JP2828041B2 - クロック分配方法及びクロック分配回路 - Google Patents
クロック分配方法及びクロック分配回路Info
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、クロック分配技術
に関し、特に、半導体集積回路のレイアウト等において
複数の論理ブロックへクロック信号を分配配線するクロ
ック信号の分配方法及びクロック分配回路に関する。
に関し、特に、半導体集積回路のレイアウト等において
複数の論理ブロックへクロック信号を分配配線するクロ
ック信号の分配方法及びクロック分配回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体集積回路において、複数の
論理ブロックに対し同期クロック信号を同一タイミング
にて供給する場合、図4に示すように、クロック発生回
路101から各論理ブロック110〜113へのクロッ
クライン上に、単一タイプのバッファ103〜109を
ツリー状に配置し、クロック発生回路101と各バッフ
ァ間の配線を等配線長にすることで、各論理ブロック1
10〜103へのクロック信号の伝搬遅延差(クロック
スキュー)を少なくする方法(クロックツリーシンセシ
ス)が取られている。この方法は「ツリー状配線駆動方
式」とも呼ばれている。
論理ブロックに対し同期クロック信号を同一タイミング
にて供給する場合、図4に示すように、クロック発生回
路101から各論理ブロック110〜113へのクロッ
クライン上に、単一タイプのバッファ103〜109を
ツリー状に配置し、クロック発生回路101と各バッフ
ァ間の配線を等配線長にすることで、各論理ブロック1
10〜103へのクロック信号の伝搬遅延差(クロック
スキュー)を少なくする方法(クロックツリーシンセシ
ス)が取られている。この方法は「ツリー状配線駆動方
式」とも呼ばれている。
【0003】そして、クロックツリーにおけるクロック
スキューを低減するために、例えば特開平4−2254
76号公報には、全てのクロックツリーの遅延時間が全
ツリーの各レベルに及ぶディレイを等しくすることによ
って等しくされ、各レベルのディレイは、各レベルにお
いて各ネットのターミネータの容量を調整することによ
って、あるいは各レベルにおいて各バッファ(ドライ
バ)の駆動能力を調整することによって等しくされ、ネ
ットの容量が低すぎてバッファによって補正できない場
合には当該ネットに容量ターミネータを選択的に追加し
て、各ツリー間のクロック伝達遅延を等しくする方法が
提案されている。
スキューを低減するために、例えば特開平4−2254
76号公報には、全てのクロックツリーの遅延時間が全
ツリーの各レベルに及ぶディレイを等しくすることによ
って等しくされ、各レベルのディレイは、各レベルにお
いて各ネットのターミネータの容量を調整することによ
って、あるいは各レベルにおいて各バッファ(ドライ
バ)の駆動能力を調整することによって等しくされ、ネ
ットの容量が低すぎてバッファによって補正できない場
合には当該ネットに容量ターミネータを選択的に追加し
て、各ツリー間のクロック伝達遅延を等しくする方法が
提案されている。
【0004】また、例えば特開平4−269860号公
報には、クロック発生回路と各バッファ間配線の配線容
量及び配線抵抗を考慮して、配線遅延時間が等しいとこ
ろでツリーの分岐を行い、各ツリー間のクロック伝達遅
延を等しくする方法が提案されている。
報には、クロック発生回路と各バッファ間配線の配線容
量及び配線抵抗を考慮して、配線遅延時間が等しいとこ
ろでツリーの分岐を行い、各ツリー間のクロック伝達遅
延を等しくする方法が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報に提案される方法においても、微小なクロックライン
の配線ばらつきが生じ、クロックライン上の各バッファ
間の配線及び配線容量、配線抵抗は全く同一とはなら
ず、クロックスキューがゼロとなることはない。
報に提案される方法においても、微小なクロックライン
の配線ばらつきが生じ、クロックライン上の各バッファ
間の配線及び配線容量、配線抵抗は全く同一とはなら
ず、クロックスキューがゼロとなることはない。
【0006】また、微細加工技術の進歩に伴い、配線の
微細化が進み、配線抵抗による配線遅延の影響が大きく
なり、このため、微小な配線ばらつきも無視できなくな
ってきた。
微細化が進み、配線抵抗による配線遅延の影響が大きく
なり、このため、微小な配線ばらつきも無視できなくな
ってきた。
【0007】このクロックスキューにより、特に、順序
回路に誤動作が生じるため、クロック周波数にはおのず
と上限が生じ、半導体集積回路の動作周波数向上の妨げ
となっている。
回路に誤動作が生じるため、クロック周波数にはおのず
と上限が生じ、半導体集積回路の動作周波数向上の妨げ
となっている。
【0008】このように、上記従来のクロックツリーシ
ンセシスによるクロック分配方式では、微小なクロック
ラインの配線ばらつきが生じてしまうため、クロックス
キューの低減には限界があるという、問題点を有してい
る。
ンセシスによるクロック分配方式では、微小なクロック
ラインの配線ばらつきが生じてしまうため、クロックス
キューの低減には限界があるという、問題点を有してい
る。
【0009】また、クロックライン上のバッファの駆動
能力を高めると、バッファを構成するトランジタのゲー
ト幅が大きくなったり、トランジスタ数が増加するた
め、バッファ自身のサイズが大きくなり、半導体集積回
路の高密度化の妨げになるだけでなく、消費電力も増加
してしまうという、問題点も有している。
能力を高めると、バッファを構成するトランジタのゲー
ト幅が大きくなったり、トランジスタ数が増加するた
め、バッファ自身のサイズが大きくなり、半導体集積回
路の高密度化の妨げになるだけでなく、消費電力も増加
してしまうという、問題点も有している。
【0010】したがって、本発明は、上記事情に鑑みて
なされたものであって、その目的は、好ましくは半導体
基板上などに配置される複数の論理ブロックに供給され
るクロック信号の遅延時間を、いずれの論理ブロックに
対しても等しくして回路の動作周波数を向上させるクロ
ック分配方法及び回路を提供することにある。
なされたものであって、その目的は、好ましくは半導体
基板上などに配置される複数の論理ブロックに供給され
るクロック信号の遅延時間を、いずれの論理ブロックに
対しても等しくして回路の動作周波数を向上させるクロ
ック分配方法及び回路を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のクロック分配方法は、クロック発生回路か
ら同期クロック信号を複数の論理ブロックに対してツリ
ー状に配したバッファを介して同一のタイミングにて供
給するクロック分配方法において、前記クロック発生回
路から前記論理ブロック間へのツリー経路の遅延時間を
算出し、ツリー上のバッファを入力論理しきい値の異な
る複数のバッファから選択的に置換し、各ツリーの伝搬
遅延時間が同一となるように調整することを特徴とす
る。
め、本発明のクロック分配方法は、クロック発生回路か
ら同期クロック信号を複数の論理ブロックに対してツリ
ー状に配したバッファを介して同一のタイミングにて供
給するクロック分配方法において、前記クロック発生回
路から前記論理ブロック間へのツリー経路の遅延時間を
算出し、ツリー上のバッファを入力論理しきい値の異な
る複数のバッファから選択的に置換し、各ツリーの伝搬
遅延時間が同一となるように調整することを特徴とす
る。
【0012】また、本発明のクロック分配回路は、クロ
ック発生回路から同期クロック信号を複数の論理ブロッ
クに対してツリー状に配したバッファを介して同一のタ
イミングにて供給するクロック分配回路において、クロ
ックライン上に入力論理しきい値の異なるバッファが混
在し、各ツリーの伝搬遅延時間が同一とされてなること
を特徴とする。
ック発生回路から同期クロック信号を複数の論理ブロッ
クに対してツリー状に配したバッファを介して同一のタ
イミングにて供給するクロック分配回路において、クロ
ックライン上に入力論理しきい値の異なるバッファが混
在し、各ツリーの伝搬遅延時間が同一とされてなること
を特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の好ましい実施の
形態及び実施例を順に説明する。本発明は、その好まし
い実施の形態において、クロック発生回路から同期クロ
ック信号を複数の論理ブロックに対して標準バッファを
ツリー状に配してなるクロックツリーの回路接続情報
と、バッファの遅延情報とから、各論理ブロックに至る
各ツリーの伝搬遅延時間を算出し、算出された伝搬遅延
情報の中から最小の伝搬遅延時間のツリーを検出し、最
小の伝搬遅延時間のツリーに関与しない標準バッファに
ついて、該標準バッファと入力論理しきい値が異なる、
予め用意された複数のバッファの中から、該標準バッフ
ァを置換した後のツリーの伝搬遅延時間が短くなるよう
なバッファにて選択的に置換し、前記各ツリーの伝搬遅
延時間が同一となるように自動調整する。ここで、「標
準バッファ」とは、クロックツリーに用いられる入力論
理しきい値(バッファ出力の論理値が反転する入力端子
電圧)が電源電圧の1/2程度である標準的なバッファ
をいう。
形態及び実施例を順に説明する。本発明は、その好まし
い実施の形態において、クロック発生回路から同期クロ
ック信号を複数の論理ブロックに対して標準バッファを
ツリー状に配してなるクロックツリーの回路接続情報
と、バッファの遅延情報とから、各論理ブロックに至る
各ツリーの伝搬遅延時間を算出し、算出された伝搬遅延
情報の中から最小の伝搬遅延時間のツリーを検出し、最
小の伝搬遅延時間のツリーに関与しない標準バッファに
ついて、該標準バッファと入力論理しきい値が異なる、
予め用意された複数のバッファの中から、該標準バッフ
ァを置換した後のツリーの伝搬遅延時間が短くなるよう
なバッファにて選択的に置換し、前記各ツリーの伝搬遅
延時間が同一となるように自動調整する。ここで、「標
準バッファ」とは、クロックツリーに用いられる入力論
理しきい値(バッファ出力の論理値が反転する入力端子
電圧)が電源電圧の1/2程度である標準的なバッファ
をいう。
【0014】本発明においては、標準バッファとは入力
論理しきい値が異なるバッファを複数用意し、これらバ
ッファのドライブ能力(電流駆動能力)は、標準バッフ
ァと同等にする。そして、クロックツリー上の標準バッ
ファを、これら入力論理しきい値の異なるバッファから
選択的に置換しクロックツリーの各枝の遅延値を微調整
する。
論理しきい値が異なるバッファを複数用意し、これらバ
ッファのドライブ能力(電流駆動能力)は、標準バッフ
ァと同等にする。そして、クロックツリー上の標準バッ
ファを、これら入力論理しきい値の異なるバッファから
選択的に置換しクロックツリーの各枝の遅延値を微調整
する。
【0015】図1は、本発明の実施の形態における全体
の処理を説明するためのフローチャートである。
の処理を説明するためのフローチャートである。
【0016】まず、第1のステップにおいて、クロック
ツリーシンセシス手段11により、標準バッファを用い
てクロックツリーを作成し、半導体集積回路の配線容量
と配線抵抗を含んだネットリスト13を作成する。な
お、クロックツリーシンセシス手段11は従来方式のも
のが用いられる。
ツリーシンセシス手段11により、標準バッファを用い
てクロックツリーを作成し、半導体集積回路の配線容量
と配線抵抗を含んだネットリスト13を作成する。な
お、クロックツリーシンセシス手段11は従来方式のも
のが用いられる。
【0017】次に、第2のステップにおいて、スキュー
算出手段14にて、クロックスキューを算出する。その
際、ネットリスト13と遅延ライブラリ12により、ク
ロックツリーの各枝(ブランチ)の遅延差(クロックス
キュー)を、回路シミュレータ等により計算する。な
お、遅延ライブラリ12には、クロックツリー中の標準
バッファの遅延、出力負荷容量による遅延の増加の情
報、出力負荷容量による入力電圧なまりの情報等が格納
されている。また、遅延ライブラリ12には、入力論理
しきい値の異なるバッファリスト15の情報も含まれて
いる。
算出手段14にて、クロックスキューを算出する。その
際、ネットリスト13と遅延ライブラリ12により、ク
ロックツリーの各枝(ブランチ)の遅延差(クロックス
キュー)を、回路シミュレータ等により計算する。な
お、遅延ライブラリ12には、クロックツリー中の標準
バッファの遅延、出力負荷容量による遅延の増加の情
報、出力負荷容量による入力電圧なまりの情報等が格納
されている。また、遅延ライブラリ12には、入力論理
しきい値の異なるバッファリスト15の情報も含まれて
いる。
【0018】次に、第3のステップにおいて、第1のス
テップにて作成されたクロックツリーについて、最短ツ
リー経路遅延時間算出手段16が、クロックツリーの各
枝の中で伝搬遅延時間の最も短いツリー経路を検索し、
その伝搬遅延時間を抽出する。
テップにて作成されたクロックツリーについて、最短ツ
リー経路遅延時間算出手段16が、クロックツリーの各
枝の中で伝搬遅延時間の最も短いツリー経路を検索し、
その伝搬遅延時間を抽出する。
【0019】次に、第4のステップにおいて、バッファ
置換手段17は、最も伝搬遅延時間の短いツリー経路の
伝搬遅延時間に合わせるように、他の全てのツリー経路
の標準バッファを、遅延ライブラリ12を参照して、標
準バッファと入力論理しきい値の異なるバッファをバッ
ファリスト15から選択し、どのバッファに置換するか
否かを決定する。
置換手段17は、最も伝搬遅延時間の短いツリー経路の
伝搬遅延時間に合わせるように、他の全てのツリー経路
の標準バッファを、遅延ライブラリ12を参照して、標
準バッファと入力論理しきい値の異なるバッファをバッ
ファリスト15から選択し、どのバッファに置換するか
否かを決定する。
【0020】その際、クロックツリーの根(ルート)側
を、ツリーレベルが高いものする(すなわちツリーの葉
(リーフ)側がツリーレベルが低い)と、バッファ置換
決定の評価はまず、ツリーレベルの低い方、即ちクロッ
ク発生回路から遠い方から行う。また、伝搬遅延時間が
最短のツリー経路に関わる標準バッファ、即ち、最も伝
搬遅延時間の短いツリーからクロック発生回路に近い方
にある標準バッファの置換は行われない。
を、ツリーレベルが高いものする(すなわちツリーの葉
(リーフ)側がツリーレベルが低い)と、バッファ置換
決定の評価はまず、ツリーレベルの低い方、即ちクロッ
ク発生回路から遠い方から行う。また、伝搬遅延時間が
最短のツリー経路に関わる標準バッファ、即ち、最も伝
搬遅延時間の短いツリーからクロック発生回路に近い方
にある標準バッファの置換は行われない。
【0021】評価される標準バッファに入力されるクロ
ック信号の入力電圧なまりを遅延ライブラリ12を参照
して計算し、計算された入力信号波形のなまりにおい
て、標準バッファに比べて、バッファ置換後の、入出力
間の伝搬遅延時間が小さくなるように、置換すべきバッ
ファを選択する。
ック信号の入力電圧なまりを遅延ライブラリ12を参照
して計算し、計算された入力信号波形のなまりにおい
て、標準バッファに比べて、バッファ置換後の、入出力
間の伝搬遅延時間が小さくなるように、置換すべきバッ
ファを選択する。
【0022】クロック供給先の論理ブロックのクロック
入力がハイアクティブとされている場合には、入力論理
しきい値の低いバッファに置換することにより、出力電
圧の立ち上がり速度を、標準バッファよりも早くする。
入力がハイアクティブとされている場合には、入力論理
しきい値の低いバッファに置換することにより、出力電
圧の立ち上がり速度を、標準バッファよりも早くする。
【0023】逆に、クロック供給先の論理ブロックのク
ロック入力がロウアクティブとされている場合には、入
力論理しきい値の高いバッファに置換することにより、
出力電圧の立ち下がり速度を標準バッファよりも早くす
る。
ロック入力がロウアクティブとされている場合には、入
力論理しきい値の高いバッファに置換することにより、
出力電圧の立ち下がり速度を標準バッファよりも早くす
る。
【0024】この処理を、順次ツリーレベルの高い方へ
向かって行い、バッファを置換をしたツリー経路の遅延
時間が、最も伝搬遅延時間の短いツリー経路の伝搬時間
に近づいた時に、バッファ置換の処理を終了する。
向かって行い、バッファを置換をしたツリー経路の遅延
時間が、最も伝搬遅延時間の短いツリー経路の伝搬時間
に近づいた時に、バッファ置換の処理を終了する。
【0025】ここで、ツリーレベルの高い方のバッファ
を置換した方がツリーレベルの低い方のバッファを置換
した時よりも、該当ツリーにおける伝搬遅延時間が短縮
される場合には、ツリーレベルの低い方のバッファの置
換は行わず、ツリーレベルの高い方のバッファの置換を
行う。
を置換した方がツリーレベルの低い方のバッファを置換
した時よりも、該当ツリーにおける伝搬遅延時間が短縮
される場合には、ツリーレベルの低い方のバッファの置
換は行わず、ツリーレベルの高い方のバッファの置換を
行う。
【0026】図2は、本発明の実施例を説明するための
図である。クロックツリーシンセシスにより、クロック
発生回路22から、D型フリップフロップ30、31、
32、33へツリー状に標準バッファ23、24、2
5、26、27、28、29を介して同期クロック信号
が分配されている。各D型フリップフロップは、クロッ
クハイアクティブ、即ちクロック信号の立ち上がりでデ
ータ信号を取り込む。
図である。クロックツリーシンセシスにより、クロック
発生回路22から、D型フリップフロップ30、31、
32、33へツリー状に標準バッファ23、24、2
5、26、27、28、29を介して同期クロック信号
が分配されている。各D型フリップフロップは、クロッ
クハイアクティブ、即ちクロック信号の立ち上がりでデ
ータ信号を取り込む。
【0027】図2において、P1はクロック発生回路2
2から標準バッファ23、24、26を介してD型フリ
ップフロップ30に到達するツリー経路を表し、P2は
クロック発生回路22から標準バッファ23、24、2
7を介してD型フリップフロップ31に到達するツリー
経路を表し、P3はクロック発生回路22から標準バッ
ファ23、25、28を介してD型フリップフロップ3
2に到達するツリー経路を表し、P4はクロック発生回
路23から標準バッファ23、25、29を介してD型
フリップフロップ33に到達するツリー経路を表してい
る。
2から標準バッファ23、24、26を介してD型フリ
ップフロップ30に到達するツリー経路を表し、P2は
クロック発生回路22から標準バッファ23、24、2
7を介してD型フリップフロップ31に到達するツリー
経路を表し、P3はクロック発生回路22から標準バッ
ファ23、25、28を介してD型フリップフロップ3
2に到達するツリー経路を表し、P4はクロック発生回
路23から標準バッファ23、25、29を介してD型
フリップフロップ33に到達するツリー経路を表してい
る。
【0028】まず、各バッファの遅延ライブラリを参照
して回路シミュレータ等により、ツリー経路P1の伝搬
遅延時間TP1、ツリー経路P2の伝搬遅延時間TP
2、ツリー経路P3の伝搬遅延時間TP3、ツリー経路
P4の伝搬遅延時間TP4を測定する。
して回路シミュレータ等により、ツリー経路P1の伝搬
遅延時間TP1、ツリー経路P2の伝搬遅延時間TP
2、ツリー経路P3の伝搬遅延時間TP3、ツリー経路
P4の伝搬遅延時間TP4を測定する。
【0029】次に、伝搬遅延時間TP1、TP2、TP
3、TP4をそれぞれ比較し、最短ツリー経路を特定す
る。ここで、TP1が最小であるものとし、最短ツリー
経路はP1とする。
3、TP4をそれぞれ比較し、最短ツリー経路を特定す
る。ここで、TP1が最小であるものとし、最短ツリー
経路はP1とする。
【0030】従って、置換対象の標準バッファは、ツリ
ー経路P1に関係しない(最短ツリー経路P1上のバッ
ファ24、26でない)、標準バッファ25、27、2
8、29となる。
ー経路P1に関係しない(最短ツリー経路P1上のバッ
ファ24、26でない)、標準バッファ25、27、2
8、29となる。
【0031】また、他のツリー経路P2、P3、P4
と、最短ツリー経路P1との伝搬遅延時間差は、それぞ
れ、 TP2−TP1=ΔT21、 TP3−TP1=ΔT31、 TP4−TP1=ΔTP41、 とする。
と、最短ツリー経路P1との伝搬遅延時間差は、それぞ
れ、 TP2−TP1=ΔT21、 TP3−TP1=ΔT31、 TP4−TP1=ΔTP41、 とする。
【0032】ツリー経路P2について標準バッファの置
換を行う。D型フリップフロップ31はクロックハイア
クティブであるから、標準バッファ27を入力論理しき
い値の低いバッファに置換することにより、出力電圧を
置換前よりも早く立ち上げることを可能とし、遅延時間
差ΔT21を小さくする。その際、置換可能なバッファ
リストよりバッファを逐次選択する。すなわち、回路シ
ミュレータ等により、出力負荷量によるバッファ24の
出力電圧なまりを計算し、更にその出力電圧なまりが影
響する標準バッファ27を置換したバッファの入力立ち
上がりから出力立ち上がりまでの時間を計算し、ΔT2
1が最小になるバッファを選択する。
換を行う。D型フリップフロップ31はクロックハイア
クティブであるから、標準バッファ27を入力論理しき
い値の低いバッファに置換することにより、出力電圧を
置換前よりも早く立ち上げることを可能とし、遅延時間
差ΔT21を小さくする。その際、置換可能なバッファ
リストよりバッファを逐次選択する。すなわち、回路シ
ミュレータ等により、出力負荷量によるバッファ24の
出力電圧なまりを計算し、更にその出力電圧なまりが影
響する標準バッファ27を置換したバッファの入力立ち
上がりから出力立ち上がりまでの時間を計算し、ΔT2
1が最小になるバッファを選択する。
【0033】同様にして、ツリー経路P3について標準
バッファ28の置換を行い、ツリー経路P4についても
標準バッファ29の置換を行う。これらツリー経路P
3、P4において、ツリーレベルの高い標準バッファ2
5のみを置換した方が、標準バッファ28、29を置換
したよりもΔT31、ΔT41が小さくなる場合には、
標準バッファ25のみを置換する。もちろん、標準バッ
ファ25、28、29全てを置換した方がΔT31、T
41が小さくなる場合には、これら全てを置換する。
バッファ28の置換を行い、ツリー経路P4についても
標準バッファ29の置換を行う。これらツリー経路P
3、P4において、ツリーレベルの高い標準バッファ2
5のみを置換した方が、標準バッファ28、29を置換
したよりもΔT31、ΔT41が小さくなる場合には、
標準バッファ25のみを置換する。もちろん、標準バッ
ファ25、28、29全てを置換した方がΔT31、T
41が小さくなる場合には、これら全てを置換する。
【0034】なお、バッファ置換処理上の注意として以
下のようなことがある。例えば、クロックライン上の標
準バッファを複数直列に入力論理しきい値の低いバッフ
ァで置換した場合、クロック信号の立上りでは出力が標
準バッファに比べて早く立ち上がるが、クロック信号の
立ち下がりでは、出力が逆に標準バッファより遅く立ち
上がるため、クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの
両方では、結局標準バッファと伝搬遅延は変わらず、入
力論理しきい値の異なるバッファ置換によるスキュー低
減の効果は低くなる。
下のようなことがある。例えば、クロックライン上の標
準バッファを複数直列に入力論理しきい値の低いバッフ
ァで置換した場合、クロック信号の立上りでは出力が標
準バッファに比べて早く立ち上がるが、クロック信号の
立ち下がりでは、出力が逆に標準バッファより遅く立ち
上がるため、クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの
両方では、結局標準バッファと伝搬遅延は変わらず、入
力論理しきい値の異なるバッファ置換によるスキュー低
減の効果は低くなる。
【0035】このため、クロック信号を受ける論理ブロ
ックに最も近いところ、即ちクロック発生回路から最も
遠いところに、論理しきい値の異なるバッファを置換す
ると、クロックを受ける論理ブロックの動作に直接影響
するため、効果が高い。
ックに最も近いところ、即ちクロック発生回路から最も
遠いところに、論理しきい値の異なるバッファを置換す
ると、クロックを受ける論理ブロックの動作に直接影響
するため、効果が高い。
【0036】また、入力電圧の入力なまりの大きいとこ
ろでは、バッファの入力論理しきい値の変化が大きく出
力に作用するため、入力論理しきい値の異なるバッファ
で置換すると効果が高い。
ろでは、バッファの入力論理しきい値の変化が大きく出
力に作用するため、入力論理しきい値の異なるバッファ
で置換すると効果が高い。
【0037】図3は、本発明を大規模回路に適用した実
施例を説明するための図である。図3に示す回路は、ク
ロック発生回路38、39からの2つの互いに独立な同
期クロック信号のクロックツリーを持つ。この場合、各
クロックツリー毎にバッファの置換を行い、クロックス
キューを低減する。
施例を説明するための図である。図3に示す回路は、ク
ロック発生回路38、39からの2つの互いに独立な同
期クロック信号のクロックツリーを持つ。この場合、各
クロックツリー毎にバッファの置換を行い、クロックス
キューを低減する。
【0038】上記各実施例の作用効果として、クロック
ツリーにおけるクロックライン上のバッファを異なる入
力論理しきい値を持つバッファで置換し、前段の出力な
まりの効果により、置換されたバッファの出力を、置換
前の標準バッファよりも早く遷移させることにより、ク
ロック信号の遅延時間をどの論理ブロックに対しても等
しくし、これにより、論理ブロックの誤動作を防止し、
回路の動作周波数を向上させることを可能としている。
ツリーにおけるクロックライン上のバッファを異なる入
力論理しきい値を持つバッファで置換し、前段の出力な
まりの効果により、置換されたバッファの出力を、置換
前の標準バッファよりも早く遷移させることにより、ク
ロック信号の遅延時間をどの論理ブロックに対しても等
しくし、これにより、論理ブロックの誤動作を防止し、
回路の動作周波数を向上させることを可能としている。
【0039】入力クロック信号がハイアクティブである
場合、バッファ置換後と置換前の出力遅延時間差Δtは
以下の式(1)で近似できる。
場合、バッファ置換後と置換前の出力遅延時間差Δtは
以下の式(1)で近似できる。
【0040】
【数1】
【0041】例えば、クロック信号置換するバッファの
入力電圧なまりが1ボルトあたり1ナノ秒(ns)生
じ、標準バッファの入力論理しきい値が1.65
[V]、置換するバッファの入力論理しきい値が1.4
[V]の場合、バッファ置換前に比べ置換後のバッファ
の出力の立ち上がりは150ピコ秒(ps)早くなる。
入力電圧なまりが1ボルトあたり1ナノ秒(ns)生
じ、標準バッファの入力論理しきい値が1.65
[V]、置換するバッファの入力論理しきい値が1.4
[V]の場合、バッファ置換前に比べ置換後のバッファ
の出力の立ち上がりは150ピコ秒(ps)早くなる。
【0042】従って、クロックスキューが数百ピコ秒生
じる場合、本実施例により数十ピコ秒以下まで低減させ
ることが可能となる。
じる場合、本実施例により数十ピコ秒以下まで低減させ
ることが可能となる。
【0043】また、上記実施例においては、置き換える
バッファのサイズを変えずに済むことから、例えば半導
体集積回路の集積度を変えずに済む。さらに、バッファ
のドライブ能力も変えずに済むことから、バッファの置
換により半導体集積回路の消費電力を増大させることは
ない。なお、上記実施例においては、入力論理しきい値
の異なるバッファに変えることから、雑音余裕度が低
く、雑音による電圧変動により入力論理しきい値を変え
たバッファが誤動作する可能性も考えられるため、当然
のことながら、雑音対策を十分配慮することが必要とさ
れる。
バッファのサイズを変えずに済むことから、例えば半導
体集積回路の集積度を変えずに済む。さらに、バッファ
のドライブ能力も変えずに済むことから、バッファの置
換により半導体集積回路の消費電力を増大させることは
ない。なお、上記実施例においては、入力論理しきい値
の異なるバッファに変えることから、雑音余裕度が低
く、雑音による電圧変動により入力論理しきい値を変え
たバッファが誤動作する可能性も考えられるため、当然
のことながら、雑音対策を十分配慮することが必要とさ
れる。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
クロックツリーにおけるクロックライン上のバッファを
異なる入力論理しきい値を持つバッファで置換し、前段
の出力なまりの効果により、置換されたバッファの出力
を、置換前の標準バッファよりも早く遷移させることに
より、各ツリー間の伝搬遅延差(クロックスキュー)を
低減することを可能としている。このため、本発明によ
れば、クロック信号の遅延時間をどの論理ブロックに対
しても等しくし、論理ブロックの誤動作を防止し、回路
の動作周波数を向上させることを可能とするという効果
を奏する。
クロックツリーにおけるクロックライン上のバッファを
異なる入力論理しきい値を持つバッファで置換し、前段
の出力なまりの効果により、置換されたバッファの出力
を、置換前の標準バッファよりも早く遷移させることに
より、各ツリー間の伝搬遅延差(クロックスキュー)を
低減することを可能としている。このため、本発明によ
れば、クロック信号の遅延時間をどの論理ブロックに対
しても等しくし、論理ブロックの誤動作を防止し、回路
の動作周波数を向上させることを可能とするという効果
を奏する。
【0045】本発明の効果の一例を定量的に示すと、入
力クロック信号がハイアクティブの場合において、例え
ばクロック信号置換するバッファの入力電圧なまりが1
ボルトあたり1ナノ秒(ns)生じ、標準バッファの入
力論理しきい値が1.65[V]、置換するバッファの
入力論理しきい値が1.4[V]の場合、バッファ置換
前に比べ置換後のバッファの出力の立ち上がりは150
ピコ秒(ps)早くなり、クロックスキューが数百ピコ
秒生じる場合、本発明により数十ピコ秒以下まで低減さ
せることを可能としている。
力クロック信号がハイアクティブの場合において、例え
ばクロック信号置換するバッファの入力電圧なまりが1
ボルトあたり1ナノ秒(ns)生じ、標準バッファの入
力論理しきい値が1.65[V]、置換するバッファの
入力論理しきい値が1.4[V]の場合、バッファ置換
前に比べ置換後のバッファの出力の立ち上がりは150
ピコ秒(ps)早くなり、クロックスキューが数百ピコ
秒生じる場合、本発明により数十ピコ秒以下まで低減さ
せることを可能としている。
【0046】また、本発明によれば、置き換えるバッフ
ァの大きさを大きく変えずに済むことから半導体集積回
路の集積度を変えずに済む。
ァの大きさを大きく変えずに済むことから半導体集積回
路の集積度を変えずに済む。
【0047】さらに、本発明によれば、バッファのドラ
イブ能力も変えずに済むことから、半導体集積回路の消
費電力を増大させることもない。
イブ能力も変えずに済むことから、半導体集積回路の消
費電力を増大させることもない。
【図1】本発明の実施の形態における処理を説明するた
めの流れ図である。
めの流れ図である。
【図2】本発明の実施例を説明するための図である。
【図3】本発明を大規模回路へ適用した実施例を説明す
るための図である。
るための図である。
【図4】クロックツリーを説明するための図である。
23〜29 バッファ 30〜33 D型フリップフロップ 34〜37 論理ブロック群 38、39 クロック発生回路 P1〜P4 ツリー経路 102〜109 バッファ 110〜113 論理ブロック
Claims (4)
- 【請求項1】クロック発生回路から同期クロック信号を
複数の論理ブロックに対してツリー状に配したバッファ
を介して同一のタイミングにて供給するクロック分配方
法において、 前記クロック発生回路から前記論理ブロック間へのツリ
ー経路の遅延時間を算出し、 ツリー上のバッファを入力論理しきい値の異なる複数の
バッファから選択的に置換し、各ツリーの伝搬遅延時間
が同一となるように調整することを特徴とするクロック
分配方法。 - 【請求項2】クロック発生回路から同期クロック信号を
複数の論理ブロックに対して標準バッファをツリー状に
配してなるクロックツリーの回路接続情報と、バッファ
の遅延情報とから、前記各論理ブロックに至るツリーの
伝搬遅延時間を算出し、 算出された伝搬遅延情報の中から最小の伝搬遅延時間の
ツリーを検出し、 最小の伝搬遅延時間のツリーに関与しない標準バッファ
について、該標準バッファと入力論理しきい値が異な
る、予め用意された複数のバッファの中から、前記標準
バッファを置換した後のツリーの伝搬遅延時間が短くな
るようなバッファにて選択的に置換し、前記各ツリーの
伝搬遅延時間が同一となるように自動調整する、ことを
特徴とするクロック分配方法。 - 【請求項3】前記標準バッファと置換されるバッファの
駆動能力を前記標準バッファと同等としたことを特徴と
する請求項2記載のクロック分配方法。 - 【請求項4】クロック発生回路から同期クロック信号を
複数の論理ブロックに対してツリー状に配したバッファ
を介して同一のタイミングにて供給するクロック分配回
路において、 クロックライン上に入力論理しきい値の異なるバッファ
が混在し、各ツリーの伝搬遅延時間が同一とされてなる
ことを特徴とするクロック分配回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181183A JP2828041B2 (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | クロック分配方法及びクロック分配回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181183A JP2828041B2 (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | クロック分配方法及びクロック分配回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1011494A JPH1011494A (ja) | 1998-01-16 |
| JP2828041B2 true JP2828041B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=16096324
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8181183A Expired - Lifetime JP2828041B2 (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | クロック分配方法及びクロック分配回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2828041B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004102657A1 (ja) * | 1998-01-26 | 2004-11-25 | Masahiro Sano | 回路内信号線の最適化方法、最適化装置および最適化プログラムを格納した記憶媒体並びに回路設計方法および回路設計用プログラムを格納した記憶媒体 |
| JP2001117967A (ja) | 1999-10-22 | 2001-04-27 | Nec Corp | クロック分配設計方法、及び、木構造のバッファ回路 |
| JP2001203325A (ja) * | 2000-01-19 | 2001-07-27 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置とデジタル集積回路の設計方法 |
| JP2001332693A (ja) | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Nec Corp | バッファ回路ブロック及びこれを用いた半導体集積回路装置の設計方法 |
| JP2005353677A (ja) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Fujitsu Ltd | ディレイ値調整方法および半導体集積回路 |
-
1996
- 1996-06-21 JP JP8181183A patent/JP2828041B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1011494A (ja) | 1998-01-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980818 |