JP3026289B2 - Manufacturing method of thermal head - Google Patents
Manufacturing method of thermal headInfo
- Publication number
- JP3026289B2 JP3026289B2 JP25691192A JP25691192A JP3026289B2 JP 3026289 B2 JP3026289 B2 JP 3026289B2 JP 25691192 A JP25691192 A JP 25691192A JP 25691192 A JP25691192 A JP 25691192A JP 3026289 B2 JP3026289 B2 JP 3026289B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating element
- resistance value
- thermal head
- trimming
- heating elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ワードプロセッサ、パ
ソコン等の出力装置としてのサーマルプリンタやファク
シミリ等に使用されるサーマルヘッドの製造方法に関
し、特に、サーマルヘッドの各発熱素子の抵抗値が均一
なサーマルヘッドの製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a thermal head used for a thermal printer or a facsimile as an output device of a word processor, a personal computer or the like. The present invention relates to a method for manufacturing a thermal head.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、サーマルヘッドは、印刷時の騒音
が小さく、また、現像・定着工程が不要なため取り扱い
が容易である等の利点を有しており、広く使用されてい
る。このようなサーマルヘッドは、絶縁基板上に列設さ
れた複数の個別電極とこれらの先端部に対応して配置さ
れた共通電極との間にそれらを接続する発熱素子が形成
されている。そして、選択された個別電極および共通電
極間に電力を供給して、その部分の発熱素子を発熱さ
せ、熱記録(印字)を行うようにしている。ところで、
前記各個別電極および共通電極間に配設された各発熱素
子(すなわち、各印字ドットに対応する発熱素子の抵抗
値が均一でないと、発熱した際の発熱素子の温度に差が
生じる。そうすると、熱転写紙等に印字を行った際、印
字した「字」または「図」等に濃度ムラが発生する。前
記濃度ムラの発生を防止するために、従来、前記各ドッ
トに対応する発熱素子の抵抗値を均一にすることが行わ
れている。これは、発熱素子に抵抗破壊を生じない範囲
で所定の電界を印加すると、その電界強度に応じて発熱
素子の抵抗値が減少するという性質を利用している。こ
のような発熱素子の抵抗値を均一化する従来の技術とし
て、たとえば、特開昭61−83053号公報が知られ
ている。この公報に記載されたものは、発熱素子に幅が
一定で電圧値の異なるトリミングパルス、または、幅お
よび電圧値一定で数の異なるトリミングパルスを印加す
るようにしている。そして、その公報には実施例とし
て、発熱素子に幅が一定で電圧値の異なるトリミングパ
ルスを印加するようにしたものが記載されている。2. Description of the Related Art Conventionally, thermal heads have been widely used because they have advantages such as low noise during printing and easy handling because no developing and fixing steps are required. In such a thermal head, a heating element for connecting them is formed between a plurality of individual electrodes arranged in a row on an insulating substrate and a common electrode arranged corresponding to the tip of the individual electrodes. Then, electric power is supplied between the selected individual electrode and the common electrode to cause the heating element in that portion to generate heat, thereby performing thermal recording (printing). by the way,
If the resistance value of each heating element disposed between each of the individual electrodes and the common electrode (that is, the heating element corresponding to each print dot is not uniform, a difference occurs in the temperature of the heating element when heat is generated. When printing is performed on thermal transfer paper or the like, density unevenness occurs in the printed “character” or “figure.” In order to prevent the occurrence of the density unevenness, conventionally, the resistance of the heating element corresponding to each of the dots has been known. This method utilizes the property that when a predetermined electric field is applied within a range that does not cause resistance breakdown in the heating element, the resistance value of the heating element decreases according to the intensity of the electric field. As a conventional technique for equalizing the resistance value of such a heating element, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-83053 is known. Is constant and the voltage In this publication, a trimming pulse having a constant width and a different voltage value is applied to a heating element as an example. What is done is described.
【0003】その実施例に記載されたものは、絶縁基板
上の各ドットに対応する発熱素子の初期抵抗値を測定
し、それらの初期抵抗値が目標抵抗値よりも大きい場合
には、発熱素子に所定の電圧VO のトリミングパルスを
印加して発熱素子の抵抗値を減少させる。この減少した
抵抗値が、目標抵抗値R0よりもまだ大きい場合には、
前記所定の電圧VO にΔVだけプラスした電圧VO +Δ
Vのトリミングパルスを印加して発熱素子の抵抗値をさ
らに減少させる。この、さらに減少した抵抗値が目標抵
抗値R0 よりもまだ大きい場合には、前記所定の電圧V
O に2ΔVだけプラスした電圧VO +2ΔVのトリミン
グパルスを印加して発熱素子の抵抗値をさらに減少させ
る。このようにして発熱素子の抵抗値が目標抵抗値R0
以下に収まるまで、ΔVづつプラスした電圧VO +nΔ
Vのトリミングパルスを印加するようにしている。The device described in the embodiment measures the initial resistance value of the heating element corresponding to each dot on the insulating substrate, and when those initial resistance values are larger than the target resistance value, the heating element is measured. Is applied with a predetermined voltage VO to reduce the resistance value of the heating element. If this reduced resistance value is still greater than the target resistance value R0,
A voltage VO + Δ obtained by adding ΔV to the predetermined voltage VO.
By applying a V trimming pulse, the resistance value of the heating element is further reduced. If the further reduced resistance value is still larger than the target resistance value R0, the predetermined voltage V
A trimming pulse of a voltage VO + 2ΔV obtained by adding O to 2ΔV is applied to further reduce the resistance value of the heating element. Thus, the resistance value of the heating element becomes the target resistance value R0.
Until it falls below, the voltage VO + nΔ added by ΔV
A trimming pulse of V is applied.
【0004】ところが、前述のように発熱素子にトリミ
ングパルスを印加することにより、その抵抗値をそろえ
ても、サーマルヘッドを長期間にわたって使用している
間に各発熱素子の抵抗値にバラツキが生じてしまう。こ
れは、絶縁基板表面に形成した直後の発熱素子は、不安
定で経時的にその抵抗値が変化するものであるが、トリ
ミングパルスにより抵抗値をそろえた発熱素子も、やは
りその抵抗値が依然として不安定なためと考えられる。
したがって、せっかくトリミングによって抵抗値をそろ
えた発熱素子を使用したサーマルヘッドでも、経時的に
その抵抗値が減少してバラツキが生じ、抵抗値の減少量
の大きい発熱素子で印字した部分は減少量の小さい発熱
素子で印字した部分よりも印字濃度が濃くなる。そうす
ると、印字されたものに濃度ムラが生じていた。そこ
で、トリミング後の抵抗値変動を小さく抑えるために熱
アニ−ルを行う方法(特開平3−266650)、半ド
ット毎にトリミングを施す方法(特開昭63−5955
5)等が提案されている。However, even if the resistance values are made uniform by applying the trimming pulse to the heating elements as described above, the resistance values of the heating elements vary during the long-term use of the thermal head. Would. This is because the heating element immediately after being formed on the insulating substrate surface is unstable and its resistance value changes with time, but the heating element whose resistance value is uniformed by the trimming pulse still has the same resistance value. Probably because of instability.
Therefore, even with a thermal head that uses a heating element whose resistance value has been uniformed by precious trimming, the resistance value decreases over time, causing variations, and a portion printed with a heating element having a large reduction in resistance value has a reduced amount. The print density is higher than that of the portion printed by the small heating element. Then, density unevenness occurred on the printed matter. Therefore, a method of performing thermal annealing to suppress the resistance value fluctuation after trimming (JP-A-3-266650) and a method of performing trimming for each half dot (JP-A-63-5955).
5) have been proposed.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記提案に基
づいてトリミングを行い、しかも、それらのトリミング
精度を±1%以下に低減しても、それぞれに高画質化に
は有効ではあるが、まだビット毎(印字ドット毎)の濃
度むらが発生していた。そこで、本発明者は、その原因
追究のため研究していたところ、図9,10に示す事実
を見い出した。図9において、横軸は所定の目標抵抗値
Roにトリミングされた抵抗体のサンプルナンバ−を、
縦軸は温度抵抗係数TCR(単位はppm)を示してい
る。この図9に示されるように、トリミングを施して目
標抵抗値Roに各発熱素子の抵抗値を揃えておいても、
温度抵抗係数はサンプル間で異なっている。したがっ
て、常温で抵抗値が揃っていても実際の印字時に発熱素
子が達する温度(以下、「実使用温度」という)時の温
度(220°C)ではサンプル毎に抵抗値が異なり発熱
量にばらつきが発生したのである。このように、室温で
全ての発熱素子の抵抗値を高精度で揃えておいても、実
使用温度()での各発熱素子の抵抗値には差が生じる。
この場合、各発熱素子は、発生熱量にバラツキが生じ、
温度にもバラツキが生じる。However, even if the trimming is performed based on the above proposal and the trimming accuracy is reduced to ± 1% or less, each of them is effective for improving the image quality, but it is still effective. Density unevenness occurred for each bit (for each print dot). Thus, the present inventor has conducted research for the cause investigation, and found the fact shown in FIGS. In FIG. 9, the horizontal axis represents the sample number of the resistor trimmed to a predetermined target resistance value Ro.
The vertical axis indicates the temperature resistance coefficient TCR (unit: ppm). As shown in FIG. 9, even if trimming is performed to make the resistance values of the respective heating elements equal to the target resistance value Ro,
The temperature coefficient of resistance differs between samples. Therefore, even when the resistance values are uniform at room temperature, the resistance value differs for each sample at the temperature (220 ° C.) at which the heating element reaches the actual printing temperature (hereinafter referred to as “actual use temperature”), and the heating value varies. Has occurred. As described above, even if the resistance values of all the heating elements are aligned with high accuracy at room temperature, there is a difference between the resistance values of the heating elements at the actual use temperature ().
In this case, each heating element varies in the amount of generated heat,
The temperature also varies.
【0006】図10は、トリミングパルスを印加して初
期抵抗値Riからトリミング後抵抗値Rtまで発熱素子の
抵抗値を落とすときの落とし幅(Ri−Rt)/Riと温
度抵抗係数(以下「TCR」とも記載する)との間に関
係があることを示している。図10において、横軸は前
記落し幅(Ri−Rt)/Ri(単位は「%」)を、縦軸
は温度抵抗係数(単位は「ppm」)を示している。即
ち、この図10は、トリミングを施さない抵抗体の温度
抵抗係数TCRは平均値で約−90ppm、最小値で約
−100ppmであるが、トリミングの落とし幅が大き
くなるに従いリニアにTCRが増加し、トリミングによ
って50%落とした抵抗体のTCRは約0ppmになる
ことを示している。FIG. 10 shows a drop width (Ri-Rt) / Ri when a trimming pulse is applied to reduce the resistance value of a heating element from an initial resistance value Ri to a resistance value Rt after trimming, and a temperature resistance coefficient (hereinafter referred to as "TCR"). "Is also described)). In FIG. 10, the horizontal axis indicates the drop width (Ri−Rt) / Ri (unit is “%”), and the vertical axis indicates the temperature resistance coefficient (unit is “ppm”). That is, FIG. 10 shows that the temperature resistance coefficient TCR of the resistor without trimming is about -90 ppm on average and about -100 ppm on minimum, but the TCR linearly increases as the trimming width increases. Shows that the TCR of the resistor dropped by 50% by trimming becomes about 0 ppm.
【0007】このように、室温で全ての発熱素子の抵抗
値を高精度で揃えておいても実使用時の高温では、抵抗
値に差が生じる。そしてその差が生じる原因は、初期抵
抗値Riからトリミング後抵抗値Rtまでトリミングによ
り抵抗値を下げるときの落とし幅(Ri−Rt)/Riに
応じて、温度抵抗係数TCRが変化することに起因す
る。したがって、室温で全ての発熱素子の抵抗値を高精
度で揃えておいても、前記温度抵抗係数TCRが異なる
ため、実使用温度状態(実際の印字時の温度状態、約2
20°C)での抵抗値にバラツキが生じ、これにより、
各発熱素子毎の発熱量が大きく変わることになる。(次
の記載をチェックして下さい)As described above, even if the resistance values of all the heating elements are aligned with high accuracy at room temperature, there is a difference in resistance value at a high temperature in actual use. The difference is caused by a change in the temperature resistance coefficient TCR according to a drop width (Ri−Rt) / Ri when the resistance is reduced by trimming from the initial resistance Ri to the resistance Rt after trimming. I do. Therefore, even if the resistance values of all the heating elements are aligned with high accuracy at room temperature, the temperature resistance coefficient TCR is different, so that the actual use temperature state (the temperature state during actual printing;
(20 ° C.), the resistance value varies.
The amount of heat generated for each heating element changes significantly. (Please check the following)
【0008】前記抵抗温度係数のバラツキにより、発熱
素子の抵抗値を常温で同じ抵抗値に揃えておいても実使
用温度状態では抵抗値差が発生する。この抵抗値差の最
大値は経験的に約2.5%程度である。抵抗値差が1%
以上となると、画室に影響が出始めるので、前記抵抗値
は無視できない大きさである。前記抵抗値差の概略値は
次のような計算で予測できる。発熱素子の初期抵抗値を
Ri、トリミング後の室温(20°C)での抵抗値をR
t、トリミング後の実使用温度状態(220°C)での
抵抗値をR、抵抗温度係数をTCRとした場合、次式が
成り立つ。 R=Rt(1+TCR×200) この式において、Rtが一定で、TCRの最大値が0、
最小値が−100ppmとすると、TCRが0のときの
Rの値は、 R=Rt となり、TCRが−100ppmのときのRの値は、 R=Rt(1−0.02)=0.98Rt となる。したがって、TCRの値が0のときと、−10
0ppmのときのRの差は0.02Rtである。この0.
02Rtの0.98Rtに対する割合は、(0.02Rt/
0.98Rt)=約0.02=約2%となる。したがっ
て、トリミング後抵抗値の室温でのRtを均一にせず、
前記落とし幅(Ri−Rt)/Riを考慮して、実使用温
度状態での抵抗値が均一となるようにトリミングする必
要がある。[0008] Due to the variation of the resistance temperature coefficient, even if the resistance value of the heating element is set to the same resistance value at normal temperature, a resistance value difference occurs in an actual use temperature state. The maximum value of this resistance difference is empirically about 2.5%. 1% difference in resistance
In this case, the influence on the picture room starts to occur, so that the resistance value is not negligible. The approximate value of the resistance difference can be predicted by the following calculation. The initial resistance of the heating element is Ri, and the resistance at room temperature (20 ° C.) after trimming is R.
When t, the resistance value in the actual use temperature state (220 ° C.) after trimming is R, and the resistance temperature coefficient is TCR, the following equation is established. R = Rt (1 + TCR × 200) In this equation, Rt is constant and the maximum value of TCR is 0,
Assuming that the minimum value is -100 ppm, the value of R when TCR is 0 is R = Rt, and the value of R when TCR is -100 ppm is R = Rt (1-0.02) = 0.98 Rt Becomes Therefore, when the value of TCR is 0, -10
The difference in R at 0 ppm is 0.02 Rt. This 0.
The ratio of 02Rt to 0.98Rt is (0.02Rt /
0.98 Rt) = about 0.02 = about 2%. Therefore, Rt of the resistance value at room temperature after trimming is not made uniform,
In consideration of the drop width (Ri-Rt) / Ri, it is necessary to perform trimming so that the resistance value in an actual use temperature state becomes uniform.
【0009】本発明は、前記事情及び考察結果に鑑み、
サーマルヘッドの製造方法において、下記(A11)の記
載内容を課題とする。 (A11) 実使用温度状態での、サーマルヘッドの発熱
素子の抵抗値を均一にそろえることにより、印字画質の
濃度むらを減少させること。The present invention has been made in view of the above circumstances and the results of consideration,
An object of the method of manufacturing a thermal head is to describe the following (A11). (A11) To reduce the density unevenness of the print image quality by making the resistance values of the heat generating elements of the thermal head uniform at the actual use temperature state.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】次に、前記課題を解決す
るために案出した本出願の各発明の構成を説明するが、
本発明の構成要素には、後述の実施例の構成要素との対
応を明らかにするため、実施例の構成要素の符号をカッ
コで囲んだものを付記している。なお、本発明を後述の
実施例の符号と対応させて説明する理由は、本発明の理
解を容易にするためであり、本発明の範囲を実施例に限
定するためではない。Next, the configuration of each invention of the present application devised to solve the above problem will be described.
In order to clarify the correspondence between the components of the present invention and the components of the embodiment described later, those of the components of the embodiment which are enclosed in parentheses are added. The reason why the present invention is described in correspondence with the reference numerals of the embodiments described below is to facilitate understanding of the present invention, and not to limit the scope of the present invention to the embodiments.
【0011】前記課題を解決するために、本出願の第1
発明のサーマルヘッドの製造方法は、絶縁基板(4)表
面に、複数の個別電極(4a)とそれらの個別電極先端
部に対応して配置された共通電極(4b)と、前記個別
電極(4a)および共通電極(4b)間を接続する複数の
発熱素子(4c1)とを形成してから、前記各個別電極
(4a)および共通電極(4b)間を接続する各発熱素子
(4c1)にトリミングパルスを印加し前記各発熱素子
(4c1)の各抵抗値を低下させて前記複数の発熱素子
(4c1)の抵抗値を揃えるトリミング工程を有するサー
マルヘッドの製造方法において、下記要件(A1)を備
えたことを特徴とする、(A1)前記各発熱素子(4c
1)の抵抗値をそれが実際に使用されたときに達する実
使用温度状態で測定しながら前記トリミングパルスを印
加して抵抗値を揃えること。In order to solve the above-mentioned problem, the first application of the present application
The method of manufacturing a thermal head according to the present invention is a method of manufacturing a thermal head, comprising: a plurality of individual electrodes (4a) on a surface of an insulating substrate (4); a common electrode (4b) arranged corresponding to the tip of the individual electrodes; ) And a plurality of heating elements (4c1) connecting between the common electrode (4b) and each heating element connecting between the individual electrode (4a) and the common electrode (4b).
In the method for manufacturing a thermal head having a trimming step of applying a trimming pulse to (4c1) to lower each resistance value of each of the heating elements (4c1) and equalize the resistance values of the plurality of heating elements (4c1), (A1) each of the heating elements (4c
Applying the trimming pulse while measuring the resistance value of 1) in an actual use temperature state which is reached when it is actually used, and making the resistance values uniform.
【0012】また、本出願の第2発明のサーマルヘッド
の製造方法は、前記第1発明のサーマルヘッドの製造方
法において、下記要件(A2)を備えたことを特徴とす
る。(A2)前記実使用温度状態は、前記各発熱素子(4
c1)が形成された絶縁基板(4)を加熱することにより
実現すること。A method of manufacturing a thermal head according to a second invention of the present application is characterized in that the method of manufacturing a thermal head according to the first invention has the following requirement (A2). (A2) The actual operating temperature condition is determined by the heating elements (4
To be realized by heating the insulating substrate (4) on which the c1) is formed.
【0013】また、本出願の第3発明のサーマルヘッド
の製造方法は、前記第1発明のサーマルヘッドの製造方
法において、下記要件(A3)を備えたことを特徴とす
る。(A3)前記実使用温度状態は、前記各発熱素子(4
c1)に実際の印字で使用するパルスを印加し、そのとき
の各発熱素子(4c1)の発熱による温度上昇により実現
すること。Further, a method for manufacturing a thermal head according to a third invention of the present application is characterized in that the method for manufacturing a thermal head according to the first invention has the following requirement (A3). (A3) The actual use temperature state is determined by the heating elements (4
A pulse used in actual printing is applied to c1), and the temperature is increased by the heat generated by each heating element (4c1) at that time.
【0014】[0014]
【作用】次に、前述の特徴を備えた本発明の作用を説明
する。前述の特徴を備えた本出願の第1発明のサーマル
ヘッドの製造方法は絶縁基板(4)表面に、複数の個別
電極(4a)とそれらの個別電極先端部に対応して配置
された共通電極(4b)と、前記個別電極(4a )およ
び共通電極(4b)間を接続する複数の発熱素子(4c1)
とを形成する。次に前記各個別電極(4a)および共通
電極(4b)間を接続する各発熱素子(4c1)の抵抗値
を、それが実際に使用されたときに達する実使用温度状
態で測定しながら、前記各発熱素子(4c1)にトリミン
グパルスを印加して抵抗値を揃える。そうすると、各発
熱素子(4c1)の抵抗値は、室温ではバラツキがあって
も、実使用温度状態では均一に揃うことになる。したが
って、濃度の均一な印字を行うことができる。Next, the operation of the present invention having the above-mentioned features will be described. The method for manufacturing a thermal head according to the first invention of the present application having the above-mentioned features is a method for manufacturing a plurality of individual electrodes (4a) on a surface of an insulating substrate (4) and a common electrode arranged corresponding to the tips of the individual electrodes. (4b) and a plurality of heating elements (4c1) connecting between the individual electrode (4a) and the common electrode (4b).
And are formed. Next, while measuring the resistance value of each heating element (4c1) connecting between each of the individual electrodes (4a) and the common electrode (4b) in an actual use temperature state reached when it is actually used, A trimming pulse is applied to each heating element (4c1) to make the resistance values uniform. Then, the resistance values of the respective heating elements (4c1) become uniform in the actual use temperature state even if they vary at room temperature. Therefore, printing with uniform density can be performed.
【0015】また、 前述の特徴を備えた本出願の第2
発明のサーマルヘッドの製造方法は、前記第1発明のサ
ーマルヘッドの製造方法において、前記実使用温度状態
が前記各発熱素子()が形成された絶縁基板を加熱する
ことにより実現しており、その実現が容易である。[0015] The second aspect of the present application having the above-mentioned features.
In the method for manufacturing a thermal head according to the invention, in the method for manufacturing a thermal head according to the first invention, the actual use temperature state is realized by heating an insulating substrate on which the heating elements () are formed. It is easy to realize.
【0016】また、前述の特徴を備えた本出願の第3発
明のサーマルヘッドの製造方法は、前記第1発明のサー
マルヘッドの製造方法において、前記各発熱素子(4c
1)に実際の印字で使用するパルスを印加し、そのとき
の各発熱素子(4c1)の発熱による温度上昇により前記
実使用温度状態を実現する。Further, the method of manufacturing a thermal head according to the third invention of the present application having the above-described features is the same as the method of manufacturing a thermal head of the first invention, except that the heating elements (4c
A pulse used in actual printing is applied to 1), and the actual use temperature state is realized by a temperature rise due to heat generation of each heating element (4c1) at that time.
【0017】このように、前述の特徴を備えた本出願の
発明のサーマルヘッドの各製造方法では、各発熱素子
(4c1)の温度をそれが実際に使用されたときに達する
実使用温度状態でその抵抗値を測定しながら前記トリミ
ングパルスを印加して抵抗値を目標抵抗値(実使用温度
状態での目標抵抗値)Roに揃えている。この場合、各
発熱素子の室温でのトリミング後抵抗値Rtにはバラツ
キがあるが、実使用温度状態での抵抗値はほぼRoに揃
っている。このように、各発熱素子(4c1)の値がほぼ
均一(実使用時の目標抵抗値Ro)に揃っているので、
それぞれの発熱素子(4c1)において発熱量が均一であ
る。このため、印字画質の濃度むらを減少させることが
できる。なお、この場合、各発熱素子(4c1)の発熱量
Qは、次式(1)で表される。 Q=(V2/Ro)×t (1) V:電圧 Ro:実使用時の目標抵抗値 t:パルス印
加時間As described above, in each method of manufacturing the thermal head of the invention of the present application having the above-described features, the temperature of each heating element (4c1) is set at the actual operating temperature which is reached when it is actually used. The trimming pulse is applied while measuring the resistance value to make the resistance value equal to the target resistance value (target resistance value in the actual use temperature state) Ro. In this case, although the resistance value Rt of each heating element after trimming at room temperature varies, the resistance value in the actual use temperature state is almost equal to Ro. As described above, since the values of the heating elements (4c1) are substantially uniform (the target resistance value Ro in actual use),
The heating value of each heating element (4c1) is uniform. For this reason, the density unevenness of the print image quality can be reduced. In this case, the heat value Q of each heating element (4c1) is expressed by the following equation (1). Q = (V 2 / Ro) × t (1) V: voltage Ro: target resistance value in actual use t: pulse application time
【0018】[0018]
(実施例1)次に、図面により本発明の実施例1につい
て説明する。図1において、プラテンローラAの外周に
沿って搬送される感熱記録紙Bに熱記録(印字)を行う
サーマルヘッドHは、アルミまたは鋳鉄等の熱伝導率の
高い金属材料から構成された支持板1を備えており、こ
の支持板1の上面には、図1中、左側部分および右側部
分に、それぞれ接着剤2及び3を介してセラミック製の
絶縁基板4およびプラスチック製のプリント配線板5が
張付けられている。図1中、プリント配線板5上面に
は、前記絶縁基板4に近い部分にICが配設されてお
り、図1中、ICの右側部分に配線5aが印刷により設
けられている。配線5aの入力端側(図2中、右側)は
プリント配線板5を貫通するリード線6を介して駆動信
号入力端子としてのソケット7に接続されている。プリ
ント配線板5上に配設された前記ICはワイヤ8,9に
よってプリント配線板5の配線5aおよび絶縁基板4の
個別電極4aと接続されている。(Embodiment 1) Next, Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, a thermal head H for performing thermal recording (printing) on a thermosensitive recording paper B conveyed along the outer periphery of a platen roller A includes a support plate made of a metal material having a high thermal conductivity such as aluminum or cast iron. 1, an insulating substrate 4 made of ceramic and a printed wiring board 5 made of plastic are provided on the upper surface of the support plate 1 on the left and right portions in FIG. It is stuck. In FIG. 1, an IC is disposed on the upper surface of the printed wiring board 5 near the insulating substrate 4, and a wiring 5a is provided by printing on the right side of the IC in FIG. The input end side (the right side in FIG. 2) of the wiring 5a is connected to a socket 7 as a drive signal input terminal via a lead wire 6 penetrating the printed wiring board 5. The IC provided on the printed wiring board 5 is connected to wires 5 a of the printed wiring board 5 and individual electrodes 4 a of the insulating substrate 4 by wires 8 and 9.
【0019】図2,3に詳細を示すように、前記絶縁基
板4には、その表面(すなわち、上面)に複数の個別電
極4aが、絶縁基板4の長さ方向(すなわち、主走査方
向)Xに沿って列設されている。そして、前記主走査方
向Xに沿って、共通電極4bが設けられており、この共
通電極4bは、前記主走査方向Xに沿って延びる本体部
4b1とこの本体部4b1から櫛歯状に副走査方向Yに延び
る複数の接続部4b2とを有している。そして、前記個別
電極4aと共通電極4bの接続部4b2とは主走査方向Xに
沿って交互に配置されている。これらの交互に配置され
た各個別電極4aおよび共通電極接続部4b2は、主走査
方向に延びる帯状発熱抵抗体4cの1印字ドット分の発
熱抵抗体(発熱単位)を構成する各発熱素子4c1,4c
1,…(図3参照)によって接続されている。再び図1
を参照して、前記ICおよびワイヤ8,9は樹脂10に
よって封止されるとともに、カバー部材11によって保
護されている。前記サーマルヘッドHは、前記符号1〜
11で示された部材から構成されており、前記各発熱素
子4c1は前記プラテンロ−ラA上の感熱記録紙Bに押付
けられて熱記録が行われる。As shown in detail in FIGS. 2 and 3, the insulating substrate 4 has a plurality of individual electrodes 4a on its surface (ie, upper surface) in the length direction of the insulating substrate 4 (ie, in the main scanning direction). They are arranged along X. A common electrode 4b is provided along the main scanning direction X. The common electrode 4b is provided with a main body 4b1 extending along the main scanning direction X and a sub-scanning sub-scanning from the main body 4b1. And a plurality of connecting portions 4b2 extending in the direction Y. The individual electrodes 4a and the connection portions 4b2 of the common electrodes 4b are alternately arranged along the main scanning direction X. These alternately arranged individual electrodes 4a and common electrode connection portions 4b2 are formed by heating elements 4c1 and 4c1 constituting heating resistors (heating units) for one print dot of a belt-shaped heating resistor 4c extending in the main scanning direction. 4c
1, ... (see FIG. 3). Figure 1 again
2, the IC and the wires 8 and 9 are sealed by a resin 10 and protected by a cover member 11. The thermal head H includes the reference numerals 1 to
The heating elements 4c1 are pressed against a thermosensitive recording paper B on the platen roller A to perform thermal recording.
【0020】次に前記サーマルヘッドの製造方法の実施
例を説明する。図3に示すような、表面に電極4a、4b
および発熱素子4c1が形成された絶縁基板4は、従来公
知のスクリーン印刷技術等の製造技術により作製され
る。この絶縁基板4の前記各発熱素子4c1の抵抗値は図
4のブロック線図で示されるトリミング装置によりトリ
ミングされる。Next, an embodiment of the method for manufacturing the thermal head will be described. As shown in FIG. 3, the electrodes 4a, 4b
The insulating substrate 4 on which the heating element 4c1 is formed is manufactured by a conventionally known manufacturing technique such as a screen printing technique. The resistance value of each of the heating elements 4c1 of the insulating substrate 4 is trimmed by a trimming device shown in a block diagram of FIG.
【0021】図4において、プローバ21は、前記個別
電極4aの図示しない電極パッド(後でサーマルヘッド
を組み立てる際に前記ワイヤ9との接続に使用される接
続用端子部)に接触する探針21a,21a,…を備えて
いる。そして、前記プローバ21にはマルチプレクサリ
レー22が接続されており、これらのプローバ21およ
びマルチプレクサリレー22はコンピュータ23により
制御されて、前記探針21a、個別電極4aを介して前記
発熱素子4c1,4c1,…の中の1ビット(1印字ドット
分の発熱素子)を選択するように構成されている。前記
マルチプレクサリレー22は、前記コンピュータ23に
よって制御される切替スイッチ24を介してパルス発生
器25の出力端子、または抵抗測定器26の入力端子に
選択的に接続されるように構成されている。前記サーマ
ルヘッドの絶縁基板4はヒ−タ27により実使用時の温
度に等しい220°Cに保持される。In FIG. 4, a prober 21a is in contact with an electrode pad (not shown) of the individual electrode 4a (connection terminal used for connection with the wire 9 when assembling a thermal head later). , 21a,... A multiplexer relay 22 is connected to the prober 21. The prober 21 and the multiplexer relay 22 are controlled by a computer 23, and the heating elements 4c1, 4c1,. .. Are configured to select one bit (a heating element for one print dot). The multiplexer relay 22 is configured to be selectively connected to an output terminal of a pulse generator 25 or an input terminal of a resistance measuring device 26 via a changeover switch 24 controlled by the computer 23. The insulating substrate 4 of the thermal head is maintained at 220 DEG C. by the heater 27, which is equal to the temperature during actual use.
【0022】次に、前述の図4のブロック線図で示され
るトリミング装置の作用を図5のフローチャートにより
説明する。まず、前記絶縁基板4をヒ−タ27で加熱し
その表面に形成された前記各発熱素子4c1を実使用温度
(実際に使用する時の温度状態における温度)に加熱す
る。この実使用温度は220°Cである。前記各発熱素
子4c1のトリミングを行う処理(トリミングフロー)が
開始されると、ステップS1において前記プローバ21
の探針21a,21a,…を前記個別電極4a,4a,…に
接触させ、探針21の数に応じた数(たとえば128)
の発熱素子4c1の初期抵抗値Riを測定する。 次にス
テップS2において、n=1と置く。次にステップS3に
おいてn=1に対応するビットを選択する。次に、ステ
ップS4において抵抗値が所定の目標抵抗値Roの範囲内
にあるかどうかを判断する。ノ−(N)の場合はステッ
プS5に移る。ステップS5において発熱素子4c1に印加
するトリミングパルスの電圧値を計算する。この電圧値
の計算方法としては、たとえば、前記特開昭61−83
053号公報または特開平1−271262号公報等に
記載された方法を採用する。次にステップS6において
発熱素子4c1にトリミングパルスを印加する。次にステ
ップS7において前記発熱素子4c1の抵抗値を測定して
から前記ステップS4に戻る。ステップS4においてイエ
ス(Y)の場合はステップS8に移る。 ステップS8に
おいてn=n+1と置く。次にステップS9においてn
=noかどうかを判断する。ただしnoは前記個別電極4
aに接触する前記プローブ21の探針21aの数に1をプ
ラスした数であり、例えば探針21aの数が128であ
るならばno=129である。このステップS9において
ノーの場合は前記ステップS3に戻り、イエスの場合に
は全ての探針(たとえば128個の探針)21aに接続
された各発熱素子4c1のトリミングが終了したものとし
てステップS10に移る。ステップS10において、全ビッ
ト(絶縁基板4上の全発熱素子)のトリミングが終了し
たかどうか判断する。ノーの場合は前記ステップS1に
戻り、イエスの場合にはトリミングを終了する。Next, the operation of the trimming device shown in the block diagram of FIG. 4 will be described with reference to the flowchart of FIG. First, the insulating substrate 4 is heated by a heater 27, and the respective heating elements 4c1 formed on the surface thereof are heated to the actual use temperature (the temperature in the temperature state when actually used). This actual use temperature is 220 ° C. When a process (trimming flow) for trimming each of the heating elements 4c1 is started, the prober 21 is set in step S1.
Are brought into contact with the individual electrodes 4a, 4a,... And a number corresponding to the number of the probes 21 (for example, 128).
The initial resistance Ri of the heating element 4c1 is measured. Next, in step S2, n = 1 is set. Next, in step S3, a bit corresponding to n = 1 is selected. Next, in step S4, it is determined whether or not the resistance value is within a range of a predetermined target resistance value Ro. If no (N), the process moves to step S5. In step S5, the voltage value of the trimming pulse applied to the heating element 4c1 is calculated. The method of calculating this voltage value is described in, for example, the above-mentioned JP-A-61-83.
The method described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 053 or Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 1-271262 is adopted. Next, in step S6, a trimming pulse is applied to the heating element 4c1. Next, in step S7, the resistance value of the heating element 4c1 is measured, and the process returns to step S4. If the answer is yes (Y) in step S4, the process moves to step S8. In step S8, n = n + 1 is set. Next, in step S9, n
= No is determined. Where no is the individual electrode 4
This is a number obtained by adding 1 to the number of the probes 21a of the probe 21 contacting a. For example, if the number of the probes 21a is 128, no = 129. If no in step S9, the process returns to step S3. If yes, it is determined that the trimming of each heating element 4c1 connected to all the probes (for example, 128 probes) 21a has been completed, and the process returns to step S10. Move on. In step S10, it is determined whether the trimming of all bits (all the heating elements on the insulating substrate 4) has been completed. If no, the process returns to step S1, and if yes, the trimming ends.
【0023】前記実施例のサ−マルヘッドを実際に使用
すると、使用時の略一定温度にそれぞれの発熱素子4c1
が発熱し、例えば220°Cになる。使用前の抵抗値
(室温での抵抗値)は実使用時の抵抗値とは異なるが、
実使用時には前記トリミングによって得た抵抗値、すな
わち、目標抵抗値Roになり、サ−マルヘッドHの各発
熱素子4c1の抵抗値はほぼ均一になっている。したがっ
て、各発熱素子4c1の発熱量も均一になっている。この
ことを図6がよく示している。図6において、横軸の数
値は発熱素子4c1のサンプル番号を示し縦軸はその発熱
素子4c1の表面ピ−ク温度(°C)の測定値を示してい
る。プロットは白丸印が本発明の実施例を示し黒丸印が
トリミング後抵抗値を室温状態で一定とした従来品を示
している。この図6から分かるように、表面温度のばら
つきは約半分以下に改善され、実際に印字すると濃度む
らは著しく低減された。前記実施例1は、絶縁基板4を
ヒ−タ27で加熱するようにしたので、加熱手段の構成
が容易である。When the thermal head of the above embodiment is actually used, each heating element 4c1 is kept at a substantially constant temperature during use.
Generates heat, for example, at 220 ° C. Although the resistance before use (resistance at room temperature) is different from the resistance during actual use,
In actual use, the resistance value obtained by the trimming, that is, the target resistance value Ro, is obtained, and the resistance value of each heating element 4c1 of the thermal head H is substantially uniform. Therefore, the heating value of each heating element 4c1 is also uniform. This is best shown in FIG. In FIG. 6, the numerical value on the horizontal axis indicates the sample number of the heating element 4c1, and the vertical axis indicates the measured value of the surface peak temperature (° C.) of the heating element 4c1. In the plot, white circles indicate examples of the present invention, and black circles indicate conventional products in which the resistance value after trimming was constant at room temperature. As can be seen from FIG. 6, the variation in the surface temperature was reduced to about half or less, and the density unevenness was significantly reduced when printing was actually performed. In the first embodiment, since the insulating substrate 4 is heated by the heater 27, the configuration of the heating means is easy.
【0024】(実施例2)前記実施例1では、発熱素子
4c1を実使用時の温度に加熱するのにヒ−タ27を用い
たが、次に加熱手段を変えた実施例2について図7によ
り説明する。図7において、プローバ21が 、前記個
別電極4aの図示しない電極パッドに接触する探針21
a,21a,…を備え、プローバ21がマルチプレクサリ
レー22に接続されており、これらのプローバ21およ
びマルチプレクサリレー22がコンピュータ23により
制御されて、前記探針21a、個別電極4aを介して前記
発熱素子4c1,4c1,…の中の1ビットを選択するよう
に構成され、前記マルチプレクサリレー22が前記コン
ピュータ23によって制御される切替スイッチ24を介
してパルス発生器25の出力端子に選択的に接続される
ように構成されている点は、前記実施例1と同様である
が、本実施例2では実施例1のヒ−タ27を使用せずに
実施例1の抵抗測定器26に代えて実使用パルス電流測
定器28を用いた点が異なっている。この実使用パルス
電流測定器28は、実使用時(印字時)のパルス(印字
パルスと同じパルス)を発生させる測定用パルス発生器
と電流測定器とから構成される。そして、この電流測定
器にはシャント抵抗とA/Dコンバ−タとを組み合わせ
たものを用いている。(Embodiment 2) In Embodiment 1, the heater 27 is used to heat the heating element 4c1 to the temperature at the time of actual use. Next, Embodiment 2 in which the heating means is changed is shown in FIG. This will be described below. In FIG. 7, a prober 21 is a probe 21 that contacts an electrode pad (not shown) of the individual electrode 4a.
, and the prober 21 is connected to a multiplexer relay 22. The prober 21 and the multiplexer relay 22 are controlled by a computer 23, and are connected to the heating element through the probe 21a and the individual electrode 4a. Are configured to select one bit among 4c1, 4c1,..., And the multiplexer relay 22 is selectively connected to an output terminal of a pulse generator 25 via a changeover switch 24 controlled by the computer 23. The configuration is the same as that of the first embodiment, but the second embodiment does not use the heater 27 of the first embodiment but actually replaces the resistance measuring instrument 26 of the first embodiment. The difference is that a pulse current measuring device 28 is used. The actual pulse current measuring device 28 includes a measuring pulse generator for generating a pulse (the same pulse as a printing pulse) at the time of actual use (at the time of printing) and a current measuring device. The current measuring device uses a combination of a shunt resistor and an A / D converter.
【0025】この実施例2では、加熱のために実際の印
字パルスが用いられているので、各発熱素子4c1,4c1
…は発熱して実使用温度状態になり、そのときの電流値
が測定され、その電流値に基づいて各発熱素子4c1,4
c1…は抵抗値が測定され、実使用時と同じ条件下で均一
な抵抗値を持った発熱素子4c1,4c1… が形成され
る。したがって、実使用時には均一な温度に発熱する。
前記印字パルスを印加したときの発熱素子は、印字パル
スの初期の期間は低温であり、印字パルスの最終期間で
高温(実使用温度状態)となる。したがって、発熱素子
の抵抗値測定用の電流値としては、印字パルスの最終期
間での値を採用する。この実施例では、各発熱素子4c
1,4c1の加熱が実使用時と同様になり、実使用温度状
態での抵抗値を目標抵抗値Roに揃えることができる。In the second embodiment, since the actual printing pulse is used for heating, each heating element 4c1, 4c1 is used.
Are heated to the actual use temperature state, the current value at that time is measured, and based on the current value, each of the heating elements 4c1, 4c
The resistance values of c1... are measured, and heating elements 4c1, 4c1... having uniform resistance values are formed under the same conditions as in actual use. Therefore, it generates heat at a uniform temperature during actual use.
The heating element when the printing pulse is applied has a low temperature in the initial period of the printing pulse and a high temperature (actual operating temperature state) in the last period of the printing pulse. Therefore, the value in the last period of the print pulse is adopted as the current value for measuring the resistance value of the heating element. In this embodiment, each heating element 4c
The heating of 1,4c1 becomes the same as in the actual use, and the resistance value in the actual use temperature state can be made equal to the target resistance value Ro.
【0026】(変更例)以上、本発明によるサーマルヘ
ッドの実施例を詳述したが、本発明は、前述の実施例
1,2に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記
載された本発明を逸脱することなく、種々の設計変更を
行うことが可能である。例えば、前記帯状発熱素子4c1
を用いたサーマルヘッドの代わりに、図8A、図8Bに
示すように、主走査方向Xに沿って複数の個別発熱素子
4c1,4c1,…を列設し、それらの各個別発熱素子4c
1,4c1…により複数の各個別電極4a,4a…と共通電
極4bとをそれぞれ個別に接続するようにしたサーマル
ヘッドに本発明を適用することも可能である。また、実
施例2において、印字パルスを発熱素子加熱用パルス兼
抵抗値測定用パルスとして使用する代わりに、印字パル
スを発熱素子加熱用パルスとして使用し、その印字パル
スの直後に別途抵抗値測定用パルスを発熱素子に印加す
ることも可能である。(Modification) The embodiment of the thermal head according to the present invention has been described in detail. However, the present invention is not limited to the first and second embodiments and is described in the claims. Various design changes can be made without departing from the invention. For example, the band-shaped heating element 4c1
8A and 8B, a plurality of individual heating elements 4c1, 4c1,... Are arranged in a row along the main scanning direction X, and the individual heating elements 4c are used.
The present invention can be applied to a thermal head in which a plurality of individual electrodes 4a, 4a... And a common electrode 4b are individually connected by 1, 4c1,. In Example 2, instead of using the print pulse as a heating element heating pulse and a resistance measurement pulse, a print pulse was used as a heating element heating pulse, and immediately after the print pulse, a separate resistance value measurement pulse was used. It is also possible to apply a pulse to the heating element.
【発明の効果】前述の構成を備えた本発明のサーマルヘ
ッドの製造方法は、次の(A21)に記載の効果を奏す
る。 (A21)各発熱素子の抵抗値が実使用温度状態で均一と
なるようにトリミングが行われるので、実使用時の各発
熱素子の抵抗値が均一となる。したがって、各発熱素子
の発熱量が均一となり、 印字されたものの濃度ムラが
減少し、印字画質が向上する。The method of manufacturing a thermal head according to the present invention having the above-described structure has the following effect (A21). (A21) Since the trimming is performed so that the resistance value of each heating element becomes uniform in the actual use temperature state, the resistance value of each heating element in actual use becomes uniform. Therefore, the heating value of each heating element becomes uniform, the density unevenness of the printed matter is reduced, and the printing quality is improved.
【図1】 図1は本発明のサーマルヘッドの製造方法の
実施例1により製造されたサーマルヘッドHを示し、側
断面図である。FIG. 1 is a side sectional view showing a thermal head H manufactured according to a first embodiment of a method of manufacturing a thermal head of the present invention.
【図2】 図2は同実施例1のサーマルヘッドの要部斜
視図である。FIG. 2 is a perspective view of a main part of the thermal head according to the first embodiment.
【図3】 図3は同実施例1のサーマルヘッドへの要部
の部分的拡大図である。FIG. 3 is a partially enlarged view of a main part of the thermal head according to the first embodiment.
【図4】 図4は同サーマルヘッドの製造に使用するト
リミング装置の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a trimming device used for manufacturing the thermal head.
【図5】 図5は前記図4のトリミング装置の作用を説
明するためのフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart for explaining the operation of the trimming device of FIG. 4;
【図6】 図6は発熱素子毎の表面ピ−ク温度を示す図
である。FIG. 6 is a diagram showing a surface peak temperature for each heating element.
【図7】 図7はトリミング装置の他の実施例2を示す
図である。FIG. 7 is a view showing another embodiment 2 of the trimming device.
【図8】 図8は本発明を適用できるサーマルヘッドの
別の例を示す図で、図8Aは一般的な個別対向型サーマ
ルヘッド(共通電極接続部とこれに対向する個別電極と
を個別発熱抵抗体で接続したサーマルヘッド)を示し、
図8Bは共通電極接続部が省略されたサーマルヘッドを
示す。FIG. 8 is a diagram showing another example of a thermal head to which the present invention can be applied. FIG. 8A shows a general individual facing type thermal head (in which a common electrode connection portion and an individual electrode facing the common electrode are individually heated). Thermal head connected with a resistor)
FIG. 8B shows a thermal head in which the common electrode connection portion is omitted.
【図9】 図9はサンプル毎の発熱素子の温度抵抗係数
TCRを一般的に示す図である。FIG. 9 is a diagram generally showing a temperature resistance coefficient TCR of a heating element for each sample.
【図10】 図10はトリミングの抵抗値落とし幅とT
CR(抵抗温度係数)との関係を示す図である。FIG. 10 is a graph showing the relationship between the resistance drop width of trimming and T.
It is a figure showing relation with CR (resistance temperature coefficient).
4…絶縁基板、4a…個別電極、4b…共通電極、4c1
…発熱素子、Ri…初期抵抗値、Ro…実使用時の抵抗
値。4. Insulating substrate, 4a ... individual electrode, 4b ... common electrode, 4c1
... heating element, Ri ... initial resistance value, Ro ... resistance value in actual use.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−80048(JP,A) 特開 平2−214672(JP,A) 特開 昭63−157404(JP,A) 特開 昭63−116870(JP,A) 特開 平4−99654(JP,A) 特開 平5−305722(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B41J 2/335 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-4-80048 (JP, A) JP-A-2-214672 (JP, A) JP-A-63-157404 (JP, A) JP-A-63-157404 116870 (JP, A) JP-A-4-99654 (JP, A) JP-A-5-305722 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) B41J 2/335
Claims (3)
らの個別電極先端部に対応して配置された共通電極と、
前記個別電極および共通電極間を接続する複数の発熱素
子とを形成してから、前記各個別電極および共通電極間
を接続する各発熱素子にトリミングパルスを印加し前記
各発熱素子の各抵抗値を低下させて前記複数の発熱素子
の抵抗値を揃えるトリミング工程を有するサーマルヘッ
ドの製造方法において、下記要件(A1)を備えたこと
を特徴とするサーマルヘッドの製造方法、(A1)前記
各発熱素子の抵抗値をそれが実際に使用されたときに達
する実使用温度状態で測定しながら前記トリミングパル
スを印加して抵抗値を揃えること。A plurality of individual electrodes and a common electrode disposed on the surface of the insulating substrate in correspondence with a tip of each of the individual electrodes;
After forming a plurality of heating elements that connect between the individual electrodes and the common electrode, a trimming pulse is applied to each heating element that connects between the individual electrodes and the common electrode, and the resistance value of each of the heating elements is adjusted. A method of manufacturing a thermal head having a trimming step of reducing the resistance values of the plurality of heating elements to equalize the resistance values of the plurality of heating elements, wherein the method includes the following requirement (A1): (A1) The trimming pulse is applied while measuring the resistance value at the actual use temperature state which is reached when it is actually used, and the resistance values are made uniform.
する請求項1記載のサーマルヘッドの製造方法、(A
2)前記実使用温度状態は、前記各発熱素子が形成され
た絶縁基板を加熱することにより実現すること。2. The method for manufacturing a thermal head according to claim 1, further comprising the following requirement (A2).
2) The actual use temperature state is realized by heating the insulating substrate on which the heating elements are formed.
する請求項1記載のサーマルヘッドの製造方法、(A
3)前記実使用温度状態は、前記各発熱素子に実際の印
字で使用するパルスを印加し、そのときの各発熱素子の
発熱による温度上昇により実現すること。3. The method for manufacturing a thermal head according to claim 1, further comprising the following requirement (A3).
3) The actual use temperature state is realized by applying a pulse used for actual printing to each of the heating elements, and increasing the temperature due to heat generation of each of the heating elements at that time.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25691192A JP3026289B2 (en) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | Manufacturing method of thermal head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25691192A JP3026289B2 (en) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | Manufacturing method of thermal head |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06106754A JPH06106754A (en) | 1994-04-19 |
| JP3026289B2 true JP3026289B2 (en) | 2000-03-27 |
Family
ID=17299099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25691192A Expired - Fee Related JP3026289B2 (en) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | Manufacturing method of thermal head |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3026289B2 (en) |
-
1992
- 1992-09-25 JP JP25691192A patent/JP3026289B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06106754A (en) | 1994-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0157185B1 (en) | Thermal head | |
| KR100817681B1 (en) | Thermal print head | |
| JP3026289B2 (en) | Manufacturing method of thermal head | |
| JPH08169132A (en) | Thermal head device | |
| JP3321249B2 (en) | Thermal print head | |
| JP2929649B2 (en) | Thermal head and method of manufacturing the same | |
| JP2830325B2 (en) | Manufacturing method of thermal head | |
| JPS63317359A (en) | Multi-gradation thermal transfer recorder | |
| JPH06115135A (en) | Production of thermal head | |
| JP3106533B2 (en) | Thermal head device | |
| JP2831854B2 (en) | Resistor trimming method for thin film thermal head | |
| JPH06227016A (en) | Method and apparatus for trimming of thermal head | |
| JPH0480048A (en) | Manufacture of thermal head | |
| JP3074083B2 (en) | Temperature detector | |
| JP2762455B2 (en) | Thermal recording head and its resistance trimming method | |
| JPH03261566A (en) | Manufacture of thermal head | |
| JP2005225053A (en) | Thermal head | |
| JPH0751362B2 (en) | Thermal head | |
| JPH0339468B2 (en) | ||
| JPH0526661B2 (en) | ||
| JPH02117856A (en) | Thermal head | |
| JPH09314877A (en) | Thermal head and its production | |
| JPS63230361A (en) | thermal head | |
| JPH0712695B2 (en) | Thermal head trimming method for heating resistor | |
| JPH0424231B2 (en) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |