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JP2668531B2 - Digital hysteresis circuit - Google Patents
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JP2668531B2 - Digital hysteresis circuit - Google Patents

Digital hysteresis circuit

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JP2668531B2
JP2668531B2 JP10675687A JP10675687A JP2668531B2 JP 2668531 B2 JP2668531 B2 JP 2668531B2 JP 10675687 A JP10675687 A JP 10675687A JP 10675687 A JP10675687 A JP 10675687A JP 2668531 B2 JP2668531 B2 JP 2668531B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデジタル制御温度補償回路やデジタル測定回
路などに用いられるデジタルヒステリシス回路に関す
る。 〔発明の背景〕 従来、デジタル制御温度補償回路は第7図に示すよう
に温度センサー部71、基準発振部72、シーケンシャルメ
モリ部74及びアドレス指定部73から構成されていた。温
度センサー部71は温度補償を対象とする温度範囲内で周
期が略直線的に変化する温度パルスxをアドレス指定部
73に出力する。そして、基準発振部72は一定期間Hレベ
ルからLレベルに変化するリセット信号yをアドレス指
定部73に出力する。シーケンシャルメモリ部74はアドレ
ス指定部73からのアドレスパルスZの入力数によって対
応するアドレスのデータを温度補償データvとして出力
する。アドレス指定部73は、リセット信号yに基づく所
定期間に発生する温度パルスxの発生数をシーケンシャ
ルメモリ部74のアドレスパレスzとして用いることがで
きる様に変換する。具体例として、第2図に示す様にシ
ーケンシャルメモリ部72に256ビットのシリアルROMを用
い、5ビットを1群とする温度補償データを割りあてる
とき、温度補償を対象とする温度範囲を「51」の温度補
償領域に分割できる。例えば、0アドレスを使用しない
時、アドレス指定部73は前記温度範囲で発生する温度パ
ルス信号xの変化分をメモリ部のアドレス数である256
よりも小なる数に変換し、さらにその変換数z′の下1
桁が「0」又は「5」になるように調整したアドレスパ
ルスzを出力する。例えばある温度における温度パルス
信号xを変換・調整したアドレスパルス数が「10」であ
れば、アドレス6からアドレス10までの温度補償データ
v2「10110」が得られる。 第8図では、アドレスパルス数と温度補償データvの
関係を示す特性である。 図からも明らかな様に、アドレスパルスzの5、10、
15・・・になると(図ではパルスの立下りを基準として
いる)、次の段階の温度補償データv1,v2・・・とな
る。 この時、温度パルスxの変換数z′の下1桁が
「0」、「5」のしきい付近では、シーケンシャルメモ
リ部74から出力される温度補償データvがふらつき、こ
の温度補償データに基づき例えば水晶発振器の発振周波
数を補正しても微小温度変化で該周波数が大きく変動し
てしまう。 〔本発明の目的〕 本発明は上述の背景に鑑み案出されたものであり、そ
の目的はシーケンシャルメモリ部に保持した所定ワード
を導出するためのアドレスパレスの発生数が前後のワー
ドを導出する発生数とのしきい値付近であるとき、ヒス
テリシス制御を行い、安定した所定ワードが導出できる
デジタルヒステリシス回路を提供することにある。 〔目的を達成するための具体的に手段〕 本発明が上述の目的を達成するために行った具体的な
手段は、アドレスの先頭をb(任意の正の整数)とし
て、連続したN個のアドレスに対応するNビットのデー
タを1ワードとしてM個のワードを保持するシーケンシ
ャルメモリ部と、 所定期間において入力されるパルス信号数が(m−
1)×N+b乃至m×N+b−2の時、該パルス信号数
をm×N+b−1に変換し、アドレス指定のパルスとし
て前記シーケンシャルメモリ部に出力し、 また、同入力パルス信号数がm×N+b−1であり、
且つ1つの前の所定期間における入力パルス信号数がm
×N+bであった時、該パルス信号数を(m+1)×N
+b−1に変換し、アドレス指定のパルスとして前記シ
ーケンシャルメモリ部に出力し、 さらに、同入力パルス信号数がm×N+b−1であ
り、且つ1つの前の所定期間における入力パルス信号数
がm×N+bでない時、該パルス信号数m×N+b−1
をアドレス指定のパルスとして前記シーケンシャルメモ
リ部に出力するアドレス制御部とから成るデジタルヒス
テリシス回路である。 〔実施例〕 以下、本発明のデジタルヒステリス回路を図面に基づ
いて説明する。 第1図は本発明のデジタルヒステリシス回路のブロッ
ク回路図である。尚、実施例は、本発明を温度補償に用
いた例で説明する。 デジタルヒステリシス回路1はシーケンシャルメモリ
部11とアドレス制御部12から構成されている。 シーケンシャルメモリ部は第2図に示すようにシリア
ルインプットROM21とシフトレジスタ22とから成り、該R
OM21にはアドレスb(bは任意の整数)を先頭に連続す
るN個のアドレス、即ちアドレス((m−1)×N+
b)〜アドレス(m×N+b)に対応するNビットのデ
ータを1ワードの温度補償データDとして、Mワードの
温度補償データDが保持されている。尚、m、Mは整数
で、0<m≦Mである。 シフトレジスタ22はNビットのレジスタR1,R2・・・R
N有し、前記ROM21からシリアル的に出力されるデータN
ビットの温度補償データDとするものである。 図ではシリアルインプットROM21のアドレス数が256
で、アドレス1を先頭に、連続する5個のアドレスに対
応する5ビットのデータを1ワードの温度補償データD
としてM=51ワードが保持されている。即ち、アドレス
1からアドレス5に対応するデータ「1」「0」「0」
「0」「1」が第1のワードである温度補償データD1
なり、・・・アドレス251からアドレス255に対応するデ
ータ「1」「1」「0」「0」「1」が第51ワードであ
る温度補償データD51となる。 今、アドレス入力端子23にアドレスパルスCが1パル
ス入力される毎に、アドレスが1づつシフトし、それに
対応するデータがシフトレジスタ22のレジスタR1に出力
され、1パルス入力される毎に、そのデータは順次レジ
スタR2,R3,R4,R5にシフトされる。 そして、リセット端子24にリセット信号R′がアドレ
ス制御部12から入力されると、シフトレジスタ22の内容
が温度補償データdとして出力される。 即ち、アドレスパルスCの発生数Pが「10」であると
きに、リセット信号R′が発生すると、シリアルインプ
ットROM21内のアドレス6からアドレス10に対応するデ
ータ「10110」の温度補償データD2がシフトレジスタ22
から得られる。 アドレス制御部12は第3図に示すように温度センサー
部(図示せず)からの外部パルス信号aをアドレスパル
スCに変換する外部パルス変換部31と、リセット信号調
整部32と、ヒステリシス制御部33とから構成されてい
る。 外部パルス変換部31は連続的に与えられる外部パルス
信号aを所定時間を決定するためのリセット信号Rに基
づいて、アドレス数に相当するアドレスパルスCに変換
するために該外部パルス信号aを分周したり、所定範囲
のみのパルス信号aを抽出したりし、アドレスパルスC
としてシーケンシャルメモリ部11、リセット信号調整部
32、ヒステリシス制御部33に出力する。 尚、説明上リセット信号調整部32、ヒステリシス制御
部33に出力される信号を特に内部クロックパルスCLと記
す。 リセット信号調整部32は外部からのリセット信号Rに
基づいてシーケンシャルメモリ部12にリセット信号R′
を出力するものである。前記内部クロックパルスCLの発
生数Pが(m−1)×N+b〜m×N+b−2の時に、
外部からリセット信号Rが入力された場合、シーケンシ
ャルメモリ部11へのリセット信号R′の出力を遅延させ
る。具体的には、内部クロックパルスCLがm×N+b−
1の時にリセット信号R′を出力するように遅延調整す
る。 ヒステリシス制御部33は外部パルス変換部31から出力
される内部クロックパルスCLの発生数Pがm×N+b−
1の時に、リセット信号Rが入力された場合、シーケン
シャルメモリ部11に直ちにリセット信号R′を与える
か、または内部クロックパルスCLの発生数Pが、1ワー
ド分多い(m×1)×N+b−1になるまで遅延させて
リセット信号R′を出力するかを制御する。 第4図は上述のリセット信号調整部32及びヒステリシ
ス制御部33の構成を第2図のシーケンシャルメモリ部11
に対応させた回路図であり、第5図は動作のタイムチャ
ート図であり、第6図はヒステリシス制御による特性図
である。 第4図において、入力端子40には外部パルス変換部31
から出力された内部クロックパルスCLが供給される。リ
セット端子41には外部から所定期間毎にリセット信号R
が供給される。 フリップフロップ(以下、F−Fと記す)回路42から
の出力は、シーケンシャルメモリ部11のリセット信号
R′として、シーケンシャルメモリ部11に供給される。 シフトレジスタ(カウンタ回路)43は、内部クロック
パルスCLによって動作し、そのデータ端子DにはQ2、Q3
端子の出力がNORゲート44を介して接続されている。こ
れにより、ANDゲート45から出力される信号eは内部ク
ロックパルスCLの5パルス毎に発生する(例えば、内部
クロックパルスCLの5パルス目、10パルス目、15パルス
目・・・に同期し、期間B1、B2、B3・・・を規定す
る)。また、ANDゲート46から出力される信号fも内部
クロックパルス信号CLの5パルス毎に発生する(例え
ば、内部クロックパルスCLの6パルス目、11パルス目、
16パルス目・・・に同期し、期間C1、C2、C3・・・を規
定する)。 即ち、信号eのH状態期間(期間B1、B2、B3・・・)
がヒステリシス制御を行うか、否かの判断期間となり、
例えば信号fがシーケンシャルメモリ部11に供給するリ
セット信号R′のタイミング信号(ワードパルス)とな
る。 F−F回路42の出力がワードパルスfの立ち上がりと
して出力されるには、NANDゲート47の出力iがHレベル
状態の場合である。即ち、F−F回路48、49の出力g、
hのいずれかがLレベル状態の場合である。 F−F回路48はシフトレジスタ43のQ2端子の出力でリ
セットされている。このため、F−F回路48の出力g
は、信号eがHレベル状態であるときに外部リセット信
号RがHレベルからLレベル状態になるとき以外はF−
F回路48の出力gはLレベル状態である。 F−F回路49はリセット端子が作動されていないため
フラグとして動作する。F−F回路49から出力されるフ
ラグ信号hはD端子がHレベル状態、即ちANDゲート46
の信号fがHレベル状態の時か、又は、前回のフラグ信
号h′(不図示)がHレベル状態で、且つANDゲート45
の信号eがHレベル状態の時に、外部からのリセット信
号RがHレベル状態からLレベル状態になると、フラグ
信号hはHレベル状態となる。上述の場合以外は、すべ
てフラグ信号hはLレベル状態となる。 第5図及び第6図のタイムチャート図及び特性図で説
明すると、リセット信号RがHレベル状態からLレベル
状態に転じるタイミングが、A1、A2、A3・・・の期間Am
では、F−F回路49のフラグ信号hはLレベル状態とな
り、C1、C2、C3・・・の期間Cmでは、フラグ信号hはH
レベル状態となり、B1、B2、B3・・・の期間Bmでは、F
−F回路49のフラグ信号hは不変となる。 上述のフラグ信号hとF−F回路48の出力信号gの状
態と、外部リセット信号RによってF−F回路42から出
力されるリセット信号R′の関係は以下の表1のように
なる。 上記表1において、外部リセット信号RがHレベル状
態からLレベル状態に転じるタイミングがA1、A2、A3
・・の期間Amであれば、F−F回路48の出力信号gがL
レベル状態であるため、F−F回路42から出力されるリ
セット信号R′は、直後にくるワードパルスf1、f2、f3
・・・(図5では、ワードパルス1、2、3・・・の
m)の立ち上がりで出力する。即ち、シーケンシャルメ
モリ部11に与えられるリセット信号R′は外部のリセッ
ト信号RがLベル状態に転じてから内部クロックパルス
CL(アドレスパルスC)がm×N+b−1(例ではN=
5、b=1)である5、10、15・・・になるまで遅延調
整されることになる。 次に、外部リセット信号がHレベル状態からLレベル
状態に転じるタイミングがC1、C2、C3・・・の期間Cm
あれば、F−F回路8の出力信号gがLレベル状態であ
るため、F−F回路42から出力されるリセット信号R′
は、直後にくるワードパルスf2、f3、f4・・・(図5で
は、ワードパルス2、3、4・・・のm+1)の立ち上
がりで出力する。即ち、シーケンシャルメモリ部11に与
えられるリセット信号R′は外部のリセット信号RがL
レベル状態に転じてから内部クロックパルスCL(アドレ
スパルスC)が(m+1)×N+b−1である10、15、
20・・・になるまで遅延調整されることになる。 さらに、外部リセット信号がHレベル状態からLレベ
ル状態に転じるタイミングがB1、B2、B3・・・の期間Bm
であれば、前記のフラグ信号h′の状態でリセット信号
R′の出力状態が2通りある。 まず、前回のフラグ信号h′がLレベル状態あれば、
F−F回路42は、直後にくるワードパルスf1、f2、f3
・・(図5では、ワードパルス1、2、3・・・のm)
の立ち上がりでリセット信号R′を出力する。即ち、シ
ーケンシャルメモリ部11に与えられるリセット信号R′
は外部のリセット信号RがLレベル状態に転じてから直
ちに出力され、内部クロックパルスCL(アドレスパルス
C)数がm×N+b−1となる。 次に、前回のフラグ信号h′がHレベル状態あれば、
F−F回路48の信号gもHレベル状態であるために、F
−F回路49の信号hは期間C1、C2、C3・・・の期間Cm
外部からのリセット信号Rが転じた場合と同様に、ワー
ドパルスf2、f3、f4・・・(図5では、ワードパルス
2、3、4・・・のm+1)の立ち上がりで出力する。
即ち、外部のリセット信号Rが内部クロックパルスCL
(アドレスパルスC)が5、10、15、20・・・の立ち下
がりでHレベル状態かちLレベル状態に転じ、前回のク
ロックパルス発生数が6、11、16・・・であるときのみ
ヒステリシス制御が行われ、次に発生するワードパルス
f2、f3、f4・・・(図5では、ワードパルス2、3、4
・・・のm+1)の立ち上がりでシーケンシャルメモリ
部11へのリセット信号R′が出力され、内部クロックパ
ルスCL(アドレスパルスC)数が(m+1)×N+b−
1となる。 かくして、シーケンシャルメモリ部11のシリアルイン
プットROM21に保持した5ビットの温度補償データは、
アドレスパルスCDが5,10,15,20・・・の立ち下がりにリ
セット信号R′が与えられるために途中で切れることな
く5ビットの完全なデータとして出力される。また、温
度補償データDm+1から次の温度補償データDmに代わる際
に、リセット信号Rが発生した時の内部クロックパルス
CL(アドレスパルスC)のパルス数5,10,15・・・のm
×N+b−1で前回の同パルス数が6、11、16・・・の
m×N+bの場合のみは温度補償データDm+1が不変とな
る。即ち、前記パルス数が5,10,15・・・のm×N+b
−1の時にヒステリシス制御を行うことにより、パルス
数の微小の変化によって温度補償データのふれを防止す
る。 尚、上述の実施例は温度センサー部とともに用いた温
度補償の例を用いたが、本発明のデジタルヒステリシス
回路はデジタル電圧計など、デジタル計測器などに広く
使用することができる。 〔発明の効果〕 上述のように、本発明のデジタルヒステリシス回路
は、連続するN個のアドレスに対応するデータを1ワー
ドとし、Mワード記憶されたシーケンシャルメモリ部か
ら所定ワードを得る際に、所定期間に発生するアドレス
パルスのパルス数を各ワードの終端アドレス数に対応す
るように変換するため、完全なワードを出力することが
できる。 また、所定期間に発生するアドレスパルスのパルス数
が各ワードの終端アドレス数(m×N+b−1)である
とき、ヒステリシス制御を行うために、アドレスパルス
の微小変化によってシーケンシャルメモリ部から出力さ
れるワードがふらつくことを防止できる。また、本発明
の構成部分を集積化することが容易であり、小型化、低
電力化が達成できる。
The present invention relates to a digital hysteresis circuit used for a digital control temperature compensation circuit, a digital measurement circuit, and the like. [Background of the Invention] Conventionally, a digital control temperature compensating circuit includes a temperature sensor section 71, a reference oscillating section 72, a sequential memory section 74, and an address specifying section 73 as shown in FIG. The temperature sensor unit 71 addresses the temperature pulse x whose period changes substantially linearly within the temperature range targeted for temperature compensation.
Output to 73. Then, the reference oscillating unit 72 outputs to the address specifying unit 73 a reset signal y that changes from the H level to the L level for a certain period. The sequential memory unit 74 outputs data of an address corresponding to the number of input address pulses Z from the address specifying unit 73 as temperature compensation data v. The addressing unit 73 converts the number of temperature pulses x generated in a predetermined period based on the reset signal y so that it can be used as the address palace z of the sequential memory unit 74. As a specific example, as shown in FIG. 2, a 256-bit serial ROM is used for the sequential memory unit 72, and when temperature compensation data having 5 bits as one group is assigned, the temperature range targeted for temperature compensation is “51”. "Can be divided into temperature compensation regions. For example, when the 0 address is not used, the addressing unit 73 uses the change in the temperature pulse signal x generated in the temperature range as the number of addresses in the memory unit, which is 256.
Is converted to a number smaller than
The address pulse z adjusted so that the digit becomes “0” or “5” is output. For example, if the number of address pulses converted / adjusted from the temperature pulse signal x at a certain temperature is “10”, the temperature compensation data from address 6 to address 10
v 2 "10110" is obtained. FIG. 8 is a characteristic showing the relationship between the number of address pulses and the temperature compensation data v. As is clear from the figure, the address pulse z of 5, 10,
(In the figure, the falling edge of the pulse is used as a reference), the temperature compensation data v1 , v2 ,. At this time, the temperature compensation data v output from the sequential memory unit 74 fluctuates near the threshold where the last digit of the conversion number z ′ of the temperature pulse x is “0” or “5”, and based on this temperature compensation data For example, even if the oscillation frequency of the crystal oscillator is corrected, the frequency fluctuates greatly due to a small temperature change. [Object of the present invention] The present invention has been devised in view of the above background, and an object thereof is to derive a word in which the number of occurrences of an address palace for deriving a predetermined word held in a sequential memory unit is around. It is an object of the present invention to provide a digital hysteresis circuit capable of performing a hysteresis control when a threshold value is close to the number of occurrences to derive a stable predetermined word. [Concrete Means for Achieving the Purpose] A concrete means for achieving the above-mentioned object according to the present invention is to use N consecutive N-numbered addresses with b (arbitrary positive integer) at the beginning of the address. A sequential memory unit that holds M words with N-bit data corresponding to an address as one word, and the number of pulse signals input in a predetermined period is (m-
1) When xN + b to m × N + b-2, the number of pulse signals is converted into m × N + b−1 and output as an addressing pulse to the sequential memory unit, and the number of input pulse signals is m × N + b-1;
In addition, the number of input pulse signals in the immediately preceding predetermined period is m
× N + b, the number of the pulse signals is (m + 1) × N
+ B-1 and outputs it to the sequential memory unit as a pulse for addressing. Further, the number of input pulse signals is m × N + b-1, and the number of input pulse signals in one previous predetermined period is m. When it is not × N + b, the number of pulse signals m × N + b−1
Is a digital hysteresis circuit comprising: an address control unit that outputs to the sequential memory unit as an address designation pulse. [Embodiment] A digital hysteresis circuit of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block circuit diagram of a digital hysteresis circuit of the present invention. The embodiment will be described with an example in which the present invention is used for temperature compensation. The digital hysteresis circuit 1 is composed of a sequential memory unit 11 and an address control unit 12. The sequential memory section comprises a serial input ROM 21 and a shift register 22, as shown in FIG.
OM21 has N consecutive addresses beginning with address b (b is an arbitrary integer), that is, address ((m-1) × N +
b) to N-bit data corresponding to the address (m × N + b) as temperature compensation data D of one word, and temperature compensation data D of M words are held. Note that m and M are integers, and 0 <m ≦ M. The shift register 22 is an N-bit register R 1 , R 2 ... R
N , data N serially output from the ROM 21
The bit temperature compensation data D is used. In the figure, the number of addresses in the serial input ROM 21 is 256
With address 1 at the top, 5-bit data corresponding to five consecutive addresses is converted into one-word temperature compensation data D.
M = 51 words are held. That is, data “1” “0” “0” corresponding to address 1 to address 5
“0” and “1” become the first word temperature compensation data D 1 , and the data “1”, “1”, “0”, “0” and “1” corresponding to the addresses 251 to 255 are the 51st. the temperature compensation data D 51 is the word. Now, each time one pulse of the address pulse C is input to the address input terminal 23, the address is shifted by one, and the corresponding data is output to the register R 1 of the shift register 22, and one pulse is input, The data is sequentially shifted to the registers R 2 , R 3 , R 4 and R 5 . When the reset signal R'is input to the reset terminal 24 from the address controller 12, the contents of the shift register 22 are output as the temperature compensation data d. That is, when generating the number P of the address pulse C is "10", the reset signal R 'is generated, the temperature compensation data D 2 of the data "10110" corresponding from the address 6 in the serial input ROM21 to address 10 Shift register 22
Obtained from As shown in FIG. 3, the address control unit 12 includes an external pulse conversion unit 31 that converts an external pulse signal a from a temperature sensor unit (not shown) into an address pulse C, a reset signal adjustment unit 32, and a hysteresis control unit. 33. The external pulse conversion unit 31 divides the external pulse signal a, which is continuously applied, into address pulses C corresponding to the number of addresses based on a reset signal R for determining a predetermined time. Circulates, or extracts a pulse signal a only in a predetermined range, and generates an address pulse C.
As sequential memory unit 11, reset signal adjustment unit
32, output to the hysteresis control unit 33. Note that, for the sake of explanation, a signal output to the reset signal adjustment unit 32 and the hysteresis control unit 33 is particularly referred to as an internal clock pulse CL. The reset signal adjusting unit 32 causes the sequential memory unit 12 to reset the reset signal R ′ based on the external reset signal R.
Is output. When the number P of generated internal clock pulses CL is (m-1) × N + b to m × N + b-2,
When the reset signal R is input from the outside, the output of the reset signal R 'to the sequential memory unit 11 is delayed. Specifically, the internal clock pulse CL is mxN + b-
When it is 1, the delay is adjusted so that the reset signal R'is output. The hysteresis control unit 33 determines that the number P of internal clock pulses CL output from the external pulse conversion unit 31 is m × N + b−
When the reset signal R is input at the time of 1, the reset signal R'is immediately given to the sequential memory unit 11 or the number P of generations of the internal clock pulse CL is increased by one word (m × 1) × N + b−. It controls whether to output the reset signal R 'with a delay until it becomes 1. FIG. 4 shows the configuration of the reset signal adjusting unit 32 and the hysteresis control unit 33 described above in the sequential memory unit 11 of FIG.
5 is a circuit diagram corresponding to FIG. 5, FIG. 5 is a time chart diagram of the operation, and FIG. 6 is a characteristic diagram by hysteresis control. In FIG. 4, the input terminal 40 has an external pulse conversion unit 31.
The internal clock pulse CL output from is supplied. A reset signal R is externally supplied to the reset terminal 41 at predetermined intervals.
Is supplied. The output from the flip-flop (hereinafter referred to as FF) circuit 42 is supplied to the sequential memory unit 11 as a reset signal R 'for the sequential memory unit 11. The shift register (counter circuit) 43 operates by the internal clock pulse CL, and its data terminal D has Q 2 , Q 3
The outputs of the terminals are connected via NOR gate 44. As a result, the signal e output from the AND gate 45 is generated every five pulses of the internal clock pulse CL (for example, in synchronization with the fifth pulse, the tenth pulse, the fifteenth pulse,... Of the internal clock pulse CL, Define the periods B 1 , B 2 , B 3 ...). The signal f output from the AND gate 46 is also generated every five pulses of the internal clock pulse signal CL (for example, the sixth pulse, the eleventh pulse of the internal clock pulse CL,
Synchronize with the 16th pulse ... and define the periods C 1 , C 2 , C 3 ...). That is, the H state period of the signal e (periods B 1 , B 2 , B 3 ...)
Is the period for determining whether or not to perform hysteresis control,
For example, the signal f becomes a timing signal (word pulse) of the reset signal R'supplied to the sequential memory unit 11. The output of the FF circuit 42 is output as the rising edge of the word pulse f when the output i of the NAND gate 47 is in the H level state. That is, the output g of the FF circuits 48 and 49,
h is in the L level state. The FF circuit 48 is reset by the output of the Q 2 terminal of the shift register 43. Therefore, the output g of the FF circuit 48
F-except when the external reset signal R changes from the H level to the L level when the signal e is at the H level.
The output g of the F circuit 48 is at the L level. The FF circuit 49 operates as a flag because the reset terminal is not activated. The flag signal h output from the FF circuit 49 has the D terminal in the H level state, that is, the AND gate 46.
Signal f is in the H level state, or the previous flag signal h '(not shown) is in the H level state, and AND gate 45
When the reset signal R from the outside is changed from the H level state to the L level state while the signal e of 1 is in the H level state, the flag signal h is changed to the H level state. In all cases except the above case, the flag signal h is in the L level state. Explaining with the time charts and characteristic diagrams of FIGS. 5 and 6, the timing at which the reset signal R changes from the H level state to the L level state is the period A m of A 1 , A 2 , A 3 ...
Then, the flag signal h of the FF circuit 49 is in the L level state, and the flag signal h is H during the period C m of C 1 , C 2 , C 3 ...
It becomes a level state, and during the period B m of B 1 , B 2 , B 3 ...
The flag signal h of the -F circuit 49 remains unchanged. The relationship between the above-mentioned flag signal h, the state of the output signal g of the FF circuit 48, and the reset signal R 'output from the FF circuit 42 by the external reset signal R is as shown in Table 1 below. In Table 1 above, the timing at which the external reset signal R changes from the H level to the L level is A 1 , A 2 , A 3.
If period A m of ..., the output signal g of F-F circuit 48 is L
Since a level state, a reset signal is outputted from the F-F circuit 42 R 'is a word pulse f 1 that immediately follows, f 2, f 3
... (in FIG. 5, m of word pulse 1, 2, 3 ...) Is output at the rising edge. That is, the reset signal R'provided to the sequential memory unit 11 is an internal clock pulse after the external reset signal R turns to the L-bell state.
CL (address pulse C) is m × N + b−1 (in the example, N =
The delay is adjusted until 5, 10, 15 ... Then, if the timing when the external reset signal turns from the H level state to the L level state C 1, C 2, C 3 periods · · · C m, the output signal g is at the L level state of the F-F circuit 8 Therefore, the reset signal R ′ output from the FF circuit 42 is
Are output at the rising edges of word pulses f 2 , f 3 , f 4 ... (In FIG. 5, m + 1 of word pulses 2 , 3 , 4, ...). That is, as for the reset signal R'applied to the sequential memory unit 11, the external reset signal R is L
The internal clock pulse CL (address pulse C) is (m + 1) × N + b−1 after turning to the level state 10, 15,
The delay will be adjusted until it becomes 20 ... Further, the timing at which the external reset signal changes from the H level state to the L level state is a period B m of B 1 , B 2 , B 3, ...
If so, there are two output states of the reset signal R'in the state of the flag signal h '. First, if the previous flag signal h'is in the L level state,
F-F circuit 42, a word pulse f 1, f 2 coming just after, f 3 ·
.. (m of word pulse 1, 2, 3, ... In FIG. 5)
The reset signal R'is output at the rising edge of. That is, the reset signal R'applied to the sequential memory unit 11
Is output immediately after the external reset signal R changes to the L level, and the number of internal clock pulses CL (address pulses C) becomes m × N + b−1. Next, if the previous flag signal h'is in the H level state,
Since the signal g of the F-F circuit 48 is also in the H level state,
Signal h -F circuit 49 as in the case where the reset signal R from the outside turned in the period C m period C 1, C 2, C 3 ···, word pulse f 2, f 3, f 4 · .. (In FIG. 5, m + 1 of word pulses 2, 3, 4,...) Are output at the rising edge.
That is, the external reset signal R is set to the internal clock pulse CL.
Hysteresis only when (address pulse C) changes from H level state to L level state at the trailing edge of 5, 10, 15, 20 ... Control is performed, and the next generated word pulse
f 2 , f 3 , f 4 ... (in FIG. 5, word pulses 2, 3, 4
The reset signal R 'to the sequential memory unit 11 is output at the rise of m + 1), and the number of internal clock pulses CL (address pulses C) is (m + 1) .times.N + b-
It becomes 1. Thus, the 5-bit temperature compensation data held in the serial input ROM 21 of the sequential memory unit 11 is
Since the reset signal R 'is given at the falling edge of the address pulse 5, 10, 15, 20,..., The address pulse CD is output as 5-bit complete data without interruption. Further, when the temperature compensation data D m + 1 is replaced with the next temperature compensation data D m , an internal clock pulse when the reset signal R is generated.
CL (address pulse C) pulse number 5,10,15 ... m
The temperature compensation data D m + 1 is invariable only in the case of × N + b−1 and the previous number of pulses is m × N + b of 6, 11, 16,. That is, the number of pulses is 5, 10, 15,.
By performing the hysteresis control when the value is -1, it is possible to prevent the fluctuation of the temperature compensation data due to the minute change of the pulse number. Although the above embodiment uses the example of temperature compensation used together with the temperature sensor unit, the digital hysteresis circuit of the present invention can be widely used in digital voltmeters, digital measuring instruments and the like. [Effects of the Invention] As described above, in the digital hysteresis circuit of the present invention, the data corresponding to consecutive N addresses is defined as one word, and a predetermined word is obtained when the predetermined word is obtained from the sequential memory unit in which M words are stored. Since the number of address pulses generated during the period is converted so as to correspond to the number of end addresses of each word, a complete word can be output. Further, when the number of address pulses generated in a predetermined period is the number of end addresses of each word (m × N + b−1), the output from the sequential memory unit is performed by a small change in the address pulse to perform hysteresis control. Words can be prevented from wandering. Further, the components of the present invention can be easily integrated, and miniaturization and low power can be achieved.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明のデジタルヒステリシス回路を示すブロ
ック回路図であり、第2図は第1図中のシーケンシャル
メモリ部の構成を示すブロック図であり、第3図は同じ
くアドレス制御部の構成を示すブロック図であり、第4
図はアドレス制御部のリセット信号調整部とヒステリシ
ス制御部の回路図であり、第5図は第4図の回路図に基
づくタイムチャート図であり、第6図は第4図に基づく
アドレスパルスと温度補償データとの関係を示す特性図
である。 第7図は従来のデジタル制御温度補償回路のブロック回
路図であり、第8図は従来のアドレスパルスと温度補償
データとの関係を示す特性図である。 11……シーケンシャルメモリ部 12……アドレス制御部 32……リセット信号調整部 33……ヒステリシス制御部
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block circuit diagram showing a digital hysteresis circuit of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a sequential memory unit in FIG. 1, and FIG. It is a block diagram which similarly shows the structure of an address control part.
5 is a circuit diagram of a reset signal adjusting unit and a hysteresis control unit of the address control unit. FIG. 5 is a time chart based on the circuit diagram of FIG. 4, and FIG. 6 is a circuit diagram of an address pulse based on FIG. It is a characteristic view which shows the relationship with temperature compensation data. FIG. 7 is a block circuit diagram of a conventional digital control temperature compensating circuit, and FIG. 8 is a characteristic diagram showing a relationship between a conventional address pulse and temperature compensating data. 11: Sequential memory unit 12: Address control unit 32: Reset signal adjustment unit 33: Hysteresis control unit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.アドレスの先頭をb(任意の正の整数)として、連
続したN個のアドレスに対応するNビットのデータを1
ワードとしてM個のワードを保持するシーケンシャルメ
モリ部と、 所定期間において入力されるパルス信号数が(m−1)
×N+b乃至m×N+b−2の時、該パルス信号数をm
×N+b−1に変換し、アドレス指定のパルスとして前
記シーケンシャルメモリ部に出力し、 また、同入力パルス信号数がm×N+b−1であり、且
つ1つの前の所定期間における入力パルス信号数がm×
N+bであった時、該パルス信号数を(m+1)×N+
b−1に変換し、アドレス指定のパルスとして前記シー
ケンシャルメモリ部に出力し、 さらに、同入力パルス信号数がm×N+b−1であり、
且つ1つの前の所定期間における入力パルス信号数がm
×N+bでない時、該パルス信号数m×N+b−1をア
ドレス指定のパルスとして前記シーケンシャルメモリ部
に出力するアドレス制御部とから成るデジタルヒステリ
シス回路。
(57) [Claims] Assuming that the beginning of the address is b (arbitrary positive integer), N-bit data corresponding to N consecutive addresses is 1
A sequential memory unit holding M words as words, and the number of pulse signals input in a predetermined period is (m-1)
When xN + b to m × N + b-2, the number of pulse signals is m
.Times.N + b-1 and output to the sequential memory unit as an address-specified pulse. The number of input pulse signals is m.times.N + b-1, and the number of input pulse signals in one previous predetermined period is mx
When it is N + b, the number of pulse signals is (m + 1) × N +
b-1 and outputs it to the sequential memory unit as an addressing pulse, and the number of input pulse signals is m × N + b-1,
In addition, the number of input pulse signals in the preceding predetermined period is m
A digital hysteresis circuit comprising an address control unit which, when not × N + b, outputs the pulse signal number m × N + b−1 as an addressing pulse to the sequential memory unit.
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