JP2882249B2 - Wire stripping inspection equipment - Google Patents
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Landscapes
- Removal Of Insulation Or Armoring From Wires Or Cables (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、電線端部の被覆を剥
いで電線端部の芯線を露出させる皮剥ぎ加工が適切に行
われたか否かを検査する装置に関し、特に、検知する部
分に、検査対象である、皮剥ぎされた電線端部の他、検
査対象外の、端子が圧着された端子が通過される、電線
端部の皮剥加工検査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for inspecting whether or not a skinning process for exposing a core wire of an end of an electric wire by peeling a covering of the end of the electric wire has been properly performed. The present invention relates to a stripping inspection apparatus for an end of a wire through which a terminal to which a terminal is crimped is passed in addition to a stripped end of the wire to be inspected.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、被覆された電線の両端部に端
子を圧着するようにした連続端子圧着機がある。一般
に、この連続圧着機は、電線が間欠的に送給される送給
路の途中部に、切断・皮剥装置を備えている。また、上
記送給路の側部であって且つ上記切断・皮剥ぎ装置を挟
んで送給方向に距離を隔てた2位置に、それぞれ、端子
圧着装置を備えている。2. Description of the Related Art Conventionally, there is a continuous terminal crimping machine in which terminals are crimped to both ends of a covered electric wire. Generally, this continuous crimping machine is provided with a cutting / peeling device in the middle of a feeding path through which electric wires are intermittently fed. Further, a terminal crimping device is provided at each of two positions on the side of the feeding path and at a distance in the feeding direction with the cutting and peeling device interposed therebetween.
【0003】そして、通常、上記連続端子圧着機におい
ては、上記切断・皮剥ぎ装置で切断され、切断・皮剥ぎ
装置よりも送給方向側にある電線の後端部に端子を圧着
するタイミングよりも、切断・皮剥ぎ装置よりも反送給
方向側にある電線の前端部に対して端子を圧着するタイ
ミングを、少し早めに設定している。すなわち、上記
前端部が、対応する端子圧着装置へ所定の移動路に従っ
て移動されて端子を圧着された後、上記後端部が、送
給路上から対応する端子圧着装置へ所定の移動路に従っ
て移動されて端子を圧着され、その後、上記前端部
が、上記移動路を逆に辿って送給路上に戻され、その
後、切断・皮剥ぎ装置により反送給方向側にある電線
を送給路に沿って送給する、ようになっている。なお、
上記の工程で、端子圧着装置に移動された電線は、端
子圧着装置への移動方向に沿って排出されるようになっ
ている。[0003] Usually, in the above continuous terminal crimping machine, the timing of crimping the terminal to the rear end of the electric wire, which is cut by the cutting and stripping device and is closer to the feeding direction than the cutting and stripping device, is used. Also, the timing for crimping the terminal to the front end of the electric wire on the side opposite to the feeding direction from the cutting and peeling device is set slightly earlier. That is, after the front end is moved to a corresponding terminal crimping device along a predetermined moving path and crimped the terminal, the rear end moves from a feed path to a corresponding terminal crimping device according to a predetermined moving path. Then, the terminal is crimped, and thereafter, the front end portion is returned to the feeding path by following the moving path in reverse, and thereafter, the wire on the side opposite to the feeding direction is cut by the cutting and peeling device into the feeding path. To be sent along. In addition,
The electric wire moved to the terminal crimping device in the above process is discharged along the moving direction to the terminal crimping device.
【0004】ところで、連続端子圧着機等において、電
線の皮剥ぎ加工が適切に行われたか否かを、光学的に判
別する、光学式皮剥加工検査装置が提供されている。こ
の種の皮剥加工検査装置を、上記の連続端子圧着機に適
用する場合、上記電線の前端部が送給路上から対応する
端子圧着装置へ移動する移動路、および上記電線の後端
部が送給路上から対応する端子圧着装置へ移動する移動
路に設けることになる。Incidentally, there has been provided an optical peeling inspection apparatus for optically determining whether or not the wire has been appropriately peeled in a continuous terminal crimping machine or the like. When this type of peeling inspection apparatus is applied to the above-described continuous terminal crimping machine, a moving path in which the front end of the electric wire moves from the feed path to the corresponding terminal crimping apparatus, and a rear end of the electric wire where the front end of the electric wire moves. It is provided on a moving path that moves from the supply path to the corresponding terminal crimping device.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の前者
の、電線の前端部の移動路では、検査対象である、皮剥
ぎされた電線端部の他、検査対象外である、端子を圧着
された電線端部も通過することになる。これに対して、
従来の光学式皮剥加工検査装置では、検査対象のものと
検査対象外のものとを判別する手段を持たないため、検
査対象外のものを誤って検査し、皮剥ぎ不良と判別して
しまう懸念があった。したがって、従来の光学式皮剥加
工装置を、そのまま適用することができないという問題
があった。However, in the former moving path at the front end of the electric wire, in addition to the stripped end of the electric wire to be inspected, the terminal to be inspected is crimped. The wire ends also pass through. On the contrary,
The conventional optical peeling inspection system does not have a means for distinguishing between the object to be inspected and the one not to be inspected. was there. Therefore, there has been a problem that the conventional optical peeling apparatus cannot be applied as it is.
【0006】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、検査対象でない電線端部が通過される場合にも
誤検査がされることのない電線端部の皮剥加工検査装置
を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and provides an apparatus for inspecting the end of an electric wire which is not erroneously inspected even when the end of the electric wire which is not to be inspected is passed. That is.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1に係る発明は、発光部と受光部とを所定の
間隔で対向配置し、発光部から受光部に向けて光を照射
し、受光部の受光光量に応じた信号を出力する検査部を
備え、上記発光部から受光部への光路中を横切って、検
査対象としての、皮剥ぎされた電線端部と、検査対象外
の、端子が圧着された電線端部とを、交互に通過させる
電線端部の皮剥加工検査装置であって、上記受光部から
の信号に基づいて電線端部の通過を検知し、検知毎に、
検査モードと非検査モードとに交互に切り換えるモード
切換手段、および上記検査モードでのみ、上記受光部か
ら電線端部の通過に対応する信号を受け、当該信号を予
め設定した比較基準値と比較し、皮剥ぎ加工の良否を判
断する良否判別手段、を含むことを特徴とするものであ
る。In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a light emitting unit and a light receiving unit are arranged to face each other at a predetermined interval, and light is emitted from the light emitting unit to the light receiving unit. An inspection unit that irradiates and outputs a signal corresponding to the amount of light received by the light-receiving unit, and traverses the optical path from the light-emitting unit to the light-receiving unit. An external wire peeling inspection device for alternately passing an end of a wire to which a terminal is crimped, wherein the device detects the passage of the end of the wire based on a signal from the light receiving unit, To
Mode switching means for alternately switching between an inspection mode and a non-inspection mode; and, only in the inspection mode, receiving a signal corresponding to the passage of the end of the wire from the light receiving unit, and comparing the signal with a preset comparison reference value. And a quality determining means for determining the quality of the skinning process.
【0008】また、請求項2に係る発明は、それぞれ発
光部と受光部とを所定の間隔で対向配置し、発光部から
受光部に向けて光を照射し、受光部の受光光量に応じた
信号を出力する、第1の検査部および第2の検査部を備
え、それぞれの検査部において所定の電線端部の通過動
作を予め設定した通過順序で繰り返す、電線端部の皮剥
加工検査装置であって、上記各受光部からの信号に基づ
いて上記各通過動作を検知し、検知毎に、上記予め設定
した通過順序に基づき、検知した通過動作の次の通過動
作に対応するように、それぞれの検査部において、検査
を行う検査モード、および検査を行わない非検査モー
ド、に択一的に切り換えるモード切換手段、および上記
各検査モードでのみ、対応する受光部から電線端部の通
過に対応する信号を受け、当該信号を予め設定した比較
基準値と比較し、皮剥ぎ加工の良否を判断する良否判別
手段、を含むことを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, a light-emitting unit and a light-receiving unit are arranged opposite to each other at a predetermined interval, and light is emitted from the light-emitting unit toward the light-receiving unit, and the light-receiving unit responds to the amount of received light. and it outputs a signal, comprising a first inspection unit and the second inspection unit, passing movement of predetermined wire ends in each of the inspection unit
An apparatus for inspecting the end of an electric wire, which repeats the operation in a predetermined passing order, wherein each of the passing operations is detected based on a signal from each of the light receiving units, and for each detection, the predetermined passing order is determined. In each inspection unit, based on the
Mode switching means for selectively switching to an inspection mode for performing inspection and a non-inspection mode for not performing inspection, and only in each of the above-described inspection modes, receives a signal corresponding to the passage of the wire end from the corresponding light receiving unit, and A pass / fail determination means for comparing the signal with a preset comparison reference value to determine pass / fail of the skinning process.
【0009】[0009]
【作用】上記請求項1に係る発明の構成によれば、検査
部を、検査対象の電線端部と検査対象外の電線端部とが
交互に通過し、モード切換手段は、受光部からの信号に
よって上記通過を検知する毎に、検査モードと非検査モ
ードとを交互に切り換える。そして、検査モードでの
み、良否判別手段が、上記受光部から電線端部の通過に
対応する信号を受け、当該信号を予め設定した比較基準
値と比較し、皮剥ぎ加工の良否を判断する。したがっ
て、検査対象外の電線端部を検査してしまうような誤検
査をなくすことができる。According to the configuration of the first aspect of the present invention, the end of the wire to be inspected and the end of the wire not to be inspected alternately pass through the inspection section, and the mode switching means transmits the signal from the light receiving section. The inspection mode and the non-inspection mode are alternately switched every time the passage is detected by the signal. Then, only in the inspection mode, the pass / fail judgment means receives a signal corresponding to the passage of the end of the electric wire from the light receiving section, compares the signal with a preset comparison reference value, and judges pass / fail of the skinning process. Therefore, it is possible to eliminate an erroneous inspection that inspects the end of the electric wire that is not to be inspected.
【0010】上記の請求項2に係る発明の構成によれ
ば、予め設定した通過順序で行われる各通過動作を検知
する毎に、モード切換手段が、検知した通過動作の、次
の通過動作時のための、検査モードまたは非検査モード
に切り換える。すなわち、次の通過動作が、何れか1の
検査部における、検査対象である皮剥ぎ電線端部のもの
である場合には、その検査部による検査モードに切り換
え、次の通過動作が検査対象外の端子付き電線端部のも
のである場合には、非検査モードに切り換える。そし
て、検査モードでのみ、良否判別手段によって、皮剥ぎ
加工の良否を判別する。したがって、検査対象外の電線
端部を検査してしまうような誤検査をなくすことができ
る。また、モード切換手段によって、第1検査部による
検査モードと第2検査部による検査モードも切り換えら
れるので、1の良否判別手段を用いて、2つの検査部で
検査を行うことが可能となる。According to the configuration of the second aspect of the invention, every time each passing operation performed in a predetermined passing order is detected, the mode switching means sets the next passing operation after the detected passing operation. To the inspection mode or the non-inspection mode. That is, if the next passing operation is the end of the peeled wire to be inspected in any one of the inspecting units, the mode is switched to the inspection mode by the inspecting unit, and the next passing operation is out of the inspection target. If it is the end of the terminal-equipped wire, switch to the non-inspection mode. Then, only in the inspection mode, the quality of the skinning process is determined by the quality determination means. Therefore, it is possible to eliminate an erroneous inspection that inspects the end of the electric wire that is not to be inspected. In addition, since the mode switching unit can switch between the inspection mode by the first inspection unit and the inspection mode by the second inspection unit, the inspection can be performed by the two inspection units using one pass / fail determination unit.
【0011】[0011]
【実施例】以下実施例を示す添付図面によって詳細に説
明する。図1は、この発明の一実施例に係る、電線端部
の皮剥加工検査装置の構成を示す図解図である。図1を
参照して、この検査装置には、第1および第2の光学式
検査部A1,A2、並びに両検査部A1,A2に電気的
に接続された制御回路部20が備えられている。各検査
部A1,A2は、それぞれ、後述する連続端子圧着機の
所要の位置に設置されている。各検査部A1,A2に
は、取付用ステー11が備えられ、このステー11に発
光器12および受光器13が一定間隔をあけて対向する
ように取り付けられている。発光器12は、半導体レー
ザで構成されており、その出力面(受光器13と対向す
る面)12Sから受光器13に向けてコヒーレントな平
行光を出力するものである。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. FIG. 1 is an illustrative view showing a configuration of an apparatus for inspecting the end of a wire according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, this inspection apparatus includes first and second optical inspection units A1 and A2, and a control circuit unit 20 electrically connected to both inspection units A1 and A2. . Each of the inspection units A1 and A2 is installed at a required position of a continuous terminal crimping machine described later. Each of the inspection sections A1 and A2 is provided with a mounting stay 11, and a light emitting device 12 and a light receiving device 13 are mounted on the stay 11 so as to oppose each other at a predetermined interval. The light emitter 12 is formed of a semiconductor laser, and outputs coherent parallel light from the output surface (surface facing the light receiver 13) 12S toward the light receiver 13.
【0012】受光器13の受光面13Sは、発光器12
の出力面12Sに平行に対向しており、受光面13Sに
は後述するように、スリット14が形成されている。検
査すべき電線Wの端部は、矢印Bで示すように、発光器
12と受光器13との間を通過される。このとき、電線
Wは、後述する移動クランプ装置6やインデックステー
ブル7のクランプ部64,71によって保持された状態
で、略一定速度で発光器12と受光器13との間を通過
されるようになっている。なお、上述したように発光器
12から照射される光が平行光であるので、光の発散が
なく、検査すべき電線端部が発光器12近くを通過する
場合も、受光器13近くを通過する場合にも、電線端部
によって遮られる光量は一定となる。また、照射光は、
受光器13に設けたスリット14を介して一定量に且つ
一定範囲に規定された状態で受光されるので、光量を正
確に検出できる。The light receiving surface 13S of the light receiver 13 is
And a slit 14 is formed in the light receiving surface 13S as described later. The end of the wire W to be inspected is passed between the light emitting device 12 and the light receiving device 13 as shown by the arrow B. At this time, the electric wire W is passed between the light emitter 12 and the light receiver 13 at a substantially constant speed while being held by the later-described moving clamp device 6 and the clamp portions 64 and 71 of the index table 7. Has become. Since the light emitted from the light emitter 12 is parallel light as described above, there is no divergence of light, and even when the end of the wire to be inspected passes near the light emitter 12, it passes near the light receiver 13. In this case, the amount of light blocked by the end of the wire is constant. The irradiation light is
Light is received in a state defined by a certain amount and a certain range through the slit 14 provided in the light receiver 13, so that the light amount can be accurately detected.
【0013】また、タイミングチャートを示す図2を参
照して、本実施例においては、チャンネル1(以下、C
H1という)に接続した第1の検査部A1を皮剥加工さ
れた電線端部が通過完了するタイミング(図においてa
で示す)、チャンネル2(以下、CH2という)に接続
した第2の検査部A2を皮剥加工された電線端部が通過
完了するタイミング(図においてbで示す)、および上
記第1の検査部A1を端子が圧着された電線端部が通過
完了するタイミング(図においてcで示す)が、この順
序で繰り返されるようになっている。そして、本実施例
の特徴とするところは、上記の各通過動作に完了に応じ
て、第1の検査部A1によって検査を行う第1の検査モ
ード、第2の検査部A2によって検査を行う第2の検査
モード、および検査を行わない非検査モードに、順次に
切り換えるようにし、且つ検査モードでのみ、皮剥ぎ加
工の良否を判別することにより、検査対象外の電線端部
を検査してしまうような誤検査をなくしたことである。Referring to FIG. 2 showing a timing chart, in this embodiment, channel 1 (hereinafter referred to as C
H1) at the timing at which the end of the stripped electric wire passes through the first inspection part A1 connected to the first inspection part A1 (a in the figure).
, The timing at which the end of the peeled wire passes through the second inspection part A2 connected to the channel 2 (hereinafter referred to as CH2) (indicated by b in the drawing), and the first inspection part A1 Are completed in this order (indicated by c in the figure) when the end of the wire to which the terminal is crimped passes. The present embodiment is characterized in that a first inspection mode in which an inspection is performed by the first inspection unit A1 and a second inspection mode in which an inspection is performed by the second inspection unit A2 in response to completion of each of the passing operations. The inspection mode is sequentially switched to the inspection mode of No. 2 and the non-inspection mode in which the inspection is not performed, and only in the inspection mode, the quality of the peeling process is determined, thereby inspecting the end of the electric wire outside the inspection target. This is to eliminate such false inspections.
【0014】図1を参照して、発光器12および受光器
13は、接続ケーブル15,16によって制御回路部2
0に接続されている。制御回路部20は、ケース21内
に後述する電気回路が収納されている。ケース21の正
面には、電源スイッチ22を始めとして、作業を行う品
番を表示する品番表示部23、CH1に接続した第1の
検査部A1の読取り値を表示するCH1表示部24a、
CH2に接続した第2の検査部A2の読取り値を表示す
るCH2表示部25a、基準値に対する上限の許容差を
表示する上限表示部29a、基準値に対する下限の許容
差を表示する下限表示部29b、検査中に点灯するRU
Nランプ26a、測定した線径の表示が固定されている
ときに点灯するHOLDランプ26b、検査品が上限値
を越えたときに点灯するHIランプ24b,25b、検
査品が下限値を下回ったときに点灯するLOWランプ2
4c,25c、および検査品が正常な範囲内にときに点
灯するOKランプ24d,25d、設定スイッチ27お
よびリセットスイッチ28等が配設されている。Referring to FIG. 1, light emitting device 12 and light receiving device 13 are connected to control circuit unit 2 by connection cables 15 and 16.
Connected to 0. The control circuit unit 20 houses an electric circuit described later in a case 21. On the front surface of the case 21, a power supply switch 22, a part number display part 23 for displaying a part number to be operated, a CH1 display part 24a for displaying a read value of the first inspection part A1 connected to CH1,
A CH2 display section 25a for displaying a read value of the second inspection section A2 connected to CH2, an upper limit display section 29a for displaying an upper limit tolerance for a reference value, and a lower limit display section 29b for displaying a lower limit tolerance for a reference value. RU lights up during inspection
N lamp 26a, HOLD lamp 26b that lights when the display of the measured wire diameter is fixed, HI lamps 24b and 25b that light when the inspection product exceeds the upper limit, and when the inspection product falls below the lower limit LOW lamp 2 that lights up
4c, 25c, and OK lamps 24d, 25d that light up when the inspection product is within a normal range, a setting switch 27, a reset switch 28, and the like are provided.
【0015】図3は、受光器13のスリット13Sに設
けられたスリット14の形状と、受光器13の動作原理
とを説明するための図である。図3を参照して説明する
と、受光器13の受光面13Sには、スリット14が形
成されている。このスリット14は、この実施例では幅
1mm、長さ10mmにされており、このスリット14
を含む受光面13S全面に発光部12からのレーザ光が
照射される。電線Wの端部は、スリット14に対してそ
の長さ方向に移動される。すなわち、電線Wの端部で遮
られる光の陰が、スリット14の一端から他端に向かっ
て移動するように、電線Wが発光部12と受光部13と
の間を通過される。また、電線Wの端部のうち、露出さ
れた芯線Cの陰がスリット14に交差するように、電線
Wの軸線方向の位置が規定されている。FIG. 3 is a diagram for explaining the shape of the slit 14 provided in the slit 13S of the light receiver 13 and the principle of operation of the light receiver 13. Referring to FIG. 3, a slit 14 is formed in the light receiving surface 13S of the light receiver 13. In this embodiment, the slit 14 has a width of 1 mm and a length of 10 mm.
Is irradiated with laser light from the light emitting unit 12. The end of the electric wire W is moved in the length direction with respect to the slit 14. That is, the electric wire W is passed between the light emitting unit 12 and the light receiving unit 13 such that the shade of light blocked by the end of the electric wire W moves from one end of the slit 14 to the other end. Further, the position of the electric wire W in the axial direction is defined so that the shadow of the exposed core wire C intersects the slit 14 at the end of the electric wire W.
【0016】受光部13では、スリット14を通して得
られるレーザ光の光量変化を検出し、それをアナログ出
力として取り出す。そして、その結果は制御回路部20
内で皮剥加工の良否の判定に用いられる。図4は本実施
例に係る電線端部の皮剥加工検査装置が設置された連続
端子圧着機の半図解平面図であり、図5は連続端子圧着
機の要部の概略側面図である。なお、以下においての左
右は、図においての左右であり、上下は図においての上
下である。The light receiving section 13 detects a change in the amount of laser light obtained through the slit 14 and extracts the change as an analog output. Then, the result is stored in the control circuit unit 20.
It is used to judge the quality of the peeling process. FIG. 4 is a half-illustrated plan view of a continuous terminal crimping machine in which the apparatus for inspecting the end of a wire according to the present embodiment is installed, and FIG. 5 is a schematic side view of a main part of the continuous terminal crimping machine. In addition, the left and right in the following are the left and right in the figure, and the up and down are the up and down in the figure.
【0017】図4を参照して、この連続端子圧着機の機
枠1には、図示しない電線繰り出しロールから繰り出さ
れる被覆電線Wを、紙面上下方向に延びる送給路Rに沿
って調尺しながら送給する各一対の送給ローラ2a,2
bと、送給路R上の被覆電線Wに対して、開閉運動によ
って切断、および被覆切込みを行う切断刃群3と、送給
路Rを挟んだ状態で切断刃群3の側部に配置された一対
の端子圧着装置4,5と、切断刃群3よりも送給方向K
上流側で電線Wをクランプするクランプ部64を有し、
電線Wの先端部Waを送給路Rと直交する面内で回動さ
せて端子圧着装置4に移動させる移動クランプ装置6
と、切断刃群3よりも送給方向K下流側で電線Wの後端
部Wbをクランプするクランプ部71を複数有し、送給
路Rと直交する面内で間欠的に回動させて端子圧着装置
5および排出部(図示せず)に移動させるインデックス
テーブル7とが設けられている。なお、図4は、電線W
の先端部Waに端子を圧着した後、電線Wの後端となる
部分を切断刃群3によって切断、被覆切込みを行おうと
している状態である。Referring to FIG. 4, in a machine frame 1 of the continuous terminal crimping machine, a covered electric wire W fed from an electric wire feeding roll (not shown) is measured along a feed path R extending in the vertical direction of the drawing. Pair of feed rollers 2a, 2
b, a cutting blade group 3 that cuts and cuts the coated electric wire W on the feed path R by opening and closing motion, and is disposed on a side portion of the cutting blade group 3 with the feed path R interposed therebetween. The pair of terminal crimping devices 4 and 5 and the feeding direction K
It has a clamp portion 64 for clamping the electric wire W on the upstream side,
A moving clamp device 6 for rotating the distal end Wa of the electric wire W in a plane orthogonal to the feed path R and moving the same to the terminal crimping device 4.
And a plurality of clamp portions 71 for clamping the rear end portion Wb of the electric wire W downstream of the cutting blade group 3 in the feeding direction K, and intermittently rotating in a plane orthogonal to the feeding path R. A terminal crimping device 5 and an index table 7 for moving to a discharge unit (not shown) are provided. FIG. 4 shows the electric wire W
After the terminal is crimped to the front end Wa of the wire W, the rear end portion of the electric wire W is cut by the cutting blade group 3 to perform a coating cut.
【0018】そして、本実施例に係る皮剥加工検査装置
の一対の検査部A1,A2は、それぞれ、移動クランプ
装置6による電線端部の移動路と、インデックステーブ
ル7による電線端部の移動路とに配置されている。図4
を参照して、切断刃群3は、一対の切断刃3aの、送給
方向Kの前後に、各一対のストリップ刃3bを配した公
知の構成のものである。これら切断刃3aおよびストリ
ップ刃3bによる切断後に、移動クランプ装置6のクラ
ンプ部64を、後述する前後移動機構(図示せず)によ
って前後動させて、切断された被覆部分を剥ぎ取り、電
線WのストリップSを形成するようにしている。The pair of inspection sections A1 and A2 of the peeling inspection apparatus according to the present embodiment respectively include a moving path of the wire end by the moving clamp device 6 and a moving path of the wire end by the index table 7. Are located in FIG.
, The cutting blade group 3 has a known configuration in which a pair of strip blades 3b are arranged before and after the pair of cutting blades 3a in the feeding direction K. After the cutting by the cutting blade 3a and the strip blade 3b, the clamp portion 64 of the moving clamp device 6 is moved back and forth by a back-and-forth moving mechanism (not shown) to peel off the cut covering portion and to cut the wire W. The strip S is formed.
【0019】図4および図5を参照して、各端子圧着装
置4,5は、機枠1の上面に固定された基台41に、固
定側アンビル42が取り付けられ、このアンビル42の
上方に、上下動するクリンパ43が配置された公知の構
成のものである。この端子圧着装置4,5においては、
複数連結された端子Tを、1つずつ電線Wのストリップ
Sにかしめながら、各端子Tと後続の連結端子列との間
を切断するようになっている。Referring to FIGS. 4 and 5, each of the terminal crimping devices 4 and 5 has a fixed side anvil 42 attached to a base 41 fixed to the upper surface of the machine frame 1. And a known configuration in which a crimper 43 that moves up and down is arranged. In the terminal crimping devices 4 and 5,
While crimping the plurality of connected terminals T one by one to the strip S of the electric wire W, a cut is made between each terminal T and the subsequent connection terminal row.
【0020】図4を参照して、上記移動クランプ装置6
は、紙面方向に沿って一対が配置されるとともに機枠1
の上面1aに固定された柱体61(図においては1つの
みを示した)と、柱体61によって回動自在に支持され
た軸62と、基端部がこの軸62と一体回動可能で且つ
軸方向に相対移動可能に取り付けられたアーム63と、
このアーム63の先端部に固定された上記クランプ部6
4と、軸62およびアーム63を介してクランプ部64
を所定角度範囲で回動させる回動機構(図示せず)と、
切り込みされた電線Wの端部をストリップするために、
アーム63およびクランプ部64を送給路Rに沿って前
後移動させる前後移動機構(図示せず)とを備えてい
る。Referring to FIG. 4, the moving clamp device 6
Are paired along the paper surface direction and the machine frame 1
Column 61 (only one is shown in the figure), a shaft 62 rotatably supported by the column 61, and a base end rotatable with the shaft 62. And an arm 63 mounted so as to be relatively movable in the axial direction.
The clamp 6 fixed to the tip of the arm 63
4 and a clamp portion 64 via a shaft 62 and an arm 63.
A rotating mechanism (not shown) for rotating the lens in a predetermined angle range,
In order to strip the end of the cut wire W,
A longitudinal movement mechanism (not shown) for moving the arm 63 and the clamp portion 64 forward and backward along the feeding path R is provided.
【0021】この連続端子圧着機においては、図4に示
す状態から、切断刃具3によって、電線が切断され、移
動クランプ装置6およびインデックステーブル7の前後
方向移動によって皮剥加工が行われる。そして、切断
刃群3に対し送給方向Kの上流側にある電線Wの前端部
が、第1の検査部A1を通過して端子圧着装置4へ移動
されて端子を圧着された後、切断刃群3に対し送給方
向Kの下流側にある電線Wの後端部が、送給路R上から
第2の検査部A2を通過して端子圧着装置5へ移動され
て端子を圧着され、その後、上記前端部が、上記再び
第1の検査部A1を通過して送給路R上に戻され、その
後、切断刃群3に対し送給方向Kの上流側にある電線
を送給路Rに沿って送給し、図4に示す状態に戻るよう
になっている。そして、上記の〜の動作に対応し
て、図2に示したような、検出信号が得られることにな
る。なお、上記の工程で、端子圧着装置5に移動され
た電線は、インデックステーブル7のさらなる回転によ
り端子圧着装置5への移動方向に沿って排出されるよう
になっている。In this continuous terminal crimping machine, the electric wire is cut by the cutting blade 3 from the state shown in FIG. 4 and the moving clamp device 6 and the index table 7 are moved in the front-rear direction to perform a peeling process. Then, the front end of the electric wire W on the upstream side in the feeding direction K with respect to the cutting blade group 3 is moved to the terminal crimping device 4 through the first inspection part A1 to crimp the terminal, and then cut. The rear end of the electric wire W on the downstream side in the feed direction K with respect to the blade group 3 is moved from the feed path R to the terminal crimping device 5 through the second inspection part A2 to crimp the terminal. After that, the front end portion is returned to the feed path R after passing through the first inspection portion A1 again, and thereafter, the wire on the upstream side in the feed direction K is fed to the cutting blade group 3. The paper is fed along the road R and returns to the state shown in FIG. Then, a detection signal as shown in FIG. 2 is obtained corresponding to the above operations (1) to (4). In addition, the electric wire moved to the terminal crimping device 5 in the above process is discharged along the moving direction to the terminal crimping device 5 by further rotation of the index table 7.
【0022】図6は、本実施例に係る皮剥加工検査装置
の電気的構成を示すブロック図である。図6を参照し
て、制御回路部20には、この制御回路全体を制御する
制御中枢としてのCPU30が備えられている。また、
CPU30に動作クロックとなるマシンクロックを与え
るためのクロック31、モード設定を含む動作プログラ
ム等が格納されたEEPROM32および皮剥加工の良
否を判定するための基準値データ(正常な場合の電線種
類ごとの芯線径に関するデータ等)が記憶されたEEP
ROM33が設けられ、CPU30に接続されている。
なお、上述のEPROM33は、バックアップ付きSR
AMを用いても良い。FIG. 6 is a block diagram showing the electrical configuration of the peeling inspection apparatus according to this embodiment. Referring to FIG. 6, the control circuit unit 20 includes a CPU 30 as a control center for controlling the entire control circuit. Also,
A clock 31 for giving a machine clock as an operation clock to the CPU 30, an EEPROM 32 storing an operation program including a mode setting and the like, and reference value data for judging pass / fail of the skinning process (core wires for each wire type in a normal case) EEP in which data on diameters etc. are stored
A ROM 33 is provided and connected to the CPU 30.
Note that the above-described EPROM 33 has a backup SR
AM may be used.
【0023】さらに、CPU30には、表示/操作スイ
ッチコントロールIC34を介して表示器35および操
作スイッチ36が接続されている。操作スイッチ36に
は、前述した検査条件設定スイッチ27(図1参照)が
含まれている。表示器35には、品番表示部23、チャ
ンネル1表示部24a、チャンネル2表示部24b、上
限表示部25a、下限表示部25b、RUNランプ26
a、HOLDランプ26b、HIランプ24b,25
b、LOWランプ24c,25c、およびOKランプ2
4d,25d(図1参照)が含まれている。Further, a display 35 and an operation switch 36 are connected to the CPU 30 via a display / operation switch control IC 34. The operation switch 36 includes the above-described inspection condition setting switch 27 (see FIG. 1). The display 35 includes a product number display section 23, a channel 1 display section 24a, a channel 2 display section 24b, an upper limit display section 25a, a lower limit display section 25b, and a RUN lamp 26.
a, HOLD lamp 26b, HI lamps 24b, 25
b, LOW lamps 24c and 25c, and OK lamp 2
4d and 25d (see FIG. 1).
【0024】さらに、電源回路37が備えられ、CPU
30に接続されている。この電源回路37には、各検査
部A1,A2が接続されており、それぞれセンサーコン
トローラ38を介して、発光器12に電源が供給されて
いる。発光器12、すなわち半導体レーザ12は、電源
回路37から供給される電力により半導体レーザ12か
らレーザ光が出力される。このレーザ光は受光器13で
受光される。そして、前述のように、受光された光の光
量変化は各検査部A1,A2の受光器13からのアナロ
グ電圧として取り出され、アナログ保護回路39を介し
て、CPU30内のA/Dコンバータ30aに入力さ
れ、ディジタル信号に変換されるようになっている。な
お、30bは、ウォッチドッグタイマであり、ノイズ等
によりソフトウェアが正常に作動しなくなったときに、
このウォッチドッグタイマ30bの働きでCPU30に
強制的に割り込みがかかるようになっており、動作の信
頼性を向上させている。Further, a power supply circuit 37 is provided.
30. The inspection units A1 and A2 are connected to the power supply circuit 37, and power is supplied to the light emitter 12 via the sensor controller 38, respectively. The light emitting device 12, that is, the semiconductor laser 12 outputs a laser beam from the semiconductor laser 12 by the power supplied from the power supply circuit 37. This laser light is received by the light receiver 13. Then, as described above, the change in the light amount of the received light is extracted as an analog voltage from the light receiver 13 of each of the inspection units A1 and A2, and sent to the A / D converter 30a in the CPU 30 via the analog protection circuit 39. It is input and converted to a digital signal. Reference numeral 30b denotes a watchdog timer, which is used when software does not operate normally due to noise or the like.
The watchdog timer 30b functions to forcibly interrupt the CPU 30, thereby improving the operation reliability.
【0025】CPU30では、上記ディジタル信号をE
EPROMに記憶されている基準値データと比較するこ
とにより、電線端部の皮剥加工が適切に行われたか否か
を判別して、その結果を良否判定回路40に与える。そ
して、判定結果が合格レベルのときは、その検査部A
1,A2に対応するチャンネルのOKランプ24d,2
5dが点灯される。The CPU 30 converts the digital signal into E
By comparing it with the reference value data stored in the EPROM, it is determined whether or not the stripping of the end of the wire has been properly performed, and the result is given to the pass / fail determination circuit 40. If the result of the determination is a pass level, the inspection unit A
OK lamps 24d, 2 of channels corresponding to 1, A2
5d is turned on.
【0026】図7は、受光器13で検出される光量変化
を電圧値として取り出した信号レベルの変化を表す図で
あり、この電圧信号がCPU30へ与えられる。そし
て、CPU30では、この電圧信号の変化に基づいて、
皮剥加工の良否を判定する。なお、CPU30には、ノ
イズ等によりソフトウェアが正常に作動しなくなったと
きに、CPU30に強制的に割り込みをかけるためのも
のである。リセット回路41は、検査が不合格となった
とき等に検査が中止されるため、これを前述したリセッ
トスイッチ28によって解除するためのものである。ブ
ザー42は、検査不合格のときに、警告音を発するため
のものである。外部信号入力回路43は、本皮剥加工検
査装置を端子圧着装置4,5等と連動させる(例えば皮
剥不良の場合に端子圧着を行わないようにする等)場合
に、端子圧着装置4,5の動作信号を入力するためのも
のである。FIG. 7 is a diagram showing a change in signal level obtained by extracting a change in the amount of light detected by the light receiver 13 as a voltage value, and this voltage signal is supplied to the CPU 30. Then, in the CPU 30, based on the change of the voltage signal,
The quality of the peeling is determined. The CPU 30 is for forcibly interrupting the CPU 30 when software does not operate normally due to noise or the like. The reset circuit 41 is for canceling the inspection when the inspection is rejected or the like and canceling the inspection by the reset switch 28 described above. The buzzer 42 emits a warning sound when the inspection fails. The external signal input circuit 43 connects the terminal peeling processing inspection device to the terminal crimping devices 4 and 5 and the like (for example, in a case where the terminal crimping is not performed in the case of peeling failure, etc.), the terminal crimping devices 4 and 5 are used. This is for inputting an operation signal.
【0027】図8ないし図10は、CPU30によって
行われる皮剥加工の良否判定処理のフロー図である。次
に、これらの図に従って説明する。まず、第1の検査部
A1によって検査を行うための第1の検査モードに初期
設定し(ステップs1)、次の図10のCH1の通過チ
ェックサブルーチンプログラムに進む。ここでは、後に
詳述する所定の処理により、CH1接続の第1の検査部
A1に関して、検出電圧Vsが監視され、検出電圧Vs
の変化に基づいて通過動作が認識されるとともに、電線
通過中に、より低い検出電圧Vsが検出される毎に、こ
れが第1の検査部A1によるボトム電圧Vbとして置き
換えられ記憶される(ステップs2)。FIGS. 8 to 10 are flow charts of the processing for judging the quality of the skinning process performed by the CPU 30. FIG. Next, description will be made with reference to these figures. First, a first inspection mode for performing an inspection by the first inspection unit A1 is initialized (step s1), and the process proceeds to the next CH1 pass check subroutine program of FIG. Here, the detection voltage Vs is monitored for the first inspection unit A1 connected to CH1 by a predetermined process described in detail later, and the detection voltage Vs
Is recognized based on the change in the voltage, and every time a lower detection voltage Vs is detected during the passage of the electric wire, this voltage is replaced and stored as the bottom voltage Vb by the first inspection unit A1 (step s2). ).
【0028】次に、CH1接続の第1の検査部A1を電
線端部が通過したか否かが判断され(ステップs3)、
第1の検査部A1を通過していない場合には、ステップ
s12以降に進み、CH2接続の第2の検査部A2に関
しての処理が行われる。第1の検査部A1を電線端部が
通過した場合には、第1の検査モードに設定されている
ことを条件として、非検査モードに切り換えた(ステッ
プs3〜s5)後、ボトム電圧Vbが合格レベル否かを
判断し(ステップs6)、合格の場合はCH1のOKラ
ンプ24dを点灯し(ステップs7)、不合格の場合は
CH1のHIランプ24b又はLOWランプ24cの何
れかのランプが点灯する(ステップs8)。HIランプ
24bが点灯するのは、ボトム電圧Vbが上限値を越え
た場合であり、LOWランプ24cが点灯するのは、ボ
トム電圧Vbが下限値を下回った場合である。Next, it is determined whether or not the end of the electric wire has passed the first inspection part A1 of the CH1 connection (step s3),
If the signal does not pass through the first inspection unit A1, the process proceeds to step s12 and thereafter, and the process regarding the second inspection unit A2 connected to CH2 is performed. When the end of the electric wire passes through the first inspection section A1, the mode is switched to the non-inspection mode (steps s3 to s5) on condition that the first inspection mode is set, and then the bottom voltage Vb is reduced. It is determined whether or not the pass level is satisfied (step s6). If the pass level is passed, the OK lamp 24d of the CH1 is turned on (step s7). If the pass level is not passed, either the HI lamp 24b or the LOW lamp 24c of the CH1 is turned on. (Step s8). The HI lamp 24b lights when the bottom voltage Vb exceeds the upper limit, and the LOW lamp 24c lights when the bottom voltage Vb falls below the lower limit.
【0029】第1の検査部A1の通過はあったものの、
第1の検査モードに設定されていない場合には(ステッ
プs3,s4)、第2の検査モードになっているときに
第1の検査モードに切り換え(ステップs9,s1
0)、第2の検査モードになっていないときに第2の検
査部A2の不通過エラーと判断しHOLDランプ26b
を点灯する(ステップs9,s11)。Although the first inspection part A1 has passed,
When the first inspection mode is not set (steps s3 and s4), the mode is switched to the first inspection mode when the second inspection mode is set (steps s9 and s1).
0), when it is not in the second inspection mode, it is determined that the second inspection unit A2 has a non-passage error, and the HOLD lamp 26b
Is turned on (steps s9, s11).
【0030】ステップs12では、図10に示すサブル
ーチンプログラムによる処理と同様の処理(フローの図
示は省略した)が行われ、CH2接続の第1の検査部A
2に関して、検出電圧Vsが監視され、検出電圧Vsの
変化に基づいて通過動作が認識されるとともに、電線通
過中に、より低い検出電圧Vsが検出される毎に、これ
が第2の検査部A2によるボトム電圧Vbとして置き換
えられ記憶される。In step s12, the same processing as the processing by the subroutine program shown in FIG. 10 (the flow is not shown) is performed, and the first inspection unit A for the CH2 connection is performed.
2, the detection voltage Vs is monitored, the passing operation is recognized based on the change in the detection voltage Vs, and each time a lower detection voltage Vs is detected during the passage of the electric wire, this is detected by the second inspection unit A2. And is stored as the bottom voltage Vb.
【0031】次に、CH2接続の第2の検査部A2に対
する通過、不通過が判断され(ステップs13)、通過
していない場合には、ステップs2に戻り、再び第1の
検査部A1に関しての処理が行われる。第2の検査部A
2に対する通過があった場合には、非検査モードに設定
されていることを条件として、第2の検査モードに切り
換えた(ステップs13〜s15)後、ボトム電圧Vb
が合格レベル否かを判断し(ステップs16)、合格の
場合は、CH2のOKランプ25dを点灯し(ステップ
s17)、不合格の場合は、CH2のHIランプ25b
又はLOWランプ25cの何れかのランプを点灯する
(ステップs18)。Next, it is determined whether the CH2 connection has passed or not passed to the second inspection unit A2 (step s13). If it has not passed, the process returns to step s2, and the first inspection unit A1 is again operated. Processing is performed. Second inspection unit A
If there is a passage to the second inspection mode, the second inspection mode is switched (steps s13 to s15) on condition that the non-inspection mode is set, and then the bottom voltage Vb is set.
Is determined to be a pass level (step s16). If the level is acceptable, the OK lamp 25d of CH2 is turned on (step s17). If the level is not acceptable, the HI lamp 25b of CH2 is passed.
Alternatively, one of the LOW lamps 25c is turned on (step s18).
【0032】一方、第2の検査部A2の通過はあったも
のの、非検査モードに設定されていない場合には、第1
の検査部A1の不通過エラーと判断しHOLDランプ2
6bを点灯する(ステップs13,s14,s19)。
次に、ステップs2に相当する通過チェックの処理につ
いて、図10のフローを参照して説明する。まず、CH
1接続の第1の検査部A1の検出電圧Vsが読み取られ
る(ステップn1)。読み取った検出電圧Vsが異常電
圧である場合には、CH2表示部25aに、第1の検査
部A1の電圧が異常である旨に対応するエラー表示を行
う(ステップn2,n14)。On the other hand, if there is a passage through the second inspection section A2 but the non-inspection mode is not set, the first
HOLD lamp 2
6b is turned on (steps s13, s14, s19).
Next, the pass check processing corresponding to step s2 will be described with reference to the flow of FIG. First, CH
The detection voltage Vs of the one connection first inspection unit A1 is read (step n1). If the read detection voltage Vs is an abnormal voltage, an error display corresponding to the fact that the voltage of the first inspection unit A1 is abnormal is displayed on the CH2 display unit 25a (steps n2 and n14).
【0033】フロー中、A,Bは図7における非通過領
域か通過中領域かに対応するフラッグである。Aは今回
読取り時の領域を示す今回フラッグであり、Bは前回読
取り時の領域を示す前回フラッグである。非通過領域か
通過中領域かの判定は、検出電圧Vsと無遮断電圧Vcc
との比較で判定されるが、検出電圧Vsのばらつき等を
考慮して、所定のマージンαが加味され、Vcc−αとの
比較で判定されるようにしている。In the flow, A and B are flags corresponding to the non-passing area or the passing area in FIG. A is the current flag indicating the area at the time of the current reading, and B is the previous flag indicating the area at the time of the previous reading. The determination of the non-passing area or the passing area is performed by detecting the detection voltage Vs and the non-cutoff voltage Vcc.
Is determined by comparing with Vcc−α, taking into account a variation in the detection voltage Vs and the like, taking a predetermined margin α into consideration.
【0034】検出電圧の変化が図7において左側の非通
過領域から通過中領域に入り右側の非通過領域に以降す
る場合に基づいて説明すると、ステップn1での読取り
がVcc−α≦Vsの非通過領域で行われた場合(ステッ
プn3)、非通過領域に対応して今回フラッグAを1と
する(ステップn4)。前回の読み取り終了時に対応す
る前回フラッグBは非通過領域に対応して1であるので
(ステップn5)、前回フラッグBを今回フラッグAで
置き換えて(ステップn7)、主プログラムに戻ること
になる。A description will be given based on the case where the change in the detection voltage is from the non-passing area on the left side to the passing area in FIG. 7 and thereafter to the non-passing area on the right side. If it is performed in the pass area (step n3), the current flag A is set to 1 corresponding to the non-pass area (step n4). Since the previous flag B corresponding to the end of the previous reading is 1 corresponding to the non-passing area (step n5), the previous flag B is replaced with the current flag A (step n7), and the process returns to the main program.
【0035】その後、ステップn1での読取りがVs<
Vcc−αの通過中領域で行われた場合(ステップn
3)、通過中領域に対応して今回フラッグAを2とする
(ステップn8)。次にステップn9では、前回の読取
りと今回の読取りとの間で、非通過領域から通過領域に
切り換わったのか否かが判別される。切り換わった場合
には、読み取った検出電圧Vsをボトム電圧Vbとした
(ステップn9,n13)後、前回フラッグBを今回フ
ラッグAで置き換えて(ステップn7)、主プログラム
に戻る。Thereafter, the reading at step n1 is Vs <
Vcc-α is performed in the passing area (step n
3) The current flag A is set to 2 corresponding to the passing area (step n8). Next, in step n9, it is determined whether or not the non-passing area has been switched to the passing area between the previous reading and the current reading. In the case of switching, the read detection voltage Vs is set to the bottom voltage Vb (steps n9 and n13), the previous flag B is replaced with the current flag A (step n7), and the process returns to the main program.
【0036】前回の読取りも通過中領域のものである場
合、すなわち通過中領域での読取りが継続されている場
合には(ステップn9)、読み取った検出電圧Vsと前
回の読取りで記憶したボトム電圧Vbとを比較し(ステ
ップn10)、検出電圧Vsの方が小さいときのみに、
この検出電圧Vsを新たなボトム電圧Vbとして記憶し
(ステップn11)、その後、前回フラッグBを今回フ
ラッグAで置き換えて(ステップn7)、主プログラム
に戻る。If the previous reading is also in the passing area, that is, if reading in the passing area is continued (step n9), the read detection voltage Vs and the bottom voltage stored in the previous reading are read. Vb (step n10), and only when the detection voltage Vs is smaller,
This detected voltage Vs is stored as a new bottom voltage Vb (step n11), and thereafter, the previous flag B is replaced with the current flag A (step n7), and the process returns to the main program.
【0037】次に、通過中領域から非通過領域に切り換
わった場合には、ステップn1〜ステップn3を経てス
テップn4にて今回フラッグAが非通過領域に対応する
1とされ、これが前回フラッグBと異なることから(ス
テップn5)、非通過領域への切り換わりが判別され
る。すなわち、通過動作の終了が確認され、記憶されて
いるボトム電圧Vbが芯線径として認識される(ステッ
プn6)。その後、前回フラッグBを今回フラッグAで
置き換えて(ステップn7)、主プログラムに戻る。そ
して、以上のようして求めたボトム電圧Vbが、上限を
示す第1基準値V H と下限を示す第2基準値VL との間
にあるか否かによって、合格か否かが判別されるのであ
る。Next, switching from the passing area to the non-passing area is performed.
If it changes, the process goes through steps n1 to n3.
This time at step n4, flag A corresponds to the non-passing area
1 because this is different from the previous flag B
Step n5), switching to the non-passing area is determined.
You. That is, the end of the passing operation is confirmed and stored
Is recognized as the core wire diameter (step
N6). After that, the last time Flag B was replaced with Flag A this time
Replace (step n7) and return to the main program. So
Then, the bottom voltage Vb obtained as described above is
First reference value V shown HAnd the second reference value V indicating the lower limitLBetween
The pass / fail is determined based on whether
You.
【0038】この実施例によれば、次の通過動作が、何
れか1の検査部A1,A2における、検査対象である皮
剥ぎ電線端部のものである場合にのみ、その検査部A
1,A2による検査モードに切り換え、この検査モード
でのみ、皮剥ぎ加工の良否を判別する。したがって、検
査対象外の電線端部を検査してしまうような誤検査をな
くすことができ、しかも、1の制御回路部20を用い
て、2つの検査部A1,A2で検査を行うことが可能と
なるので、構造を簡素化することができる。According to this embodiment, only when the next passing operation is for the end of the stripped electric wire to be inspected in any one of the inspection units A1 and A2, the inspection unit A
The inspection mode is switched to A1, A2, and only in this inspection mode, the quality of the peeling process is determined. Therefore, it is possible to eliminate an erroneous inspection such as inspecting an end of an electric wire that is not an inspection target, and furthermore, it is possible to perform an inspection using two control units A1 and A2 using one control circuit unit 20. Therefore, the structure can be simplified.
【0039】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、図2の各通過動作のタイミングa,b,c
の順序としては、b,a,cの順であっても良いし、ま
た、a,c,bの順とすることも可能である。これらの
場合にも、通過動作の順序に応じたモード切り換えを行
うようにする。また、検査対象の皮剥ぎ電線端部と、検
査対象外の端子付き電線端部とが交互に通過される、第
1の検査部A1のみに対応して、本皮剥加工検査装置を
適用することもできる。この場合、モード切換手段は、
検査モードと非検査モードを交互に切り換えることにな
る。この場合においても、検査対象外の電線端部を検査
してしまうような誤検査を確実になくすことができる。It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and the timings a, b, c of the respective passing operations shown in FIG.
May be in the order of b, a, c, or may be in the order of a, c, b. Also in these cases, mode switching is performed according to the order of the passing operation. Further, the present peeling inspection apparatus is applied to only the first inspection section A1 in which the end of the stripped electric wire to be inspected and the end of the terminal-attached electric wire not to be inspected are alternately passed. Can also. In this case, the mode switching means
The inspection mode and the non-inspection mode are alternately switched. Also in this case, it is possible to reliably eliminate an erroneous inspection that inspects the end of the electric wire that is not to be inspected.
【0040】その他、本発明の要旨を変更しない範囲で
種々の変更を施すことが可能である。In addition, various changes can be made without changing the gist of the present invention.
【0041】[0041]
【発明の効果】請求項1に係る発明によれば、次に、検
査対象である皮剥ぎ電線端部が通過する場合のみに、予
め検査モードに切り換えて皮剥ぎ加工の良否を判別する
ので、検査対象外の電線端部を検査してしまうような誤
検査を確実になくすことができる。According to the first aspect of the present invention, the mode is switched to the inspection mode in advance and the quality of the stripping process is determined only when the end of the stripped electric wire to be inspected passes. It is possible to reliably eliminate an erroneous inspection that inspects the end of the electric wire that is not to be inspected.
【0042】また、請求項2に係る発明によれば、次の
通過動作が、何れか1の検査部における、検査対象であ
る皮剥ぎ電線端部のものである場合にのみ、その検査部
による検査モードに切り換え、この検査モードでのみ、
皮剥ぎ加工の良否を判別する。したがって、検査対象外
の電線端部を検査してしまうような誤検査をなくすこと
ができ、また、1の良否判別手段を用いて、2つの検査
部で検査を行うことが可能となるので、構造を簡素化す
ることができる。According to the second aspect of the present invention, only when the next passing operation is the end of the stripped electric wire to be inspected in any one of the inspecting units, the inspecting unit performs the next passing operation. Switch to inspection mode, only in this inspection mode,
The quality of the skinning process is determined. Therefore, it is possible to eliminate an erroneous inspection that inspects the end of the electric wire that is not the inspection target, and it is possible to perform the inspection with the two inspection units by using one pass / fail determination unit. The structure can be simplified.
【図1】この発明の一実施例に係る電線端部の皮剥加工
検査装置の構成を示す図解図である。FIG. 1 is an illustrative view showing the configuration of a wire end peeling inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;
【図2】各検査部の検出信号とモードの切り換えの関係
を示すタイミングチャートである。FIG. 2 is a timing chart showing a relationship between a detection signal of each inspection unit and mode switching.
【図3】受光器の受光面に設けられたスリットの形状
と、受光器の動作原理とを説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a shape of a slit provided on a light receiving surface of the light receiver and an operation principle of the light receiver.
【図4】本皮剥加工検査装置が設けられた連続端子圧着
機の図解的平面図である。FIG. 4 is a schematic plan view of a continuous terminal crimping machine provided with the present peeling inspection apparatus.
【図5】連続端子圧着機の概略側面図である。FIG. 5 is a schematic side view of a continuous terminal crimping machine.
【図6】本皮剥加工検査装置の電気的な構成を示すブロ
ック図である。FIG. 6 is a block diagram showing an electrical configuration of the present peeling inspection apparatus.
【図7】受光機で検出される光量変化を電圧値として取
り出した信号レベルの変化を表す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a change in signal level obtained by extracting a change in the amount of light detected by the light receiver as a voltage value.
【図8】CPUによって行われる皮剥加工の良否判定処
理のフローである。FIG. 8 is a flowchart of a pass / fail determination process performed by the CPU.
【図9】CPUによって行われる皮剥加工の良否判定処
理のフローである。FIG. 9 is a flowchart of a pass / fail determination process performed by the CPU.
【図10】CPUによって行われる皮剥加工の良否判定
処理のフローのうち、CH1通過チェックのサブルーチ
ンのフローである。FIG. 10 is a flow chart of a subroutine of a CH1 passage check in a flow of a pass / fail judgment process of the skinning performed by the CPU.
12 発光器 13 受光器 A1 第1の検査部 A2 第2の検査部 W 電線 20 制御回路部 30 CPU 33 EEROM Reference Signs List 12 light emitting device 13 light receiving device A1 first inspection unit A2 second inspection unit W electric wire 20 control circuit unit 30 CPU 33 EEPROM
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−216044(JP,A) 特開 昭58−95911(JP,A) 特開 昭59−217137(JP,A) 特開 昭61−165646(JP,A) 特開 昭62−198739(JP,A) 特開 平5−296936(JP,A) 特開 昭62−198739(JP,A) 実開 昭61−122510(JP,U) 実開 昭63−167245(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/84 - 21/90 H02G 1/12 H01B 13/00 G01R 31/02 Continuation of the front page (56) References JP-A-59-216044 (JP, A) JP-A-58-95911 (JP, A) JP-A-59-217137 (JP, A) JP-A-61-165646 (JP) JP-A-62-198739 (JP, A) JP-A-5-296936 (JP, A) JP-A-62-198739 (JP, A) Japanese Utility Model Application No. Sho 61-122510 (JP, U) Japanese Utility Model Application 63-167245 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G01N 21/84-21/90 H02G 1/12 H01B 13/00 G01R 31/02
Claims (2)
し、発光部から受光部に向けて光を照射し、受光部の受
光光量に応じた信号を出力する検査部を備え、 上記発光部から受光部への光路中を横切って、検査対象
としての、皮剥ぎされた電線端部と、検査対象外の、端
子が圧着された電線端部とを、交互に通過させる電線端
部の皮剥加工検査装置であって、 上記受光部からの信号に基づいて電線端部の通過を検知
し、検知毎に、検査モードと非検査モードとに交互に切
り換えるモード切換手段、および上記検査モードでの
み、上記受光部から電線端部の通過に対応する信号を受
け、当該信号を予め設定した比較基準値と比較し、皮剥
ぎ加工の良否を判断する良否判別手段、を含むことを特
徴とする電線端部の皮剥加工検査装置。An inspection unit for arranging a light emitting unit and a light receiving unit to face each other at a predetermined interval, irradiating light from the light emitting unit to the light receiving unit, and outputting a signal corresponding to the amount of light received by the light receiving unit; A wire end that passes through the optical path from the light-emitting portion to the light-receiving portion and alternately passes through a stripped wire end portion to be inspected and a non-tested wire end portion to which the terminal is crimped. A mode switching means for detecting passage of an end of a wire based on a signal from the light receiving unit, and alternately switching between an inspection mode and a non-inspection mode for each detection, and the inspection Only in the mode, a pass / fail judgment means for receiving a signal corresponding to the passage of the end of the electric wire from the light receiving section, comparing the signal with a preset comparative reference value, and judging pass / fail of the skinning process. Inspection device for stripping of wire ends.
対向配置し、発光部から受光部に向けて光を照射し、受
光部の受光光量に応じた信号を出力する、第1の検査部
および第2の検査部を備え、 それぞれの検査部において所定の電線端部の通過動作を
予め設定した通過順序で繰り返す、電線端部の皮剥加工
検査装置であって、 上記各受光部からの信号に基づいて上記各通過動作を検
知し、検知毎に、上記予め設定した通過順序に基づき、
検知した通過動作の次の通過動作に対応するように、そ
れぞれの検査部において、検査を行う検査モード、およ
び検査を行わない非検査モード、に択一的に切り換える
モード切換手段、および上記各検査モードでのみ、対応
する受光部から電線端部の通過に対応する信号を受け、
当該信号を予め設定した比較基準値と比較し、皮剥ぎ加
工の良否を判断する良否判別手段、を含むことを特徴と
する電線端部の皮剥加工検査装置。A first light-emitting unit and a light-receiving unit which are arranged opposite to each other at a predetermined interval, irradiate light from the light-emitting unit to the light-receiving unit, and output a signal corresponding to a light-receiving amount of the light-receiving unit; An inspection apparatus for peeling a wire end, comprising an inspection unit and a second inspection unit, wherein a passing operation of a predetermined wire end is repeated in a predetermined passing order in each inspection unit. Each passing operation is detected based on the signal of the above, and for each detection, based on the preset passing order,
Mode switching means for selectively switching between an inspection mode in which inspection is performed and a non-inspection mode in which inspection is not performed in each inspection unit so as to correspond to a passing operation next to the detected passing operation; Only in the mode, receive the signal corresponding to the passage of the wire end from the corresponding light receiving section,
A stripping inspection apparatus for an end of an electric wire, comprising: a quality judging means for comparing the signal with a preset comparison reference value to judge the quality of the stripping.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5216350A JP2882249B2 (en) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | Wire stripping inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5216350A JP2882249B2 (en) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | Wire stripping inspection equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0763684A JPH0763684A (en) | 1995-03-10 |
| JP2882249B2 true JP2882249B2 (en) | 1999-04-12 |
Family
ID=16687180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5216350A Expired - Lifetime JP2882249B2 (en) | 1993-08-31 | 1993-08-31 | Wire stripping inspection equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2882249B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109301759A (en) * | 2018-12-04 | 2019-02-01 | 国网辽宁省电力有限公司锦州供电公司 | Power distribution line inspection and peeling tools |
-
1993
- 1993-08-31 JP JP5216350A patent/JP2882249B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0763684A (en) | 1995-03-10 |
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