled by the output of the horizontal scanning circuit 2, and includes a pixel section 4.
Signal transmission is performed by dot-sequential writing using Al wiring.

次に、本発明の画像表示装置について、画素部4を通
る垂直信号線と水平ゲート線との線間短絡、いわゆるシ
ョートを調べる方法について説明する。第2図(a),
(b)にその構成図と各点における電圧波形図を示す。
A,B,Cは水平走査回路2の出力波形、Dは転送用トラン
ジスタスイッチ(群)3に入力する検査用パルスを示し
ている。各垂直信号線8は垂直信号線検査用スイッチ5
の各ゲート電極、すなわち制御端子に接続されており、
ソース、ドレインの各電極は共通で、並列接続形式とな
っている。また、垂直信号線検査用スイッチ5は、抵抗
Rとにより、NOR回路を形成している。さらに、F,Gは垂
直走査回路1の出力波形であり、各水平ゲート線7は前
記垂直信号線検査用スイッチ5と同形の水平ゲート線検
査用スイッチ6の各ゲート電極に接続されており、この
水平ゲート線検査用スイッチ6と抵抗RとによりNOR回
路を形成している。抵抗Rの大きさは、各検査用スイッ
チ5,6に用いる各多ゲート型トランジスタのオン抵抗よ
り大きく、オフ抵抗よりも小さく設定される。
Next, a method of checking a short circuit between the vertical signal line passing through the pixel unit 4 and the horizontal gate line, that is, a so-called short circuit, in the image display device of the present invention will be described. FIG. 2 (a),
(B) shows the configuration diagram and a voltage waveform diagram at each point.
A, B, and C indicate output waveforms of the horizontal scanning circuit 2, and D indicates a test pulse input to the transfer transistor switch (group) 3. Each vertical signal line 8 is a vertical signal line inspection switch 5.
Are connected to the respective gate electrodes, that is, the control terminals,
The source and drain electrodes are common and are connected in parallel. The vertical signal line inspection switch 5 forms a NOR circuit with the resistor R. Further, F and G are output waveforms of the vertical scanning circuit 1, and each horizontal gate line 7 is connected to each gate electrode of a horizontal gate line inspection switch 6 having the same shape as the vertical signal line inspection switch 5. The horizontal gate line inspection switch 6 and the resistor R form a NOR circuit. The size of the resistor R is set to be larger than the on-resistance and smaller than the off-resistance of each multi-gate transistor used for each of the inspection switches 5 and 6.

ここで、例えば、図中の矢印で示す所の支点におい
て、垂直信号線8と水平ゲート線7とがショートしてい
るとする。まず、垂直走査回路1を駆動せず、水平走査
回路2を駆動する。水平走査回路2の各出力波形を第2
図(b)のA,B,Cに示す。端子Dに検査用パルスを入力
し、端子Hの出力を観察する。矢印の所でショートがあ
れば端子Hにも出力信号が伝わり、端子Bの出力により
制御される転送用トランジスタスイッチ3の延長上のど
こかでショートがあることが確認できる。次に水平走査
回路2を止め、端子Dにもパルスを入力せず、垂直走査
回路1のみ駆動する。第2図(b)の端子F,Gの各出力
波形を示す。矢印の所で、短絡があれば、端子Gの出力
がある間、端子Eにも出力波形が現われ、水平ゲート線
7の延長上に短絡があることがわかる。以上の結果より
ショートの箇所が判定できる。画素部4内で短絡がない
場合には、前記の検査を行っても端子E,Hの出力は全く
現われない。
Here, for example, it is assumed that the vertical signal line 8 and the horizontal gate line 7 are short-circuited at a fulcrum indicated by an arrow in the drawing. First, the horizontal scanning circuit 2 is driven without driving the vertical scanning circuit 1. Each output waveform of the horizontal scanning circuit 2 is
A, B, and C of FIG. A test pulse is input to the terminal D, and the output of the terminal H is observed. If there is a short circuit at the arrow, the output signal is transmitted to the terminal H, and it can be confirmed that there is a short circuit somewhere on the extension of the transfer transistor switch 3 controlled by the output of the terminal B. Next, the horizontal scanning circuit 2 is stopped, and no pulse is input to the terminal D, and only the vertical scanning circuit 1 is driven. FIG. 2B shows output waveforms of the terminals F and G in FIG. If there is a short circuit at the arrow, an output waveform also appears at the terminal E while the output at the terminal G is present, indicating that there is a short circuit on the extension of the horizontal gate line 7. From the above results, the short-circuited portion can be determined. When there is no short circuit in the pixel section 4, the output of the terminals E and H does not appear at all even if the above inspection is performed.

以上のように、画素表示装置の各信号線の終端に各々
多制御端子型検査用スイッチを設け、抵抗RとによりNO
R回路を形成し、その出力波形を各端子E,Hで観察すると
により、従来、各信号線を1本1本調べるか又は液晶工
程を経て画像を表示させるまで不明であった垂直信号線
と水平ゲート線との線間短絡及びその位置を、液晶工程
以前に簡単に知ることができる。
As described above, the multi-control terminal type inspection switch is provided at the end of each signal line of the pixel display device, and NO is determined by the resistance R.
By forming an R circuit and observing the output waveform at each of the terminals E and H, it is possible to check each signal line one by one or use the vertical signal lines that were unknown until the image was displayed through the liquid crystal process. The short circuit between the horizontal gate lines and the position thereof can be easily known before the liquid crystal process.

また、検査用スイッチは、実施例では、それぞれ、並
設多ゲート型の薄膜トランジスタにより形成しており、
よって、この検査用スイッチは水平、垂直各走査回路を
形成する場合と同時に作製することができるので、新た
にプロセスを増やす必要がない。
In the embodiment, the inspection switches are formed by juxtaposed multi-gate thin film transistors, respectively.
Therefore, this inspection switch can be manufactured at the same time when the horizontal and vertical scanning circuits are formed, so that it is not necessary to add a new process.

なお、検査用スイッチは、本実施例では、多ゲート型
トランジスタを用いたが、他の多制御端子型スイッチ素
子構成にしてもよい。また抵抗は薄膜を用いて、外付け
にしても内蔵としてもよく、さらにトランジスタ構造に
よる負荷接続の抵抗を用いてもよい。さらに、転送用ト
ランジスタスイッチ(群)のそれぞれはnチャネルトラ
ンジスタでもPチャネルトランジスタでもよく、または
CMOSTFT構成でもよい。
In this embodiment, a multi-gate type transistor is used as the inspection switch. However, another multi-control terminal type switch element configuration may be used. The resistor may be a thin film, externally or internally provided, or a load connection resistor having a transistor structure. Further, each of the transfer transistor switch (s) may be an n-channel transistor or a p-channel transistor, or
A CMOS TFT configuration may be used.

発明の効果 以上のように本発明の特徴は、水平ゲート線の終端及
び垂直信号線の終端にそれぞれ多制御端子型検査用スイ
ッチを設け、それと負荷接続の抵抗とによりNOR回路を
形成したところにある。このような構成によれば、検査
用パルスの出力信号を確認するだけで、従来困難であっ
た水平ゲート線と垂直信号線との線間短絡の有無及びそ
の箇所を、液晶工程以前に、簡単に知ることができるよ
うになり、また、かかる論理和回路により、水平ゲート
線又は垂直信号線の各信号と出力信号との信号分離性が
よいなど、その実用的効果は大なるものがある。
As described above, the feature of the present invention resides in that a multi-control terminal type inspection switch is provided at each of the end of the horizontal gate line and the end of the vertical signal line, and a NOR circuit is formed by the switch and the resistance of the load connection. is there. According to such a configuration, by simply checking the output signal of the inspection pulse, the presence / absence of a short circuit between the horizontal gate line and the vertical signal line, which has been difficult in the past, and the location thereof can be easily determined before the liquid crystal process. In addition, such an OR circuit has a great practical effect, such as good signal separation between each signal of a horizontal gate line or a vertical signal line and an output signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の実施例における画像表示装置の構成
図、第2図(a),(b)は本発明の実施例における線
間短絡の検査例の構成図、電圧波形図、第3図は従来の
画像表示装置の構成図である。 1……垂直走査回路、2……水平走査回路、3……転送
用トランジスタスイッチ(群)、4……画素部、5……
垂直信号線多制御端子型検査用スイッチ、6……水平ゲ
ート線多制御端子型検査用スイッチ、7……水平ゲート
線、8……垂直信号線。
FIG. 1 is a configuration diagram of an image display device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a) and 2 (b) are a configuration diagram of a test example of a short circuit between lines according to an embodiment of the present invention, a voltage waveform diagram, and FIG. FIG. 1 is a configuration diagram of a conventional image display device. 1 vertical scanning circuit 2 horizontal scanning circuit 3 transfer transistor switch (group) 4 pixel unit 5 5
Vertical signal line multi-control terminal type inspection switch, 6 horizontal gate line multi-control terminal type inspection switch, 7 horizontal gate lines, 8 vertical signal lines.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 千田 耕司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (72)発明者 藤井 英治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (72)発明者 小林 和憲 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭60−2989(JP,A) 特開 昭63−52121(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Koji Senda 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Denshi Kogyo Co., Ltd. (72) Inventor Kazunori Kobayashi 1006 Kadoma, Kazuma, Osaka Prefecture Matsushita Electronics Corporation (56) References JP-A-60-2989 (JP, A) JP-A-63-52121 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】絶縁基板上に薄膜トラジスタにより形成さ
れた水平走査回路、垂直走査回路、二次元マトリクス状
に配列された画素部、及び導電性膜により形成された各
列の画素に映像信号を供給する垂直信号線と水平ゲート
線とを備え、前記水平走査回路の出力部には前記水平走
査回路からの出力パルスにより制御される映像信号を前
記垂直信号線に転送する転送用スイッチがあり、前記垂
直信号線の終端及び前記水平ゲート線の終端が、それぞ
れ、各別の論理和回路形成のための多制御端子型スイッ
チ素子の各々の制御端子に接続されていることを特徴と
する画像表示装置。
An image signal is supplied to a horizontal scanning circuit and a vertical scanning circuit formed by a thin film transistor on an insulating substrate, a pixel portion arranged in a two-dimensional matrix, and pixels in each column formed by a conductive film. A vertical signal line to be supplied and a horizontal gate line, and an output unit of the horizontal scanning circuit includes a transfer switch for transferring a video signal controlled by an output pulse from the horizontal scanning circuit to the vertical signal line, An image display, wherein an end of the vertical signal line and an end of the horizontal gate line are respectively connected to respective control terminals of a multi-control terminal switch element for forming a separate OR circuit. apparatus.
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