JP3067922B2 - 汚損検出センサ - Google Patents
汚損検出センサInfo
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- JP3067922B2 JP3067922B2 JP5003462A JP346293A JP3067922B2 JP 3067922 B2 JP3067922 B2 JP 3067922B2 JP 5003462 A JP5003462 A JP 5003462A JP 346293 A JP346293 A JP 346293A JP 3067922 B2 JP3067922 B2 JP 3067922B2
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- Japan
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- detection sensor
- electrodes
- present
- plate
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Insulators (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
する碍子装置の汚損量を把握するために用いられる汚損
検出センサの改良に関するものである。
れると絶縁性が低下するため、架空送電線路の保守のた
めには碍子装置の汚損量を常に把握しておく必要があ
る。このために碍子装置の近傍に設置する汚損検出セン
サが従来から知られている。
は、例えば実開昭62-88951号公報に示されるように、絶
縁板上に配置された櫛型電極の電極間抵抗値に基づいて
絶縁板上の等価塩分付着量を検出する方式のもので、測
定時に絶縁板を電子冷却装置で冷却して結露を生じさ
せ、電極間を湿潤させた状態でもれ電流を測定する工夫
がなされている。
絶縁板上の全体に広く分布させた櫛型電極の全体を湿潤
させる必要があるために、部分的に過剰に湿潤される部
分が生じることが避けられず、電極間のもれ電流が変化
して測定精度が低下する傾向があった。またこれを避け
るために湿潤を抑制すると部分的に湿潤不足が生じ、電
極間のもれ電流が飽和に達する前に測定が終了し、やは
り測定精度が低下する傾向があった。
電極をマトリックス状に配置し、各独立電極に順次電圧
を印加してそれらの電極間のもれ電流を検出し、この操
作を全部の電極間で行ったうえで絶縁板上全体の抵抗値
分布から等価塩分付着量を演算するようにした汚損検出
センサを開発中である。この方式の汚損検出センサは局
部的なもれ電流により抵抗値分布を求めるので、従来の
ように絶縁板の湿潤状態のバラツキの影響を受けること
なく、精度の高い測定が可能な利点がある。
きには、図4に示すように各電極21のリード線22を絶縁
板23を貫通させて引き出す必要がある。そして絶縁板23
の下側には電子冷却装置の金属板24が取り付けられてい
るため、この金属板24に貫通孔25を形成してリード線22
を引き出していた。
25の面積分だけ金属板24と絶縁板23との接触面積が小さ
くなり、またリード線22や金属板24が外気と接触する面
積が大きくなるので冷却効率が低下すること、金属板24
に多数の貫通孔25を形成してリード線22を引き出すこと
は容易ではないこと等の問題が残されていた。
の問題点を解消して、絶縁板上の全体に広く分布させた
独立電極を利用して汚損を精度よく検出することができ
るうえ、絶縁板を湿潤させる際の冷却効率が高く、しか
も多数のリード線の引出しが容易な汚損検出センサを提
供するために完成されたものである。
めになされた本発明は、絶縁板上の電極間抵抗値に基づ
いて絶縁板上の等価塩分付着量を検出する汚損検出セン
サにおいて、絶縁板を2重構造とし、上部の絶縁板の表
面に形成された多数の独立電極からのリード線を下部の
絶縁板との間にはさんで側方に引き出すとともに、下部
の絶縁板を電子冷却装置に直付けしたことを特徴とする
ものである。
に説明する。図1は本発明の汚損検出センサの要部を示
す平面図、図2はその縦断面図、図3は単一の独立電極
を拡大して示す断面図である。図2、図3に明示されて
いるように、本発明では絶縁板を上部の絶縁板1と下部
の絶縁板2との2重構造としてある。これらの絶縁板
1、2はセラミック板からなるもので、上部の絶縁板1
の表面に独立電極3を形成してある。そして各独立電極
3からのリード線4を上部の絶縁板1を貫通させ、上部
の絶縁板1と下部の絶縁板2との間から側方に引き出し
てある。
は上部の絶縁板1よりも大きい寸法に形成されており、
プリント基板5の上に載るように枠6で支持されてい
る。またこの枠6の内部には電子冷却装置のサーモモジ
ュール(ペルチェ素子)7が設けられており、このサー
モモジュール7は下部の絶縁板2の下面にシリコングリ
ス8により直付けされている。9は電子冷却装置の放熱
板であって放熱効果を高めるために多数のフィンが形成
されている。図2に示すように、この放熱板9の面積は
放熱効果を高めるためにサーモモジュール7の2〜4倍
としておくことが好ましい。
ムモールド11によってベース12にモールドされており、
装置の内部を外部から保護している。このため、リード
線4の耐候性に問題が生ずるおそれはない。
は、碍子装置と同一の汚損を受けるように碍子装置の近
傍に設置されるものであり、汚損測定の際には電子冷却
装置により絶縁板1に湿潤を与える。このとき、電子冷
却装置のサーモモジュール7が下部の絶縁板2の下面に
直付けされているうえ、両者は全面にわたって密着され
ているため、優れた冷却効果を得ることができる。この
ために高速で絶縁板1に湿潤を与えることができる。そ
して図示しないスイッチ回路により順次電極3を選択
し、電圧を印加してもれ電流値を測定すればよい。そし
てこの動作を繰り返して全ての電極3の測定が終了した
とき、演算装置が絶縁板1の表面全体の抵抗値分布を算
出し、絶縁板1上の等価塩分付着量を演算する。
の絶縁板1、2の間から各電極3のリード線4を側方に
引き出しているので、図4の方式に比較してリード線4
の引出しが容易であり、またその耐候性を高めることも
できる。
サは絶縁板1上に多数の独立電極3をマトリックス状に
配置し、各独立電極3に順次電圧を印加してそれらの電
極間のもれ電流を検出する方式を採用したため、湿潤状
態のバラツキの影響を受けることなく精度のよい測定が
可能である。また本発明では電子冷却装置のサーモモジ
ュール7が下部の絶縁板2の下面に全面的に直付けされ
ているので、優れた冷却効果を得ることができ、高速湿
潤が可能である。更に本発明では、リード線の引出しが
容易でその耐候性を高めることもできる。よって本発明
は従来の問題点を解決した汚損検出センサとして、産業
の発展に寄与するところはきわめて大きいものである。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 絶縁板上の電極間抵抗値に基づいて絶縁
板上の等価塩分付着量を検出する汚損検出センサにおい
て、絶縁板を2重構造とし、上部の絶縁板の表面に形成
された多数の独立電極からのリード線を下部の絶縁板と
の間にはさんで側方に引き出すとともに、下部の絶縁板
を電子冷却装置に直付けしたことを特徴とする汚損検出
センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5003462A JP3067922B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5003462A JP3067922B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06207917A JPH06207917A (ja) | 1994-07-26 |
| JP3067922B2 true JP3067922B2 (ja) | 2000-07-24 |
Family
ID=11558000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5003462A Expired - Lifetime JP3067922B2 (ja) | 1993-01-12 | 1993-01-12 | 汚損検出センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3067922B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101505071B1 (ko) * | 2012-10-25 | 2015-03-23 | 한전케이디엔주식회사 | 자가 냉각 가스센서 장치 |
-
1993
- 1993-01-12 JP JP5003462A patent/JP3067922B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06207917A (ja) | 1994-07-26 |
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Legal Events
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