JP2845612B2 - Chip type identification device - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、チップの品種判別装置に係り、移載ヘッド
のノズルに吸着されて基板に移送搭載されるチップの品
種を簡単に判別するための手段に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a chip type discriminating apparatus for easily discriminating a chip type adsorbed on a nozzle of a transfer head and transferred and mounted on a substrate. Means.
(従来の技術) IC、LSI、抵抗チップ、コンデンサチップなどのチッ
プを基板に自動実装する実装装置は、テープフィーダや
チューブフィーダなどのチップ供給部に装備されたチッ
プを移載ヘッドのノズルに吸着してテイクアップし、基
板に移送搭載するようになっている。(Prior art) A mounting device that automatically mounts chips such as ICs, LSIs, resistor chips, and capacitor chips on a substrate adsorbs chips mounted on a chip supply unit such as a tape feeder or a tube feeder to nozzles of a transfer head. And take it up and transfer it to the substrate.
(発明が解決しようとする課題) 近年、チップは益々多品種化しており、これに伴い、
チップ供給部には、きわめて多数のパーツフィーダが備
えられている。このため、チップ供給部に異品種のチッ
プを装備するパーツフィーダを誤ってセットし、ノズル
が異品種のチップをテイクアップし、基板に誤実装する
トラブルが増大している。(Problems to be Solved by the Invention) In recent years, chips have been increasingly diversified, and with this,
The chip supply unit is provided with an extremely large number of parts feeders. For this reason, there is an increasing problem that a part feeder equipped with a chip of a different kind is erroneously set in a chip supply unit, a nozzle takes up a chip of a different kind, and the chip is erroneously mounted on a substrate.
そこで本発明は、移載ヘッドにより基板に実装される
チップの品種を簡単に判別して、誤実装を回避できる手
段を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a means for easily discriminating a type of a chip mounted on a substrate by a transfer head and avoiding erroneous mounting.
(課題を解決するための手段) 本発明は、チップ供給部のチップを移載ヘッドのノズ
ルに吸着し、XYテーブルに位置決めされた基板に移送搭
載するチップ実装装置において、上記XYテーブルにテー
ブルを設けてこのテーブルをX方向やY方向へ水平移動
自在とし、このテーブルに、上記ノズルが下降すること
により、このノズルに吸着されたチップの電極部が着地
して、このチップの特性を検査する電極体をチップの品
種形状に応じて複数種類設けたものである。(Means for Solving the Problems) The present invention relates to a chip mounting apparatus for adsorbing a chip of a chip supply unit to a nozzle of a transfer head and transferring and mounting the chip on a substrate positioned on the XY table. The table is horizontally movable in the X direction and the Y direction. When the nozzle descends on this table, the electrode portion of the chip adsorbed by the nozzle lands, and the characteristics of the chip are inspected. A plurality of types of electrode bodies are provided according to the type of chip.
(作用) 上記構成において、チップを基板に実装するに先立
ち、ノズルに吸着されたチップの電極部を電極体に着地
させ、このチップの特性を検査することにより、チップ
の品種を簡単に判別できる。(Operation) In the above configuration, before mounting the chip on the substrate, the electrode portion of the chip adsorbed by the nozzle is landed on the electrode body, and the characteristics of the chip are inspected, so that the type of the chip can be easily determined. .
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。Example Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図はチップ実装装置の平面図である。1はロータ
リーヘッドであり、移載ヘッド2を複数個有している。
3はチップを吸着するノズルである。ロータリーヘッド
1の背面側には、チップ供給部5が設けられている。6
は移動台であり、パーツフィーダ7が多数個並設されて
いる。各々のパーツフィーダ7には、様々な品種のチッ
プが装備されている。8は送りねじであり、パーツフィ
ーダ7が載置された移動テーブル9は、この送りねじ8
に沿って横方向に移動し、所定のパーツフィーダ7をノ
ズル3のテイクアップ位置Aに停止させる。FIG. 1 is a plan view of the chip mounting apparatus. A rotary head 1 has a plurality of transfer heads 2.
Reference numeral 3 denotes a nozzle for sucking chips. On the back side of the rotary head 1, a chip supply unit 5 is provided. 6
Denotes a movable table, on which a number of parts feeders 7 are juxtaposed. Each part feeder 7 is equipped with various types of chips. Reference numeral 8 denotes a feed screw, and the moving table 9 on which the parts feeder 7 is mounted
And the predetermined parts feeder 7 is stopped at the take-up position A of the nozzle 3.
11はロータリーヘッド1の前面側に設けられた基板12
の位置決め部としてのXYテーブルである。ロータリーヘ
ッド1がインデックス回転することにより、移載ヘッド
2のノズル3パーツフィーダ7のチップを吸着してテイ
クアップし、マウント位置Bにおいて、基板12に移送搭
載する。20はXYテーブル11に装備されたチップの品種判
別装置であり、次に第2図を参照しながら、その詳細を
説明する。Reference numeral 11 denotes a substrate 12 provided on the front side of the rotary head 1.
2 is an XY table as a positioning unit. When the rotary head 1 rotates by the index, the chip of the nozzle 3 and the part feeder 7 of the transfer head 2 is sucked and taken up, and is transferred and mounted on the substrate 12 at the mounting position B. Reference numeral 20 denotes a chip type discriminating device mounted on the XY table 11, which will be described in detail with reference to FIG.
21はXYテーブル11の側部に装備されたテーブルであ
り、その上面には一対の電極体22a、22bが設けられてい
る。また電極体22a、22bの間には、真空吸着用の吸着孔
23が形成されている。またテーブル21の側部には、エア
を吹き出す吹出部24が設けられている。次に動作を説明
する。Reference numeral 21 denotes a table provided on a side portion of the XY table 11, and a pair of electrode bodies 22a and 22b is provided on an upper surface thereof. A suction hole for vacuum suction is provided between the electrode bodies 22a and 22b.
23 are formed. Further, on the side of the table 21, a blowing section 24 for blowing air is provided. Next, the operation will be described.
チップPを基板12に実装するに先立ち、XYテーブル11
を駆動して、電極体22a,22Bをマウント位置Bに位置さ
せる。次いで移動台6のパーツフィーダ7のチップPを
順次ノズル3に吸着してテイクアップし、テーブル21の
上方へ移送する。次いでノズル3を下降させて、チップ
Pの電極部ka,Kbをテーブル21上の電極体22a,22bに着地
させ、チップPの抵抗値や容量などの特性を検査して、
品種を判別する。この場合、電極部Ka,Kbが電極部22a,2
2に確実に接地するように、吸着孔23によりチップPを
吸着する。Prior to mounting the chip P on the substrate 12, the XY table 11
Is driven to position the electrode bodies 22a and 22B at the mounting position B. Next, the chips P of the parts feeder 7 of the moving table 6 are sequentially sucked by the nozzles 3 to take up the chips P, and are transferred above the table 21. Next, the nozzle 3 is lowered, and the electrode portions ka and Kb of the chip P are landed on the electrode bodies 22a and 22b on the table 21, and the characteristics of the chip P such as resistance and capacitance are inspected.
Determine the variety. In this case, the electrode parts Ka and Kb are connected to the electrode parts 22a and 22a.
The chip P is sucked by the suction hole 23 so that the chip P is reliably grounded.
このようにして、チップPの品種を判別したならば、
吹出部24からエアを吹き出し、チップPをテーブル21か
ら吹き飛ばして除去する。このようなチップPの品種判
別検査は、基板12に実装されるすべてのチップについて
行われる。パーツフィーダ7に異品種のチップPが装備
されていることが判明したならば、ブザーやモニタテレ
ビなどの報知手段でその旨報知し、そのパーツフィーダ
7を正しいチップPを装備するパーツフィーダ7と交換
したうえで、基板12に対するチップPの実装を開始す
る。If the type of the chip P is determined in this way,
Air is blown out from the blow-out part 24 to blow off the chips P from the table 21 and remove them. Such a type discrimination inspection of the chip P is performed for all the chips mounted on the substrate 12. If it is found that a chip P of a different kind is mounted on the parts feeder 7, a notification is made by a buzzer, a monitor television or the like, and the parts feeder 7 is replaced with the parts feeder 7 equipped with the correct chip P. After the replacement, the mounting of the chip P on the substrate 12 is started.
なおチップPを電極体22a,22bに確実に接地させる接
地手段としては、上記吸着孔23に替えて、押圧手段によ
りチップPを上方から機械的に電極体22a,22Bに押圧し
てもよく、あるいはノズル3によりチップPを電極体22
a,22bに押し付けてもよい。またテーブル21をXYテーブ
ル11に設けて基板12と同様にX方向やY方向へ水平移動
自在にすれば、電極体22a,22bをマウント位置(ノズル
3が上下動してチップPを基板12に搭載する位置)Bへ
移動させ、マウント位置Bにおけるノズル3の通常の昇
降動作(チップPの搭載動作)により、検査を行える利
点がある。As a grounding means for reliably grounding the chip P to the electrode bodies 22a and 22b, instead of the suction hole 23, the chip P may be mechanically pressed against the electrode bodies 22a and 22B from above by pressing means. Alternatively, the tip P is connected to the electrode 22 by the nozzle 3.
a, 22b. If the table 21 is provided on the XY table 11 and can be moved horizontally in the X and Y directions similarly to the substrate 12, the electrode bodies 22a and 22b can be mounted at the mounting position (when the nozzle 3 moves up and down, the chip P moves to the substrate 12). There is an advantage that the inspection can be performed by moving the nozzle 3 to the mounting position B and performing the normal elevating operation of the nozzle 3 at the mounting position B (mounting operation of the chip P).
またチップPの品種に誤りがないことが判明したなら
ば、吹出部24によりテーブル21から除去することなく、
ノズル3により吸着して、そのまま基板12に移送搭載し
てもよい。If it is found that there is no error in the type of the chip P, the chip P is not removed from the table 21 by the blowing unit 24,
It may be sucked by the nozzle 3 and transferred and mounted on the substrate 12 as it is.
(実施例2) 第3図は、判別装置の他の実施例を示している。この
判別装置30のテーブルは、回転体31から成っている。こ
の回転体31は、上記XYテーブルの側部に回転自在に装着
されており、実施例1の場合と同様にX方向やY方向へ
水平移動できる。この回転体31は多面体であって、各面
には、チップPの品種形状に対応できるように、形状の
異る複数種類の電極体32a,32b,33a,33b,33c,34a,34b...
がそれぞれ設けられている。電極体33a〜33cには、ミニ
トランジスタのような3個の電極部を有するチップが着
地する。したがってチップの品種に応じて、回転体31を
回転させることにより、電極体を選択することができ
る。28は除去手段としての回動アームであり、この回動
アーム28が水平回動することにより、検査済のチップP
を回転体から除去する。Embodiment 2 FIG. 3 shows another embodiment of the discrimination device. The table of the discriminating device 30 includes a rotating body 31. The rotator 31 is rotatably mounted on the side of the XY table, and can move horizontally in the X and Y directions as in the first embodiment. The rotating body 31 is a polyhedron, and each surface has a plurality of types of electrode bodies 32a, 32b, 33a, 33b, 33c, 34a, 34b. .
Are provided respectively. A chip having three electrode parts such as mini-transistors lands on the electrode bodies 33a to 33c. Therefore, the electrode body can be selected by rotating the rotating body 31 according to the type of chip. Reference numeral 28 denotes a rotating arm serving as a removing means, and when the rotating arm 28 horizontally rotates, the inspected chip P
Is removed from the rotating body.
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、チップを基板に
実装するのに先立ち、チップの品種を自動的に判別し、
異種のチップが誤って基板に実装されるのを未然に防止
することができる。しかも、電極体を備えたテーブルを
基板をX方向やY方向へ水平移動させて位置決めするた
めのXYテーブルに設けているので、基板を所定の位置に
位置決めすると同様に、XYテーブルを駆動してテーブル
に設けられた電極体をチップのマウント位置に位置させ
ることにより、ノズルを通常の昇降動作すなわちチップ
を基板に搭載する動作を行わせて、簡単に多品種のチッ
プの品種検査を行うことができる。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, before mounting a chip on a substrate, the type of the chip is automatically determined,
It is possible to prevent different types of chips from being erroneously mounted on the substrate. Moreover, since the table provided with the electrode body is provided on the XY table for positioning the substrate by horizontally moving the substrate in the X and Y directions, the XY table is driven in the same manner as when positioning the substrate at a predetermined position. By positioning the electrode body provided on the table at the chip mounting position, the nozzle can be moved up and down normally, that is, the operation of mounting the chip on the substrate, and a variety of chips can be easily inspected. it can.
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品実装装置の平面図、第2図は品種判別装置の斜視
図、第3図は他の実施例の斜視図である。 2……移載ヘッド 3……ノズル 5……チップ供給部 11……位置決め部 12……基板 21、31……テーブル 22a,22b,32a〜34b……電極体 P……チップ Ka,Kb……電極部FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a plan view of an electronic component mounting apparatus, FIG. 2 is a perspective view of a kind discriminating apparatus, and FIG. 3 is a perspective view of another embodiment. . 2 Transfer head 3 Nozzle 5 Chip supply unit 11 Positioning unit 12 Substrates 21, 31 Tables 22a, 22b, 32a to 34b Electrode P Chip Ka, Kb … Electrode
Claims (1)
ルに吸着し、XYテーブルに位置決めされた基板に移送搭
載するチップ実装装置において、上記XYテーブルにテー
ブルを設けてこのテーブルをX方向やY方向へ水平移動
自在とし、このテーブルに、上記ノズルが下降すること
により、このノズルに吸着されたチップの電極部が着地
してこのチップの特性を検査する電極体をチップの品種
形状に応じて複数種類設けたことを特徴とするチップの
品種判別装置。1. A chip mounting apparatus for adsorbing a chip of a chip supply unit to a nozzle of a transfer head and transferring and mounting the chip on a substrate positioned on an XY table. When the nozzle descends on this table, the electrode portion of the chip adsorbed by the nozzle lands, and the electrode body for inspecting the characteristics of the chip is moved according to the type of the chip. A chip type discriminating device, wherein a plurality of types are provided.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2307416A JP2845612B2 (en) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Chip type identification device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2307416A JP2845612B2 (en) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Chip type identification device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04177895A JPH04177895A (en) | 1992-06-25 |
| JP2845612B2 true JP2845612B2 (en) | 1999-01-13 |
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ID=17968796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2307416A Expired - Fee Related JP2845612B2 (en) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | Chip type identification device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2845612B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6902346B2 (en) * | 2016-12-15 | 2021-07-14 | 株式会社Fuji | Part characteristic measuring device |
-
1990
- 1990-11-13 JP JP2307416A patent/JP2845612B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04177895A (en) | 1992-06-25 |
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