JP3208826B2 - 構造物試験機の制御装置 - Google Patents
構造物試験機の制御装置Info
- Publication number
- JP3208826B2 JP3208826B2 JP07872192A JP7872192A JP3208826B2 JP 3208826 B2 JP3208826 B2 JP 3208826B2 JP 07872192 A JP07872192 A JP 07872192A JP 7872192 A JP7872192 A JP 7872192A JP 3208826 B2 JP3208826 B2 JP 3208826B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- signal
- correction coefficient
- target
- target signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、航空機や建築物など
の構造物を構成する複数個の構成要素の静的強度試験や
疲労試験などを行う構造物試験機の制御装置に係り、特
に、フィードバック制御中の負荷信号の補正に関するも
のである。
の構造物を構成する複数個の構成要素の静的強度試験や
疲労試験などを行う構造物試験機の制御装置に係り、特
に、フィードバック制御中の負荷信号の補正に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のフィードバック制御中の
負荷信号の補正を行う構造物試験機の制御装置として、
図５に示すようなものが知られている。以下、図に従っ
て説明する。
負荷信号の補正を行う構造物試験機の制御装置として、
図５に示すようなものが知られている。以下、図に従っ
て説明する。
【０００３】２１は、構造物の各構成要素から計測され
た応答信号をデジタル信号に変換する信号変換部、２２
は、信号変換部２１によってデジタル信号に変換された
応答信号のピーク（山）とトラフ（谷）を検出し、検出
したピークとトラフから応答信号の振幅を求め、目標信
号の振幅との差（ε）を検出する応答信号解析部、２３
は、応答信号解析部２２により得られた差εに基づいて
次回に出力する負荷信号の補正計算を行う補正演算部、
２４は、補正演算部２３の補正計算に用いられる補正係
数（ｎ）が記憶されている記憶装置、２５は、補正演算
部２３により計算された負荷信号を構造物の各構成要素
に出力する負荷信号出力部である。
た応答信号をデジタル信号に変換する信号変換部、２２
は、信号変換部２１によってデジタル信号に変換された
応答信号のピーク（山）とトラフ（谷）を検出し、検出
したピークとトラフから応答信号の振幅を求め、目標信
号の振幅との差（ε）を検出する応答信号解析部、２３
は、応答信号解析部２２により得られた差εに基づいて
次回に出力する負荷信号の補正計算を行う補正演算部、
２４は、補正演算部２３の補正計算に用いられる補正係
数（ｎ）が記憶されている記憶装置、２５は、補正演算
部２３により計算された負荷信号を構造物の各構成要素
に出力する負荷信号出力部である。
【０００４】なお、図６は、計測した応答信号と、目標
信号との差を示す図である。図６中の実線の波形は目標
信号であり、点線の波形は応答信号である。図６（ａ）
は、応答信号が目標信号より小さい場合を示し、図６
（ｂ）は、逆に応答信号が目標信号より大きい場合を示
す。
信号との差を示す図である。図６中の実線の波形は目標
信号であり、点線の波形は応答信号である。図６（ａ）
は、応答信号が目標信号より小さい場合を示し、図６
（ｂ）は、逆に応答信号が目標信号より大きい場合を示
す。
【０００５】上述の応答信号解析部２２は、計測した応
答信号のピークとトラフから振幅Ｒesp を求め、目標信
号の振幅Ｒangeとの差ε（（Ｒange−Ｒesp ）／２）を
求める。補正演算部２３は、記憶装置２４に記憶されて
いる補正係数ｎと応答信号解析部２２によって求められ
たεとに基づいて、次式（１）で表される補正計算を応
答信号のピークとトラフが検出されるたびに行う。 負荷信号 ＝ 目標信号 ＋ （１／ｎ） × ε ………（１） すなわち、補正演算部２３は、応答信号と目標信号との
ずれを徐々に補正し、目標信号に近い応答信号を得られ
るように負荷信号を上記の補正計算によって求める。
答信号のピークとトラフから振幅Ｒesp を求め、目標信
号の振幅Ｒangeとの差ε（（Ｒange−Ｒesp ）／２）を
求める。補正演算部２３は、記憶装置２４に記憶されて
いる補正係数ｎと応答信号解析部２２によって求められ
たεとに基づいて、次式（１）で表される補正計算を応
答信号のピークとトラフが検出されるたびに行う。 負荷信号 ＝ 目標信号 ＋ （１／ｎ） × ε ………（１） すなわち、補正演算部２３は、応答信号と目標信号との
ずれを徐々に補正し、目標信号に近い応答信号を得られ
るように負荷信号を上記の補正計算によって求める。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。
【０００７】すなわち、この種の構造物の試験では、そ
の構成要素に対して異なる振幅の目標信号を組み合わせ
て連続的に作用させていくのであるが、前回の目標信号
が相違すると今回の目標信号が同じであっても、計測さ
れる応答信号と、目標信号との間に大きな違いが生じる
ことが経験的に認められる。例えば、前回の荷重として
７ｔに相当する目標信号を加え、その後に今回の荷重と
して１０ｔに相当する目標信号を加えた場合に計測され
る応答信号と、前回の荷重として６ｔに相当する目標信
号を加え、その後に今回の荷重として１０ｔに相当する
目標信号を加えた場合に計測される応答信号とでは、そ
れぞれ１０ｔに相当する目標信号との差が異なってくる
のである。このように前回の目標信号と今回の目標信号
との組合せパターン（以下、負荷パターンという）の相
違によって、計測される応答信号と、目標信号との差が
異なってくるにもかかわらず、従来例では上述のように
負荷パターンにかかわりなく一定の補正係数で目標信号
を補正して負荷信号を作成していたので、負荷点に対し
て目標信号に忠実な負荷を与えることができないという
問題点がある。
の構成要素に対して異なる振幅の目標信号を組み合わせ
て連続的に作用させていくのであるが、前回の目標信号
が相違すると今回の目標信号が同じであっても、計測さ
れる応答信号と、目標信号との間に大きな違いが生じる
ことが経験的に認められる。例えば、前回の荷重として
７ｔに相当する目標信号を加え、その後に今回の荷重と
して１０ｔに相当する目標信号を加えた場合に計測され
る応答信号と、前回の荷重として６ｔに相当する目標信
号を加え、その後に今回の荷重として１０ｔに相当する
目標信号を加えた場合に計測される応答信号とでは、そ
れぞれ１０ｔに相当する目標信号との差が異なってくる
のである。このように前回の目標信号と今回の目標信号
との組合せパターン（以下、負荷パターンという）の相
違によって、計測される応答信号と、目標信号との差が
異なってくるにもかかわらず、従来例では上述のように
負荷パターンにかかわりなく一定の補正係数で目標信号
を補正して負荷信号を作成していたので、負荷点に対し
て目標信号に忠実な負荷を与えることができないという
問題点がある。
【０００８】さらに、この種の構造物の試験では、各構
成要素の負荷点に対して並列的に負荷を作用させている
ので、各負荷点は互いに干渉を受ける。このように負荷
点間の干渉があるために、応答信号と目標信号との間に
差が生じることもある。しかも、負荷点間の干渉は、常
に一定のものでないので、従来例のように一定の補正係
数で目標信号を補正して負荷信号を作成しても、負荷点
に対して目標信号に忠実な負荷を与えることが困難であ
る。
成要素の負荷点に対して並列的に負荷を作用させている
ので、各負荷点は互いに干渉を受ける。このように負荷
点間の干渉があるために、応答信号と目標信号との間に
差が生じることもある。しかも、負荷点間の干渉は、常
に一定のものでないので、従来例のように一定の補正係
数で目標信号を補正して負荷信号を作成しても、負荷点
に対して目標信号に忠実な負荷を与えることが困難であ
る。
【０００９】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、構造物の複数個の構成要素に対する
試験において、負荷パターンの相違や負荷点間の相互干
渉の影響を受けずに負荷信号を正確に補正し、各負荷点
でのフィードバック制御の精度を向上することができる
構造物試験機の制御装置を提供することを目的とする。
れたものであって、構造物の複数個の構成要素に対する
試験において、負荷パターンの相違や負荷点間の相互干
渉の影響を受けずに負荷信号を正確に補正し、各負荷点
でのフィードバック制御の精度を向上することができる
構造物試験機の制御装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、被試験構造物の複数個の負荷点に対し
てそれぞれ個別に負荷信号を出力する負荷信号出力手段
と、前記構造物の複数個の負荷点からそれぞれ個別に応
答信号を入力する応答信号入力手段と、前回の目標信号
と今回の目標信号との組合せである負荷パターンごとに
負荷信号を補正するための補正係数を記憶する補正係数
記憶手段と、前記応答信号入力手段から入力された応答
信号とそれに対応した目標信号との差分に基づいて新た
な補正係数を算出し、前記補正係数記憶手段に記憶され
た補正係数を更新する補正係数更新手段と、前記補正係
数記憶手段に記憶された補正係数を用いて次回に発生さ
せる負荷パターンに応じた負荷信号を算出する演算手段
とを備えたものである。
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、被試験構造物の複数個の負荷点に対し
てそれぞれ個別に負荷信号を出力する負荷信号出力手段
と、前記構造物の複数個の負荷点からそれぞれ個別に応
答信号を入力する応答信号入力手段と、前回の目標信号
と今回の目標信号との組合せである負荷パターンごとに
負荷信号を補正するための補正係数を記憶する補正係数
記憶手段と、前記応答信号入力手段から入力された応答
信号とそれに対応した目標信号との差分に基づいて新た
な補正係数を算出し、前記補正係数記憶手段に記憶され
た補正係数を更新する補正係数更新手段と、前記補正係
数記憶手段に記憶された補正係数を用いて次回に発生さ
せる負荷パターンに応じた負荷信号を算出する演算手段
とを備えたものである。
【００１１】
【作用】この発明の作用は次のとおりである。ある種の
負荷パターンの負荷信号を出力する場合、演算手段は補
正係数記憶手段から、当該負荷パターンに対応した補正
係数を読み出し、その補正係数を使って目標信号を補正
することにより、負荷パターンに応じた負荷信号を算出
する。この負荷信号は負荷信号出力手段を介して、構造
物の各負荷点に出力される。構造物の各負荷点で計測さ
れた応答信号は、応答信号入力手段から取り込まれる。
補正係数更新手段は、入力された応答信号とそれに対応
した目標信号との差分に基づいて新たな補正係数を算出
し、補正係数記憶手段に記憶された補正係数を更新す
る。次に、同じ負荷パターンの負荷信号を出力する場合
は、補正係数記憶手段に記憶された新たな補正係数を使
って、負荷信号が算出される。以下、応答信号が入力さ
れるごとに、上述の補正係数の更新を行っていく。
負荷パターンの負荷信号を出力する場合、演算手段は補
正係数記憶手段から、当該負荷パターンに対応した補正
係数を読み出し、その補正係数を使って目標信号を補正
することにより、負荷パターンに応じた負荷信号を算出
する。この負荷信号は負荷信号出力手段を介して、構造
物の各負荷点に出力される。構造物の各負荷点で計測さ
れた応答信号は、応答信号入力手段から取り込まれる。
補正係数更新手段は、入力された応答信号とそれに対応
した目標信号との差分に基づいて新たな補正係数を算出
し、補正係数記憶手段に記憶された補正係数を更新す
る。次に、同じ負荷パターンの負荷信号を出力する場合
は、補正係数記憶手段に記憶された新たな補正係数を使
って、負荷信号が算出される。以下、応答信号が入力さ
れるごとに、上述の補正係数の更新を行っていく。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図１は、本実施例に係る構造物試験機の制御
装置の概略構成を示すブロック図である。
説明する。図１は、本実施例に係る構造物試験機の制御
装置の概略構成を示すブロック図である。
【００１３】図１において、１は、構造試験用アナログ
制御装置（図示せず）から入力した応答信号をデジタル
信号に変換するＡ／Ｄ（Analog to Digital)変換器であ
る。Ａ／Ｄ変換器１は、構造物の各負荷点に対応した複
数個のチャネルを備えている。このＡ／Ｄ変換器１は、
この発明の応答信号入力手段に相当する。
制御装置（図示せず）から入力した応答信号をデジタル
信号に変換するＡ／Ｄ（Analog to Digital)変換器であ
る。Ａ／Ｄ変換器１は、構造物の各負荷点に対応した複
数個のチャネルを備えている。このＡ／Ｄ変換器１は、
この発明の応答信号入力手段に相当する。
【００１４】２は、構造試験用アナログ制御装置（図示
せず）に対してデジタル信号で記憶されている負荷信号
をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａ（Digital to
Analog)変換器である。Ｄ／Ａ変換器２は、構造物の各
負荷点に対応した複数個のチャネルを備えている。この
Ｄ／Ａ変換器２は、この発明の負荷信号出力手段に相当
する。
せず）に対してデジタル信号で記憶されている負荷信号
をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａ（Digital to
Analog)変換器である。Ｄ／Ａ変換器２は、構造物の各
負荷点に対応した複数個のチャネルを備えている。この
Ｄ／Ａ変換器２は、この発明の負荷信号出力手段に相当
する。
【００１５】１０は構造物試験機の制御装置を示してい
る。構造物試験機の制御装置１０は、補助記憶装置３、
ＣＰＵ（中央処理装置：Central Processing Unit ）
４、ＲＡＭ（Ramdom Access Memory）５、ＣＲＴ（Cath
ode Ray Tube）および、Ｋ／Ｂ（Key Board ）からなる
入出力装置６、入出力インターフェイス７により構成さ
れている。
る。構造物試験機の制御装置１０は、補助記憶装置３、
ＣＰＵ（中央処理装置：Central Processing Unit ）
４、ＲＡＭ（Ramdom Access Memory）５、ＣＲＴ（Cath
ode Ray Tube）および、Ｋ／Ｂ（Key Board ）からなる
入出力装置６、入出力インターフェイス７により構成さ
れている。
【００１６】補助記憶装置３には、後述する負荷信号の
補正処理の手順（プログラム）や、構造物試験に用いる
目標信号に関するデータ、負荷信号を補正するための補
正係数に関するデータなどがあらかじめ記憶されてい
る。ＣＰＵ４は、補助記憶装置３に記憶されているプロ
グラムに従って、負荷信号の算出処理や補正係数の更新
処理などを行うもので、この発明の演算手段および、補
正係数更新手段に相当する。ＲＡＭ５は、補助記憶装置
３から読み出された補正係数などを記憶するもので、こ
の発明の補正係数記憶手段に相当する。
補正処理の手順（プログラム）や、構造物試験に用いる
目標信号に関するデータ、負荷信号を補正するための補
正係数に関するデータなどがあらかじめ記憶されてい
る。ＣＰＵ４は、補助記憶装置３に記憶されているプロ
グラムに従って、負荷信号の算出処理や補正係数の更新
処理などを行うもので、この発明の演算手段および、補
正係数更新手段に相当する。ＲＡＭ５は、補助記憶装置
３から読み出された補正係数などを記憶するもので、こ
の発明の補正係数記憶手段に相当する。
【００１７】ＣＰＵ４、ＲＡＭ５と、Ａ／Ｄ変換器１、
Ｄ／Ａ変換器２、補助記憶装置３、入出力装置６は、入
出力インターフェイス７により接続されている。
Ｄ／Ａ変換器２、補助記憶装置３、入出力装置６は、入
出力インターフェイス７により接続されている。
【００１８】次に、上述の構成を備えた構造物試験機の
制御装置の補正処理を、図２に従って説明する。構造物
の各構成要素から計測された応答信号は、Ａ／Ｄ変換器
１によってデジタル信号に変換され、構造物試験機の制
御装置１０に取り込まれる（ステップＳ１）。
制御装置の補正処理を、図２に従って説明する。構造物
の各構成要素から計測された応答信号は、Ａ／Ｄ変換器
１によってデジタル信号に変換され、構造物試験機の制
御装置１０に取り込まれる（ステップＳ１）。
【００１９】次に、ステップＳ１で取り込まれた応答信
号のピークとトラフを検出し、図６の応答信号の振幅Ｒ
esp を求める（ステップＳ２）。また、求めた振幅Ｒ
esp とそれに対応する目標信号の振幅は、入出力装置６
に表示される。
号のピークとトラフを検出し、図６の応答信号の振幅Ｒ
esp を求める（ステップＳ２）。また、求めた振幅Ｒ
esp とそれに対応する目標信号の振幅は、入出力装置６
に表示される。
【００２０】ＣＲＴ６の表示を参照してオペレータは、
補正係数の更新を行うか否かを判断し、入出力装置６か
ら入力する。なお、この判断については、後述する。入
出力装置６からの入力指示に従って、補正係数を更新す
るか否かを判定し（ステップＳ３）、補正係数を更新す
るのであれば、ステップＳ４の補正係数更新処理を実行
し、補正係数を更新しないのであれば、ステップＳ５の
補正計算処理を実行する。
補正係数の更新を行うか否かを判断し、入出力装置６か
ら入力する。なお、この判断については、後述する。入
出力装置６からの入力指示に従って、補正係数を更新す
るか否かを判定し（ステップＳ３）、補正係数を更新す
るのであれば、ステップＳ４の補正係数更新処理を実行
し、補正係数を更新しないのであれば、ステップＳ５の
補正計算処理を実行する。
【００２１】ここで、図３を参照してＲＡＭ５に記憶さ
れた補正係数について説明する。負荷信号を補正するた
めの補正係数は、ある負荷に相当する目標荷重とその目
標荷重の出力の１回前に出力した目標荷重との組合せ
（負荷パターン）に対応付けたマトリクス状に記憶され
ている。これは、上述したように、前回の目標信号が相
違すると今回の目標信号が同じであっても、計測される
応答信号と、目標信号との間に大きな違いが生じること
が経験的に認められるからである。例えば、図４の
（ａ）に示すように、３ｔに相当する目標荷重の出力か
ら４ｔに相当する目標荷重を出力する際に、４ｔに相当
する目標荷重を出力するための負荷信号を得るための補
正係数としてはＭ34を用いるが、図４の（ｂ）に示すよ
うに、２ｔに相当する目標荷重の出力から４ｔに相当す
る目標荷重を出力する際に、４ｔに相当する目標荷重を
出力するための負荷信号を得るための補正係数としては
別の補正係数Ｍ24が用いられる。
れた補正係数について説明する。負荷信号を補正するた
めの補正係数は、ある負荷に相当する目標荷重とその目
標荷重の出力の１回前に出力した目標荷重との組合せ
（負荷パターン）に対応付けたマトリクス状に記憶され
ている。これは、上述したように、前回の目標信号が相
違すると今回の目標信号が同じであっても、計測される
応答信号と、目標信号との間に大きな違いが生じること
が経験的に認められるからである。例えば、図４の
（ａ）に示すように、３ｔに相当する目標荷重の出力か
ら４ｔに相当する目標荷重を出力する際に、４ｔに相当
する目標荷重を出力するための負荷信号を得るための補
正係数としてはＭ34を用いるが、図４の（ｂ）に示すよ
うに、２ｔに相当する目標荷重の出力から４ｔに相当す
る目標荷重を出力する際に、４ｔに相当する目標荷重を
出力するための負荷信号を得るための補正係数としては
別の補正係数Ｍ24が用いられる。
【００２２】以下、上述の補正係数の更新を行うか否か
の判断について説明する。補正係数は、以下のステップ
Ｓ５で述べるように、試験中に次回出力させる負荷信号
の補正計算に用いられるものであり、その更新は、以下
のステップＳ４で述べるように、応答信号と目標信号と
に基づいて、その差分を徐々に目標信号に近づけていく
ものである。しかし、補正の目的は、目標信号に相当す
る荷重が負荷点にかかるような負荷信号が出力されるよ
うに、出力負荷信号を調整することにある。従って、上
述の入出力装置６に表示された応答信号の振幅と目標信
号の振幅とに基づいて、負荷点に目標荷重に相当する荷
重がかかるような負荷信号が既に出力されていると判断
したのであれば、それ以上の補正係数の更新は不要であ
る。すなわち、現在記憶している補正係数に基づいて補
正計算を行うことにより最適な補正が行われていると判
断できるからである。また、最適な補正係数であるにも
係わらずその更新を行ったとき、通常の状態であれば、
以下の式（２）からも明らかなように、（Ｒange −
Ｒesp ）が０となり、補正係数の値は変更されないので
あるが、各負荷点間で突発的な相互干渉等が発生したと
きには、その影響を受けて、最適な状態の補正係数は、
一時的な影響を受けて計算された補正係数に更新されて
しまうことになる。従って、最適な状態で補正している
と判断した時点で、補正係数の更新を行わないように指
示することにより、突発的な相互干渉等の影響を排除す
ることが可能となる。
の判断について説明する。補正係数は、以下のステップ
Ｓ５で述べるように、試験中に次回出力させる負荷信号
の補正計算に用いられるものであり、その更新は、以下
のステップＳ４で述べるように、応答信号と目標信号と
に基づいて、その差分を徐々に目標信号に近づけていく
ものである。しかし、補正の目的は、目標信号に相当す
る荷重が負荷点にかかるような負荷信号が出力されるよ
うに、出力負荷信号を調整することにある。従って、上
述の入出力装置６に表示された応答信号の振幅と目標信
号の振幅とに基づいて、負荷点に目標荷重に相当する荷
重がかかるような負荷信号が既に出力されていると判断
したのであれば、それ以上の補正係数の更新は不要であ
る。すなわち、現在記憶している補正係数に基づいて補
正計算を行うことにより最適な補正が行われていると判
断できるからである。また、最適な補正係数であるにも
係わらずその更新を行ったとき、通常の状態であれば、
以下の式（２）からも明らかなように、（Ｒange −
Ｒesp ）が０となり、補正係数の値は変更されないので
あるが、各負荷点間で突発的な相互干渉等が発生したと
きには、その影響を受けて、最適な状態の補正係数は、
一時的な影響を受けて計算された補正係数に更新されて
しまうことになる。従って、最適な状態で補正している
と判断した時点で、補正係数の更新を行わないように指
示することにより、突発的な相互干渉等の影響を排除す
ることが可能となる。
【００２３】次に、ステップＳ４で行われる補正係数の
更新処理を説明する。ステップＳ４では、ステップＳ２
で求められた応答信号の振幅Ｒesp と、今回に出力した
目標信号の振幅Ｒangeと、比例定数Ｇと、ＲＡＭ５より
読み込まれた現在の補正係数Ｍold に基づいて、新しい
補正係数Ｍnew を次式（２）によって求める。 Ｍnew ＝ Ｍold ＋ Ｇ × （ Ｒange − Ｒesp ） ／ Ｒange ………（２） ここで、比例定数Ｇは、ＲangeとＲesp との差に乗ずる
定数で、各試験機ごとに決められた補正の重みである。
また、現在の補正係数Ｍold としては、例えば、前回に
３ｔに相当する目標荷重を出力して応答信号が入力さ
れ、その次に４ｔに相当する目標信号を出力して応答信
号が入力された場合、４ｔの目標信号に対する応答信号
について補正係数の更新を行う際には、図３中の補正係
数Ｍ34が現在の補正係数Ｍold として用いられる。そし
て、計算された新しい補正係数Ｍnewは、ＲＡＭ５の読
み出したＭold 、先の例ではＭ34が記憶されていた場所
に上書きで書き込まれる（ステップＳ４）。
更新処理を説明する。ステップＳ４では、ステップＳ２
で求められた応答信号の振幅Ｒesp と、今回に出力した
目標信号の振幅Ｒangeと、比例定数Ｇと、ＲＡＭ５より
読み込まれた現在の補正係数Ｍold に基づいて、新しい
補正係数Ｍnew を次式（２）によって求める。 Ｍnew ＝ Ｍold ＋ Ｇ × （ Ｒange − Ｒesp ） ／ Ｒange ………（２） ここで、比例定数Ｇは、ＲangeとＲesp との差に乗ずる
定数で、各試験機ごとに決められた補正の重みである。
また、現在の補正係数Ｍold としては、例えば、前回に
３ｔに相当する目標荷重を出力して応答信号が入力さ
れ、その次に４ｔに相当する目標信号を出力して応答信
号が入力された場合、４ｔの目標信号に対する応答信号
について補正係数の更新を行う際には、図３中の補正係
数Ｍ34が現在の補正係数Ｍold として用いられる。そし
て、計算された新しい補正係数Ｍnewは、ＲＡＭ５の読
み出したＭold 、先の例ではＭ34が記憶されていた場所
に上書きで書き込まれる（ステップＳ４）。
【００２４】ステップＳ５の補正計算処理は次のように
行われる。すなわち、補正計算処理は、今回出力した目
標信号と次回出力させる目標信号の組合せにより該当す
る補正係数（１度も更新されていない場合の初期値は、
１．０）をＲＡＭ５から読み込む。例えば、今回に４ｔ
に相当する目標信号を既に出力し、次回に５ｔに相当す
る目標荷重を出力しようとする場合には、図３の例で
は、１回前に出力した目標荷重４ｔ、出力する目標荷重
５ｔに相当する負荷パターンの補正係数であるＭ45をＲ
ＡＭ５から読み込む。読み込んだ補正係数Ｍと、次回出
力しようとする目標信号の振幅Ｒangeと、マッピング係
数ＭＰとに基づいて次回出力させる負荷信号Ｃommandを
次式（３）により算出する。 Ｃommand ＝ ＭＰ × Ｍ × Ｒange ………（３） ここで、マッピング係数ＭＰは、試験装置全体の応答を
調節するための定数である。
行われる。すなわち、補正計算処理は、今回出力した目
標信号と次回出力させる目標信号の組合せにより該当す
る補正係数（１度も更新されていない場合の初期値は、
１．０）をＲＡＭ５から読み込む。例えば、今回に４ｔ
に相当する目標信号を既に出力し、次回に５ｔに相当す
る目標荷重を出力しようとする場合には、図３の例で
は、１回前に出力した目標荷重４ｔ、出力する目標荷重
５ｔに相当する負荷パターンの補正係数であるＭ45をＲ
ＡＭ５から読み込む。読み込んだ補正係数Ｍと、次回出
力しようとする目標信号の振幅Ｒangeと、マッピング係
数ＭＰとに基づいて次回出力させる負荷信号Ｃommandを
次式（３）により算出する。 Ｃommand ＝ ＭＰ × Ｍ × Ｒange ………（３） ここで、マッピング係数ＭＰは、試験装置全体の応答を
調節するための定数である。
【００２５】ステップＳ５で計算された負荷信号は、出
力タイミングになれば、Ｄ／Ａ変換器２から出力される
（ステップＳ６）。そして、再びステップＳ１の処理に
戻り、例えば、先の例で５ｔに相当する目標信号につい
て補正した負荷信号Ｃommandを出力し、その応答信号が
入力されると、ステップＳ２、Ｓ４の処理を行うことに
より、１回前に出力した目標荷重４ｔ、出力する目標荷
重５ｔに相当する負荷パターンの補正係数であるＭ45を
上式（２）に基づいて更新する。
力タイミングになれば、Ｄ／Ａ変換器２から出力される
（ステップＳ６）。そして、再びステップＳ１の処理に
戻り、例えば、先の例で５ｔに相当する目標信号につい
て補正した負荷信号Ｃommandを出力し、その応答信号が
入力されると、ステップＳ２、Ｓ４の処理を行うことに
より、１回前に出力した目標荷重４ｔ、出力する目標荷
重５ｔに相当する負荷パターンの補正係数であるＭ45を
上式（２）に基づいて更新する。
【００２６】以上の処理を繰り返し実行することによ
り、ＲＡＭ５に記憶された負荷パターンごとの補正係数
が次々と更新されていく。したがって、次に同じ負荷パ
ターンが現れた場合には、更新された補正係数を使って
負荷信号が算出されるので、構造物の各負荷点相互の干
渉の影響による目標信号と応答信号との誤差が少なくな
り、各負荷点に対して目標信号に忠実な負荷信号を与え
ることができるようになる。
り、ＲＡＭ５に記憶された負荷パターンごとの補正係数
が次々と更新されていく。したがって、次に同じ負荷パ
ターンが現れた場合には、更新された補正係数を使って
負荷信号が算出されるので、構造物の各負荷点相互の干
渉の影響による目標信号と応答信号との誤差が少なくな
り、各負荷点に対して目標信号に忠実な負荷信号を与え
ることができるようになる。
【００２７】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、出力する目標信号と１回前に出力した目標
信号との組合せである負荷パターンごとに定められた補
正係数を使って、出力する負荷信号を算出しているの
で、従来例のように１回前に出力された負荷信号の影響
によって、目標信号に対して応答信号が大きくずれるこ
とがなく、目標信号に忠実な負荷を負荷点に与えること
ができる。
明によれば、出力する目標信号と１回前に出力した目標
信号との組合せである負荷パターンごとに定められた補
正係数を使って、出力する負荷信号を算出しているの
で、従来例のように１回前に出力された負荷信号の影響
によって、目標信号に対して応答信号が大きくずれるこ
とがなく、目標信号に忠実な負荷を負荷点に与えること
ができる。
【００２８】また、この発明によれば、計測された応答
信号に基づいて、負荷パターンごとの補正係数を順次更
新し、次に同じ負荷パターンが現れた場合には、更新さ
れた補正係数を使って負荷信号が算出されるので、負荷
点相互に干渉があって一時的に目標信号と応答信号との
間に誤差が生じても、次第にその誤差が小さくなり、目
標信号に忠実な負荷を与えることができるようになる。
信号に基づいて、負荷パターンごとの補正係数を順次更
新し、次に同じ負荷パターンが現れた場合には、更新さ
れた補正係数を使って負荷信号が算出されるので、負荷
点相互に干渉があって一時的に目標信号と応答信号との
間に誤差が生じても、次第にその誤差が小さくなり、目
標信号に忠実な負荷を与えることができるようになる。
【図１】本実施例に係る構造物試験機の制御装置の概略
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】本実施例に係る構造物試験機の制御装置の補正
手順を示すフローチャートである。
手順を示すフローチャートである。
【図３】ＲＡＭに記憶された負荷パターンごとの補正係
数の模式図である。
数の模式図である。
【図４】負荷パターンとその補正係数の説明図である。
【図５】従来技術の概略構成を示したブロック図であ
る。
る。
【図６】計測した応答信号と目標信号との差を示す図で
ある。
ある。
１ Ａ／Ｄ（Analog to Digital ）変換器 ２ Ｄ／Ａ（Digital to Analog ）変換器 ３ 補助記憶装置 ４ ＣＰＵ（中央処理装置：Central Processing Unit
） ５ ＲＡＭ（Random Access Memory) ６ 入出力装置 ７ 入出力インターフェース １０ 構造物試験機の制御装置
） ５ ＲＡＭ（Random Access Memory) ６ 入出力装置 ７ 入出力インターフェース １０ 構造物試験機の制御装置
Claims (1)
- 【請求項１】 被試験構造物の複数個の負荷点に対して
それぞれ個別に負荷信号を出力する負荷信号出力手段
と、前記構造物の複数個の負荷点からそれぞれ個別に応
答信号を入力する応答信号入力手段と、前回の目標信号
と今回の目標信号との組合せである負荷パターンごとに
負荷信号を補正するための補正係数を記憶する補正係数
記憶手段と、前記応答信号入力手段から入力された応答
信号とそれに対応した目標信号との差分に基づいて新た
な補正係数を算出し、前記補正係数記憶手段に記憶され
た補正係数を更新する補正係数更新手段と、前記補正係
数記憶手段に記憶された補正係数を用いて次回に発生さ
せる負荷パターンに応じた負荷信号を算出する演算手段
とを備えたことを特徴とする構造物試験機の制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07872192A JP3208826B2 (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 構造物試験機の制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07872192A JP3208826B2 (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 構造物試験機の制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05240732A JPH05240732A (ja) | 1993-09-17 |
| JP3208826B2 true JP3208826B2 (ja) | 2001-09-17 |
Family
ID=13669749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07872192A Expired - Fee Related JP3208826B2 (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 構造物試験機の制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3208826B2 (ja) |
-
1992
- 1992-02-27 JP JP07872192A patent/JP3208826B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05240732A (ja) | 1993-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0148982B2 (ja) | ||
| JP3208826B2 (ja) | 構造物試験機の制御装置 | |
| US6281944B1 (en) | Apparatus and method for correcting non-linear characteristics in display device | |
| JPH10145231A (ja) | Ａ／ｄ変換装置及びｄ／ａ変換装置におけるデータ補正方法 | |
| JPH0369115B2 (ja) | ||
| JP6468144B2 (ja) | 疲労試験機 | |
| JP2009100242A (ja) | ディジタル制御装置の自動調整方式 | |
| JP3432343B2 (ja) | プラント監視装置 | |
| JP3570056B2 (ja) | 材料試験機 | |
| KR100279049B1 (ko) | 압전형압력센서의동압력교정장치및교정방법 | |
| JP2624920B2 (ja) | 多現象オシロスコープの垂直増幅器校正装置 | |
| SU1402052A1 (en) | Method and device for loading structures for strength test | |
| SU607185A1 (ru) | Устройство программного управлени стендом дл испытаний образцов и конструкций на прочность | |
| JP2935297B2 (ja) | 計測機の自動校正装置 | |
| JP5743233B2 (ja) | 表示装置、画質調整方法及びプログラム | |
| JPH09184871A (ja) | 半導体テストシステムの自動校正装置 | |
| JPH04323568A (ja) | アナログ計測回路 | |
| JPH0363542A (ja) | 材料試験機 | |
| JP2663741B2 (ja) | 学習機能付き材料試験機 | |
| JPH10227837A (ja) | 半導体テスト装置の試験電圧校正装置及び方法 | |
| JPH1038780A (ja) | 疲労試験機 | |
| JPH10253795A (ja) | 核計装装置の出力調整回路 | |
| JP2672690B2 (ja) | 半導体デバイスの試験方法 | |
| JPH10164612A (ja) | ランディング補正装置 | |
| JPH05231982A (ja) | 構造物試験機の制御装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080713 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090713 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |