JP3206014B2 - Electron detector and scanning electron microscope using the same - Google Patents
Electron detector and scanning electron microscope using the sameInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、走査形電子顕微鏡及び
その類似装置に係り、特に、二次電子などの試料像信号
検出器として、パルス計数形検出器を用いたものに関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning electron microscope and similar devices, and more particularly to a scanning electron microscope using a pulse counting type detector as a sample image signal detector for secondary electrons or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】走査形電子顕微鏡は、細く収束した電子
ビームを試料上で二次元走査し、試料から発生する二次
電子などの信号を検出,増幅し、この信号を輝度変調信
号として陰極線管などの上に拡大された試料像を表示す
るものである。信号を検出する手段としては、電子の入
射により発光するシンチレータ(電子−光変換素子)
と、光電子増倍管を組み合わせたもの(シンチレータ−
ホトマルチプライヤ型検出器)が一般的に用いられてお
り、光電子増倍管の出力電流を増幅器で増幅して、その
まま陰極線管の輝度変調信号とするか、あるいはいった
んA/D変換器でデジタル信号にして画像メモリなどの
デジタル回路を経由した後、再びD/A変換器によりア
ナログ信号にして陰極線管の輝度変調信号とすることに
より画像を形成していた。2. Description of the Related Art In a scanning electron microscope, a finely focused electron beam is two-dimensionally scanned on a sample, a signal such as secondary electrons generated from the sample is detected and amplified, and this signal is converted into a luminance modulation signal as a cathode ray tube. The enlarged image of the sample is displayed on the screen. As means for detecting a signal, a scintillator (electron-light conversion element) that emits light when electrons are incident
And a photomultiplier tube (scintillator-
Photomultiplier type detector) is generally used, and the output current of a photomultiplier tube is amplified by an amplifier and directly used as a luminance modulation signal of a cathode ray tube, or once by an A / D converter. A signal is passed through a digital circuit such as an image memory and then converted into an analog signal again by a D / A converter to form a luminance modulation signal of a cathode ray tube, thereby forming an image.
【0003】この方法では、信号を連続量(アナログ
量)として扱っているが、別の方法として、本来、検出
する信号は粒子としての電子の集合であり、信号の大き
さとは、電子の数であることに基づき、個々の電子を別
々に分離検出して検出数を計数して信号とする方法(パ
ルス計数法)がある。In this method, a signal is treated as a continuous amount (analog amount). However, as another method, a signal to be detected is originally a set of electrons as particles, and the magnitude of the signal is the number of electrons. Based on this, there is a method (pulse counting method) in which individual electrons are separately separated and detected, and the number of detected electrons is counted to generate a signal.
【0004】パルス計数法では、入射してくる電子を別
々に検出するため、検出器,増幅器,計数回路は、電子
の入射間隔よりも高速で動作するものであることが必要
である。ところが、走査形電子顕微鏡の二次電子信号量
は、小さくても数pAであり、1pAは1秒あたり6250
000 個の電子数に相当するので、これを数え落とし無し
で計数するには、(電子の発生が確率過程であることを
考慮して)上記の検出系には、100MHzをこえる動
作速度が必要であり、これを満足することが容易でなか
ったため、従来、パルス計数法は使用されていなかっ
た。しかし近年、上記の条件をみたす高速の検出系が可
能になり、走査型電子顕微鏡にパルス計数法を利用する
ことが行なわれるようになった。In the pulse counting method, since the incident electrons are separately detected, it is necessary that the detector, the amplifier, and the counting circuit operate at a speed higher than the interval between the incident electrons. However, the secondary electron signal amount of the scanning electron microscope is at least several pA, and 1 pA is 6250 per second.
Since the number of electrons corresponds to 000 electrons, the above detection system needs an operation speed of more than 100 MHz (taking into account that the generation of electrons is a stochastic process) in order to count this without counting down. Since it was not easy to satisfy this, the pulse counting method was not used conventionally. However, in recent years, a high-speed detection system that satisfies the above conditions has been made possible, and the pulse counting method has been used in a scanning electron microscope.
【0005】パルス計数法は、例えば、文献「Secondar
y Electron Counting Images inSEM,Proceedings of th
e XIIth International Congress for ElectronMicrosc
opy,1990,pp402−403」に報告されてい
るように、アナログ信号として処理する方法に比べ、 (1)同一の二次電子量の場合には、数倍、S/N比が向
上し、ノイズの少ないデータが得られる。The pulse counting method is described, for example, in the document "Secondar
y Electron Counting Images inSEM, Proceedings of th
e XIIth International Congress for ElectronMicrosc
opy, 1990, pp. 402-403, "(1) In the case of the same amount of secondary electrons, the S / N ratio is improved by several times in the case of the same amount of secondary electrons, Data with less noise can be obtained.
【0006】(2)同じS/N比のデータを得るために
は、二次電子量が少なくて良い。すなわち、試料を照射
する一次電子量を減らすことができ、空間分解能の向
上,帯電,試料汚染の減少,試料損傷減少などができ
る。(2) In order to obtain data having the same S / N ratio, the amount of secondary electrons may be small. That is, the amount of primary electrons irradiating the sample can be reduced, and the spatial resolution can be improved, charging, sample contamination can be reduced, and sample damage can be reduced.
【0007】という利点があり、優れた方法である。This is an excellent method.
【0008】パルス計数型の電子検出器は、文献「SE
Mにおける電子計数画像実時間処理システム,日本学術
振興会荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会第
113回研究会資料,1990,pp131−136」に
記載されているように、シンチレータと光電子増倍管で
構成され、この出力パルスは、低レベルの電気的ノイズ
を除去するためのディスクリミネータを経由してカウン
タで計数される。カウンタは、電子線走査回路で作られ
る一画素時間ごとに出力されるクロックの間の計数値を
各クロックごとに出力し、このデータは順次画像記憶回
路に書き込まれ、D/A変換器でアナログ信号に変換さ
れ、画像として表示される。このとき、画像のコントラ
ストを適当にするために、例えば画像記憶回路中の各画
素のデータの最小値と最大値の間を、適当なデータ範囲
に入るように演算,修正した後出力するようにするのが
一般的である。A pulse counting type electronic detector is disclosed in the document "SE.
Electronic Counting Image Real-time Processing System in M, 132nd Committee of Japan Society for the Promotion of Science
As described in the 113th Meeting of the Society, 1990, pp. 131-136, it is composed of a scintillator and a photomultiplier tube, and this output pulse uses a discriminator for removing low-level electrical noise. It is counted by the counter via. The counter outputs a count value between clocks generated by the electron beam scanning circuit for each pixel time for each clock, and this data is sequentially written to the image storage circuit, and is converted into an analog signal by the D / A converter. It is converted into a signal and displayed as an image. At this time, in order to make the image contrast appropriate, for example, the data between the minimum value and the maximum value of the data of each pixel in the image storage circuit is calculated and corrected so as to fall within an appropriate data range, and then output. It is common to do.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】従来の、信号をアナロ
グ量として扱う方法の場合には、検出器出力の電圧の大
小がそのまま画像のコントラストになるので、画像のコ
ントラストを調整する手段としては、光電子増倍管の電
圧を調整するか、その後の増幅器の利得を調整してい
る。In the conventional method of treating a signal as an analog quantity, the magnitude of the voltage of the detector output becomes the image contrast as it is. Therefore, as a means for adjusting the image contrast, The voltage of the photomultiplier is adjusted or the gain of the amplifier is adjusted thereafter.
【0010】しかし、パルス計数型では、検出器出力の
パルスの、一画素あたりの数の大小が画像のコントラス
トになり、上記の方法では、パルスの波高値が変化する
のみで、パルスの数は変化しない。従って、検出器出力
のパルスの数を調整する、別の手段が必要になる。However, in the pulse counting type, the magnitude of the number of pulses of the detector output per pixel becomes the contrast of the image. In the above method, only the pulse peak value changes, and the number of pulses is It does not change. Therefore, another means is needed to adjust the number of pulses at the detector output.
【0011】もう一つのパルス計数型特有の問題は、走
査速度をかえると、一画素あたりの時間が変化するの
で、上記のカウンタの出力値、すなわち一画素時間の間
検出器出力を計数した値、が変化することである。Another problem peculiar to the pulse counting type is that when the scanning speed is changed, the time per pixel changes, so that the output value of the above counter, that is, the value obtained by counting the detector output during one pixel time, is obtained. Is to change.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】この問題を解決するため
には、検出器出力以降のどこかで、各画素のデータの数
値を自由に増減できる手段を付加し、コントラストの増
減、及び、走査時間の変化によるデータの変化の補正の
ためにその増減値を制御してやれば良い。In order to solve this problem, means for freely increasing or decreasing the numerical value of the data of each pixel somewhere after the output of the detector is added to increase or decrease the contrast and scan. What is necessary is just to control the increase / decrease value in order to correct a change in data due to a change in time.
【0013】[0013]
【作用】検出器の後に、数値乗算手段を挿入する。この
乗算手段の乗算値は、 (1)コントラスト調整のための手段により、適当な刻み
で変更可能とする。The numerical multiplication means is inserted after the detector. The multiplied value of this multiplying means can be changed at appropriate intervals by means of (1) contrast adjusting means.
【0014】(2)走査速度をきりかえたとき、一画素時
間に反比例して変化させる。(2) When the scanning speed is changed, the scanning speed is changed in inverse proportion to one pixel time.
【0015】さらに、検出器出力または乗算手段の出力
に、画像データのオフセット値、すなわち、画像の明る
さを調整するために、数値加算手段を挿入する。この加
算値は、画像の明るさ調整のための手段により、適当な
刻みで変更可能とする。Furthermore, a numerical value adding means is inserted into the output of the detector or the output of the multiplying means in order to adjust the offset value of the image data, that is, the brightness of the image. This added value can be changed at appropriate intervals by means for adjusting the brightness of the image.
【0016】この二つの手段により、表示される画像の
コントラストを適当な値に調整することができる。With these two means, the contrast of the displayed image can be adjusted to an appropriate value.
【0017】[0017]
【実施例】図2は、従来のパルス計数形検出器の例であ
る。一次電子線1の照射により試料2から放出された二
次電子はシンチレータ3に入射し、これを発光させる。
発光した光は光電子増倍管4で増幅され、パルス列とし
て出力される。このパルス列は増幅器5で増幅され、デ
ィスクリミネータ6を経由してカウンタ7に入力され
る。ディスクリミネータ6は、一定の大きさ以上のパル
スのみを通過させ、波高値の小さいパルスは阻止するこ
とにより、電気的ノイズの影響をなくするためのもので
ある。走査回路11は、偏向コイル12を駆動して電子
線1を走査するとともに、画像の1画素に相当する時間
間隔のクロックパルスを発生し、カウンタ7に入力す
る。カウンタ7は、クロックパルスが入力された瞬間の
計数値を出力するとともにリセットされ、次の画素のデ
ータを計数し始める。画像メモリ8は、走査回路11で
作られるアドレスデータにしたがってカウンタ7の出力
データを記憶していく。一画面の画像データを記憶し終
わるか、または、設定されている複数回の走査のデータ
を加算し終わると、画像メモリ8のデータは、D/A変
換器9に画像表示モニタ10に適合した速度で画像デー
タを出力し、画像表示モニタ10に画像が表示される。
コンピュータ13は、全体の制御を行なうとともに、前
述したように、表示画像を適当なコントラストにするた
めのデータの演算などを行なう。FIG. 2 shows an example of a conventional pulse counting type detector. Secondary electrons emitted from the sample 2 by the irradiation of the primary electron beam 1 enter the scintillator 3 and emit light.
The emitted light is amplified by the photomultiplier tube 4 and output as a pulse train. This pulse train is amplified by the amplifier 5 and input to the counter 7 via the discriminator 6. The discriminator 6 eliminates the influence of electrical noise by passing only pulses having a certain magnitude or more and blocking pulses having a small peak value. The scanning circuit 11 drives the deflection coil 12 to scan the electron beam 1, generates a clock pulse at a time interval corresponding to one pixel of an image, and inputs the clock pulse to the counter 7. The counter 7 outputs the count value at the moment when the clock pulse is input and is reset, and starts counting the data of the next pixel. The image memory 8 stores output data of the counter 7 according to address data generated by the scanning circuit 11. When the image data of one screen has been stored or the data of the set multiple scans have been added, the data in the image memory 8 is adapted to the D / A converter 9 and the image display monitor 10. The image data is output at the speed, and the image is displayed on the image display monitor 10.
The computer 13 performs overall control and, as described above, calculates data for making a display image have an appropriate contrast.
【0018】図1は、本発明の一つの実施例を示すもの
で、図2の画像メモリ8の前にデジタル乗算器14と、
デジタル加算器15を挿入したものである。乗算器14
は、カウンタ7の出力(S)と、コンピュータ13から
与えられる乗数(M)の乗算を行なう。加算器15は、
乗算器14の出力(S′)に、やはりコンピュータ13
から与えられる数値(B)を加算して、画像メモリ8へ
出力する。コンピュータ13は、画像のコントラスト及
び明るさの調整のための操作スイッチ16からの入力
と、走査回路11の走査速度、および画像加算回数とか
ら、乗数(M)および加算数値(B)を算出し、それぞ
れ乗算器14と加算器15に設定する。FIG. 1 shows one embodiment of the present invention, wherein a digital multiplier 14 and a digital multiplier 14 are provided before the image memory 8 of FIG.
The digital adder 15 is inserted. Multiplier 14
Multiplies the output (S) of the counter 7 by a multiplier (M) given from the computer 13. The adder 15
The output (S ') of the multiplier 14 is also connected to the computer 13
And outputs the result to the image memory 8. The computer 13 calculates a multiplier (M) and a numerical value (B) from the input from the operation switch 16 for adjusting the contrast and brightness of the image, the scanning speed of the scanning circuit 11, and the number of image additions. Are set in the multiplier 14 and the adder 15, respectively.
【0019】[0019]
【表1】 [Table 1]
【0020】表1は、乗数(M)の標準値の設定例を示
したものである。この例では、最低走査速度は100秒
であり、これに、走査速度の比の逆数を乗した数値を用
いている。100秒のときの値を10としているのは、
上述のように、コントラスト調整のために、この値を、
10%刻みで(1から100の間で)調整できるように
するためである。画像の繰り返し加算を行なう場合に
は、この値を加算回数Nで割った値を設定する。なお、
1/30秒のときのNの値を30以上に制限しているの
は、Mの値が非常に大きくなって、乗算器以降の回路の
ビット数が大きくなりすぎるのを防ぐためと、この走査
速度においては、例えば前述のように、入射電子量1p
Aでは、130nsの間に到達する電子の数は平均0.
8 個しかなく、実質的に繰り返し加算しないと画像に
ならないからである。Table 1 shows an example of setting a standard value of the multiplier (M). In this example, the minimum scanning speed is 100 seconds, and a numerical value obtained by multiplying this by the reciprocal of the scanning speed ratio is used. The value of 10 at 100 seconds is
As described above, this value is used for contrast adjustment.
This is because the adjustment can be performed in 10% steps (between 1 and 100). When repeatedly adding images, a value obtained by dividing this value by the number of additions N is set. In addition,
The reason for limiting the value of N at 1/30 seconds to 30 or more is to prevent the value of M from becoming too large and the number of bits of the circuits after the multiplier from becoming too large. At the scanning speed, for example, as described above, the incident electron amount 1p
In A, the number of electrons arriving during 130 ns averages 0.1.
This is because there are only eight, and an image is not obtained unless the addition is substantially repeated.
【0021】図3は、乗算器14と加算器15の機能を
より簡易な構成で置き換える、入出力値変換回路17を
示したものである。この方法では、メモリ素子18に、
アドレス値に比例したデータを書き込んでおく。メモリ
素子18は、動作時には読みだしモードに設定されてお
り、アドレス入力には、カウンタ7の出力データが接続
され、その値に対応するアドレスに書かれているデータ
が画像メモリ8へ出力される。メモリ素子18のアドレ
ス入力はきりかえスイッチ19でコンピュータ13に接
続でき、乗算値Mおよび加算値Bを変更するときは、コ
ンピュータ13に接続して、データを書きかえる。FIG. 3 shows an input / output value conversion circuit 17 which replaces the functions of the multiplier 14 and the adder 15 with a simpler configuration. In this method, the memory element 18
Write data proportional to the address value. The memory element 18 is set to the reading mode during operation, the output data of the counter 7 is connected to the address input, and the data written at the address corresponding to the value is output to the image memory 8. . The address input of the memory element 18 can be connected to the computer 13 by the switching switch 19, and when changing the multiplication value M and the addition value B, it is connected to the computer 13 to rewrite the data.
【0022】[0022]
【表2】 [Table 2]
【0023】表2は設定するデータの例を示したもので
ある。この例は、カウンタ7の計数容量が8ビットの場
合である。高速のデジタル乗算器と加算器は、かなり大
きな回路になるが、この方法では、比較的簡単な回路で
同じ機能を実現できる。Table 2 shows an example of data to be set. This example is a case where the counting capacity of the counter 7 is 8 bits. Although high-speed digital multipliers and adders are quite large circuits, this method can achieve the same function with relatively simple circuits.
【0024】[0024]
【発明の効果】本発明により、パルス計数形の検出器に
おいて、信号をアナログ量として扱う従来の検出器と同
様に、自由に画像のコントラスト,明るさを調整するこ
とができるようになる。画像をいったん画像メモリに取
り込んでから表示する場合には、前述したように、メモ
リのデータに対して演算を行なっても良いわけである
が、走査形電子顕微鏡などでは、目的の観察視野を選ん
だり、フォーカス調整を行なうときに、リアルタイムで
画像が観察できなければならない。本方法によれば、そ
れが何の問題もなく実現できる。According to the present invention, it is possible to freely adjust the contrast and brightness of an image in a pulse counting type detector, similarly to a conventional detector which treats a signal as an analog quantity. When an image is once stored in an image memory and then displayed, it is possible to perform an operation on the data in the memory, as described above. However, when adjusting the focus, it is necessary to be able to observe the image in real time. According to the method, it can be realized without any problems.
【0025】また、この種の装置では、テレビジョンな
どと異なり、信号量が少ないために良質の画像を得るた
めにはかなり遅い走査速度としなければならず、一方で
は上述のように画像を観察しながらの調整が必要なため
に早い走査速度も必要なために、走査速度は大幅に変化
できるようにするのが一般的であり、パルス計数形特有
の問題として、走査速度による信号量の変化が生ずる
が、これも本発明の実施によりリアルタイムの補正が可
能であり、操作性の向上、ひいては、データの質の向上
にきわめて大きな効果がある。Also, in this type of apparatus, unlike a television or the like, the signal amount is small, so that a very low scanning speed is required to obtain a high quality image. In general, it is necessary to make the scanning speed drastically changeable because of the need to make adjustments while the scanning speed is high. However, this can also be corrected in real time by implementing the present invention, which has a very great effect on improving operability and, consequently, data quality.
【図1】走査形電子顕微鏡に適用した本発明の一実施例
を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention applied to a scanning electron microscope.
【図2】従来の、パルス計数法の構成を示すブロック図
である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional pulse counting method.
【図3】本発明の他の実施方法を示すブロック図であ
る。FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
1…一次電子線、2…試料、3…シンチレータ、4…光
電子増倍管、5…増幅器、6…ディスクリミネータ、7
…カウンタ、8…画像メモリ、9…D/A変換器、10
…画像表示モニタ、11…走査回路、12…偏向コイ
ル、13…コンピュータ、14…デジタル乗算器、15
…デジタル加算器、16…操作スイッチ、17…入出力
変換回路、18…メモリ素子、19…きりかえスイッ
チ。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Primary electron beam, 2 ... Sample, 3 ... Scintillator, 4 ... Photomultiplier tube, 5 ... Amplifier, 6 ... Discriminator, 7
... Counter, 8 ... Image memory, 9 ... D / A converter, 10
... image display monitor, 11 ... scanning circuit, 12 ... deflection coil, 13 ... computer, 14 ... digital multiplier, 15
... Digital adder, 16 ... Operation switch, 17 ... Input / output conversion circuit, 18 ... Memory element, 19 ... Replacement switch.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 影山 甲子男 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社 日立製作所 那珂工場内 (56)参考文献 特開 平3−46743(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 37/28 G01T 1/164 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Koshio Kageyama 882 Ma, Katsuta-shi, Ibaraki Hitachi, Ltd. Naka Plant (56) References JP-A-3-46743 (JP, A) (58) Investigated Field (Int.Cl. 7 , DB name) H01J 37/28 G01T 1/164
Claims (5)
出器の出力を、画像用記録回路を介して、または直接、
連続量に変換して表示装置の輝度信号として供給する電
子検出器において、 該検出器の出力に、前記電子線走査の1画素当りの時間
に反比例するような数値を乗算する数値乗算手段を備え
てなることを特徴とする電子検出器。 1. A pulse counting type electron detector, the output of the detector, via the image recording circuit, or directly,
You supply collector as a luminance signal of the display device is converted into a continuous amount
In the child detector, a time per pixel of the electron beam scanning is added to an output of the detector.
Equipped with a numerical multiplying means for multiplying a numerical value that is inversely proportional to
Electron detector characterized by comprising Te.
の時間と画像の繰り返し加算時間との積に反比例する値
としたことを特徴とする 電子検出器。2. A method according to claim 1 , wherein the multiplication value of said numerical multiplication means is calculated for each pixel of electron beam scanning.
Value that is inversely proportional to the product of the time
An electronic detector, characterized in that:
コントラスト設定手段で生成する任意の数値を乗算した
ものであることを特徴とする 電子検出器。3. The method according to claim 1 , wherein the multiplication value of said numerical multiplication means is further manually or automatically calculated.
Multiplied by any number generated by contrast setting means
An electronic detector, characterized in that:
算する手段を付加したことを特徴とする 電子検出器。4. The method according to claim 1 , further comprising adding or subtracting an arbitrary value to an output of said detector.
An electronic detector characterized by adding means for calculating .
子顕微鏡 。 5. The scanning electronic device according to claim 1 , further comprising the electronic detector.
Child microscope .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10245491A JP3206014B2 (en) | 1991-05-08 | 1991-05-08 | Electron detector and scanning electron microscope using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10245491A JP3206014B2 (en) | 1991-05-08 | 1991-05-08 | Electron detector and scanning electron microscope using the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04332447A JPH04332447A (en) | 1992-11-19 |
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| JP (1) | JP3206014B2 (en) |
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|---|---|---|---|---|
| JP6416544B2 (en) | 2014-08-27 | 2018-10-31 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Charged particle beam equipment |
-
1991
- 1991-05-08 JP JP10245491A patent/JP3206014B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JPH04332447A (en) | 1992-11-19 |
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