JP2731685B2 - 汚損検出センサ - Google Patents
汚損検出センサInfo
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- JP2731685B2 JP2731685B2 JP346093A JP346093A JP2731685B2 JP 2731685 B2 JP2731685 B2 JP 2731685B2 JP 346093 A JP346093 A JP 346093A JP 346093 A JP346093 A JP 346093A JP 2731685 B2 JP2731685 B2 JP 2731685B2
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- Japan
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- insulating plate
- detection sensor
- leakage current
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、架空送電線を絶縁支持
する碍子装置の汚損量を把握するために用いられる汚損
検出センサの改良に関するものである。
する碍子装置の汚損量を把握するために用いられる汚損
検出センサの改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】碍子装置の表面が付着塩分により汚損さ
れると絶縁性が低下するため、架空送電線路の保守のた
めには碍子装置の汚損量を常に把握しておく必要があ
る。このために碍子装置の近傍に設置する汚損検出セン
サが従来から知られている。
れると絶縁性が低下するため、架空送電線路の保守のた
めには碍子装置の汚損量を常に把握しておく必要があ
る。このために碍子装置の近傍に設置する汚損検出セン
サが従来から知られている。
【０００３】この種の汚損検出センサの代表的なもの
は、例えば実開昭62-88951号公報に示されるように、絶
縁板上の電極間抵抗値に基づいて絶縁板上の等価塩分付
着量を検出する方式のもので、測定時に絶縁板を電子冷
却して結露を生じさせ、電極間を湿潤させた状態でもれ
電流を測定する工夫がなされている。
は、例えば実開昭62-88951号公報に示されるように、絶
縁板上の電極間抵抗値に基づいて絶縁板上の等価塩分付
着量を検出する方式のもので、測定時に絶縁板を電子冷
却して結露を生じさせ、電極間を湿潤させた状態でもれ
電流を測定する工夫がなされている。
【０００４】しかしこの種の従来の汚損検出センサは、
絶縁板上の全体に広く分布させた電極の全体を湿潤させ
る必要があるために、部分的に過剰に湿潤される部分が
生じることが避けられず、電極間のもれ電流が変化して
測定精度が低下する傾向があった。またこれを避けるた
めに湿潤を抑制すると部分的に湿潤不足が生じ、電極間
のもれ電流が飽和に達する前に測定が終了し、やはり測
定精度が低下する傾向があった。
絶縁板上の全体に広く分布させた電極の全体を湿潤させ
る必要があるために、部分的に過剰に湿潤される部分が
生じることが避けられず、電極間のもれ電流が変化して
測定精度が低下する傾向があった。またこれを避けるた
めに湿潤を抑制すると部分的に湿潤不足が生じ、電極間
のもれ電流が飽和に達する前に測定が終了し、やはり測
定精度が低下する傾向があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
の問題点を解消して、絶縁板上の全体に広く分布させた
電極間のもれ電流を精度よく検出することができ、これ
により絶縁板上全体の等価塩分付着量を正確に知ること
ができる汚損検出センサを提供するために完成されたも
のである。
の問題点を解消して、絶縁板上の全体に広く分布させた
電極間のもれ電流を精度よく検出することができ、これ
により絶縁板上全体の等価塩分付着量を正確に知ること
ができる汚損検出センサを提供するために完成されたも
のである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになされた本発明は、絶縁板上の電極間抵抗値に基づ
いて絶縁板上の等価塩分付着量を検出する汚損検出セン
サにおいて、絶縁板上に多数の電極をマトリックス状に
配置するとともに、２つの電極を順次選択しそれらの電
極間に電圧を印加して抵抗値を測定するスイッチ回路
と、このようにして測定された絶縁板上全体の抵抗値分
布から等価塩分付着量を演算する演算回路とを設けたこ
とを特徴とするものである。
めになされた本発明は、絶縁板上の電極間抵抗値に基づ
いて絶縁板上の等価塩分付着量を検出する汚損検出セン
サにおいて、絶縁板上に多数の電極をマトリックス状に
配置するとともに、２つの電極を順次選択しそれらの電
極間に電圧を印加して抵抗値を測定するスイッチ回路
と、このようにして測定された絶縁板上全体の抵抗値分
布から等価塩分付着量を演算する演算回路とを設けたこ
とを特徴とするものである。
【０００７】
【実施例】以下に本発明を図示の実施例により更に詳細
に説明する。図１において、１は碍子と同様のセラミッ
ク質よりなる絶縁板であり、２はこの絶縁板１の上にマ
トリックス状に配置された多数の電極である。各電極
２、２の間隔は微少距離とされている。各電極２、２は
横方向及び縦方向のスイッチ回路３、４に接続されてい
る。ここではスイッチ回路３、４としてアナログスイッ
チやリレー接点が用いられており、これらのスイッチ回
路３、４を順次切り換えることにより、隣接する２個の
電極を次々と選択してライン５とライン６に電気的に接
続することができるようになっている。
に説明する。図１において、１は碍子と同様のセラミッ
ク質よりなる絶縁板であり、２はこの絶縁板１の上にマ
トリックス状に配置された多数の電極である。各電極
２、２の間隔は微少距離とされている。各電極２、２は
横方向及び縦方向のスイッチ回路３、４に接続されてい
る。ここではスイッチ回路３、４としてアナログスイッ
チやリレー接点が用いられており、これらのスイッチ回
路３、４を順次切り換えることにより、隣接する２個の
電極を次々と選択してライン５とライン６に電気的に接
続することができるようになっている。
【０００８】ライン５とライン６は測定用電源７と測定
用抵抗８に接続され、測定用抵抗８に流れる電流を測定
することによりスイッチ回路３、４で選択された一対の
電極２、２間の導電性の汚損付着物によるもれ電流が回
路を流れ、測定用抵抗８にもれ電流に比例した起電圧と
して発生する。そしてこの測定用抵抗８の両端の電圧値
はA/D 変換器９によりデジタル値に変換され、演算装置
10に入力される。なお絶縁板１には電子冷却装置11また
は蒸気加湿器などの絶縁板１上の汚損物に湿潤を与える
装置が取り付けられ、絶縁板１を湿潤させることができ
るようになっている。
用抵抗８に接続され、測定用抵抗８に流れる電流を測定
することによりスイッチ回路３、４で選択された一対の
電極２、２間の導電性の汚損付着物によるもれ電流が回
路を流れ、測定用抵抗８にもれ電流に比例した起電圧と
して発生する。そしてこの測定用抵抗８の両端の電圧値
はA/D 変換器９によりデジタル値に変換され、演算装置
10に入力される。なお絶縁板１には電子冷却装置11また
は蒸気加湿器などの絶縁板１上の汚損物に湿潤を与える
装置が取り付けられ、絶縁板１を湿潤させることができ
るようになっている。
【０００９】
【作用】このように構成された本発明の汚損検出センサ
は、碍子装置と同一の汚損を受けるように碍子装置の近
傍に設置されるもので、汚損測定の際にはまず絶縁板１
上にマトリックス状に配置された多数の電極２、２から
スイッチ回路３、４により２つの電極を選択し、電子冷
却装置11等により絶縁板１に湿潤を与える。図２に示す
ように、加湿が進行するに連れて電極間のもれ電流値は
次第に増加し、ある時点で飽和に達するので、この時間
変化を演算装置10で監視して飽和値をその電極間のもれ
電流値（抵抗値）とする。
は、碍子装置と同一の汚損を受けるように碍子装置の近
傍に設置されるもので、汚損測定の際にはまず絶縁板１
上にマトリックス状に配置された多数の電極２、２から
スイッチ回路３、４により２つの電極を選択し、電子冷
却装置11等により絶縁板１に湿潤を与える。図２に示す
ように、加湿が進行するに連れて電極間のもれ電流値は
次第に増加し、ある時点で飽和に達するので、この時間
変化を演算装置10で監視して飽和値をその電極間のもれ
電流値（抵抗値）とする。
【００１０】このようにして最初に選択された電極２、
２間のもれ電流値（抵抗値）の測定を終了すると、スイ
ッチ回路３、４は次の電極２、２を選択し、同様に測定
を行う。そしてこの動作を繰り返して全ての電極間の測
定が終了したとき、演算装置10は絶縁板１上全体の抵抗
値分布を算出し、図３に示されるような関係を利用して
絶縁板１上の等価塩分付着量を演算する。
２間のもれ電流値（抵抗値）の測定を終了すると、スイ
ッチ回路３、４は次の電極２、２を選択し、同様に測定
を行う。そしてこの動作を繰り返して全ての電極間の測
定が終了したとき、演算装置10は絶縁板１上全体の抵抗
値分布を算出し、図３に示されるような関係を利用して
絶縁板１上の等価塩分付着量を演算する。
【００１１】上記したように、本発明の汚損検出センサ
はマトリックス状に配置された多数の電極２、２間の微
少な間隔を利用して微少部分にのみ順次電圧を印加する
方式を採用したので、１組の電極間のもれ電流測定中に
絶縁板１上の他の部分には電圧が印加されず、もれ電流
が流れないため、電流による発熱で汚損湿潤状態が変化
することがない。従って絶縁板の全体を十分に湿潤させ
て測定する必要のあった従来の汚損検出センサに比較し
て、はるかに正確な測定を行うことができる。また湿潤
状態は、絶縁板と湿潤を与える装置の相対位置で板の面
状で分布しており、表面の湿潤状態によって電流分布が
異なるが、本方式では電極間距離が狭く、１対の電極間
では均一湿潤と考えられる。このため、それぞれの１対
の電極間の湿潤状態に応じて繰り返し計測することがで
きるので、もれ電流の飽和値を得やすく、精度の高い測
定が可能である。
はマトリックス状に配置された多数の電極２、２間の微
少な間隔を利用して微少部分にのみ順次電圧を印加する
方式を採用したので、１組の電極間のもれ電流測定中に
絶縁板１上の他の部分には電圧が印加されず、もれ電流
が流れないため、電流による発熱で汚損湿潤状態が変化
することがない。従って絶縁板の全体を十分に湿潤させ
て測定する必要のあった従来の汚損検出センサに比較し
て、はるかに正確な測定を行うことができる。また湿潤
状態は、絶縁板と湿潤を与える装置の相対位置で板の面
状で分布しており、表面の湿潤状態によって電流分布が
異なるが、本方式では電極間距離が狭く、１対の電極間
では均一湿潤と考えられる。このため、それぞれの１対
の電極間の湿潤状態に応じて繰り返し計測することがで
きるので、もれ電流の飽和値を得やすく、精度の高い測
定が可能である。
【００１２】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明の汚損検
出センサは絶縁板全体に広く分布させた多数の電極間の
もれ電流を過剰な湿潤を与えることなく精度よく検出す
ることができ、これにより絶縁板上全体の等価塩分付着
量を正確に知ることができる利点がある。よって本発明
は従来の問題点を解消した汚損検出センサとして、産業
の発展に寄与するところはきわめて大きいものである。
出センサは絶縁板全体に広く分布させた多数の電極間の
もれ電流を過剰な湿潤を与えることなく精度よく検出す
ることができ、これにより絶縁板上全体の等価塩分付着
量を正確に知ることができる利点がある。よって本発明
は従来の問題点を解消した汚損検出センサとして、産業
の発展に寄与するところはきわめて大きいものである。
【図１】本発明の実施例を示す回路図である。
【図２】加湿による電極間のもれ電流値の変化を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図３】絶縁板上への塩分付着量と電極間のもれ電流値
の変化を示すグラフである。
の変化を示すグラフである。
１ 絶縁板 ２ マトリックス状に配置された電極 ３ スイッチ回路 ４ スイッチ回路 10 演算回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 永植 愛知県名古屋市天白区表山３丁目150番 地 (56)参考文献 特開 昭63−144296（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−207917（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−207918（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−207919（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−207920（ＪＰ，Ａ) 実開 昭62−88951（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】 絶縁板上の電極間抵抗値に基づいて絶縁
板上の等価塩分付着量を検出する汚損検出センサにおい
て、絶縁板上に多数の電極をマトリックス状に配置する
とともに、２つの電極を順次選択しそれらの電極間に電
圧を印加して抵抗値を測定するスイッチ回路と、このよ
うにして測定された絶縁板上全体の抵抗値分布から等価
塩分付着量を演算する演算回路とを設けたことを特徴と
する汚損検出センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP346093A JP2731685B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP346093A JP2731685B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06207916A JPH06207916A (ja) | 1994-07-26 |
| JP2731685B2 true JP2731685B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=11557944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP346093A Expired - Fee Related JP2731685B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2731685B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2527766B (en) * | 2014-06-30 | 2020-07-29 | Elcometer Ltd | Contamination meter |
-
1993
- 1993-01-12 JP JP346093A patent/JP2731685B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06207916A (ja) | 1994-07-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971205 |
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