JP2760342B2 - Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing these - Google Patents
Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing theseInfo
- Publication number
- JP2760342B2 JP2760342B2 JP13819496A JP13819496A JP2760342B2 JP 2760342 B2 JP2760342 B2 JP 2760342B2 JP 13819496 A JP13819496 A JP 13819496A JP 13819496 A JP13819496 A JP 13819496A JP 2760342 B2 JP2760342 B2 JP 2760342B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mold
- cap
- electronic component
- manufacturing
- cavity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波用チップを
封止する電子部品パッケージ用キャップと、電子部品パ
ッケージ製造用モールド金型と、電子部品パッケージ用
キャップの製造方法と、電子部品パッケージ製造用モー
ルド金型の製造方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component package cap for sealing a high frequency chip, a mold for manufacturing an electronic component package, a method for manufacturing an electronic component package cap, and an electronic component package manufacturing method. The present invention relates to a method for manufacturing a mold.
【0002】[0002]
【従来の技術】超高周波用デバイスには、トランジス
タ、IC、光素子、表面弾性波素子、あるいは共振子な
どがある。これらのデバイスは、商用の通信機器や衛星
などに使われており、多少高価であっても信頼性が高
く、寿命が長いことが必要不可欠であるため、従来では
セラミック製中空パッケージに組込んでいる。2. Description of the Related Art Ultra-high frequency devices include transistors, ICs, optical elements, surface acoustic wave elements, and resonators. These devices are used in commercial communication equipment and satellites, and even if they are somewhat expensive, they must have high reliability and long life. I have.
【0003】近年では、衛星放送の受信機や携帯電話機
などのように、一般家庭で使う民生機器にも超高周波用
デバイスが数多く使われるようになってきている。民生
機器に使うデバイスは、商用通信機器ほど信頼性が高く
かつ長寿命になるように形成しなくてよいものの、いか
に低コストに作るかが大きな課題である。このため、セ
ラミック製中空パッケージで封止していた超高周波用チ
ップを合成樹脂製の中空パッケージに組込むことによっ
て、コストダウンを図っている。[0003] In recent years, many ultra-high frequency devices have been used in consumer appliances used in ordinary households, such as satellite broadcast receivers and mobile phones. Although devices used in consumer devices do not need to be formed to have higher reliability and longer life than commercial communication devices, how to make them at low cost is a major issue. For this reason, the cost is reduced by incorporating the super-high frequency chip sealed in the hollow package made of ceramic into the hollow package made of synthetic resin.
【0004】この種の合成樹脂製中空パッケージは、半
導体チップなどを実装したケースにキャップを接着する
ことによって形成している。従来の合成樹脂製中空パッ
ケージを図12ないし図14によって説明する。図12
は従来の合成樹脂製中空パッケージを用いて製造した超
高周波用半導体装置を示す図で、同図(a)は平面図、
同図(b)は(a)図におけるXII−XII線断面図であ
る。図13は従来のキャップを成形するためのモールド
金型を示す図で、同図(a)は第2の金型の平面図、同
図(b)は縦断面図である。なお、(b)図の破断位置
を(a)図中にXIII−XIII線によって示している。[0004] This kind of hollow package made of synthetic resin is formed by bonding a cap to a case on which a semiconductor chip or the like is mounted. A conventional synthetic resin hollow package will be described with reference to FIGS. FIG.
FIG. 1A is a diagram showing an ultra-high frequency semiconductor device manufactured using a conventional synthetic resin hollow package, and FIG.
FIG. 2B is a sectional view taken along line XII-XII in FIG. FIG. 13 is a view showing a mold for molding a conventional cap. FIG. 13 (a) is a plan view of a second mold, and FIG. 13 (b) is a longitudinal sectional view. Note that the broken position in FIG. 2B is indicated by a line XIII-XIII in FIG.
【0005】図14は従来の中空パッケージの製造方法
を説明するための図で、同図(a)は接着剤塗布工程で
の平面図、同図(b)は(a)図におけるXIV−XIV線断
面図、同図(c)は接着剤塗布後の状態を示す断面図、
同図(d)はキャップをケースの上方に搬送した状態を
示す断面図、同図(e)は接着工程での状態を示す断面
図である。FIG. 14 is a view for explaining a conventional method of manufacturing a hollow package. FIG. 14A is a plan view in an adhesive application step, and FIG. 14B is a view taken along the line XIV-XIV in FIG. FIG. 4C is a cross-sectional view showing a state after the adhesive is applied;
FIG. 4D is a cross-sectional view showing a state in which the cap has been transported above the case, and FIG. 4E is a cross-sectional view showing a state in the bonding step.
【0006】これらの図において、符号1は従来の超高
周波用半導体装置を示し、この半導体装置1は、リード
フレーム2に接合しかつワイヤボンディングを施した超
高周波用半導体チップ3をケース4とキャップ5とから
なる中空パッケージによって封止した構造を採ってい
る。この中空パッケージの前記ケース4は、チップ接合
前のリードフレーム2をモールド金型(図示せず)に装
填し、このモールド金型にエポキシ樹脂を注入し固化さ
せることによって成形している。また、このケース4
は、有底円筒状に成形し、内側底面にリードフレーム2
のダイパッド2aおよびインナーリード2bを露出させ
ている。なお、リードフレーム2はダイパッド2a、イ
ンナーリード2bおよびアウターリード2cを有する半
導体装置形成部が複数形成してあり、ケース用モールド
金型は、前記半導体装置形成部の各々にケース4を一度
に成形する構造を採っている。In these figures, reference numeral 1 designates a conventional ultra-high frequency semiconductor device. This semiconductor device 1 comprises an ultra-high frequency semiconductor chip 3 bonded to a lead frame 2 and wire-bonded to a case 4 and a cap. 5 is sealed by a hollow package. The case 4 of the hollow package is formed by loading the lead frame 2 before chip bonding into a mold (not shown), injecting an epoxy resin into the mold, and solidifying the resin. In this case 4
Is molded into a cylindrical shape with a bottom, and a lead frame 2
The die pad 2a and the inner lead 2b are exposed. The lead frame 2 is formed with a plurality of semiconductor device forming portions each having a die pad 2a, an inner lead 2b, and an outer lead 2c, and a case mold molds a case 4 at a time at each of the semiconductor device forming portions. It adopts a structure to do.
【0007】前記キャップ5は、モールド金型にエポキ
シ樹脂を注入し固化させることによって成形している。
このキャップ5は、ケース4側の端面に凹陥部5aを形
成し、この凹陥部5aより外側をケース4の筒状部の端
面に接着剤6によって接着している。このキャップ5を
成形するときに用いるモールド金型を図13中に符号7
で示す。The cap 5 is formed by injecting an epoxy resin into a mold and solidifying it.
The cap 5 has a concave portion 5 a formed on the end surface on the case 4 side, and the outside of the concave portion 5 a is adhered to the end surface of the cylindrical portion of the case 4 with an adhesive 6. A molding die used for molding the cap 5 is denoted by reference numeral 7 in FIG.
Indicated by
【0008】このモールド金型7は、第1の金型8と第
2の金型9とから構成し、これらの金型8,9にキャビ
ティ8a,9aをそれぞれ形成するとともに、第1の金
型8にゲート10を形成している。第2の金型9のキャ
ビティ9aの底壁は、キャップ5の凹陥部5aを成形す
るために中央部が第1の金型8側に突出している。この
突出部を形成するに当たっては、突出部となる部分の周
囲を研削機などで研削して凹ませることによって行って
いる。The molding die 7 comprises a first die 8 and a second die 9, and the cavities 8a, 9a are formed in these dies 8, 9, respectively. A gate 10 is formed on the mold 8. The bottom wall of the cavity 9a of the second mold 9 has a central portion protruding toward the first mold 8 to form the recess 5a of the cap 5. In forming the projecting portion, the periphery of the portion to be the projecting portion is ground by a grinder or the like so as to be dented.
【0009】また、前記第1の金型8のキャビティ8a
には、キャップ4の上面におけるケース5側の基準とな
るリード(例えば1番ピン)と対応する位置に識別マー
ク(以下、オリエンテーションという)を成形するため
の凸部あるいは凹部(図示せず)を形成している。な
お、このモールド金型7は、第1の金型8および第2の
金型9のキャビティ8a,9aの表面に、耐摩耗性や離
型性を高めるためにめっきを施している。Further, the cavity 8a of the first mold 8 is provided.
A convex or concave portion (not shown) for forming an identification mark (hereinafter, referred to as an orientation) at a position corresponding to a reference lead (for example, the first pin) on the case 5 side on the upper surface of the cap 4. Has formed. In this molding die 7, the surfaces of the cavities 8a and 9a of the first die 8 and the second die 9 are plated to enhance wear resistance and releasability.
【0010】キャップ5をケース4に接着する接着剤6
は、図14に示すようにスクリーン印刷法によってキャ
ップ5に塗布する。図14(a),(b)中に符号11
で示すものは接着剤塗布装置で、この接着剤塗布装置1
1は、粘性を有する液状の接着剤6をマスク12の上面
にスキージ13によって塗り広げるように構成してい
る。前記マスク12は、マスク開口部12aを複数開口
させ、キャップ5の上方に位置づけられている。An adhesive 6 for bonding the cap 5 to the case 4
Is applied to the cap 5 by a screen printing method as shown in FIG. Reference numerals 11 in FIGS.
Is an adhesive application device, and the adhesive application device 1
Reference numeral 1 denotes a configuration in which a squeegee 13 spreads a viscous liquid adhesive 6 on the upper surface of the mask 12. The mask 12 has a plurality of mask openings 12 a and is positioned above the cap 5.
【0011】キャップ5は、凹陥部5aが開口する端面
5bを上側にしてトレー14に保持させている。このト
レー14は前記マスク12のマスク開口部12aと対応
する位置にキャップ5を保持するような構造を採ってい
る。なお、前記マスク開口部12aは、穴径がキャップ
5の外径と略同じ寸法になるように形成している。The cap 5 is held on the tray 14 with the end face 5b where the recess 5a is open facing upward. The tray 14 has a structure in which the cap 5 is held at a position corresponding to the mask opening 12a of the mask 12. The mask opening 12a is formed so that the hole diameter is substantially the same as the outer diameter of the cap 5.
【0012】図14(c)において符号15は加熱炉を
示し、図14(d)において符号16はキャップ5を搬
送するための真空式吸着ノズルを示す。また、同図中に
示すケース4は、リードフレーム2に半導体チップ3を
搭載しかつワイヤボンディングを施してある。図14
(d),(e)において符号17で示すものはヒーター
プレートである。In FIG. 14C, reference numeral 15 denotes a heating furnace, and in FIG. 14D, reference numeral 16 denotes a vacuum suction nozzle for transporting the cap 5. Further, a case 4 shown in the figure has a semiconductor chip 3 mounted on a lead frame 2 and subjected to wire bonding. FIG.
In (d) and (e), what is indicated by reference numeral 17 is a heater plate.
【0013】次に、図12に示した従来の超高周波用半
導体装置を製造する手順を説明する。先ず、ケース4お
よびキャップ5を製作する。ケース4は、図示してない
モールド金型にリードフレーム2を装填し、エポキシ樹
脂を注入し固化させることによって成形する。その後、
ダイパッド2aに半導体チップ3を接合し、ワイヤボン
ディングを施すことによって、ケース4が完成する。こ
のケース4は、前記ボンディング工程が終了した後にリ
ードフレーム2とともに前記ヒータープレート17上に
搬送する。Next, a procedure for manufacturing the conventional ultrahigh frequency semiconductor device shown in FIG. 12 will be described. First, the case 4 and the cap 5 are manufactured. The case 4 is formed by loading the lead frame 2 into a mold (not shown) and injecting and solidifying an epoxy resin. afterwards,
The case 4 is completed by bonding the semiconductor chip 3 to the die pad 2a and performing wire bonding. The case 4 is transported onto the heater plate 17 together with the lead frame 2 after the completion of the bonding step.
【0014】キャップ5は、図13に示すモールド金型
7のキャビティ8a,9aにゲート10からエポキシ樹
脂を注入し、これを固化させることによって成形する。
エポキシ樹脂が固化した後、キャップ5を離型させて搬
送用容器(図示せず)に収納する。ここでキャップ5を
搬送用容器に収納するのは、個々に成形されるキャップ
5をまとめて接着剤塗布装置11に搬送するためであ
る。The cap 5 is formed by injecting epoxy resin from the gate 10 into the cavities 8a and 9a of the mold 7 shown in FIG. 13 and solidifying the same.
After the epoxy resin is solidified, the cap 5 is released from the mold and stored in a transport container (not shown). Here, the reason why the caps 5 are stored in the transport container is to transport the individually molded caps 5 to the adhesive application device 11 collectively.
【0015】キャップ5は、搬送用容器で接着剤塗布装
置11に搬送した後、図示していないハンドリング装置
によって搬送用容器から取出し、接着剤塗布装置11の
トレー14に装着する。キャップ5をトレー14に保持
させた後、図14(b)に示すように接着剤塗布装置1
1の下方に位置づけ、スキージ13で接着剤6をマスク
12上に塗り広げる。このように接着剤6を塗り広げる
と、接着剤6はマスク12のマスク開口部12aに埋め
込まれてキャップ5の凹陥部側端面5bに付着する。After the cap 5 is transported to the adhesive application device 11 by a transport container, the cap 5 is taken out of the transport container by a handling device (not shown) and mounted on a tray 14 of the adhesive application device 11. After the cap 5 is held on the tray 14, as shown in FIG.
1, the adhesive 6 is spread over the mask 12 with a squeegee 13. When the adhesive 6 is spread in this manner, the adhesive 6 is buried in the mask opening 12a of the mask 12 and adheres to the end face 5b of the cap 5 on the concave side.
【0016】その後、トレー14を接着剤塗布装置11
から下方に離間させる。このとき、キャップ5の凹陥部
側端面5bに付着している接着剤6は、マスク12側の
接着剤6から分離してキャップ5に残る。次に、図14
(c)に示すようにキャップ5をトレー14とともに加
熱炉15内に供給し加熱することによって、接着剤6を
半硬化状態にする。これは、キャップ5を後工程に移送
するとき、キャップ5どうしが接着したり、キャップ5
が図示してない搬送用容器に接着するのを阻止するため
である。Thereafter, the tray 14 is moved to the adhesive application device 11.
Away from At this time, the adhesive 6 adhering to the concave portion side end surface 5b of the cap 5 is separated from the adhesive 6 on the mask 12 side and remains on the cap 5. Next, FIG.
As shown in (c), the adhesive 5 is brought into a semi-cured state by supplying the cap 5 together with the tray 14 into the heating furnace 15 and heating the same. This is because when the caps 5 are transferred to a subsequent process, the caps 5 may adhere to each other,
Is to prevent adhesion to a transport container (not shown).
【0017】加熱炉15からキャップ5を取り出した
後、前記搬送用容器に入れ、図14(d)に示すキャッ
プ接着装置に搬送する。そして、図示していないハンド
リング装置によってキャップ5を前記搬送用容器から取
出し、図示してないステージに整列させる。このハンド
リング装置は、キャップ5を底面(接着剤6が付着して
いる凹陥部側端面5bとは反対側の面)が上方を指向す
るとともに、オリエンテーションがケース4の1番ピン
と対応する位置に位置づけられるように整列させる。次
に、キャップ5の底面が上側に位置づけられているか否
か、オリエンテーションの位置が1番ピンと対応してい
るか否かを確認した後、前記底面を吸着ノズル16に吸
着させる。After taking out the cap 5 from the heating furnace 15, the cap 5 is put into the above-mentioned transfer container and transferred to the cap bonding apparatus shown in FIG. Then, the cap 5 is taken out of the transport container by a handling device (not shown) and aligned on a stage (not shown). In this handling apparatus, the cap 5 is positioned such that the bottom surface (the surface opposite to the concave end surface 5b to which the adhesive 6 is adhered) faces upward and the orientation corresponds to the first pin of the case 4. To be aligned. Next, after confirming whether or not the bottom surface of the cap 5 is positioned on the upper side and whether or not the orientation position corresponds to the first pin, the suction nozzle 16 sucks the bottom surface.
【0018】しかる後、図14(d)に示すように、こ
のキャップ5を吸着ノズル16によってケース4の上方
に搬送し、図14(e)に示すように、ヒータープレー
ト17上に載置して加熱されたケース4の上面に押し付
ける。そして、ケース4の熱で接着剤6が加熱されて溶
融した後に硬化することによって、ケース4にキャップ
5が接着剤6を介して接着する。ケース4とキャップ5
との間で接着剤6が介在する範囲を図12(a)中にハ
ッチングを施して示す。Thereafter, as shown in FIG. 14 (d), the cap 5 is transported above the case 4 by the suction nozzle 16, and is placed on the heater plate 17 as shown in FIG. 14 (e). To the top surface of the heated case 4. Then, the adhesive 6 is heated and melted by the heat of the case 4 and then hardened, so that the cap 5 is bonded to the case 4 via the adhesive 6. Case 4 and cap 5
In FIG. 12A, the area where the adhesive 6 is interposed is shown by hatching in FIG.
【0019】このようにケース4にキャップ5を接着し
た後、リードフォーミング装置(図示せず)でリードフ
レーム2のアウターリード2cを枠部分から分断し、曲
げ加工を施して図12(b)に示す形状に成形すること
によって、超高周波用半導体装置1が完成する。After the cap 5 is adhered to the case 4, the outer leads 2c of the lead frame 2 are cut off from the frame portion by a lead forming device (not shown), and the outer leads 2c are subjected to a bending process, as shown in FIG. By forming into the shape shown, the semiconductor device for ultrahigh frequency 1 is completed.
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】しかるに、合成樹脂製
中空パッケージを使用して超高周波用半導体装置を製造
するに当たっては、キャップ5をモールド成形すること
が問題であった。すなわち、近年の超高周波用半導体装
置は、パッケージの外径寸法が約2mm程度になるまで小
型化しており、このような小型のパッケージに用いるキ
ャップ5は、モールド金型7に接着して離型性が著しく
低いからである。なお、離型時にイジェクトピンを使用
することも考えられるが、キャップ5の外径が2mm程度
であると、イジェクトピンがきわめて小径になることか
ら、モールド金型7にキャビティの他に高精度に形成す
る部分が増えてしまい、コストアップになる。However, in manufacturing an ultrahigh frequency semiconductor device using a hollow package made of synthetic resin, molding the cap 5 has been a problem. That is, recent ultrahigh frequency semiconductor devices have been miniaturized until the outer diameter of the package is about 2 mm, and the cap 5 used for such a small package is bonded to the mold 7 and released. This is because the property is extremely low. It is conceivable to use an eject pin at the time of releasing the mold. However, if the outer diameter of the cap 5 is about 2 mm, the eject pin becomes extremely small in diameter. The number of parts to be formed increases, and the cost increases.
【0021】また、パッケージが上述したように小型で
あると、ケース4とキャップ5との接着部分の面積を広
くとることができないという問題もある。これは、図1
3に示すモールド金型7のキャビティ8a,9aを研削
によって形成していることが原因であった。すなわち、
研削機のカッタを小型に形成するには限界があるので、
キャップ5におけるケース4に接着する面を成形するキ
ャビティ9aの外周側角部{図13(b)中に符号Rで
示す}が断面円弧状に形成されてしまうからである。Further, when the package is small as described above, there is a problem that the area of the bonding portion between the case 4 and the cap 5 cannot be made large. This is shown in FIG.
This is because the cavities 8a and 9a of the mold 7 shown in FIG. 3 are formed by grinding. That is,
Since there is a limit to making the cutter of the grinding machine small,
This is because the outer peripheral corner of the cavity 9a for molding the surface of the cap 5 to be bonded to the case 4 {indicated by R in FIG. 13B} is formed in an arc-shaped cross section.
【0022】前記角部Rが断面円弧状に形成されると、
キャップ5の凹陥部側端面5bは平坦な部分、すなわち
接着剤6の接着力が作用する部分が相対的に狭くなって
しまう。これを防ぐにはキャップ5の径を大きくして接
着面積を拡げればよいが、このようにするとパッケージ
が大型化するばかりか、キャップ5をケース4に接着す
るときにキャップ5がケース4に対してずれたときには
これが側方へ大きく突出してしまう。When the corner R is formed in an arc-shaped cross section,
A flat portion, that is, a portion where the adhesive force of the adhesive 6 acts on the concave portion side end surface 5b of the cap 5 becomes relatively narrow. To prevent this, the diameter of the cap 5 may be increased to increase the bonding area. However, this not only increases the size of the package, but also causes the cap 5 to be attached to the case 4 when the cap 5 is bonded to the case 4. When it is displaced, it protrudes largely to the side.
【0023】前記接着面積を大きくするには、モールド
金型7のキャビティ9aを研削によって形成せずに第2
の金型9を二つの金型で形成することによっても実現す
ることができる。例えば、第2の金型9を、キャビティ
9aの周壁部分を形成する開口を有する外金型と、前記
開口に嵌挿することによりキャビティ9aの底壁を形成
する内金型とから構成し、前記角部Rが略直角になる構
造を採ることが考えられる。In order to increase the bonding area, the cavity 9a of the mold 7 is not formed by grinding,
This can also be realized by forming the mold 9 with two molds. For example, the second mold 9 includes an outer mold having an opening that forms a peripheral wall portion of the cavity 9a, and an inner mold that forms a bottom wall of the cavity 9a by being inserted into the opening, It is conceivable to adopt a structure in which the corners R are substantially perpendicular.
【0024】しかし、この構造を採ると、前記外金型と
内金型との隙間にモールド樹脂が染み込んでしまい、キ
ャップ5の底部にばりが形成されてしまう。ばりが形成
されると、キャップ5がモールド金型7に強固に接着す
ることから著しく離型し難くなるとともに、ばり取り工
程が必要になりコストアップになってしまう。ばりの発
生を阻止するには外金型と内金型をこれらの嵌合部の隙
間が可及的小さくなるように形成すればよいが、このよ
うにすると両金型を組合わせる作業がし難くなるととも
に、モールド金型の製造コストが高くなってしまう。However, if this structure is adopted, the mold resin permeates into the gap between the outer die and the inner die, and burrs are formed at the bottom of the cap 5. When the burrs are formed, the cap 5 is strongly adhered to the mold 7, so that it is extremely difficult to release the burrs, and a deburring step is required, resulting in an increase in cost. To prevent the generation of burrs, the outer mold and the inner mold should be formed so that the gap between these fitting parts is as small as possible. It becomes difficult and the manufacturing cost of the mold increases.
【0025】さらに、従来ではモールド金型7で成形し
たキャップ5を接着剤塗布装置11やキャップ接着装置
へ搬送用容器を用いて搬送しているので、搬送途中で搬
送用容器内のキャップ5どうしが衝突し合い、キャップ
5の角部が欠けてしまうことがあった。さらにまた、搬
送用容器からキャップ5を取出して接着剤塗布装置11
やキャップ接着装置に供給するに当たっては、キャップ
5の上下方向の向きとオリエンテーションの位置などを
揃えるハンドリング装置が必要になる。このような多機
能なハンドリング装置は高価であることから、この点か
らもパッケージの製造コストが高くなってしまう。Further, conventionally, since the cap 5 formed by the mold 7 is transported to the adhesive coating device 11 or the cap bonding device using a transport container, the caps 5 in the transport container are transported during the transport. May collide with each other and the corner of the cap 5 may be chipped. Furthermore, the cap 5 is removed from the transport container and the adhesive application device 11 is removed.
In supplying the liquid to the cap and the cap bonding device, a handling device for aligning the orientation of the cap 5 in the vertical direction with the position of the orientation is required. Since such a multifunctional handling device is expensive, the manufacturing cost of the package also increases in this respect.
【0026】本発明はこのような問題点を解消するため
になされたもので、小型でもモールド金型から離型し易
い電子部品パッケージ用キャップを提供することを第1
の目的とする。また、外金型と内金型の間の隙間にモー
ルド樹脂が深く侵入するのをコストアップにならないよ
うに阻止し、高い離型性が得られる電子部品パッケージ
製造用モールド金型を提供することを第2の目的とす
る。さらに、接着面積が広い電子部品パッケージを成形
できるモールド金型を提供することを第3の目的とす
る。さらにまた、モールド成形後のキャップが搬送中に
欠けるのを阻止できるとともにこのキャップの向きを簡
単に揃えることができるモールド金型および電子部品パ
ッケージ用キャップの製造方法を提供することを第4の
目的とする。The present invention has been made in order to solve such a problem, and it is a first object of the present invention to provide a cap for an electronic component package which is small in size and easily released from a mold.
The purpose of. Further, it is an object of the present invention to provide a mold for manufacturing an electronic component package, which prevents a mold resin from penetrating deeply into a gap between an outer mold and an inner mold so as not to increase the cost and obtains high releasability. As a second object. It is a third object of the present invention to provide a mold capable of molding an electronic component package having a large bonding area. Still another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a mold and a cap for an electronic component package that can prevent a cap after molding from being chipped during transportation and can easily align the direction of the cap. And
【0027】[0027]
【課題を解決するための手段】第1の発明に係る電子部
品パッケージ用キャップは、封止樹脂注入用のゲートを
有する第1の金型によって成形されたモールド樹脂部
を、モールド金型に装填した板状フレームの穴に嵌合す
るとともに第2の金型によって成形された部位より幅狭
になるように形成したものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a cap for an electronic component package, wherein a mold resin portion molded by a first mold having a gate for injecting a sealing resin is loaded into the mold. It is formed so as to fit into the hole of the plate-shaped frame and to be narrower than the part formed by the second mold.
【0028】本発明に係るキャップは、モールド成形し
た状態ではゲートを有する第1の金型に第2の金型より
大きな接触面積をもって接触し、しかも、第2の金型に
よって成形された端部が板状フレームに係合するから、
板状フレームとともに第1の金型に付着した状態で離型
する。The cap according to the present invention, when molded, contacts the first mold having the gate with a larger contact area than the second mold, and furthermore, the end formed by the second mold. Engages the plate-like frame,
The mold is released together with the plate-shaped frame while being attached to the first mold.
【0029】第2の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、第1の金型と第2の金型のうち一方
を、キャビティの側壁を形成する開口部を有する外金型
と、前記開口部に嵌挿してキャビティ底壁を形成する内
金型とから構成し、キャビティにおける前記外金型と内
金型との間に、外金型から内金型にわたって途切れるこ
となく延在するめっき層を設けたものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided a mold for manufacturing an electronic component package, wherein one of the first mold and the second mold has an outer mold having an opening for forming a side wall of a cavity; An inner mold that is inserted into the opening to form a cavity bottom wall, and extends between the outer mold and the inner mold in the cavity from the outer mold to the inner mold without interruption. It is provided with a plating layer.
【0030】したがって、外金型と内金型との隙間にめ
っき層が介在するから、この隙間に封止樹脂が深く侵入
することがない。また、外金型からなるキャビティの側
壁と、内金型からなるキャビティの底壁とによって形成
されるキャビティの隅部は、機械加工によってキャビテ
ィの全域を形成する場合に較べて角が丸くならない。Therefore, since the plating layer intervenes in the gap between the outer mold and the inner mold, the sealing resin does not penetrate deep into this gap. Further, the corners of the cavities formed by the side walls of the cavity formed by the outer mold and the bottom wall of the cavity formed by the inner mold do not have rounded corners as compared with the case where the entire area of the cavity is formed by machining.
【0031】第3の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、電子部品実装用ケースとこれに接着
するキャップとから構成した電子部品パッケージのうち
前記キャップを第1の金型と第2の金型とで成形するも
のであって、前記両金型を、穴を有する板状フレームを
挟圧保持するとともに型締め状態で前記穴がキャビティ
内に位置づけられるように構成し、両金型のうち一方の
金型のキャビティを、側壁が前記穴の内周面を延長させ
た構成となるように形成し、他方の金型を、前記穴より
大径に形成されてキャビティ側壁を形成する開口部を有
する外金型と、前記開口部に嵌挿してキャビティ底壁を
形成する内金型とから構成し、前記一方の金型にゲート
を形成したものである。According to a third aspect of the present invention, there is provided a mold for manufacturing an electronic component package, wherein the cap of the electronic component package comprising an electronic component mounting case and a cap adhered to the case is connected to the first die and the second die. The two molds are configured such that the two molds hold the plate-shaped frame having the holes therebetween and that the holes are positioned in the cavity in a mold-clamped state. The cavity of one of the molds is formed such that the side wall has a configuration in which the inner peripheral surface of the hole is extended, and the other mold is formed to have a larger diameter than the hole to form the cavity side wall. It comprises an outer mold having an opening, and an inner mold that is fitted into the opening to form a cavity bottom wall, and a gate is formed in the one mold.
【0032】第4の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、第3の発明に係る電子部品パッケー
ジ製造用モールド金型において、第1の金型と板状フレ
ームとが接する部分の金型の開口形状が板状フレームの
穴と相似形をなし、前記第1の金型の前記開口形状が前
記穴より小さいか等しく、第2の金型の開口形状が前記
穴より大きくなるように構成したものである。The mold for manufacturing an electronic component package according to the fourth invention is the mold for manufacturing an electronic component package according to the third invention, wherein the first mold and the plate-shaped frame are in contact with each other. The opening shape of the mold is similar to the hole of the plate frame, the opening shape of the first mold is smaller than or equal to the hole, and the opening shape of the second mold is larger than the hole. It is composed.
【0033】第3、第4の発明に係るモールド金型によ
れば、キャップが板状フレームの穴に成形され、このキ
ャップにおける第2の金型で成形された部位が第1の金
型で成形された部位より大きくなってこの部分が板状フ
レームに係合する。また、モールド成形されたキャップ
は、ゲートと一体に成形されるから、ゲート側の第1の
金型に第2の金型より大きな接触面積をもって接触し、
第1の金型への付着力が相対的に大きい。According to the third and fourth aspects of the present invention, the cap is formed in the hole of the plate-shaped frame, and the portion of the cap formed by the second mold is the first mold. This part becomes larger than the molded part and this part engages with the plate-like frame. Also, since the molded cap is formed integrally with the gate, the cap contacts the first mold on the gate side with a larger contact area than the second mold,
Adhesive force to the first mold is relatively large.
【0034】また、本発明に係るモールド金型によって
成形したキャップは、板状フレームの穴に一端部が嵌入
しかつ他端部が穴の外側へ延在するようになるから、フ
レームに保持された状態になる。さらに、このキャップ
は、第1の金型で成形した前記一端部を後工程で押圧す
ることによって板状フレームから上下方向や回転方向の
向きが変わることなく取外すことができる。The cap formed by the mold according to the present invention has one end fitted into the hole of the plate-shaped frame and the other end extended outside the hole, so that it is held by the frame. State. Further, the cap can be removed from the plate-like frame by pressing the one end formed by the first mold in a later step without changing the direction in the vertical direction or the rotation direction.
【0035】第5の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、第3の発明に係る電子部品パッケー
ジ製造用モールド金型において、第1の金型を第2の金
型より下方に配設したものである。したがって、ゲート
で固化して板状フレームに接着したモールド樹脂が板状
フレームの下側に位置づけられるから、離型後に板状フ
レームに衝撃を加えるだけで前記モールド樹脂が板状フ
レームから下方へ落下する。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a mold for manufacturing an electronic component package according to the third aspect of the present invention, wherein the first mold is disposed below the second mold. It was established. Therefore, the mold resin that has been solidified by the gate and adhered to the plate-shaped frame is positioned below the plate-shaped frame, and the mold resin drops downward from the plate-shaped frame only by applying an impact to the plate-shaped frame after release. I do.
【0036】第6の発明に係る電子部品パッケージ用キ
ャップの製造方法は、電子部品実装用ケースと、このケ
ースに接着するキャップとから構成した電子部品パッケ
ージのうち前記キャップを、一枚の板状フレームにモー
ルド金型によって複数個成形するものである。したがっ
て、複数のキャップを板状フレームに保持された状態に
なるように成形することができ、この状態で搬送でき
る。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a cap for an electronic component package, comprising the steps of: mounting the cap in an electronic component package comprising an electronic component mounting case and a cap adhered to the case; A plurality of frames are formed on a frame by a mold. Therefore, a plurality of caps can be formed so as to be held by the plate-shaped frame, and can be conveyed in this state.
【0037】第7の発明に係る電子部品パッケージ用キ
ャップの製造方法は、第6の発明に係る電子部品パッケ
ージ用キャップの製造方法において、モールド成型時
に、金型のキャビティを形成する壁面に設けた識別マー
ク成形部によってモールド樹脂の外面に識別マークを成
形するものである。したがって、複数のキャップを板状
フレームに保持された状態でしかも識別マークの位置が
揃った状態で搬送できる。A method for manufacturing an electronic component package cap according to a seventh aspect of the present invention is the method for manufacturing an electronic component package cap according to the sixth aspect of the present invention, wherein the mold is provided on a wall surface forming a cavity of a mold during molding. The identification mark is formed on the outer surface of the mold resin by the identification mark molding portion. Therefore, the plurality of caps can be conveyed in a state where the caps are held by the plate-shaped frame and the identification marks are aligned.
【0038】第8の発明は、第1の金型と第2の金型と
に形成したキャビティに封止樹脂を注入する電子部品パ
ッケージ製造用モールド金型の製造方法であって、前記
両金型の少なくとも一方を、キャビティの側壁を構成す
る開口を有する外金型と、前記開口に嵌挿してキャビテ
ィの底壁を形成する内金型とを組合わせて形成し、これ
らの外金型と内金型とを組合わせた状態でキャビティの
壁面にめっきを施すものである。According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a mold for manufacturing an electronic component package, comprising injecting a sealing resin into cavities formed in a first mold and a second mold. At least one of the molds is formed by combining an outer mold having an opening forming the side wall of the cavity, and an inner mold forming the bottom wall of the cavity by being inserted into the opening. Plating is performed on the wall surface of the cavity in a state where the inner mold is combined with the inner mold.
【0039】本発明によれば、めっき工程で外金型から
内金型にわたって途切れることなく一連にめっき層が形
成されてこれら両金型どうしの間にめっき層が介在する
ようになる。したがって、本発明の製造方法を採ると、
外金型と内金型とを容易に組合わせることができる寸法
に形成しても、成型時に外金型と内金型との間に封止樹
脂が深く侵入することがない。また、外金型と内金型と
によって成形品に角を形成するモールド金型を製造する
に当たって、従来も実施していためっき処理を外・内金
型の組合わせ工程の後に実施するだけで、言い換えれば
めっき工程の実施時期を変えるだけでよい。According to the present invention, the plating layer is formed continuously without interruption from the outer mold to the inner mold in the plating step, and the plating layer intervenes between these two molds. Therefore, when the production method of the present invention is adopted,
Even if the outer mold and the inner mold are formed to have dimensions that can be easily combined, the sealing resin does not penetrate deeply between the outer mold and the inner mold during molding. Also, in manufacturing a mold that forms a corner in a molded product with an outer mold and an inner mold, plating that has conventionally been performed is simply performed after the outer / inner mold combination process. In other words, it is only necessary to change the execution time of the plating step.
【0040】[0040]
第1の実施の形態 以下、第1の発明に係る電子部品パッケージ用キャッ
プ、第3ないし第5の発明に係る電子部品パッケージ製
造用モールド金型および第6の発明に係る電子部品パッ
ケージ用キャップの製造方法の一実施の形態を図1ない
し図5によって詳細に説明する。ここでは、本発明を超
高周波用中空パッケージ型半導体装置に適用するときの
形態について説明する。また、前記中空パッケージ用キ
ャップを製造するためのモールド金型と、このモールド
金型を用いた中空パッケージ用キャップの製造方法につ
いて説明する。First Embodiment Hereinafter, a cap for an electronic component package according to a first invention, a mold for manufacturing an electronic component package according to the third to fifth inventions, and a cap for an electronic component package according to the sixth invention will be described. One embodiment of the manufacturing method will be described in detail with reference to FIGS. Here, an embodiment in which the present invention is applied to a hollow package type semiconductor device for ultra-high frequency will be described. A mold for manufacturing the hollow package cap and a method for manufacturing a hollow package cap using the mold will be described.
【0041】図1は第1の発明に係る電子部品パッケー
ジ用キャップを使用して製造した超高周波用半導体装置
の縦断面図、図2は第1の発明に係る電子部品パッケー
ジ用キャップを製造するために用いるキャップ用モール
ド金型を示す図で、同図(a)は縦断面図、同図(b)
は外金型と内金型との嵌合部を拡大して示す断面図、同
図(c)は第2の金型の平面図、同図(d)は(c)図
における外金型と内金型との嵌合部を拡大して示す平面
図である。なお、(a)図の破断位置を(c)図中にII
−II線によって示している。FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an ultra-high frequency semiconductor device manufactured using the electronic component package cap according to the first invention, and FIG. 2 is an electronic component package cap according to the first invention. (A) is a longitudinal sectional view and (b) of FIG.
Is an enlarged sectional view showing a fitting portion between the outer die and the inner die, FIG. 4C is a plan view of the second die, and FIG. 4D is an outer die in FIG. It is a top view which expands and shows the fitting part with a metal mold. Note that the broken position in FIG.
Indicated by -II line.
【0042】図3はキャップ用モールド金型を製造する
手順を示す図で、同図(a)は工程図、同図(b)は内
金型にめっきを施している状態を示す断面図、同図
(c)はキャップ用モールド金型の構成を示す断面図、
同図(d)は第2の金型の組立状態を示す断面図であ
る。FIG. 3 is a view showing a procedure for manufacturing a mold die for a cap. FIG. 3 (a) is a process diagram, and FIG. 3 (b) is a cross-sectional view showing a state where an inner die is plated. FIG. 3C is a cross-sectional view showing the configuration of the cap mold.
FIG. 4D is a sectional view showing an assembled state of the second mold.
【0043】図4は超高周波用半導体装置の中空パッケ
ージを製造する手順を示す図で、同図(a)はキャップ
用フレームの平面図、同図(b)は型締時の状態を示す
断面図、同図(c)はキャップ成型時の状態を示す断面
図、同図(d)はキャップの離型後の状態を示す断面
図、同図(e)はキャップ打抜き工程での状態を示す断
面図、同図(f)はキャップを吸着ノズルに吸着させて
いる状態を示す断面図、同図(g)は接着工程での状態
を示す断面図である。FIGS. 4A and 4B are diagrams showing a procedure for manufacturing a hollow package of the semiconductor device for an ultrahigh frequency, wherein FIG. 4A is a plan view of a cap frame, and FIG. FIG. 1C is a cross-sectional view showing a state when the cap is molded, FIG. 2D is a cross-sectional view showing a state after the cap is released, and FIG. 1E is a state in a cap punching step. FIG. 7F is a cross-sectional view showing a state in which the cap is being sucked by the suction nozzle, and FIG. 7G is a cross-sectional view showing a state in the bonding step.
【0044】図5は離型する手順を示す断面図で、同図
(a)は第2の金型を上方へ引き上げた状態を示し、同
図(b)は突上げピンで板状フレームを押上げている状
態を示し、同図(c)はハンマで不要樹脂部を除去して
いる状態を示す。これらの図において、前記図12〜図
14で示したものと同一もしくは同等の部材について
は、同一符号を付し詳細な説明は省略する。FIGS. 5A and 5B are cross-sectional views showing the procedure for releasing the mold. FIG. 5A shows a state in which the second mold is pulled up, and FIG. FIG. 3C shows a state in which the unnecessary resin portion is removed by a hammer. In these figures, the same or equivalent members as those shown in FIGS. 12 to 14 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
【0045】図1に示す超高周波用半導体装置は、キャ
ップの構造が異なる他は、前記図12(b)で示したも
のと同じ構成を採っている。すなわち、リードフレーム
2にケース4をモールド成形した後に超高周波用半導体
チップ3を搭載し、ワイヤボンディング後に、後述する
キャップ21の下端を接着剤6でケース4に接着してい
る。The semiconductor device for ultrahigh frequency shown in FIG. 1 has the same configuration as that shown in FIG. 12B except that the structure of the cap is different. That is, after molding the case 4 on the lead frame 2, the semiconductor chip 3 for ultrahigh frequency is mounted, and after wire bonding, the lower end of a cap 21 described later is adhered to the case 4 with the adhesive 6.
【0046】キャップ21は、図2に示すモールド金型
22で成形することによって、ケース4側の凹陥部21
aと、上端の(ケース4とは反対側の端部)小径部21
bと、下端の大径部21cとを形成している。前記小径
部21bは、ケース4に接着する下部(大径部21c)
より小径になるように形成している。The cap 21 is formed by a molding die 22 shown in FIG.
a and the small-diameter portion 21 at the upper end (the end opposite to the case 4)
b and a large diameter portion 21c at the lower end. The small diameter portion 21b is a lower portion (large diameter portion 21c) bonded to the case 4.
It is formed so as to have a smaller diameter.
【0047】前記キャップ21を成形するモールド金型
22は、図2(a)に示すように、第1の金型23と第
2の金型24とから構成している。これらの両金型2
3,24は、型締時に金属板製フレーム25を挟圧保持
する構造を採っている。前記フレーム25には、所望の
形状の穴25aを形成している。この実施の形態では、
穴の形状は円形であるが、円形に限定されることはな
い。長方形のキャップの場合、穴の形状は長方形であっ
てもよいし、楕円形であってもよい。前記第1の金型2
3は、開口形状が円形のキャビティ23aと、ゲート2
3bとを形成し、図示してないプレス装置によって第2
の金型24に対して上下方向に移動するように構成して
いる。また、前記キャビティ23aは、前記フレーム2
5の円形穴25aの内周面を延長させた構成になるよう
に形成している。さらに、キャビティ23aがフレーム
25と接する部分であって、ゲート23bを除く部分の
開口は、フレーム25の穴25aと相似形をなすように
形成し、この開口の内径は、前記穴25aの内径と同じ
か、または位置合わせ精度分だけ小さく形成している。The mold 22 for molding the cap 21 is composed of a first mold 23 and a second mold 24 as shown in FIG. These two molds 2
Reference numerals 3 and 24 adopt a structure for holding the metal plate frame 25 by clamping during mold clamping. The frame 25 has a hole 25a of a desired shape. In this embodiment,
The shape of the hole is circular, but is not limited to a circle. In the case of a rectangular cap, the shape of the hole may be rectangular or oval. The first mold 2
Reference numeral 3 denotes a cavity 23a having a circular opening shape and a gate 2
3b, and the second pressing device (not shown)
It is configured to move up and down with respect to the mold 24. Further, the cavity 23a is provided in the frame 2
The fifth circular hole 25a is formed such that the inner peripheral surface is extended. Further, the opening of the portion where the cavity 23a is in contact with the frame 25 and excluding the gate 23b is formed so as to be similar to the hole 25a of the frame 25, and the inner diameter of this opening is the same as the inner diameter of the hole 25a. They are formed to be the same or smaller by the alignment accuracy.
【0048】前記第2の金型24は、キャビティ24a
の側壁を形成する外金型26と、底壁を形成する内金型
27とから構成している。前記外金型26は、第1の金
型23のキャビティ23aより大径でかつ開口形状が円
形の開口部26aを形成している。前記内金型27は、
前記開口部26aに嵌挿する構造を採り、このモールド
金型22で成形したキャップ21に凹陥部21aが形成
されるように、上面(キャビティ24aの底壁になる部
分)の中央部が第1の金型23側に突出している。ま
た、この内金型27における上面の外周部は、キャップ
21の接着面を形成するために平坦に形成している。The second mold 24 has a cavity 24a.
And an inner mold 27 forming a bottom wall. The outer mold 26 has an opening 26a having a larger diameter than the cavity 23a of the first mold 23 and a circular opening shape. The inner mold 27,
The center portion of the upper surface (the portion to be the bottom wall of the cavity 24a) is formed so as to have a recess 21a formed in the cap 21 formed by the molding die 22. Project toward the mold 23 side. The outer peripheral portion of the upper surface of the inner mold 27 is formed flat to form the bonding surface of the cap 21.
【0049】前記第1の金型23のキャビティ23aと
第2の金型24のキャビティ24aからなるキャップ成
形部は、このモールド金型22に複数設けている。すな
わち、フレーム25として円形穴25aを個々のキャッ
プ成形部と対応する位置に開口させたものを使用するこ
とによって、一つのフレーム25にキャップ21を複数
個成形するように構成している。The mold 22 has a plurality of cap molding portions each including the cavity 23a of the first mold 23 and the cavity 24a of the second mold 24. That is, a plurality of caps 21 are formed in one frame 25 by using a frame 25 in which a circular hole 25a is opened at a position corresponding to each cap forming portion.
【0050】また、前記キャビティ23a,24aの壁
面には、耐腐食性および耐磨耗性を高めて離型性が長期
間にわたって良好に保たれるように、硬質クロムめっき
を施している。このめっき層を図2(b)中に符号28
で示す。このめっき層28は、外金型26と内金型27
にそれぞれ厚みが2μmになるように形成している。外
・内金型26,27は、嵌合部に隙間{図2(b),
(d)中に符号dで示す}が0〜5μm程度形成されな
いと組合わせることができないので、めっき層28の厚
み分を差し引いた寸法をもって形成している。この隙間
dが大き過ぎると、成型時にここに封止樹脂が染み込ん
でばりが生じてしまうので、この実施の形態では、外金
型26の開口部を内径が設計値より4.5μm程度大き
くなるように形成するとともに、内金型27を外径が設
計値より4.5μm程度小さくなるように形成すること
によって、封止樹脂の侵入を可及的少なく抑える構成を
採っている。Hard chrome plating is applied to the wall surfaces of the cavities 23a and 24a so as to enhance corrosion resistance and abrasion resistance and maintain good releasability over a long period of time. This plating layer is denoted by reference numeral 28 in FIG.
Indicated by The plating layer 28 includes an outer mold 26 and an inner mold 27.
Each is formed so as to have a thickness of 2 μm. The outer and inner dies 26 and 27 are provided with a gap at the fitting part {FIG.
(D) cannot be combined unless} indicated by the symbol d is formed in the range of about 0 to 5 μm, so that the plating layer 28 is formed to have a size obtained by subtracting the thickness thereof. If the gap d is too large, the sealing resin will penetrate into the mold during molding, causing burrs. In this embodiment, the inner diameter of the opening of the outer mold 26 is about 4.5 μm larger than the designed value. In addition, the inner mold 27 is formed so that the outer diameter is smaller than the design value by about 4.5 μm, so that the intrusion of the sealing resin is suppressed as small as possible.
【0051】すなわち、厚み2μmのめっき層28を形
成すると、前記開口部の内径は4μm狭められ、内金型
26の外径は4μm大きくなるので、前記隙間dは約1
μm程度になる。隙間dが1μmであると、外・内金型
26,27の組合わせ性が損なわれることなく封止樹脂
が侵入することがほとんどなくなる。That is, when the plating layer 28 having a thickness of 2 μm is formed, the inner diameter of the opening is reduced by 4 μm and the outer diameter of the inner mold 26 is increased by 4 μm.
It becomes about μm. If the gap d is 1 μm, the sealing resin hardly penetrates without impairing the combination of the outer and inner molds 26 and 27.
【0052】次に、この第2の金型24の製造方法を図
3によってさらに詳細に説明する。第2の金型24は、
図3(a)に示すように、外金型26と内金型27とを
個々に形成してそれぞれにめっき処理を施した後、内金
型27の高さを調節しながら両金型を組合わせることに
よって製造する。めっき処理は、図3(b)に示したよ
うに行う。すなわち、めっき槽29に溜めためっき液3
0中に第1の金型23、第2の金型24の外金型26お
よび内金型27を個々に浸漬させ、これらの金型と電極
31の間に直流電圧を印加することによって行う。めっ
き処理を行うと、図3(c)に示すように、前記各金型
の表面にめっき層28が形成される。Next, a method of manufacturing the second mold 24 will be described in more detail with reference to FIG. The second mold 24 is
As shown in FIG. 3A, after the outer mold 26 and the inner mold 27 are individually formed and subjected to plating treatment, both molds are adjusted while adjusting the height of the inner mold 27. Manufactured by combining. The plating process is performed as shown in FIG. That is, the plating solution 3 stored in the plating tank 29
0, the outer mold 26 and the inner mold 27 of the first mold 23 and the second mold 24 are individually immersed, and a DC voltage is applied between these molds and the electrode 31. . When the plating process is performed, a plating layer 28 is formed on the surface of each mold as shown in FIG.
【0053】このようにめっき処理を行った後、第1の
金型23を図示してないプレス装置に装着するととも
に、第2の金型24を図示してない基台などに外金型2
6と内金型27とを組合わせた状態で装着する。外金型
26と内金型27とを組合わせるに当たっては、図3
(d)に示すように行う。すなわち、外金型26の大径
穴26bに内金型27の円形フランジ27aを嵌合させ
るとともに、外金型26の下端に固定板32をねじ止め
することによって行う。After performing the plating process as described above, the first mold 23 is mounted on a press (not shown), and the second mold 24 is mounted on a base (not shown).
6 and the inner mold 27 are mounted in a combined state. In combining the outer mold 26 and the inner mold 27, FIG.
This is performed as shown in (d). That is, this is performed by fitting the circular flange 27a of the inner mold 27 into the large-diameter hole 26b of the outer mold 26 and screwing the fixing plate 32 to the lower end of the outer mold 26.
【0054】外・内金型26,27を組合わせるに当た
っては、内金型27の下端面や円形フランジ27aの上
端面を切削して内金型27の高さを変えることによっ
て、キャビティ24aの底壁の位置を調整する。In combining the outer and inner dies 26 and 27, the lower end surface of the inner die 27 and the upper end surface of the circular flange 27a are cut to change the height of the inner die 27 so that the cavity 24a is formed. Adjust the position of the bottom wall.
【0055】このように構成したモールド金型22でキ
ャップ21を製造する手順を図4および図5によって説
明する。先ず、図4(a)に示すフレーム25を同図
(b)に示すようにモールド金型22に装填し型締めす
る。このとき、フレーム25の円形穴25aがキャビテ
ィ23aの側壁と一致するようにフレーム25を位置決
めする。次に、同図(c)に示すように、第1の金型2
3のゲート23bから溶融状態の封止樹脂33をキャビ
ティ23a,24aに注入し、これを固化させる。な
お、この樹脂注入工程では、モールド金型22の複数箇
所に設けたキャビティ23a,24aに封止樹脂33を
それぞれ注入する。封止樹脂33が固化することによっ
て、フレーム25に成形されたキャップ21が得られ
る。なお、符号33aはゲート23bで固化した封止樹
脂を示す。The procedure for manufacturing the cap 21 with the thus-configured mold 22 will be described with reference to FIGS. First, the frame 25 shown in FIG. 4A is loaded into the mold 22 as shown in FIG. At this time, the frame 25 is positioned so that the circular hole 25a of the frame 25 coincides with the side wall of the cavity 23a. Next, as shown in FIG.
The molten sealing resin 33 is injected into the cavities 23a and 24a from the third gate 23b and solidified. In the resin injection step, the sealing resin 33 is injected into the cavities 23a and 24a provided at a plurality of locations of the mold 22. By solidifying the sealing resin 33, the cap 21 formed on the frame 25 is obtained. Reference numeral 33a indicates a sealing resin solidified by the gate 23b.
【0056】その後、金型からフレーム25を離型させ
る。離型させるときの手順を図5によって説明する。図
4では、キャップ形状を中心に説明するため、第1の金
型23を上に位置づけるとともに第2の金型24を下側
に位置づけて説明したが、これらの金型の上下の関係は
この逆でもかまわない。ここで金型からフレーム25を
離型させる手順を説明するに当たっては、第1の金型2
3を下側に位置づけるとともに第2の金型24を上側に
位置づける構成を採って行う。すなわち、図5(a)は
図4(c)を天地逆転させた状態で描いてある。Thereafter, the frame 25 is released from the mold. The procedure for releasing the mold will be described with reference to FIG. In FIG. 4, in order to mainly explain the cap shape, the first mold 23 is positioned above and the second mold 24 is positioned below. However, the upper and lower relations of these molds are described below. The reverse is also acceptable. Here, in describing the procedure for releasing the frame 25 from the mold, the first mold 2 is used.
3 is positioned on the lower side and the second mold 24 is positioned on the upper side. That is, FIG. 5A is drawn in a state where FIG. 4C is inverted.
【0057】第2の金型24を第1の金型23に対して
上方へ引上げることによって、キャップ21およびフレ
ーム25を第2の金型24から離型させる。これは、キ
ャップ21における第2の金型24に接触する部分の面
積に較べ、ゲート23bで固化した封止樹脂33aが第
1の金型23に接触する部分の面積が広いことから、キ
ャップ21が第1の金型23に付着する付着力が相対的
に大きくなることと、キャップ21の大径部21cがフ
レーム25に係合していることとから、第2の金型24
が第1の金型より先に離型するからである。The cap 21 and the frame 25 are released from the second mold 24 by pulling the second mold 24 upward with respect to the first mold 23. This is because the area of the portion where the sealing resin 33a solidified by the gate 23b contacts the first mold 23 is larger than the area of the portion of the cap 21 that contacts the second mold 24. Is relatively large and the large diameter portion 21c of the cap 21 is engaged with the frame 25, so that the second mold 24
Is released before the first mold.
【0058】次に、図5(b)に示すように、突上げピ
ン34によってフレーム25を押上げることで、フレー
ム25を第1の金型23から離型させ、真空吸着器35
などによって同図(c)に示すフレーム台36の上に移
送する。しかる後、ハンマ37によりゲート部で固化し
た封止樹脂33aをフレーム25の上側から叩くことに
よって、この不要な封止樹脂33aの大部分を除去す
る。このようにゲート23bを下側に形成すると、不要
な封止樹脂33aを重力によって自然落下させて除去す
ることができる。このとき、同図中に符号33bで示す
ように、前記封止樹脂33aの一部はキャップ21側に
残存する。Next, as shown in FIG. 5B, the frame 25 is released from the first mold 23 by pushing up the frame 25 with the push-up pins 34, and the vacuum suction device 35 is released.
For example, it is transferred onto the frame base 36 shown in FIG. Thereafter, the sealing resin 33a solidified at the gate portion by the hammer 37 is hit from above the frame 25, thereby removing most of the unnecessary sealing resin 33a. When the gate 23b is formed on the lower side in this manner, the unnecessary sealing resin 33a can be naturally dropped by gravity and removed. At this time, a part of the sealing resin 33a remains on the cap 21 side as indicated by reference numeral 33b in FIG.
【0059】上述したようにモールド金型22で形成し
たキャップ21は、第1の金型23のキャビティ23a
の内径が第2の金型24のキャビティ24aより小径で
あることから、第1の金型23側の端部の径が相対的に
小さくなり、小径部21bを有する形状になり、他方、
第2の金型24側の端部の径に相当する部分は大径部2
1cを有する形状になる。As described above, the cap 21 formed by the mold 22 is provided with the cavity 23 a of the first mold 23.
Is smaller in diameter than the cavity 24a of the second mold 24, the diameter of the end on the first mold 23 side is relatively small, and the shape has a small diameter portion 21b.
The portion corresponding to the diameter of the end on the second mold 24 side is the large diameter portion 2
1c.
【0060】このため、仮に、フレーム25を第2の金
型24に固定した状態で第1の金型23を下方へ引下げ
たとしても、この大径部21cの存在によりキャップ2
1がフレーム25から外れて第1の金型23に付着した
まま離型することはない。これとは逆に、フレーム25
を第1の金型23に固定した状態で第2の金型24を上
方へ引上げたとしても、キャップ21はゲート23bで
固化した封止樹脂33aとつながっているため、キャッ
プ21が第2の金型24に付着したまま離型することは
ない。すなわち、キャップ21はフレーム25に結合し
た状態で離型することになる。For this reason, even if the first mold 23 is pulled down while the frame 25 is fixed to the second mold 24, the presence of the large diameter portion 21c causes the cap 2
The mold 1 does not come off from the frame 25 and remains attached to the first mold 23. Conversely, frame 25
Is fixed to the first mold 23, the second mold 24 is pulled upward, but the cap 21 is connected to the sealing resin 33a solidified by the gate 23b. The mold is not released while being attached to the mold 24. That is, the cap 21 is released in a state of being coupled to the frame 25.
【0061】図5で示したように離型させたキャップ2
1は、図4(d)に示すように、フレーム25の円形穴
25aに小径部21bが嵌入しかつ他端部が円形穴25
aの外側へ延在しており、このフレーム25に保持され
た状態になる。しかる後、フレーム25に複数成形した
キャップ21をフレーム25に保持させた状態で図4
(e)に示す打抜装置338に搬送する。この打抜装置
38は、フレーム25を支承する受け台38aと、キャ
ップ21を上方から押圧するポンチ38bとから構成し
ている。The cap 2 released as shown in FIG.
As shown in FIG. 4 (d), the small-diameter portion 21b is fitted into the circular hole 25a of the frame 25 and the other end thereof is circular hole 25 as shown in FIG.
a, and is held by the frame 25. Thereafter, a plurality of caps 21 formed on the frame 25 are held by the frame 25 as shown in FIG.
It is conveyed to the punching device 338 shown in (e). The punching device 38 includes a receiving table 38a for supporting the frame 25 and a punch 38b for pressing the cap 21 from above.
【0062】この打抜装置38にフレーム25を供給し
てポンチ38bでキャップ21を上方から押圧すると、
フレーム25の円形穴25aから小径部21bが下方へ
打抜かれ、キャップ21が受け台38aの内部に移載さ
れる。このとき、ゲート23b内で固化した封止樹脂3
3bが小径部21から分断する。このようにキャップ2
1を受け台38aに移載させた後、図4(f)に示すよ
うに、小径部21bの上面に吸着ノズル16を吸着させ
る。キャップ21を受け台38aに移載するときや、吸
着ノズル16が吸着するときには、キャップ21が上下
方向に反転したり、回転することがない。そして、従来
と同様にこの吸着ノズル16でキャップ21を図示して
ない接着剤塗布装置に搬送して接着剤6を塗布し、ケー
ス4に接着することによって、図1に示した超高周波用
半導体装置を製造することができる。When the frame 25 is supplied to the punching device 38 and the cap 21 is pressed from above by the punch 38b,
The small diameter portion 21b is punched downward from the circular hole 25a of the frame 25, and the cap 21 is transferred to the inside of the receiving stand 38a. At this time, the sealing resin 3 solidified in the gate 23b
3b is separated from the small diameter portion 21. Thus, cap 2
After being transferred to the receiving table 38a, the suction nozzle 16 is sucked on the upper surface of the small diameter portion 21b, as shown in FIG. When the cap 21 is transferred to the receiving table 38a or when the suction nozzle 16 sucks, the cap 21 does not turn upside down or rotate. Then, as in the conventional case, the cap 21 is conveyed to the adhesive applying device (not shown) by the suction nozzle 16 and the adhesive 6 is applied thereto and adhered to the case 4. The device can be manufactured.
【0063】この超高周波用半導体装置のパッケージを
構成するキャップ21は、ゲート23bを有する第1の
金型23で一端の小径部21bを成形し、第2の金型2
4で他端を成形したから、成形後にモールド金型22を
開くと、小径部21bが第1の金型23に付着した状態
で第1の金型22に残り、他端が第2の金型24から離
型する。The cap 21 constituting the package of the semiconductor device for ultrahigh frequency is formed by molding a small-diameter portion 21b at one end with a first mold 23 having a gate 23b.
Since the other end is formed at step 4, when the mold 22 is opened after the molding, the small-diameter portion 21b remains on the first mold 22 with the small-diameter portion 21b adhered to the first mold 23, and the other end is the second mold. Release from the mold 24.
【0064】また、モールド金型22にフレーム25を
型締めし、第1の金型23のキャビティ23aと円形穴
25aとが一連になる状態でキャップ21を成形したた
め、成形後のキャップ21は、前記円形穴25aに一端
の小径部21bが嵌入しかつ他端の大径部21cが円形
穴25aの外側へ延在するようになるから、フレーム2
5に保持された状態になる。このキャップ21は、前記
小径部21bを押圧することによってフレーム25から
上下方向および回転方向の向きが変わらない状態で取外
すことができる。したがって、キャップ21を成形工程
の後の工程でフレーム25から取外すことによって、ハ
ンドリング装置を使用しなくても全てのキャップ21の
上下方向および回転方向の向きが一定になる。Further, since the frame 25 is clamped to the mold 22 and the cap 21 is formed in a state where the cavity 23a of the first mold 23 and the circular hole 25a are continuous, the cap 21 after the molding is The small-diameter portion 21b at one end is fitted into the circular hole 25a and the large-diameter portion 21c at the other end extends outside the circular hole 25a.
5 is reached. The cap 21 can be removed from the frame 25 by pressing the small-diameter portion 21b without changing the orientation in the vertical and rotational directions. Therefore, by removing the cap 21 from the frame 25 in a step after the molding step, the vertical and rotational directions of all the caps 21 become constant without using a handling device.
【0065】さらに、成形後には複数のキャップ21が
一つのフレーム25に保持された状態になり、全てのキ
ャップ21をこの状態で搬送できるから、キャップ21
が搬送途中で互いに衝突し合うことがない。Further, after molding, a plurality of caps 21 are held by one frame 25, and all the caps 21 can be transported in this state.
Do not collide with each other during the transportation.
【0066】この実施の形態では、外金型26からなる
キャビティ24aの側壁と、内金型27からなるキャビ
ティ24aの底壁とによってキャビティの隅部を形成し
たため、この隈部を機械加工によって形成する場合に較
べてキャップ21の接着面側の外周部の角21d{図4
(d)参照}が丸くならない。このため、キャップ21
の接着面を相対的に広く形成することができるから、こ
のキャップ21をケース4に強固に接着させることがで
きる。In this embodiment, since the corner of the cavity is formed by the side wall of the cavity 24a formed by the outer mold 26 and the bottom wall of the cavity 24a formed by the inner mold 27, the hollow is formed by machining. In comparison with the case, the corner 21d of the outer peripheral portion on the side of the bonding surface of the cap 21 (see FIG.
(D) Reference} does not become round. For this reason, the cap 21
Can be formed relatively large, so that the cap 21 can be firmly bonded to the case 4.
【0067】なお、外金型26と内金型27との隙間d
は0ではないが、エポキシ樹脂の粒子の直径は小さいも
ので10μm程度あるので、前記隙間dが5μm以下で
あればエポキシ樹脂がここに染み込むことは殆どない。
フェノール系の樹脂は粒子の直径がエポキシ樹脂より小
さいので、前記隙間dに封止樹脂33が染み込んでばり
が生じることがある。このばりを図4(d)中に符号3
9で示す。しかし、この実施の形態では外金型26と内
金型27の寸法を前記隙間dが最小になるように設定し
ているので、ばり39はキャップ21の全周にわたって
生じることはなく、しかもきわめて小さい。このため、
例えば図4(f)で示す吸着工程で吸着ノズル16をキ
ャップ21に上方から押付けることによって簡単に潰れ
るし、接着時に接着剤層中に埋没するので、ばり取りを
行わなくてもよい。The gap d between the outer mold 26 and the inner mold 27
Is not 0, but since the diameter of the particles of the epoxy resin is small and about 10 μm, if the gap d is 5 μm or less, the epoxy resin hardly permeates here.
Since the phenolic resin has a particle diameter smaller than that of the epoxy resin, the sealing resin 33 may permeate into the gap d to generate burrs. This burr is denoted by reference numeral 3 in FIG.
9. However, in this embodiment, since the dimensions of the outer mold 26 and the inner mold 27 are set so that the gap d is minimized, the burrs 39 do not occur over the entire circumference of the cap 21, and are extremely small. small. For this reason,
For example, in the suction step shown in FIG. 4F, the suction nozzle 16 is easily crushed by pressing the cap against the cap 21 from above, and is buried in the adhesive layer at the time of bonding, so that deburring is not necessary.
【0068】第2の実施の形態 以下、第2の発明に係る電子部品パッケージ製造用モー
ルド金型および第8の発明に係る電子部品パッケージ製
造用モールド金型の製造方法の一実施の形態を図6ない
し図8によって詳細に説明する。ここでは、超高周波用
半導体装置のキャップを製造するモールド金型およびそ
の製造方法について説明する。Second Embodiment Hereinafter, one embodiment of a mold for manufacturing an electronic component package according to the second invention and a method for manufacturing a mold for manufacturing an electronic component package according to the eighth invention will be described. This will be described in detail with reference to FIGS. Here, a mold for manufacturing a cap of a semiconductor device for ultrahigh frequency and a method for manufacturing the same will be described.
【0069】図6は第2の発明に係る電子部品パッケー
ジ用モールド金型としてのキャップ用モールド金型を示
す図で、同図(a)は縦断面図、同図(b)は第2の金
型の平面図、同図(c)は外金型と内金型の嵌合部を拡
大して示す平面図、同図(d)は成型後のキャップを示
す断面図である。なお、(a)図の破断位置を(b)図
中にVI−VI線によって示している。図7は第8の発明に
係る電子部品パッケージ用モールド金型の製造方法を説
明するための図で、同図(a)は工程図、同図(b)は
モールド金型の構成を示す断面図、同図(c)は第2の
金型の組立状態を示す断面図、同図(d)はめっき工程
での状態を示す断面図である。図8は第2の金型の要部
を拡大して示す断面図である。これらの図において前記
図1ないし図5、図12ないし図14で説明したものと
同一もしくは同等部材については、同一符号を付し詳細
な説明は省略する。FIG. 6 is a view showing a mold for a cap as a mold for an electronic component package according to the second invention. FIG. 6A is a longitudinal sectional view, and FIG. FIG. 2C is a plan view showing the fitting portion between the outer mold and the inner mold, and FIG. 2D is a sectional view showing the cap after molding. Note that the broken position in FIG. 7A is indicated by a VI-VI line in FIG. 7A and 7B are views for explaining a method of manufacturing a mold for an electronic component package according to the eighth invention, wherein FIG. 7A is a process diagram and FIG. 7B is a cross-section showing the structure of the mold. FIG. 3C is a cross-sectional view showing an assembled state of the second mold, and FIG. 4D is a cross-sectional view showing a state in a plating step. FIG. 8 is an enlarged sectional view showing a main part of the second mold. In these drawings, the same or equivalent members as those described in FIGS. 1 to 5 and FIGS. 12 to 14 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
【0070】図6〜図8に示すモールド金型22は、第
2の金型24の外金型26と内金型27との間に外金型
26から内金型27へわたって途切れることなく延在す
るめっき層41を形成している。すなわち、このめっき
層41は、外金型26と内金型27の隙間に介在するよ
うに形成している。めっき層41における前記隙間に介
在する部分を図6(b),(c)中に符号41aで示
す。前記介在部分41aによって、外金型26と内金型
27との隙間が0かあるいは0に近くなるように狭めら
れるため、このモールド金型22で成型したキャップ2
1は、図6(d)に示すように、接着面側の外周部の角
21dに大きなばりが生じることがなく、モールド成型
後に離型し易い。The mold 22 shown in FIGS. 6 to 8 is interrupted between the outer mold 26 and the inner mold 27 of the second mold 24 from the outer mold 26 to the inner mold 27. The plating layer 41 is formed so as to extend. That is, the plating layer 41 is formed so as to be interposed between the outer mold 26 and the inner mold 27. A portion of the plating layer 41 interposed in the gap is indicated by a reference numeral 41a in FIGS. 6B and 6C. Since the gap between the outer mold 26 and the inner mold 27 is narrowed to zero or close to zero by the intervening portion 41a, the cap 2 molded by the mold 22 is used.
In No. 1, as shown in FIG. 6D, no large burrs are formed at the corner 21d of the outer peripheral portion on the bonding surface side, and the mold is easily released after the molding.
【0071】ここで、第2の金型24に前記めっき層4
1を形成する方法を図7によって詳細に説明する。第2
の金型24は、図7(a)に示すように、外金型26と
内金型27とを所定形状にそれぞれ形成し、これらを組
合わせて内金型27の位置を調整した後、めっき処理を
施すことによって製造する。外・内金型26,27を所
定形状に形成するに当たっては、これらを組合わせるこ
とができるような寸法、すなわち公差が0〜5μmにな
るように行う。Here, the second mold 24 has the plating layer 4
1 will be described in detail with reference to FIG. Second
7A, the outer mold 26 and the inner mold 27 are formed in a predetermined shape, respectively, and after combining these to adjust the position of the inner mold 27, as shown in FIG. It is manufactured by performing a plating process. In forming the outer and inner dies 26 and 27 into a predetermined shape, the outer and inner dies 26 and 27 are formed in such a size that they can be combined, that is, the tolerance is 0 to 5 μm.
【0072】例えば、外金型26の開口部26aを内径
が設計値より2.5μm程度大きくなるように形成し、
内金型27を外径が設計値より2.5μm程度小さくな
るように形成する。形成後の外金型26および内金型2
7を図7(b)に示す。なお、第1の金型23も第2の
金型24とともに所定形状に形成しておく。For example, the opening 26a of the outer mold 26 is formed so that the inner diameter is about 2.5 μm larger than the designed value.
The inner mold 27 is formed such that the outer diameter is smaller than the design value by about 2.5 μm. Outer mold 26 and inner mold 2 after formation
7 is shown in FIG. The first mold 23 is also formed in a predetermined shape together with the second mold 24.
【0073】このように各金型を形成した後、図7
(c)に示すように、外金型26に内金型27を組合わ
せ、これら両者を固定板32で固定する。このときに
は、内金型27の円形フランジ27aを外金型26の大
径穴26bに嵌合させ、内金型27の下端面や円形フラ
ンジ27aの上端面を切削して内金型27の高さを変え
ることによって、キャビティ24aの底壁の位置を調整
する。この組合わせ状態では、外金型26と内金型27
との隙間dは最大で5μmになる。After forming each mold as described above, FIG.
As shown in (c), the inner mold 27 is combined with the outer mold 26, and both are fixed by the fixing plate 32. At this time, the circular flange 27a of the inner die 27 is fitted into the large-diameter hole 26b of the outer die 26, and the lower end surface of the inner die 27 and the upper end surface of the circular flange 27a are cut to obtain the height of the inner die 27. By changing the height, the position of the bottom wall of the cavity 24a is adjusted. In this combined state, the outer mold 26 and the inner mold 27
Is at most 5 μm.
【0074】しかる後、図7(d)に示すように第2の
金型24や第1の金型23に硬質クロムめっき処理を施
す。このめっき処理は、めっき槽29に溜めためっき液
30中に第2の金型24あるいは第1の金型23を浸漬
させ、これらの金型と電極31の間に直流電圧を印加す
ることによって行う。このようにめっき処理を行うと、
第2の金型24には図8に示すように、めっき層41が
外金型26から内金型27にわたって途切れることなく
延在するように形成される。Thereafter, as shown in FIG. 7D, the second mold 24 and the first mold 23 are subjected to hard chrome plating. The plating process is performed by immersing the second mold 24 or the first mold 23 in the plating solution 30 stored in the plating tank 29 and applying a DC voltage between these molds and the electrode 31. Do. When plating is performed in this way,
As shown in FIG. 8, a plating layer 41 is formed on the second mold 24 so as to extend from the outer mold 26 to the inner mold 27 without interruption.
【0075】すなわち、外金型26と内金型27の間の
実質的な隙間がめっき層41の介在部分41aによって
狭められる。この実施の形態では、めっき層41を厚み
が2μmになるように形成したので、図8に示すように
外金型26と内金型27との間に最大で1μmの微小な
隙間が形成されるが、封止樹脂33としてエポキシ樹脂
を採用する場合にはこの封止樹脂33は1μmの隙間に
は侵入しないので、ばりが発生することはない。なお、
外・内金型間の隙間は、めっき層41の厚みをこの実施
の形態より厚くすることによって実質的に0にすること
ができる。That is, the substantial gap between the outer mold 26 and the inner mold 27 is narrowed by the interposed portion 41 a of the plating layer 41. In this embodiment, since the plating layer 41 is formed to have a thickness of 2 μm, a minute gap of 1 μm at the maximum is formed between the outer die 26 and the inner die 27 as shown in FIG. However, when epoxy resin is used as the sealing resin 33, the sealing resin 33 does not enter the gap of 1 μm, so that no burrs are generated. In addition,
The gap between the outer and inner dies can be made substantially zero by making the thickness of the plating layer 41 greater than in this embodiment.
【0076】したがって、このように製造した第2の金
型24は、外金型26と内金型25とを容易に組合わせ
ることができる寸法に形成しても、これら両金型どうし
の間の隙間を組合わせ後にめっき層41によって略満た
すことができるから、キャップ21の接着面側の外周部
の角21dにばりが生じることがない。このため、強固
に接着するキャップ21を製造するために第2の金型2
4を外金型26と内金型27とによって形成する構成で
あっても、第2の金型24の組立性とキャップ21の離
型性の両方を高めることができる。Therefore, even if the second mold 24 manufactured as described above is formed to have a size that allows the outer mold 26 and the inner mold 25 to be easily combined, the distance between the two molds can be increased. Can be substantially filled with the plating layer 41 after the combination, the burrs do not occur at the corner 21d of the outer peripheral portion of the cap 21 on the bonding surface side. For this reason, the second mold 2 must be
Even in a configuration in which the outer mold 4 is formed by the outer mold 26 and the inner mold 27, both the assemblability of the second mold 24 and the releasability of the cap 21 can be improved.
【0077】また、このように組立性と離型性に優れる
モールド金型22を製造するに当たって、従来も実施し
ていためっき処理を外・内金型の組合わせ工程の後に実
施するだけで、言い換えればめっき工程の実施時期を変
えるだけでよいから、製造工程数や部品数が増えること
がない。In order to manufacture the mold 22 excellent in the assembling property and the releasability as described above, the plating treatment which has been conventionally performed is simply performed after the step of combining the outer and inner molds. In other words, it is only necessary to change the execution time of the plating step, so that the number of manufacturing steps and the number of parts do not increase.
【0078】第3の実施の形態 第2の発明に係る電子部品パッケージ製造用モールド金
型の他の実施の形態を図9によって詳細に説明する。図
9は第2の発明に係る電子部品パッケージ用モールド金
型としてのケース用モールド金型を示す図で、同図
(a)は縦断面図、図(b)は第1の金型の底面図であ
る。なお、図9(a)の破断位置を(b)図中にIX−IX
線によって示している。これらの図において前記図1な
いし図8、図12ないし図14で説明したものと同一も
しくは同等部材については、同一符号を付し詳細な説明
は省略する。Third Embodiment Another embodiment of a mold for manufacturing an electronic component package according to the second invention will be described in detail with reference to FIG. FIG. 9 is a view showing a mold for a case as a mold for an electronic component package according to the second invention. FIG. 9A is a longitudinal sectional view, and FIG. 9B is a bottom view of the first mold. FIG. The broken position in FIG. 9A is indicated by IX-IX in FIG. 9B.
Indicated by lines. In these figures, the same or equivalent members as those described in FIGS. 1 to 8 and FIGS. 12 to 14 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0079】図9に示すモールド金型22は、第1の金
型23と第2の金型24とでリードフレーム2を挟圧保
持し、第2の金型24がケース4の底部を成形し、第1
の金型22がケース4におけるリードフレーム2から上
方へ突出する筒状部を成形する構造を採っている。この
実施の形態では、第2の金型24のキャビティ24a
は、一つの金型ブロック(第2の金型24)に形成した
凹陥部よって構成し、第1の金型23のキャビティ23
aは、外金型51と、第1の内金型52と、第2の内金
型53とから構成している。なお、ゲートは、この実施
の形態では第2の金型24に形成している。ゲートを図
9(a)中に符号24bで示す。In the mold 22 shown in FIG. 9, the lead frame 2 is clamped and held by the first mold 23 and the second mold 24, and the second mold 24 forms the bottom of the case 4. And the first
Has a structure for forming a cylindrical portion of the case 4 projecting upward from the lead frame 2 in the case 4. In this embodiment, the cavity 24a of the second mold 24
Is formed by a concave portion formed in one mold block (second mold 24), and the cavity 23 of the first mold 23
“a” includes an outer mold 51, a first inner mold 52, and a second inner mold 53. The gate is formed on the second mold 24 in this embodiment. The gate is indicated by reference numeral 24b in FIG.
【0080】前記外金型51は、第1の金型23のキャ
ビティ23aの外周壁をなす開口部51aを形成し、下
端が第2の金型24とともにリードフレーム2を挟持す
るように構成している。前記第1の内金型52は、前記
開口部51aに嵌合する円筒形に形成し、前記第2の内
金型53は、前記第1の内金型52の内周部に嵌合する
円柱形に形成している。また、前記円筒形の第1の内金
型52は、厚みがケース4の筒状部の厚みと等しくなる
ように形成し、かつこの筒状部の高さ分だけ上側に偏在
させた状態で外金型51に固定している。第2の内金型
53は、下端がリードフレーム2の上面に当接し、外周
面の下端部がキャビティ23aの内周壁をなすように構
成している。さらに、前記外金型51、第1の内金型5
2および第2の内金型53は、図示してない上端部どう
しを固定板(図示せず)で互いに結合させることによっ
て、図示した状態を維持するように互いに固定してい
る。The outer die 51 has an opening 51 a forming the outer peripheral wall of the cavity 23 a of the first die 23, and the lower end thereof holds the lead frame 2 together with the second die 24. ing. The first inner mold 52 is formed in a cylindrical shape that fits into the opening 51a, and the second inner mold 53 is fitted into the inner peripheral part of the first inner mold 52. It is formed in a cylindrical shape. The first cylindrical inner mold 52 is formed so that the thickness is equal to the thickness of the cylindrical portion of the case 4 and is unevenly distributed upward by the height of the cylindrical portion. It is fixed to the outer mold 51. The second inner mold 53 has a lower end in contact with the upper surface of the lead frame 2, and a lower end of the outer peripheral surface forms an inner peripheral wall of the cavity 23a. Further, the outer mold 51, the first inner mold 5
The second and second inner molds 53 are fixed to each other so as to maintain the illustrated state by connecting upper ends (not shown) to each other with a fixing plate (not shown).
【0081】このように3個の金型を組合わせてなる第
1の金型23は、組合わせた状態でキャビティ表面に硬
質めっき処理を施している。めっき層を図9(a)中に
符号54で示す。3個の金型を組合わせた状態でめっき
処理を施すと、前記第2の実施の形態を採るときと同様
に、隣接する金型どうしの間の隙間がめっき層54の介
在部分54aによって満たされる。In the first mold 23 formed by combining three dies as described above, the surface of the cavity is subjected to hard plating in the combined state. The plating layer is indicated by reference numeral 54 in FIG. When plating is performed in a state where the three dies are combined, the gap between the adjacent dies is filled with the interposed portion 54a of the plating layer 54 as in the case of the second embodiment. It is.
【0082】したがって、このモールド金型22で成形
したケース4は、接着面の外周部と内周部に角部が形成
されて接着面積を広くとることができるばかりか、前記
角部にばりが生じることがないことから離型性が高い。
ばりが生じないようにするに当たって、第1の金型23
の前記3個の金型51〜53を組合わせた状態でこれに
めっき処理を施すことによって行っているので、3個の
金型をそれぞれ組合わせ易い寸法に形成することができ
組立性も高い。Therefore, the case 4 formed by the mold 22 has corners formed on the outer periphery and the inner periphery of the bonding surface, so that the bonding area can be increased and the burrs are formed on the corners. Since it does not occur, it has high releasability.
In order to prevent burrs, the first mold 23
Since the above-mentioned three dies 51 to 53 are combined with each other and subjected to a plating process, the three dies can be formed into dimensions that can be easily combined, and the assemblability is high. .
【0083】第4の実施の形態 第2の発明に係る電子部品パッケージ製造用モールド金
型のさらに別の実施の形態を図10によって詳細に説明
する。図10はモールド樹脂パッケージを製造するモー
ルド金型に第2の発明を適用した状態を示す図で、同図
(a)はモールド金型の縦断面図、同図(b)は第1の
金型の底面図、同図(c)は第1の金型の要部を拡大し
て示す斜視図、同図(d)はこのモールド金型を製造す
るときの工程図である。なお、(b)図中に(a)図の
破断位置をX−X線によって示している。これらの図にお
いて前記図1ないし図9、図12ないし図14で説明し
たものと同一もしくは同等部材については、同一符号を
付し詳細な説明は省略する。Fourth Embodiment Still another embodiment of a mold for manufacturing an electronic component package according to the second invention will be described in detail with reference to FIG. FIG. 10 is a view showing a state in which the second invention is applied to a mold for manufacturing a mold resin package. FIG. 10 (a) is a longitudinal sectional view of the mold, and FIG. 10 (b) is the first mold. FIG. 4C is a bottom view of the mold, FIG. 5C is an enlarged perspective view showing a main part of the first mold, and FIG. 5D is a process diagram for manufacturing the mold. Note that, in the figure (b), the broken position in the figure (a) is shown by XX line. In these drawings, the same or equivalent members as those described in FIGS. 1 to 9 and FIGS. 12 to 14 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0084】図10に示すモールド金型22は、モール
ド樹脂パッケージを成形するためのもので、このパッケ
ージの上面に凹陥部を形成するための第1の金型23に
第2の発明を適用している。このモールド金型22は、
第1の金型23と第2の金型24とでリードフレーム2
を挟圧保持し、第2の金型24でパッケージの下部を成
形し、第1の金型22でパッケージの上部を成形する構
造を採っている。この実施の形態では、第2の金型24
のキャビティ24aは、一つの金型ブロック(第2の金
型24)に形成した凹陥部によって構成し、第1の金型
23のキャビティ23aは、外金型61と、内金型とし
ての固定ピン62とによって構成している。なお、リー
ドフレーム2は、半導体チップやボンディングワイヤな
どを省略した状態で描いてある。A mold 22 shown in FIG. 10 is for molding a mold resin package. The second invention is applied to a first mold 23 for forming a recess on the upper surface of the package. ing. This mold 22 is
The first die 23 and the second die 24 use the lead frame 2
, The lower part of the package is molded by the second mold 24, and the upper part of the package is molded by the first mold 22. In this embodiment, the second mold 24
The cavity 24a of the first mold 23 is formed by a concave portion formed in one mold block (second mold 24), and the cavity 23a of the first mold 23 is fixed to the outer mold 61 and the inner mold. And a pin 62. Note that the lead frame 2 is drawn with the semiconductor chip, bonding wires, and the like omitted.
【0085】前記外金型61は、キャビティ23の側壁
および上壁の一部をなす凹陥部61aを形成するととも
に、前記上壁になる部分に開口形状が長方形の角穴61
bを形成している。前記固定ピン62は、前記角穴61
bに嵌合する角柱からなり、下端をキャビティ23内に
臨ませた状態で図示してない上端部を外金型61に固定
している。The outer die 61 has a recess 61a forming a part of the side wall and the upper wall of the cavity 23, and a rectangular hole 61 having a rectangular opening at a portion to be the upper wall.
b is formed. The fixing pin 62 is
The upper end (not shown) is fixed to the outer mold 61 with its lower end facing the cavity 23.
【0086】また、この第1の金型22は、外金型61
に固定ピン62を組合わせた状態で硬質クロムめっき処
理を施している。めっき層を図10中に符号63で示
す。なお、第2の金型24にも同様に硬質めっき処理を
施している。上述したように第1の金型22にめっき処
理を施すと、前記第2の実施形態や第3の実施の形態を
採るときと同様に、外金型61と固定ピン62との間の
隙間がめっき層63の介在部分63aによって満たされ
る。The first mold 22 has an outer mold 61
Hard chrome plating is performed in a state where the fixing pins 62 are combined. The plating layer is indicated by reference numeral 63 in FIG. The second mold 24 is similarly subjected to hard plating. When plating is performed on the first mold 22 as described above, the gap between the outer mold 61 and the fixing pin 62 is increased in the same manner as in the case of employing the second embodiment or the third embodiment. Is filled with the interposed portion 63a of the plating layer 63.
【0087】したがって、このモールド金型22で成形
したモールド樹脂パッケージは、第1の金型23が成形
した凹陥部の開口縁にばりが生じることがないから、離
型性が高い。ばりが生じないようにするに当たって、第
1の金型23の外金型61に固定ピン62を組合わせた
状態でこれにめっき処理を施すことによって行っている
ので、外金型61の角穴61bおよび固定ピン62をそ
れぞれ組合わせ易い寸法に形成することができ、組立性
も高い。例えば、前記角穴61bと固定ピン62を、寸
法公差を0〜5μmとしてこれらの間の隙間が最大5μ
mになるように形成しても、めっき層63を厚みが5〜
8μmになるように形成することによって、前記隙間が
めっき層63で満たされるため、ばりの発生を阻止する
ことができる。Therefore, the mold resin package formed by the mold 22 has high releasability since no burrs are formed at the opening edge of the recess formed by the first mold 23. In order to prevent burrs from occurring, plating is performed in a state where the fixing pin 62 is combined with the outer mold 61 of the first mold 23. 61b and the fixing pin 62 can be formed in dimensions that are easy to combine with each other, and the assemblability is high. For example, the square hole 61b and the fixing pin 62 are set to have a dimensional tolerance of 0 to 5 μm and the gap between them is 5 μm at the maximum.
m, the plating layer 63 has a thickness of 5 to 5 m.
By forming the gap to 8 μm, the gap is filled with the plating layer 63, so that generation of burrs can be prevented.
【0088】第5の実施の形態 第7の発明に係る電子部品パッケージ用キャップの製造
方法を図11によって詳細に説明する。図11は識別マ
ークを有するキャップの製造方法を説明するための図
で、同図(a)はキャップ用モールド金型の縦断面図、
同図(b)は第1の金型の底面図、同図(c)は離型後
のキャップを示す断面図である。なお、(b)図中に
(a)図の破断位置をXI−XI線によって示している。こ
れらの図において前記図1ないし図8で説明したものと
同一もしくは同等部材については、同一符号を付し詳細
な説明は省略する。Fifth Embodiment A method for manufacturing an electronic component package cap according to a seventh invention will be described in detail with reference to FIG. 11A and 11B are views for explaining a method of manufacturing a cap having an identification mark. FIG. 11A is a longitudinal sectional view of a cap mold.
FIG. 2B is a bottom view of the first mold, and FIG. 2C is a cross-sectional view showing the cap after the mold is released. In addition, in the figure (b), the breaking position of the figure (a) is shown by the XI-XI line. In these figures, the same or equivalent members as those described in FIGS. 1 to 8 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
【0089】図11に示すモールド金型22は、キャッ
プ21を上方から見た形状が長方形になるように成形す
る構造を採っており、第1の金型23におけるキャビテ
ィ23aの上壁になる部分にオリエンテーション(識別
マーク)成形用突起71を形成している。なお、前記オ
リエンテーションとは、キャップ21を接着するケース
(図示せず)の1番ピンの位置を示す刻印のことであ
る。The mold 22 shown in FIG. 11 has a structure in which the cap 21 is formed so that the shape of the cap 21 when viewed from above is rectangular, and the portion of the first mold 23 which becomes the upper wall of the cavity 23a. Are formed with orientation (identification mark) forming projections 71. The orientation is an engraving indicating the position of the first pin of a case (not shown) to which the cap 21 is bonded.
【0090】また、このモールド金型22は、第1の金
型23と第2の金型24にキャビティ23a,24aか
らなるキャップ成形部を複数設け、一枚のフレーム25
にキャップ21を複数一度に成形するように構成してい
る。なお、フレーム25にはキャップ21の形状に合わ
せた角穴25bを前記キャップ成形部と対応する部位に
形成している。The mold 22 has a first mold 23 and a second mold 24 provided with a plurality of cap molding portions each having a cavity 23a, 24a.
And a plurality of caps 21 are formed at one time. The frame 25 has a square hole 25b corresponding to the shape of the cap 21 at a position corresponding to the cap forming portion.
【0091】さらに、このモールド金型22の第2の金
型24は、外金型26の開口部26aを開口形状が長方
形になるように形成し、この開口部26aに横断面長方
形の内金型27を嵌合させている。また、第2の金型2
4も外金型26に内金型27を組合わせた状態で硬質ク
ロムめっき処理を施し、外・内金型26,27どうしの
間の隙間をめっき層41で満たしてキャップ21の接着
面側の角部21dにばりが生じないようにしている。Further, in the second mold 24 of the mold 22, the opening 26 a of the outer mold 26 is formed so as to have a rectangular opening, and the inner metal having a rectangular cross section is formed in the opening 26 a. The mold 27 is fitted. Also, the second mold 2
4 also performs hard chrome plating in a state where the outer mold 26 and the inner mold 27 are combined, fills the gap between the outer and inner molds 26 and 27 with the plating layer 41, and adheres to the adhesive surface side of the cap 21. No burrs are formed at the corner 21d.
【0092】このように構成したモールド金型22を用
いてキャップ21を成形すると、図11(c)に示すよ
うに、キャップ21はフレーム25に保持された状態に
成形されるとともに、上面に第1の金型23の突起71
によってオリエンテーション72が形成される。したが
って、前記突起71をこのモールド金型22の個々のキ
ャップ成形部において同じ位置に形成しておくことによ
って、フレーム25に成形される全てのキャップ21の
同じ位置にオリエンテーション72を設けることができ
る。When the cap 21 is formed by using the thus-configured mold 22, as shown in FIG. 11C, the cap 21 is formed while being held by the frame 25, and the cap 21 is formed on the upper surface. Projection 71 of one mold 23
Thus, an orientation 72 is formed. Therefore, by forming the projections 71 at the same position in each cap forming portion of the mold 22, the orientation 72 can be provided at the same position on all the caps 21 formed on the frame 25.
【0093】このため、複数のキャップ21をフレーム
25に保持された状態でしかも識別マーク72の位置が
揃った状態で接着工程へ搬送できるから、接着工程では
キャップ21をオリエンテーション72がケースと対応
するように整列させる工程が不要になる。Thus, the plurality of caps 21 can be conveyed to the bonding step with the identification marks 72 aligned with the frame 25 held in the frame 25. In the bonding step, the orientation of the caps 21 corresponds to the case in the bonding step. This eliminates the need for a step of aligning.
【0094】[0094]
【実施例】第1の実施の形態および第2の実施の形態を
採るに当たっては、モールド金型22をSK鋼、SKD
鋼、ステンレス鋼などによって形成した。また、キャッ
プ21を成形するときに用いるフレーム25は、銅、4
2合金、ステンレス鋼などによって形成し、厚みを0.
125mmとした。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In adopting the first embodiment and the second embodiment, the mold 22 is made of SK steel, SKD.
Made of steel, stainless steel, etc. The frame 25 used for molding the cap 21 is made of copper,
2 alloy, stainless steel, etc.
125 mm.
【0095】さらに、キャップ21の材料である封止樹
脂33は、エポキシ樹脂の他に、ビスフェノール透明樹
脂を使用した。キャップ21の寸法は、図4(d)中に
符号d1で示す小径部21bの外径を1.6φとし、同
図中に符号d2で示す下部の外径を1.9φとした。ま
た、キャップ21の凹陥部21aの外径を1.4φと
し、その深さを0.2mmとし、キャップ21の全高を
0.5mmとした。第1あるいは第2の実施の形態で説明
したモールド金型22でキャップ21を前記寸法になる
ように成形したところ、接着面側の角部21dの曲率半
径が最大でも0.03mmとなり、角部Rの曲率半径が
0.15mmである従来のキャップ5(図12参照)に較
べて接着面積が著しく増大した。本発明のキャップ21
は接着面積が1.12mm2 であり、従来のキャップ5は
外形寸法を本発明のキャップ21と同じとすると接着面
積が0.47mm2 になる。したがって、本発明のキャッ
プ21は接着面積が従来のキャップ5の2.4倍にな
り、接着強度も2倍以上になる。Further, as the sealing resin 33, which is a material of the cap 21, a bisphenol transparent resin was used in addition to the epoxy resin. As for the dimensions of the cap 21, the outer diameter of the small-diameter portion 21b indicated by the symbol d1 in FIG. 4D is 1.6φ, and the outer diameter of the lower portion indicated by the symbol d2 in the same drawing is 1.9φ. The outer diameter of the concave portion 21a of the cap 21 was 1.4φ, the depth was 0.2 mm, and the total height of the cap 21 was 0.5 mm. When the cap 21 was formed to have the above-mentioned dimensions by the mold 22 described in the first or second embodiment, the radius of curvature of the corner 21d on the adhesive surface side was 0.03 mm at the maximum, and the corner 21d. The bonding area was significantly increased as compared with the conventional cap 5 (see FIG. 12) in which the radius of curvature of R was 0.15 mm. The cap 21 of the present invention
Has an adhesion area of 1.12 mm 2 , and the conventional cap 5 has an adhesion area of 0.47 mm 2 when the outer dimensions are the same as the cap 21 of the present invention. Therefore, the bonding area of the cap 21 of the present invention is 2.4 times that of the conventional cap 5, and the bonding strength is twice or more.
【0096】なお、上述した各実施の形態では、電子部
品として超高周波用半導体装置を用いて説明したが、高
周波用デバイス、例えば光素子、表面弾性波素子、共振
子などにも適用することができる。In each of the above-described embodiments, the semiconductor device for ultra-high frequency has been described as an electronic component. However, the present invention can be applied to a device for high frequency, such as an optical element, a surface acoustic wave element, and a resonator. it can.
【0097】[0097]
【発明の効果】以上説明したように第1の発明に係る電
子部品パッケージ用キャップは、封止樹脂注入用のゲー
トを有する第1の金型によって成形されたモールド樹脂
部を、モールド金型に装填した板状フレームの穴に嵌合
するとともに第2の金型によって成形された部位より幅
狭になるように形成したため、このキャップは、モール
ド成形した状態ではゲートを有する第1の金型に第2の
金型より大きな接触面積をもって接触し、しかも、第2
の金型によって成形された端部が板状フレームに係合す
るから、板状フレームとともに第1の金型に付着した状
態で離型する。As described above, in the electronic component package cap according to the first aspect of the invention, the mold resin portion formed by the first mold having the gate for injecting the sealing resin is formed into the mold mold. Since the cap is formed so as to fit into the hole of the loaded plate-shaped frame and to be narrower than the portion molded by the second mold, this cap is used in a first mold having a gate in a molded state. A contact area larger than that of the second mold, and
Since the end formed by the mold engages with the plate-shaped frame, the mold is released together with the plate-shaped frame while being attached to the first mold.
【0098】したがって、板状フレームを付勢すること
によってキャップを第1の金型から外すことができるか
ら、離型が容易である。なお、キャップを板状フレーム
から取外すには、第1の金型で成形したモールド樹脂部
を板状フレームに押し込むようにして簡単に行うことが
できる。Therefore, the cap can be removed from the first mold by urging the plate-shaped frame, so that the mold can be easily released. The cap can be easily removed from the plate-like frame by pushing the molded resin portion molded by the first mold into the plate-like frame.
【0099】第2の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、第1の金型と第2の金型のうち一方
を、キャビティの側壁を形成する開口部を有する外金型
と、前記開口部に嵌挿してキャビティ底壁を形成する内
金型とから構成し、キャビティにおける前記外金型と内
金型との間に、外金型から内金型にわたって途切れるこ
となく延在するめっき層を設けたため、外金型と内金型
との隙間にめっき層が介在するから、この隙間に封止樹
脂が深く侵入することがない。The mold for manufacturing an electronic component package according to the second invention is characterized in that one of the first mold and the second mold has an outer mold having an opening forming a side wall of a cavity; An inner mold that is inserted into the opening to form a cavity bottom wall, and extends between the outer mold and the inner mold in the cavity from the outer mold to the inner mold without interruption. Since the plating layer is provided, the plating layer is interposed in the gap between the outer mold and the inner mold, so that the sealing resin does not penetrate deep into this gap.
【0100】したがって、樹脂部分の接着面積が増えな
いから、パッケージの外形寸法がきわめて小さくても簡
単に離型させることができる。また、このモールド金型
によって成形した電子部品パッケージは前記隙間と対応
する部位に大きなばりが生じないので、ばり取り工程が
不要でよいばかりか、搬送時にばりが他部品に当たって
搬送不良を起こすことがない。Therefore, the bonding area of the resin portion does not increase, so that the mold can be easily released even if the external dimensions of the package are extremely small. In addition, since the electronic component package formed by the mold does not generate a large flash at a portion corresponding to the gap, a deburring step is not required, and the flash may hit another component during transport, thereby causing a transport failure. Absent.
【0101】さらに、外金型からなるキャビティの側壁
と、内金型からなるキャビティの底壁とによって形成さ
れるキャビティの隅部は、機械加工によってキャビティ
の全域を形成する場合に較べて角が丸くならないから、
このモールド金型で成形した電子部品パッケージは、前
記内金型によって成形された面を接着面にすると接着面
積が相対的に広くなる。このため、本発明に係るモール
ド金型によれば、小型でも離型性に優れるとともに被接
着物に強固に接着する電子部品パッケージを製造するこ
とができる。Further, the corner of the cavity formed by the side wall of the cavity formed by the outer mold and the bottom wall of the cavity formed by the inner mold has a corner as compared with the case where the whole area of the cavity is formed by machining. Because it doesn't get round
The bonding area of the electronic component package formed by the mold is relatively large when the surface formed by the inner die is used as the bonding surface. For this reason, according to the mold according to the present invention, it is possible to manufacture an electronic component package which is excellent in releasability even though it is small, and which is firmly adhered to the adherend.
【0102】第3の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、電子部品実装用ケースとこれに接着
するキャップとから構成した電子部品パッケージのうち
前記キャップを第1の金型と第2の金型とで成形するも
のであって、前記両金型を、穴を有する板状フレームを
挟圧保持するとともに型締め状態で前記穴がキャビティ
内に位置づけられるように構成し、両金型のうち一方の
金型のキャビティを、側壁が前記穴の内周面を延長させ
た構成となるように形成し、他方の金型を、前記穴より
大径に形成されてキャビティ側壁を形成する開口部を有
する外金型と、前記開口部に嵌挿してキャビティ底壁を
形成する内金型とから構成し、前記一方の金型にゲート
を形成したものであり、第4の発明に係る電子部品パッ
ケージ製造用モールド金型は、第3の発明に係る電子部
品パッケージ製造用モールド金型において、第1の金型
と板状フレームとが接する部分の金型の開口形状が板状
フレームの穴と相似形をなし、前記第1の金型の前記開
口形状が前記穴より小さいか等しく、第2の金型の開口
形状が前記穴より大きくなるように構成したものであ
る。According to a third aspect of the present invention, there is provided a mold for manufacturing an electronic component package, wherein the cap of the electronic component package including an electronic component mounting case and a cap adhered to the case is connected to the first die and the second die. The two molds are configured such that the two molds hold the plate-shaped frame having the holes therebetween and that the holes are positioned in the cavity in a mold-clamped state. The cavity of one of the molds is formed such that the side wall has a configuration in which the inner peripheral surface of the hole is extended, and the other mold is formed to have a larger diameter than the hole to form the cavity side wall. According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an outer mold having an opening, and an inner mold which is inserted into the opening to form a cavity bottom wall, wherein a gate is formed in the one mold. Electronic component package manufacturing mode In the mold for manufacturing an electronic component package according to the third invention, the opening shape of the mold at a portion where the first mold contacts the plate-shaped frame is similar to the hole of the plate-shaped frame. None, the opening shape of the first mold is smaller than or equal to the hole, and the opening shape of the second mold is larger than the hole.
【0103】第3、第4の発明に係るモールド金型によ
れば、キャップが板状フレームの穴に成形され、このキ
ャップにおける第2の金型で成形された部位が第1の金
型で成形された部位より大きくなってこの部分が板状フ
レームに係合する。また、モールド成形されたキャップ
は、ゲートと一体に成形されるから、ゲート側の第1の
金型に第2の金型より大きな接触面積をもって接触し、
第1の金型への付着力が相対的に大きい。According to the third and fourth aspects of the present invention, the cap is formed in the hole of the plate-like frame, and the portion of the cap formed by the second mold is the first mold. This part becomes larger than the molded part and this part engages with the plate-like frame. Also, since the molded cap is formed integrally with the gate, the cap contacts the first mold on the gate side with a larger contact area than the second mold,
Adhesive force to the first mold is relatively large.
【0104】このため、第1の金型と第2の金型を開く
と、キャップは第1の金型に付着し、板状フレームはキ
ャップが係合していることからキャップとともに第1の
金型側に残る。その後、前記板状フレームを付勢するこ
とによってキャップを板状フレームとともに第1の金型
から離型させることができる。離型後、キャップにおけ
る第1の金型で成形した部位をポンチなどで板状フレー
ムの穴に押し込むことによって、キャップを板状フレー
ムから取外すことができる。Therefore, when the first mold and the second mold are opened, the cap adheres to the first mold, and the plate-like frame is engaged with the first mold together with the cap because the cap is engaged. It remains on the mold side. Thereafter, the cap can be released from the first mold together with the plate frame by urging the plate frame. After the mold is released, the cap can be removed from the plate-shaped frame by pressing the portion of the cap formed by the first mold into the hole of the plate-shaped frame with a punch or the like.
【0105】したがって、パッケージの外形寸法がきわ
めて小さくても簡単にキャップを離型させることがで
き、このキャップを板状フレームに保持された状態で移
送することができるので、キャップの方向が変わること
がなく、次工程の作業が容易にになる。Therefore, the cap can be easily released even if the external dimensions of the package are extremely small, and the cap can be transported while being held by the plate-shaped frame. And the work of the next step becomes easy.
【0106】第5の発明に係る電子部品パッケージ製造
用モールド金型は、第3の発明に係る電子部品パッケー
ジ製造用モールド金型において、第1の金型を第2の金
型より下方に配設したため、ゲートで固化して板状フレ
ームに接着したモールド樹脂が板状フレームの下側に位
置づけられるから、離型後に板状フレームに衝撃を加え
るだけで前記モールド樹脂が自然落下する。The mold for manufacturing an electronic component package according to the fifth invention is the mold for manufacturing an electronic component package according to the third invention, wherein the first mold is arranged below the second mold. Since the mold resin solidified by the gate and adhered to the plate-shaped frame is positioned below the plate-shaped frame, the mold resin falls naturally only by applying an impact to the plate-shaped frame after release.
【0107】したがって、ゲートで固化したモールド樹
脂を板状フレームから簡単に除去することができる。Therefore, the mold resin solidified by the gate can be easily removed from the plate frame.
【0108】第6の発明に係る電子部品パッケージキャ
ップの製造方法は、電子部品実装用ケースと、このケー
スに接着するキャップとから構成した電子部品パッケー
ジのうち前記キャップを、一枚の板状フレームにモール
ド金型によって複数個成形するため、複数のキャップを
板状フレームに保持された状態になるように成形するこ
とができ、この状態で搬送できる。したがって、キャッ
プどうしが搬送途中で衝突し合うことがなく、キャップ
の角部が搬送時に欠けてしまうのを阻止することができ
る。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an electronic component package cap, comprising the steps of: mounting the electronic component package in a case of an electronic component mounting case; Since a plurality of caps are formed by a mold, a plurality of caps can be formed so as to be held in a plate-like frame, and can be conveyed in this state. Therefore, the caps do not collide with each other during the conveyance, and it is possible to prevent the corners of the cap from being chipped during the conveyance.
【0109】第7の発明に係る電子部品パッケージ用キ
ャップの製造方法は、第6の発明に係る電子部品パッケ
ージ用キャップの製造方法において、モールド成型時
に、金型のキャビティを形成する壁面に設けた識別マー
ク成形部によってモールド樹脂の外面に識別マークを成
形するため、複数のキャップをフレームに保持された状
態でしかも識別マークの位置が揃った状態で搬送でき
る。A method for manufacturing an electronic component package cap according to a seventh aspect of the present invention is the method for manufacturing an electronic component package cap according to the sixth aspect of the present invention, wherein the electronic component package cap is provided on a wall surface for forming a mold cavity during molding. Since the identification mark is formed on the outer surface of the mold resin by the identification mark forming portion, the conveyance can be performed with the plurality of caps held on the frame and the identification marks aligned.
【0110】したがって、接着工程でキャップを識別マ
ークがケースと対応するように整列させるハンドリング
装置が不要になるとともに、ハンドリング装置で識別マ
ークの位置を整える工程が不要になるから、製造装置の
簡素化ならびに工程数削減を図ることができる。Therefore, a handling device for aligning the cap so that the identification mark corresponds to the case in the bonding step becomes unnecessary, and a step of adjusting the position of the identification mark by the handling device becomes unnecessary. In addition, the number of steps can be reduced.
【0111】第8の発明は、第1の金型と第2の金型と
に形成したキャビティに封止樹脂を注入する電子部品パ
ッケージ製造用モールド金型の製造方法であって、前記
両金型の一方を、キャビティの側壁を構成する開口を有
する外金型と、前記開口に嵌挿してキャビティの底壁を
形成する内金型とを組合わせて形成し、これらの外金型
と内金型とを組合わせた状態でキャビティの壁面にめっ
きを施すため、めっき工程で外金型から内金型にわたっ
て途切れることなく一連にめっき層が形成されてこれら
両金型どうしの間にめっき層が介在するようになる。An eighth invention is a method of manufacturing a mold for manufacturing an electronic component package, which comprises injecting a sealing resin into a cavity formed in a first mold and a second mold. One of the molds is formed by combining an outer mold having an opening forming the side wall of the cavity and an inner mold forming the bottom wall of the cavity by being inserted into the opening. In order to apply plating to the wall surface of the cavity in combination with the mold, the plating layer is formed continuously without interruption from the outer mold to the inner mold in the plating process, and the plating layer is formed between these two molds. Will intervene.
【0112】したがって、本発明の製造方法を採ると、
外金型と内金型とを容易に組合わせることができる寸法
に形成しても、これら両者の間の隙間がめっき層によっ
て狭められるから、成型時に外金型と内金型との間に封
止樹脂が深く侵入することがない。このため、組立性と
離型性との両方に優れる電子部品パッケージ製造用モー
ルド金型が得られる。Therefore, when the production method of the present invention is adopted,
Even if the outer mold and the inner mold are formed to a size that can be easily combined, the gap between the two is narrowed by the plating layer. The sealing resin does not penetrate deeply. For this reason, a mold for manufacturing an electronic component package having both excellent assemblability and releasability can be obtained.
【0113】また、外金型と内金型とによって成形品に
角を形成するモールド金型を製造するに当たって、従来
も実施していためっき処理を外・内金型の組合わせ工程
の後に実施するだけで、言い換えればめっき工程の実施
時期を変えるだけでよい。したがって、製造工程数や部
品数を増えることがないから、コストアップになること
なく外・内金型の組立性ならびに離型性に優れるモール
ド金型を製造することができる。Further, in manufacturing a mold for forming a corner in a molded product by using an outer mold and an inner mold, a plating treatment which has been conventionally performed is performed after a step of combining the outer and inner molds. In other words, it is only necessary to change the timing of performing the plating step. Therefore, since the number of manufacturing steps and the number of parts do not increase, it is possible to manufacture a mold having excellent assembling and releasing properties of the outer and inner dies without increasing the cost.
【図1】 第1の発明に係る電子部品パッケージ用キャ
ップを使用して製造した超高周波用半導体装置の縦断面
図である。FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an ultrahigh frequency semiconductor device manufactured using an electronic component package cap according to a first invention.
【図2】 第1の発明に係る電子部品パッケージ用キャ
ップを製造するために用いるキャップ用モールド金型を
示す図である。FIG. 2 is a view showing a cap mold used for manufacturing the electronic component package cap according to the first invention.
【図3】 キャップ用モールド金型を製造する手順を示
す図である。FIG. 3 is a diagram showing a procedure for manufacturing a cap mold.
【図4】 超高周波用半導体装置の中空パッケージを製
造する手順を示す図である。FIG. 4 is a view showing a procedure for manufacturing a hollow package of the semiconductor device for ultra-high frequency.
【図5】 離型する手順を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a procedure for releasing the mold.
【図6】 第2の発明に係る電子部品パッケージ用モー
ルド金型としてのキャップ用モールド金型を示す図であ
る。FIG. 6 is a view showing a cap mold as a mold for an electronic component package according to a second invention.
【図7】 第8の発明に係る電子部品パッケージ用モー
ルド金型の製造方法を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a method of manufacturing a mold for an electronic component package according to an eighth invention.
【図8】 第2の金型の要部を拡大して示す断面図であ
る。FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view showing a main part of a second mold.
【図9】 第2の発明に係る電子部品パッケージ用モー
ルド金型としてのケース用モールド金型を示す図であ
る。FIG. 9 is a view showing a case mold as a mold for an electronic component package according to the second invention.
【図10】 モールド樹脂パッケージを製造するモール
ド金型に第2の発明を適用した状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a state where the second invention is applied to a mold for manufacturing a mold resin package.
【図11】 識別マークを有するキャップの製造方法を
説明するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining a method of manufacturing a cap having an identification mark.
【図12】 従来の合成樹脂製中空パッケージを用いて
製造した超高周波用半導体装置を示す図である。FIG. 12 is a view showing an ultra-high frequency semiconductor device manufactured using a conventional synthetic resin hollow package.
【図13】 従来のキャップを成形するためのモールド
金型を示す図である。FIG. 13 is a view showing a mold for molding a conventional cap.
【図14】 従来の中空パッケージの製造方法を説明す
るための図である。FIG. 14 is a view for explaining a conventional method of manufacturing a hollow package.
2…リードフレーム、3…超高周波用半導体チップ、4
…ケース、6…接着剤、21…キャップ、21b…小径
部、21c…大径部、21d…角部、22…モールド金
型、23…第1の金型、23a,24a…キャビティ、
24…第2の金型、25…フレーム、25a…円形穴、
25b…角穴、26…外金型、26a…開口部、27…
内金型、29…めっき槽、33…封止樹脂、41…めっ
き層、51…外金型、52…第1の内金型、53…第2
の内金型、54…めっき層、61…外金型、62…固定
ピン、63…めっき層、71…突起、72…オリエンテ
ーション。2 ... lead frame, 3 ... semiconductor chip for ultra-high frequency, 4
... Case, 6 ... Adhesive, 21 ... Cap, 21b ... Small diameter part, 21c ... Large diameter part, 21d ... Corner part, 22 ... Mold mold, 23 ... First mold, 23a, 24a ... Cavity,
24 ... second mold, 25 ... frame, 25a ... circular hole,
25b: square hole, 26: outer mold, 26a: opening, 27:
Inner die, 29 plating bath, 33 sealing resin, 41 plating layer, 51 outer die, 52 first inner die, 53 second
Inner mold, 54 ... plating layer, 61 ... outer mold, 62 ... fixing pin, 63 ... plating layer, 71 ... protrusion, 72 ... orientation.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村田 智司 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 窪田 勧 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 市川 清治 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 廣川 友明 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 木村 伴昭 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 佐藤 卓 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (72)発明者 田中 潤一 東京都港区芝五丁目7番1号 日本電気 株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−226495(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 23/00 - 23/10 H01L 21/56────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Satoshi Murata 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Inside (72) Inventor Kaoru Kubota 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC (72) Inventor Seiji Ichikawa 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Corporation (72) Inventor Tomoaki Hirokawa 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Corporation (72) Inventor Tomoaki Kimura 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Corporation (72) Inventor Taku Sato 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Corporation (72) Inventor Junichi Tanaka 5-7-1 Shiba, Minato-ku, Tokyo NEC Corporation (56) References JP-A-5-226495 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB Name) H01L 23/00-23/10 H01L 21/56
Claims (8)
ド金型で封止樹脂をモールド成形することによって形成
された電子部品パッケージ用キャップにおいて、封止樹
脂注入用のゲートを有する第1の金型によって成形され
たモールド樹脂部を、モールド金型に装填した板状フレ
ームの穴に嵌合するとともに第2の金型によって成形さ
れた部位より幅狭になるように形成したことを特徴とす
る電子部品パッケージ用キャップ。An electronic component package cap formed by molding a sealing resin with a mold including a first mold and a second mold has a gate for injecting the sealing resin. The mold resin portion molded by the first mold is formed so as to fit into the hole of the plate-shaped frame loaded in the mold and to be narrower than the region molded by the second mold. An electronic component package cap characterized by the following.
ャビティに封止樹脂を注入する電子部品パッケージ製造
用モールド金型において、前記両金型のうち一方を、キ
ャビティの側壁を形成する開口部を有する外金型と、前
記開口部に嵌挿することによりキャビティの一方の底壁
を形成する内金型とから構成し、キャビティにおける前
記外金型と内金型との間に、外金型から内金型にわたっ
て途切れることなく延在するめっき層を設けたことを特
徴とする電子部品パッケージ製造用モールド金型。2. A mold for manufacturing an electronic component package in which a sealing resin is injected into a cavity formed in a first mold and a second mold, wherein one of the two molds is a side wall of the cavity. And an inner mold that forms one bottom wall of the cavity by being inserted into the opening, and the outer mold and the inner mold in the cavity are formed. A mold for manufacturing an electronic component package, comprising a plating layer extending between the outer mold and the inner mold without interruption.
スに接着するキャップとから構成した電子部品パッケー
ジのうち前記キャップを、第1の金型と第2の金型とに
形成したキャビティに封止樹脂を注入することによって
成形する電子部品パッケージ製造用モールド金型であっ
て、前記両金型を、穴が形成された板状フレームを挟圧
保持するとともに型締め状態で前記穴がキャビティ内に
位置づけられるように構成し、前記両金型のうち第1の
金型のキャビティを、側壁が前記穴の内周面を延長させ
た構成となるように形成し、第2の金型を、前記穴より
大径に形成されてキャビティの側壁を形成する開口部を
有する外金型と、前記開口部に嵌挿することによりキャ
ビティの一方の底壁を形成する内金型とから構成し、前
記第1の金型にゲートを形成したことを特徴とする電子
部品パッケージ製造用モールド金型。3. An electronic component package comprising a case for mounting an electronic component and a cap adhered to the case, wherein the cap is sealed in a cavity formed in a first mold and a second mold. What is claimed is: 1. A mold for manufacturing an electronic component package, which is formed by injecting a sealing resin, wherein said mold holds said plate-shaped frame in which a hole is formed, and said hole is in a cavity in a mold-clamped state. And the cavity of the first mold of the two molds is formed such that the side wall extends the inner peripheral surface of the hole, and the second mold is formed by: An outer mold having an opening formed to be larger in diameter than the hole and forming a side wall of the cavity, and an inner mold forming one bottom wall of the cavity by being inserted into the opening, Game into the first mold A mold for manufacturing an electronic component package, wherein a mold is formed.
用モールド金型において、第1の金型と板状フレームと
が接する部分の金型の開口形状が板状フレームの穴と相
似形をなし、前記第1の金型の前記開口形状が前記穴よ
り小さいか等しく、第2の金型の開口形状が前記穴より
大きいことを特徴とする電子部品パッケージ製造用モー
ルド金型。4. The mold for manufacturing an electronic component package according to claim 3, wherein an opening shape of the mold at a portion where the first mold and the plate-shaped frame are in contact is similar to a hole of the plate-shaped frame. Wherein the opening shape of the first mold is smaller than or equal to the hole, and the opening shape of the second mold is larger than the hole.
用モールド金型において、第1の金型を第2の金型より
下方に配設したことを特徴とする電子部品パッケージ製
造用モールド金型。5. The mold according to claim 3, wherein the first mold is disposed below the second mold. .
スに接着するキャップとから構成した電子部品パッケー
ジのうち前記キャップを、一枚の板状フレームにモール
ド金型によって複数個成形することを特徴とする電子部
品パッケージ用キャップの製造方法。6. An electronic component package comprising a case for mounting an electronic component and a cap bonded to the case, wherein a plurality of the caps are formed on a single plate-like frame by a mold. Manufacturing method for electronic component package caps.
ャップの製造方法において、モールド成型時に、金型の
キャビティを形成する壁面に設けた識別マーク成形部に
よってモールド樹脂の外面に識別マークを成形すること
を特徴とする電子部品パッケージ用キャップの製造方
法。7. A method for manufacturing a cap for an electronic component package according to claim 6, wherein an identification mark is formed on an outer surface of the molding resin by an identification mark forming portion provided on a wall surface forming a cavity of a mold during molding. A method for manufacturing a cap for an electronic component package.
ャビティに封止樹脂を注入する電子部品パッケージ製造
用モールド金型の製造方法であって、前記両金型の一方
を、キャビティの側壁を構成する開口を有する外金型
と、前記開口に嵌挿することによりキャビティの底壁を
形成する内金型とを組合わせることによって形成し、こ
れらの外金型と内金型とを組合わせた状態でキャビティ
の壁面にめっきを施すことを特徴とする電子部品パッケ
ージ製造用モールド金型の製造方法。8. A method for manufacturing a mold for manufacturing an electronic component package, comprising injecting a sealing resin into cavities formed in a first mold and a second mold, wherein one of the two molds is used. An outer mold having an opening forming the side wall of the cavity, and an inner mold forming the bottom wall of the cavity by being inserted into the opening are formed by combining these outer mold and the inner mold. A method of manufacturing a mold for manufacturing an electronic component package, wherein plating is performed on a wall surface of a cavity in a state where the mold is combined with the mold.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13819496A JP2760342B2 (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing these |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13819496A JP2760342B2 (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing these |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09321164A JPH09321164A (en) | 1997-12-12 |
| JP2760342B2 true JP2760342B2 (en) | 1998-05-28 |
Family
ID=15216287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13819496A Expired - Fee Related JP2760342B2 (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing these |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2760342B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4786464B2 (en) * | 2006-08-21 | 2011-10-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | Translucent cap member and manufacturing method thereof |
| JP4786465B2 (en) * | 2006-08-21 | 2011-10-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | Optical mask member and manufacturing method thereof |
| WO2013147044A1 (en) * | 2012-03-29 | 2013-10-03 | 住友化学株式会社 | Method for manufacturing hollow molded article, hollow molded article and manufacturing device |
| JP6071122B2 (en) * | 2012-03-29 | 2017-02-01 | 住友化学株式会社 | Hollow molded body manufacturing method, hollow molded body and manufacturing apparatus |
| KR102497577B1 (en) | 2015-12-18 | 2023-02-10 | 삼성전자주식회사 | A method of manufacturing semiconductor package |
-
1996
- 1996-05-31 JP JP13819496A patent/JP2760342B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09321164A (en) | 1997-12-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8368235B2 (en) | Resin sealing method of semiconductor device | |
| US7520052B2 (en) | Method of manufacturing a semiconductor device | |
| TWI277500B (en) | Method of resin encapsulation, apparatus for resin encapsulation, method of manufacturing semiconductor device, semiconductor device and resin material | |
| US8240037B2 (en) | Process for producing a circuit module | |
| US20150311095A1 (en) | Method for producing resin-encapsulated electronic component, bump-formed plate-like member, resin-encapsulated electronic component, and method for producing bump-formed plate-like member | |
| JP2002223004A (en) | Package molding and light emitting device | |
| JPH09252065A (en) | Semiconductor device, manufacturing method thereof, and substrate frame | |
| JP2002026182A (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| EP1489655B1 (en) | Pick and place assembly for transporting a film | |
| JP2760342B2 (en) | Cap for electronic component package, mold for manufacturing electronic component package, and method of manufacturing these | |
| JP2003155591A (en) | Method for manufacturing plate-like body and method for manufacturing circuit device using the same | |
| EP2355343A2 (en) | Method of manufacturing package and method of manufacturing piezoelectric vibrator | |
| JP2000164768A (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| JP4282724B2 (en) | Transfer mask for micro ball mounter | |
| JP2000124239A (en) | Method of manufacturing resin-encapsulated semiconductor device and lead frame | |
| JP4803855B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
| JP2000077965A (en) | Piezoelectric vibrator and method of sealing piezoelectric vibrating element | |
| US7985629B2 (en) | Resin sealing method of semiconductor device | |
| KR102272672B1 (en) | Substrate Array for Light Source and Manufacturing Method Thereof | |
| JP6625774B1 (en) | Hollow package structure and its manufacturing method, and semiconductor device and its manufacturing method | |
| JP2002223002A (en) | Package molding and light emitting device | |
| JPH10135252A (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| JP2810309B2 (en) | Method for producing box-shaped resin molded product for semiconductor device | |
| JP2005303107A (en) | Lead frame, semiconductor device, and manufacturing method thereof | |
| JP5121807B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080320 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320 Year of fee payment: 13 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320 Year of fee payment: 13 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120320 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130320 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130320 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140320 Year of fee payment: 16 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |