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JP3036115B2 - Digital to analog converter - Google Patents
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JP3036115B2 - Digital to analog converter - Google Patents

Digital to analog converter

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JP3036115B2
JP3036115B2 JP3136422A JP13642291A JP3036115B2 JP 3036115 B2 JP3036115 B2 JP 3036115B2 JP 3136422 A JP3136422 A JP 3136422A JP 13642291 A JP13642291 A JP 13642291A JP 3036115 B2 JP3036115 B2 JP 3036115B2
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digital
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富男 滝口
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はデジタル・アナログ変換
器に関し、特に直線性評価回路を内蔵するデジタル・ア
ナログ変換器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a digital-to-analog converter, and more particularly to a digital-to-analog converter having a built-in linearity evaluation circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、かかるデジタル・アナログ変換器
は、入力側のデジタル部と出力側のアナログ部とを備
え、直線性測定などに用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, such a digital-analog converter has a digital section on the input side and an analog section on the output side, and is used for linearity measurement and the like.

【0003】図6は従来の一例を説明するためのデジタ
ル・アナログ変換器を用いた直線性測定システム図であ
る。図6に示すように、従来のデジタル・アナログ変換
器1Aの直線性測定システムにおいては、入力側のデジ
タル値の設定に外部のデジタル信号発生源33を用いて
いる。また、最近は信号処理回路のシステム化やLSI
の1チップ化に伴い、デジタル・アナログ変換器1Aも
1つの構成要素としてシステムLSIや信号処理LSI
に内蔵されることがしばしば生じている。このようなデ
シタル・アナログ変換器1Aを内蔵した複合構成LSI
の評価又は選別においては、デジタル部よりもアナログ
部の精度が重視されている。すなわち、アナログ部の精
度により複合構成LSI全体の良否をある程度決定して
しまう場合がある。ここでは、デジタル信号発生源33
からのデジタルデータ入力と、クロック信号発生器30
からのクロックをデジタル・アナログ変換器1Aに入力
し、変換されたアナログ出力OUTをデジタル・ボルト
メータ等のアナログ出力電圧測定器35で測定する。こ
の結果、コントローラ34を制御してデジタル信号発生
源33を制御する。従って、アナログ回路を含み且つデ
ジタル部とアナログ部の結合点の役割りをなすデジタル
・アナログ変換器1Aは、複合構成LSIの構成要素と
して内蔵された場合、このLSIの評価および選別に重
要な部分となる。
FIG. 6 is a diagram of a linearity measuring system using a digital-to-analog converter for explaining an example of the prior art. As shown in FIG. 6, in the conventional linearity measurement system of the digital-to-analog converter 1A, an external digital signal source 33 is used for setting a digital value on the input side. Recently, systemization of signal processing circuits and LSI
The digital-to-analog converter 1A has become a component of a system LSI and a signal processing LSI.
It often happens to be built in. A composite LSI incorporating such a digital-to-analog converter 1A
In the evaluation or selection of, the accuracy of the analog section is more important than the digital section. That is, the quality of the entire composite LSI may be determined to some extent depending on the accuracy of the analog unit. Here, the digital signal source 33
Digital data input from the clock signal generator 30
Is input to the digital / analog converter 1A, and the converted analog output OUT is measured by an analog output voltage measuring device 35 such as a digital voltmeter. As a result, the controller 34 is controlled to control the digital signal source 33. Therefore, when the digital-to-analog converter 1A including an analog circuit and serving as a junction between the digital unit and the analog unit is built in as a component of the composite LSI, an important part of the evaluation and selection of this LSI is considered. Becomes

【0004】一方、デジタル・アナログ変換器1Aの最
も基本的な評価はその直線性評価であり、デジタル・ア
ナログ変換器1Aを内蔵した複合構成LSIにおいて、
デジタル・アナログ変換器1Aの直線性評価のみのため
にもかかわらず、不要な外部入力ピンを設けなければな
らない。さらに、デジタルデータがシリアル入力となっ
ているものに関しては、デジタル信号源33のパラレル
出力をシリアルモードに変換しなければならない場合も
あり、測定系の外部接続回路をより複雑にしている。
On the other hand, the most basic evaluation of the digital-to-analog converter 1A is its linearity evaluation. In a composite LSI incorporating the digital-to-analog converter 1A,
Unnecessary external input pins must be provided despite only the linearity evaluation of the digital-to-analog converter 1A. Further, when digital data is serially input, the parallel output of the digital signal source 33 may need to be converted to a serial mode, which makes the external connection circuit of the measurement system more complicated.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のデジタ
ル・アナログ変換器は、内蔵されるLSIの直線性を測
定する際に不要なピン数の増加をもたらすという欠点が
ある。また、デジタル入力信号を外部から入力するの
で、デジタルデータを発生させるための回路およびデー
タ入力の信号線も必要になり、測定系の接続を複雑にす
るなどの欠点がある。
The above-mentioned conventional digital-to-analog converter has a disadvantage that the number of pins is unnecessarily increased when measuring the linearity of the built-in LSI. In addition, since a digital input signal is input from the outside, a circuit for generating digital data and a signal line for data input are required, and there are drawbacks such as a complicated connection of a measurement system.

【0006】本発明の目的は、かかる内蔵されるLSI
の直線性を測定する際に、ピン数の増加および信号線の
増加を抑え、測定系を容易にするデジタル・アナログ変
換器を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide such a built-in LSI.
It is an object of the present invention to provide a digital-to-analog converter which suppresses an increase in the number of pins and an increase in signal lines when measuring the linearity of a digital signal, thereby facilitating a measurement system.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明のデジタル・アナ
ログ変換器は、デジタル入力を供給されるバッファ回路
と、前記バッファ回路の出力側に接続されるとともに、
外部より供給される直線性測定制御信号によって前記バ
ッファ回路の出力もしくはカウンタ信号のいずれかを選
択する第1および第2のスイッチ手段と,前記バッファ
回路の出力をラッチするか、もしくは前記カウンタ信号
を計数する複数のフリップフロップと,前記カウンタ信
号および計数結果のAND論理をとるANDゲート群と
を設けたカウンタ兼ラッチ回路と、前記直線性測定制御
信号の入力時にリセットパルスを前記カウンタ兼ラッチ
回路の前記複数のフリップフロップに供給するリセット
パルス発生回路と、前記直線性測定制御信号および前記
カウンタ兼ラッチ回路の出力のNAND論理をとるNA
ND回路と、前記NAND回路の出力および外部から供
給されるクロックのAND論理をとるAND回路と、前
記AND回路の出力を入力し前記カウンタ兼ラッチ回路
への前記カウンタ信号を出力するパルス発生回路と、前
記カウンタ兼ラッチ回路の出力をアナログ信号に変換す
る変換処理部とを備えて構成される。
SUMMARY OF THE INVENTION A digital-to-analog converter according to the present invention comprises a buffer circuit provided with a digital input.
And connected to the output side of the buffer circuit,
The bus is controlled by an externally supplied linearity measurement control signal.
Buffer circuit output or counter signal.
First and second switch means for selecting, and the buffer
Latch the output of the circuit or use the counter signal
A plurality of flip-flops for counting the
AND gates that take the AND logic of the signal and the count result
Counter / latch circuit provided with
Reset pulse is applied to the counter and latch when a signal is input
Reset supplying the plurality of flip-flops of a circuit
A pulse generation circuit, the linearity measurement control signal and the
NA that takes NAND logic of output of counter / latch circuit
An ND circuit, an output of the NAND circuit and an external
An AND circuit which takes an AND logic of the supplied clock;
An output of the AND circuit, and the counter / latch circuit
A pulse generating circuit that outputs the counter signal to the
The output of the counter / latch circuit is converted to an analog signal.
And a conversion processing unit .

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明の関連技術および実施例につい
て図面を参照して説明する。
Next, a related art and an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の関連技術を示すデジタル・
アナログ変換器のブロック回路図である。図1に示すよ
うに、本関連技術はビット数に5ビットを仮定してい
る。まず、直線性の測定制御信号入力端子に通常のデジ
タル・アナログ変換モードか、直線性測定モードかを設
定するための制御信号を入力する。この制御信号はデジ
タル・アナログ変換器1が動作中の場合、ロウまたはハ
イのレベルに固定されるため、回路へのノイズ等の影響
は無視できる。ここで、測定制御信号について、通常の
デジタル・アナログ変換動作の場合はロウレベルを入力
するものとする。このロウレベル信号が入力されると、
その制御信号はリセットパルス発生回路2と、バッファ
3およびインバータ4に入力される。インバータ4の出
力はハイになり、バッファ3の出力はロウになるため、
第1のスイッチ5がオン、第2のスイッチ6がオフの状
態になる。従って、デジタル入力端子D0〜D4の5ビ
ットデータがバッファ回路12,ラッチ回路13および
変換処理部14により処理され、アナログ出力端子OU
Tに通常のデジタル・アナログ変換されたアナログ値を
出力する。
FIG. 1 is a digital diagram showing the related art of the present invention.
It is a block circuit diagram of an analog converter. As shown in FIG. 1, the related technology assumes that the number of bits is 5 bits. First, a control signal for setting the normal digital / analog conversion mode or the linearity measurement mode is input to the linearity measurement control signal input terminal. This control signal is fixed at a low or high level when the digital-to-analog converter 1 is operating, so that the influence of noise or the like on the circuit can be ignored. Here, it is assumed that a low level is input to the measurement control signal in the case of a normal digital-to-analog conversion operation. When this low level signal is input,
The control signal is input to the reset pulse generation circuit 2, the buffer 3, and the inverter 4. Since the output of the inverter 4 goes high and the output of the buffer 3 goes low,
The first switch 5 is turned on, and the second switch 6 is turned off. Therefore, the 5-bit data of the digital input terminals D0 to D4 is processed by the buffer circuit 12, the latch circuit 13, and the conversion processing unit 14, and the analog output terminal OU
A normal digital-to-analog converted analog value is output to T.

【0010】一方、直線性測定制御信号入力端子にハイ
レベルが入力されると、第1のスイッチ5がオフ、第2
のスイッチ6がオン状態になる。この結果、5ビット同
期カウンタ11はリセットパルス発生回路2から駆動さ
れ、その出力A〜Eを第2のスイッチ6を介してバッフ
ァ回路12へ供給する。従って、アナログ出力端子OU
Tには、ラッチ回路13と変換処理14によりカウンタ
11のデジタルデータをアナログ値に変換した値が出力
される。また、リセットパルス発生回路2は、測定制御
信号入力がロウレベルからハイレベルへ変化したときに
1パルスをカウンタ11へ入力し、カウンタ11の内容
を初期値に設定する。上述したインバータ4とバッファ
3の出力は、リセットパルスが出力されてからカウンタ
11が初期値に戻るまで変化を遅らせるためのものであ
り、内部に遅延回路を含んでいる。
On the other hand, when a high level is inputted to the linearity measurement control signal input terminal, the first switch 5 is turned off and the second switch 5 is turned off.
Switch 6 is turned on. As a result, the 5-bit synchronization counter 11 is driven by the reset pulse generation circuit 2 and supplies its outputs A to E to the buffer circuit 12 via the second switch 6. Therefore, the analog output terminal OU
As T, a value obtained by converting the digital data of the counter 11 into an analog value by the latch circuit 13 and the conversion processing 14 is output. The reset pulse generating circuit 2 inputs one pulse to the counter 11 when the measurement control signal input changes from low level to high level, and sets the content of the counter 11 to an initial value. The outputs of the inverter 4 and the buffer 3 are for delaying the change from when the reset pulse is output until the counter 11 returns to the initial value, and includes an internal delay circuit.

【0011】次に、カウンタ11及びその周辺回路とそ
の動作について説明をする。まず、アナログ・デジタル
変換器1の直線性測定を行うときの入力デジタル信号I
Nの変化は、通常“00000”→“00001”→
“00010”→“00011”→“00100”…
“11111”という順序にステップを踏む。そこで、
それぞれのデジタル入力値INにおけるアナログ出力電
圧OUTを測定し、直線性の測定を行う。このデジタル
値の変化はカウンタ11の動作と同一であるため、カウ
ンタ11の出力をデジタル入力に使用できる。このカウ
ンタ11へのカウント信号入力は外部のクロック信号C
LKをパルス発生回路10で分周し、その出力をカウン
ト信号として入力するが、パルス発生回路10への入力
については直接クロック入力するのではなく、カウンタ
11の出力が最大レベル“11111”になった時、パ
ルス発生回路10へのクロック入力を遮断する構成とな
っている。すなわち、第3のスイッチ7,AND回路8
およびNAND回路9からなるゲート回路を通した後に
パルス発生回路10へ入力している。この第3のスイッ
チ7は第2のスイッチ6と同様のタイミングで制御され
るので、測定制御信号がハイレベルになったときに動作
する。要するに、直線性測定モードとなった時にのみオ
ンとなり、クロック信号をAND回路8へ導いている。
このAND回路8はNAND回路9の出力がハイの時に
クロック信号CLKと同様の波形を出力するようになっ
ている。しかも、このAND回路8の出力はクロック波
形を整形したものとなるため、ロウおよびハイの明確な
波形を形成するので、カウンタ11を正確に動作させや
すくする。一方、NAND回路9はAND回路8におけ
るクロックの通過を選択する信号を出力するものであ
る。これはNAND回路9の入力がすべてハイレベルの
時、すなわちカウンタ11の出力A〜Eが最大となった
時にロウレベル信号を出力し、AND回路8をクロック
信号が通過しないようにしている。この結果、カウンタ
11はカウント入力信号がなくなるので、その出力はカ
ウント数が最大の状態で固定されることになる。かかる
カウンタ11の出力A〜Eが最大値でない場合は、NA
ND回路9の出力はハイレベルとなり、クロックがパル
ス発生回路10を通してカウンタ11を動作させる。こ
のパルス発生回路10の出力は、カウンタ11のカウン
ト信号としてだけではなく、バッファ回路15を介しコ
ントローラ制御同信号CONTとして外部へ出力され
る。この理由はデジタル・アナログ変換器1の直線性測
定をアナログ電圧出力の変化に同期して行う必要がある
ためである。また、前述した5ビット同期カウンタ11
はパルス発生回路10からのカウント信号とリセットパ
ルス発生回路2からのリセットパルスを入力し、5ビッ
トをカウント出力として送出するが、カウンタ11のデ
ータ出力方式は出力をデジタル・アナログ変換のための
デジタル入力としても使用するため、入力データ個々の
変化の遅れによるデジタル・アナログ変換の誤動作を抑
える目的で同期式カウンタを使用している。
Next, the counter 11 and its peripheral circuits and their operation will be described. First, the input digital signal I when measuring the linearity of the analog / digital converter 1 is measured.
The change in N is usually “00000” → “00001” →
“00010” → “00011” → “00100” ...
The steps are performed in the order of “11111”. Therefore,
An analog output voltage OUT at each digital input value IN is measured to measure linearity. Since the change in the digital value is the same as the operation of the counter 11, the output of the counter 11 can be used as a digital input. The count signal input to the counter 11 is an external clock signal C
LK is frequency-divided by the pulse generation circuit 10 and its output is input as a count signal. The input to the pulse generation circuit 10 is not directly clocked, but the output of the counter 11 becomes the maximum level "11111". In this case, the clock input to the pulse generation circuit 10 is interrupted when the That is, the third switch 7 and the AND circuit 8
After passing through a gate circuit including a NAND circuit 9 and a pulse generation circuit 10, the signal is input to a pulse generation circuit 10. Since the third switch 7 is controlled at the same timing as the second switch 6, it operates when the measurement control signal goes high. In short, it is turned on only when the linearity measurement mode is set, and the clock signal is led to the AND circuit 8.
The AND circuit 8 outputs a waveform similar to the clock signal CLK when the output of the NAND circuit 9 is high. In addition, since the output of the AND circuit 8 is obtained by shaping the clock waveform, a clear low and high waveform is formed, so that the counter 11 can be easily operated accurately. On the other hand, the NAND circuit 9 outputs a signal for selecting the passage of the clock in the AND circuit 8. This is to output a low-level signal when all the inputs of the NAND circuit 9 are at a high level, that is, when the outputs A to E of the counter 11 become maximum, so that the clock signal does not pass through the AND circuit 8. As a result, the counter 11 loses its count input signal, and its output is fixed at the maximum count. If the outputs A to E of the counter 11 are not the maximum values,
The output of the ND circuit 9 becomes high level, and the clock operates the counter 11 through the pulse generation circuit 10. The output of the pulse generation circuit 10 is output to the outside not only as a count signal of the counter 11 but also as a controller control same signal CONT via a buffer circuit 15. This is because the linearity measurement of the digital-to-analog converter 1 needs to be performed in synchronization with a change in the analog voltage output. Further, the above-mentioned 5-bit synchronization counter 11
Receives the count signal from the pulse generation circuit 10 and the reset pulse from the reset pulse generation circuit 2 and sends out 5 bits as a count output. The data output method of the counter 11 is that the output is digital for analog-to-digital conversion. Since it is also used as an input, a synchronous counter is used for the purpose of suppressing a malfunction of digital-to-analog conversion due to a delay in change of each input data.

【0012】図2は本発明の一実施例を示すデジタル・
アナログ変換器のブロック回路図である。図2に示すよ
うに、本実施例は前述した関連技術における5ビット同
期カウンタ11とラッチ回路13を兼用したデジタル・
アナログ変換器の例である。まず、直線性測定制御信号
をバッファ16を使用することにより正確な制御信号S
2とし、リセットパルス発生回路2とカウンタ兼ラッチ
回路20とNANDゲート回路21およびスイッチ7,
18へ供給する。また、前述した関連技術と同様、デジ
タル入力INを供給する通常のデジタルデータ入力端子
D0〜D4と、クロック信号を入力するクロック入力端
子CLKとを有する。この入力されたクロック信号はス
イッチ18を介し信号S3としてカウンタ兼ラッチ回路
20に入力されるものと、スイッチ7とAND回路8お
よびパルス発生回路10を介し信号S4として入力され
るものとに分かれる。パルス発生回路10へクロックが
導かれる過程は、まず測定制御信号が直線性測定モー
ド、すなわちハイレベルとなった時に、バッフア3を介
してスイッチ7を駆動させ、クロック信号CLKをAN
Dゲート回路8へ導く。このANDゲート回路8はNA
NDゲート回路21の出力によりパルス発生回路10へ
のクロック信号CLKを選択するようになっている。ま
た、NANDゲート回路21の出力は直線性測定モード
におけるカウンタ兼ラッチ回路20の出力が最大になっ
た時にのみロウレベルを出力し、パルス発生回路10へ
のクロック信号CLK入力を遮断する。ここで、インバ
ータ19は直線性測定時におけるカウンタ信号S4とク
ロックCLKの立ち上がりのタイミングをずらし、正確
なカウント及びラッチを行うためのクロック信号S3を
入力するためのものでる。尚、インバータ17はスイ
ッチ18とスイッチ7とを交互に正確に切換えるために
設けられている。
[0012] Digital Figure 2 showing a Kazumi施例of the present invention
It is a block circuit diagram of an analog converter. As shown in FIG. 2, the present embodiment employs a digital-to-digital converter in which the 5-bit synchronous counter 11 and the latch circuit 13 in the related art described above are used.
It is an example of an analog converter. First, an accurate control signal S is obtained by using the buffer 16 to control the linearity measurement control signal.
2, the reset pulse generating circuit 2, the counter / latch circuit 20, the NAND gate circuit 21, the switch 7,
Supply to 18. Further, similarly to the related art described above, it has a normal digital data input terminal D0 to D4 for supplying a digital input IN, and a clock input terminal CLK for receiving a clock signal. The inputted clock signal is divided into a signal inputted to the counter / latch circuit 20 as the signal S3 via the switch 18 and a signal inputted as the signal S4 via the switch 7, the AND circuit 8 and the pulse generating circuit 10. The process of introducing a clock to the pulse generating circuit 10 is as follows. First, when the measurement control signal is in the linearity measurement mode, that is, when the measurement control signal is at a high level, the switch 7 is driven via the buffer 3 and
It leads to the D gate circuit 8. This AND gate circuit 8 has an NA
The clock signal CLK to the pulse generation circuit 10 is selected by the output of the ND gate circuit 21. The output of the NAND gate circuit 21 outputs a low level only when the output of the counter / latch circuit 20 in the linearity measurement mode is maximized, and cuts off the input of the clock signal CLK to the pulse generation circuit 10. Here, the inverter 19 is shifted leading edge timing of the counter signal S4 and the clock CLK during linearity measurements, Ru Oh used for inputting a clock signal S3 for accurate counting and latches. The inverter 17 is provided for alternately and accurately switching the switch 18 and the switch 7.

【0013】図3は図2に示すカウンタ兼ラッチ回路の
構成図である。図3に示すように、このカウンタ兼ラッ
チ回路20は、5ビットの場合にインバータ23,24
と、5個のJ−Kフリップ・フロップ22A〜22E
と、スイッチ回路25,26と、ANDゲート回路27
〜29とから構成される。これらJ−Kフリップ・フロ
ップ22A〜22Eの出力は、入力クロックS3,S4
の立ち上がり時において、入力端J,Kに設定されてい
るデータにより決定される。通常の変換モードでは、直
線性測定制御信号入力がロウレベルになるため、インバ
ータ23を介しスイッチ25がオン、スイッチ26がオ
フになる。これにより、入力端子D0A〜D4Aからの
各デジタルデータは5個のJ−Kフリップ・フロップ2
2A〜22Eにそれぞれ入力される。これらJ−Kフリ
ップ・フロップ22A〜22Eの入力データのパターン
は、この場合にJ=1,K=0とJ=0,K=1の二通
りある。かかるJ,Kフリップ・フロップ22A〜22
Eの動作は、J=1,K=0の時に出力Qが1、J=
0,K=1の時に出力Qが0、J=1,K=1の時に出
力Qが反転、J=0,Q=0の時に出力Qが前の状態保
持するように決められている。従って、通常変換モード
のときの出力は入力Jの状態に依存することになり、こ
の結果入力データのラッチを行えることになる。一方、
直線性測定制御信号がハイレベルの時には、スイッチ2
5がオフ、スイッチ26がオンとなるので、J−Kフリ
ップ・フロップ22A〜22Eは5ビットの同期カウン
タと同じ動作を行う。以下に、このカウント動作を説明
する。
FIG. 3 is a block diagram of the counter / latch circuit shown in FIG. As shown in FIG. 3, the counter / latch circuit 20 has inverters 23 and 24 for 5 bits.
And five JK flip-flops 22A to 22E
, Switch circuits 25 and 26, and AND gate circuit 27
To 29. Outputs of these JK flip-flops 22A to 22E are input clocks S3 and S4.
Is determined by the data set at the input terminals J and K. In the normal conversion mode, the input of the linearity measurement control signal becomes low level, so that the switch 25 is turned on and the switch 26 is turned off via the inverter 23. Thereby, each digital data from the input terminals D0A to D4A is divided into five JK flip-flops 2.
2A to 22E. In this case, there are two patterns of the input data of these JK flip-flops 22A to 22E: J = 1, K = 0, J = 0, and K = 1. Such J, K flip-flops 22A to 22
The operation of E is such that when J = 1 and K = 0, the output Q is 1 and J =
It is determined that the output Q is 0 when 0, K = 1, the output Q is inverted when J = 1, K = 1, and the output Q is maintained when J = 0, Q = 0. Therefore, the output in the normal conversion mode depends on the state of the input J, and as a result, the input data can be latched. on the other hand,
When the linearity measurement control signal is at a high level, switch 2
Since 5 is off and the switch 26 is on, the JK flip-flops 22A to 22E perform the same operation as the 5-bit synchronous counter. Hereinafter, this counting operation will be described.

【0014】図4は図3に示すJ−Kフリップ・フロッ
プの動作を説明するためのタイミング図である。図4に
示すように、J−Kフリップ・フロップ22A〜22E
の動作は反転クロックの立ち上がりで変化するものと
し、パルス発生回路(カウンタ信号S4)10は2分周
動作を行なうものと仮定する。まず、図2のD/A変換
回路1における測定制御信号入力をロウからハイにして
直線性測定モードに切換えた場合、リセットパルス発生
回路2よりリセットパルスS1が発生するので、図4の
J−Kフリップ・フロップ22A〜22Eはすべて初期
状態になり、カウンタ兼ラッチ20の出力端子D4B〜
D0Bは“00000”のデジタル出力となる。一方、
測定モードの場合のカウンタ兼ラッチ回路20のクロッ
ク入力はJ−Kフリップ・フロップ22A〜22Eが立
上り動作を仮定しているため、クロックを逆相に変えて
入力している。そこで、カウンタ信号S4がリセットパ
ルスS1に入力後に立上った場合、最下位データを考え
ると、J−Kフリップ・フロップ22A〜22Eの入力
は、J=1,K=1となる。この状態で反転クロック信
号が立上ると、J−Kフリップ・フロップ(以下、J−
KF/F)22EのQ出力は反転し、0から1となる。
他のJ−KF/F22D〜22Aの状態は前段からのフ
リップフロップの出力Qが“0”であるため、4つのA
ND回路28の出力も“0”となり、各F/Fは前の状
態を保持したまま変化しない。この時のデジタル信号は
00000から00001に変化したことになる。次の
カウンタ信号S4が出力され、反転クロック信号が入力
されると、J−KF/F22Eは反転して、1から0と
なる。この瞬間、J−KF/F22Eの出力Qはそれま
で“1”となっていたため、J−KF/F22DのJ,
K入力も1,1となっており、J−KF/F22Dの出
力Qは反転クロックが入力されると同時に反転し、0か
ら1となる。この時の出力デジタルデータは“0000
1”から“00010”になる。すなわち、AND回路
28,29の出力は、このAND回路出力のが供給され
るJ−KF/Fよりも下位にあるJ−KF/Fの出力Q
がすべて“1”であり且つカウンタ信号4がハイの場合
に、“1”を出力する。その後、反転クロック信号の立
上りにより、これらのAND回路の出力がJ−KF/F
に入力されているので、出力Qを反転させることができ
る。これ以外の状態ではAND回路出力が“0”となっ
ているため、このJ−KF/Fはクロックの立上りがあ
っても、以前の状態を保持する。従って、直線性測定時
には、ラッチ回路はカウンタとして動作する。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the JK flip-flop shown in FIG. As shown in FIG. 4, JK flip-flops 22A to 22E
Is changed at the rising edge of the inverted clock, and it is assumed that the pulse generation circuit (counter signal S4) 10 performs a divide-by-2 operation. First, when the measurement control signal input in the D / A conversion circuit 1 of FIG. 2 is switched from low to high to switch to the linearity measurement mode, the reset pulse S1 is generated by the reset pulse generation circuit 2, so that J- All the K flip-flops 22A to 22E are in the initial state, and the output terminals D4B to
D0B is a digital output of "00000". on the other hand,
In the case of the measurement mode, the clock input to the counter / latch circuit 20 is input after changing the clock to the opposite phase because the JK flip-flops 22A to 22E assume a rising operation. Therefore, when the counter signal S4 rises after being input to the reset pulse S1, the inputs of the JK flip-flops 22A to 22E are J = 1 and K = 1, considering the least significant data. In this state, when the inverted clock signal rises, the JK flip-flop (hereinafter, J-flip-flop) is activated.
The Q output of the (KF / F) 22E is inverted and changes from 0 to 1.
The states of the other J-KF / Fs 22D to 22A are four A because the output Q of the flip-flop from the previous stage is "0".
The output of the ND circuit 28 also becomes "0", and each F / F does not change while maintaining the previous state. At this time, the digital signal has changed from 000000 to 00001. When the next counter signal S4 is output and the inverted clock signal is input, the J-KF / F22E is inverted and changes from 1 to 0. At this moment, the output Q of the J-KF / F22E has been "1" until then.
The K input is also 1, 1, and the output Q of the J-KF / F22D is inverted at the same time as the inverted clock is input, and changes from 0 to 1. The output digital data at this time is “0000”.
From "1" to "00010", that is, the output of the AND circuits 28 and 29 is the output Q of the J-KF / F lower than the J-KF / F to which the output of the AND circuit is supplied.
Are all "1" and the counter signal 4 is high, "1" is output. Thereafter, when the inverted clock signal rises, the outputs of these AND circuits are changed to J-KF / F.
, The output Q can be inverted. In other states, since the output of the AND circuit is "0", this J-KF / F holds the previous state even when the clock rises. Therefore, during linearity measurement, the latch circuit operates as a counter.

【0015】最後に、上述した一実施例で示すデジタル
・アナログ変換器を用いて直線性測定システムを構成し
た回路について説明する。
[0015] Finally, the circuit will be described that constitute the linear measuring system using a digital-to-analog converter shown in the above-described Kazumi施例.

【0016】図5は本発明の応用例を示す直線性測定シ
ステム図である。図5に示すように、本実施例のデジタ
ル・アナログ変換器1の直線性を測定する時に外部と接
続する信号線による入力は、測定制御信号とクロック信
号発生器30からのクロック信号のみであり、出力はボ
ルトメータを用いる電圧計31へのアナログ出力とコン
トローラ32を動作させて電圧計31の値を読み込むた
めのコントローラ制御用同期信号とであり、合計しても
4本となる。しかるに、前述した図6に示す測定システ
ムでは、5ビットのデジダル・アナログ変換器を測定す
る場合、入力デジタルデータを並列入力で5本、アナロ
グ出力1本、クロック信号入力1本の合計7本の信号線
が測定時に必要となる。従って、本実施例のデジタル・
アナログ変換器は信号線の数を削減でき、これはビット
数が大きいほど効果がある。
FIG. 5 is a diagram of a linearity measuring system showing an application example of the present invention. As shown in FIG. 5, when measuring the linearity of the digital-to-analog converter 1 of the present embodiment, the input by the signal line connected to the outside is only the measurement control signal and the clock signal from the clock signal generator 30. The output is an analog output to a voltmeter 31 using a voltmeter and a controller control synchronization signal for operating the controller 32 to read the value of the voltmeter 31, and the total is four. However, in the measurement system shown in FIG. 6 described above, when measuring a 5-bit digital-to-analog converter, a total of seven input digital data of five parallel input, one analog output and one clock signal input are used. A signal line is required for measurement. Therefore, the digital
Analog converters can reduce the number of signal lines, which is more effective as the number of bits increases.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のデジタル
・アナログ変換器は、直線性測定におけるデジタル入力
信号を外部より入力する必要がないため、ピン数の増加
や信号線の数を減少させることができるという効果があ
る。特に、デジタル・アナログ変換器を内蔵した複合構
成LSIでは、デジタル・アナログ変換器の評価および
選別のみのためのデータ入力線を必要としないで済み、
ウェハー上のチェックとしての検査においても、データ
の入力線を必要としないため、測定系の接続の複雑さが
少なくなり、検査をより確実に行えるという効果を有す
る。
As described above, the digital-to-analog converter of the present invention does not need to externally input a digital input signal in the linearity measurement, so that the number of pins is increased and the number of signal lines is reduced. There is an effect that can be. In particular, in a composite LSI with a built-in digital-to-analog converter, there is no need for a data input line only for evaluation and selection of the digital-to-analog converter.
Even in the inspection as a check on the wafer, since no data input line is required, the complexity of connection of the measurement system is reduced, and the inspection can be performed more reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の関連技術を示すデジタル・アナログ変
換器のブロック回路図である。
FIG. 1 is a block circuit diagram of a digital-to-analog converter showing a related technique of the present invention.

【図2】本発明の一実施例を示すデジタル・アナログ変
換器のブロック回路図である。
2 is a block circuit diagram of a digital-to-analog converter showing the Kazumi施例of the present invention.

【図3】図2に示すカウンタ兼ラッチ回路の構成図であ
る。
FIG. 3 is a configuration diagram of a counter / latch circuit shown in FIG. 2;

【図4】図3に示すJ−Kフリップ・フロップの動作を
説明するためのタイミング図である。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the JK flip-flop shown in FIG. 3;

【図5】本発明の応用例を示す直線性測定システム図で
ある。
FIG. 5 is a linearity measurement system diagram showing an application example of the present invention.

【図6】従来の一例を説明するためのデジタル・アナロ
グ変換器を用いた直線性測定システム図である。
FIG. 6 is a diagram of a linearity measurement system using a digital-to-analog converter for explaining an example of the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 D/A変換器 2 リセットパルス発生回路 3,15,16 バッファ 4,17,19,23,24 インバータ 5〜7,18,25,26 スイッチ 8,27〜29 AND回路 9,21 NAND回路 10 パルス発生回路 11 5ビット同期カウンタ 12 バッファ回路 13 ラッチ回路 14 変換処理部 20 カウンタ兼ラッチ回路 22A〜22E J−Kフリップ・フロップ(J−K
F/F) 30 クロック信号発生器 31 電圧計 32 コントローラ IN デジタル入力 OUT アナログ出力 A〜E カウンタ出力
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 D / A converter 2 Reset pulse generation circuit 3,15,16 Buffer 4,17,19,23,24 Inverter 5-7,18,25,26 Switch 8,27-29 AND circuit 9,21 NAND circuit 10 Pulse generation circuit 11 5-bit synchronization counter 12 Buffer circuit 13 Latch circuit 14 Conversion processing unit 20 Counter / latch circuit 22A to 22E JK flip-flop (JK
F / F) 30 Clock signal generator 31 Voltmeter 32 Controller IN Digital input OUT Analog output A to E Counter output

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/00 - 1/88 G01R 31/00 G01R 31/28 H03K 23/50 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H03M 1/00-1/88 G01R 31/00 G01R 31/28 H03K 23/50

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 デジタル入力を供給されるバッファ回路
と、前記バッファ回路の出力側に接続されるとともに、
外部より供給される直線性測定制御信号によって前記バ
ッファ回路の出力もしくはカウンタ信号のいずれかを選
択する第1および第2のスイッチ手段と,前記バッファ
回路の出力をラッチするか、もしくは前記カウンタ信号
を計数する複数のフリップフロップと,前記カウンタ信
号および計数結果のAND論理をとるANDゲート群と
を設けたカウンタ兼ラッチ回路と、前記直線性測定制御
信号の入力時にリセットパルスを前記カウンタ兼ラッチ
回路の前記複数のフリップフロップに供給するリセット
パルス発生回路と、前記直線性測定制御信号および前記
カウンタ兼ラッチ回路の出力のNAND論理をとるNA
ND回路と、前記NAND回路の出力および外部から供
給されるクロックのAND論理をとるAND回路と、前
記AND回路の出力を入力し前記カウンタ兼ラッチ回路
への前記カウンタ信号を出力するパルス発生回路と、前
記カウンタ兼ラッチ回路の出力をアナログ信号に変換す
る変換処理部とを備えることを特徴とするデジタル・ア
ナログ変換器。
1. A buffer circuit supplied with a digital input.
And connected to the output side of the buffer circuit,
The bus is controlled by an externally supplied linearity measurement control signal.
Buffer circuit output or counter signal.
First and second switch means for selecting, and the buffer
Latch the output of the circuit or use the counter signal
A plurality of flip-flops for counting the
AND gates that take the AND logic of the signal and the count result
Counter / latch circuit provided with
Reset pulse is applied to the counter and latch when a signal is input
Reset supplying the plurality of flip-flops of a circuit
A pulse generation circuit, the linearity measurement control signal and the
NA that takes NAND logic of output of counter / latch circuit
An ND circuit, an output of the NAND circuit and an external
An AND circuit which takes an AND logic of the supplied clock;
An output of the AND circuit, and the counter / latch circuit
A pulse generating circuit that outputs the counter signal to the
The output of the counter / latch circuit is converted to an analog signal.
And a conversion processing unit .
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