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JP3228385B2 - Method for manufacturing thin-film magnetic head - Google Patents
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JP3228385B2 - Method for manufacturing thin-film magnetic head - Google Patents

Method for manufacturing thin-film magnetic head

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JP3228385B2
JP3228385B2 JP33605293A JP33605293A JP3228385B2 JP 3228385 B2 JP3228385 B2 JP 3228385B2 JP 33605293 A JP33605293 A JP 33605293A JP 33605293 A JP33605293 A JP 33605293A JP 3228385 B2 JP3228385 B2 JP 3228385B2
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film magnetic
air bearing
pole
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  • Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、薄膜磁気ヘッドの製造
方法に関し、更に詳しくは、空気ベアリング面の微細加
工に適した薄膜磁気ヘッドの製造方法に係る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a thin-film magnetic head, and more particularly, to a method for manufacturing a thin-film magnetic head suitable for fine processing of an air bearing surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の薄膜磁気ヘッドでは、ポール部
のトラック方向幅設定、電磁変換特性改善または浮上姿
勢改善等のために、スライダの空気ベアリング面に微細
加工を施す必要を生じることがある。例えば、特開平4
ー274014号、4ー274008号公報では、空気
ベアリング面にポール部の幅方向または厚み(長さ)方
向の端部に微小深さの凹部を設け、ポール部のトラック
方向幅を高精度で設定し、または電磁変換特性を改善す
る技術を開示している。
2. Description of the Related Art In this type of thin-film magnetic head, it is sometimes necessary to perform fine processing on an air bearing surface of a slider in order to set a width of a pole portion in a track direction, improve electromagnetic conversion characteristics, or improve a flying attitude. . For example, JP
In JP-A-274014 and JP-A-4-274008, a recess having a minute depth is provided at the end of the pole portion in the width direction or the thickness (length) direction of the air bearing surface, and the width of the pole portion in the track direction is set with high accuracy. Or a technique for improving the electromagnetic conversion characteristics.

【0003】空気ベアリング面に上述のような微細加工
を施す手段として、空気ベアリング面に、有機質レジス
トを付着させ、この有機質レジストを、微細加工に対応
したパターンとなるようにパターンニングし、次にパタ
ーンニングされて残った有機質レジストを保護膜とし
て、例えばイオンミリング等による微細加工を施す手段
がとられている。保護膜として残っていた有機質レジス
トは化学的物理的エッチングによって微細加工終了後に
除去される。
As means for performing the above-described fine processing on the air bearing surface, an organic resist is attached to the air bearing surface, and the organic resist is patterned into a pattern corresponding to the fine processing. Means for performing fine processing by, for example, ion milling or the like using an organic resist remaining after patterning as a protective film is employed. The organic resist remaining as the protective film is removed by chemical and physical etching after the completion of the fine processing.

【0004】空気ベアリング面を構成するスライダは、
例えばAl23−TiC(以下ALTICと称する)等
で構成され、磁極は例えばパーマロイ等によって構成さ
れる。このため、イオンミリング時のエッチングレート
が両者間で著しく異なる。微細加工によって得られる凹
部の深さは、磁極の一定値(0.5〜2.0μm)に対
し、0.5μm以上の任意の値に設定することが要求さ
れる。その手段として、従来は、磁極パターニングのた
めのレジストマスク形成加工を行った後、スライダ基体
パターニングのためのレジストマスクを形成加工を行う
2投階工程を採るか、CF4又はCCl4等の反応ガスを
用いて磁極とスライダ基体のエッチング速度を合わせる
方法を採っていた。
A slider constituting an air bearing surface is:
For example, a Al 2 O 3 (hereinafter referred to as ALTIC) -TiC like magnetic poles is constituted by, for example, permalloy. Therefore, the etching rates during ion milling are significantly different between the two. It is required that the depth of the concave portion obtained by the fine processing be set to an arbitrary value of 0.5 μm or more with respect to a fixed value of the magnetic pole (0.5 to 2.0 μm). Conventionally, a two-step process of forming a resist mask for patterning a slider base after forming a resist mask for magnetic pole patterning is performed, or a reaction such as CF 4 or CCl 4 is performed. The method of adjusting the etching rate of the magnetic pole and the slider base using a gas has been adopted.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の加工方
法のうち、磁極パターニングのためのレジストマスク形
成加工を行った後、スライダ基体パターニングのための
レジストマスクを形成加工を行う2投階工程法は、工程
数増加、処理能力の限界及び歩留の低下等を招き易く、
それがコストアップを引き起こす原因になっていた。
Among the above-mentioned conventional processing methods, a two-step method in which a resist mask for magnetic pole patterning is formed and then a resist mask for slider substrate patterning is formed. Is liable to increase the number of processes, limit the processing capacity and decrease the yield,
That caused the cost to rise.

【0006】反応ガスを用いて磁極とスライダ基体のエ
ッチング速度比を制御する方法の場合は、反応過程にお
けるエッチング速度バラツキを生じ易く、一定の深さを
有する凹部を得ることが困難で、それが歩留の低下を招
く原因となっていた。また排ガス処理設備を設けること
が必須であるため、設備コストが高くなること、前述し
たような反応ガスを取り扱うため安全性に問題があるこ
と等、種々の解決しなければならない問題点を抱えてい
る。
In the case of controlling the etching rate ratio between the magnetic pole and the slider base using a reaction gas, the etching rate tends to vary in the reaction process, and it is difficult to obtain a concave portion having a constant depth. This has led to a decrease in yield. In addition, since it is essential to provide an exhaust gas treatment facility, there are various problems that must be solved, such as an increase in facility cost and a problem in safety due to the reaction gas as described above. I have.

【0007】そこで、本発明の課題は、ポール部の端面
の一部と、スライダ基体とを、マスクのパターンに従っ
た高精度のパターンとなるようにエッチングし得る薄膜
磁気ヘッドの製造方法を提供することである。
An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head capable of etching a part of an end face of a pole portion and a slider base so as to form a highly accurate pattern according to a mask pattern. It is to be.

【0008】本発明のもう一つの課題は、効果的なエッ
チング速度及び良好な加工面状態を保ったまま、ポール
部とスライダ基体でなる空気ベアリング面とを、同時プ
ロセスにおいて、意図する形状及び深さとなるように加
工し得る薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供することであ
る。
Another object of the present invention is to simultaneously form a pole portion and an air bearing surface, which is a slider base, in an intended shape and depth while maintaining an effective etching rate and a good processed surface condition. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head that can be processed so as to be as follows.

【0009】本発明の更にもう一つの課題は、工程数減
少、処理能力の増大及び歩留の向上等を図り、それによ
ってコストダウンを達成し得る薄膜磁気ヘッドの製造方
法を提供することである。
Still another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head capable of reducing the number of steps, increasing the processing capacity, improving the yield, and the like, thereby achieving cost reduction. .

【0010】本発明の更にもう一つの課題は、一定の深
さを有する凹部を容易に得ることができ、設備コストが
安価で、安全な作業環境を保ち得る薄膜磁気ヘッドの製
造方法を提供することである。
Still another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a thin film magnetic head capable of easily obtaining a concave portion having a constant depth, having a low equipment cost, and maintaining a safe working environment. That is.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上述した課題解決のた
め、本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造方法は、磁気変
換素子を支持したスライダ基体の空気ベアリング面に加
工を施す工程を含んでおり、前記磁気変換素子は、ポー
ル部を含み、前記ポール部の端面が前記スライダ基体に
よって構成された前記空気ベアリング面の表面に現れて
おり、前記工程は、前記ポール部を含む前記空気ベアリ
ング面の表面に、少なくとも前記ポール部の端面の一部
と、その周りに間隔を隔ててスライダ基体とを覆うパタ
ーンを有するように、マスクを付着させた後、空気ベア
リング面の法線に対して入射角度を有するように、斜め
方向から異方性ドライエッチングを施し、前記入射角
度、前記間隔及び前記マスクの高さに応じて、前記ポー
ル部及び前記スライダ基体のエッチングレートを制御す
る。
In order to solve the above-mentioned problems, a method of manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention includes a step of processing an air bearing surface of a slider base supporting a magnetic transducer. The magnetic transducer includes a pole portion, and an end surface of the pole portion appears on a surface of the air bearing surface formed by the slider base. Then, after attaching a mask so as to have a pattern covering at least a part of the end face of the pole portion and the slider base with a space therearound, the incident angle with respect to the normal to the air bearing surface is adjusted. The pole portion and the slider are subjected to anisotropic dry etching from an oblique direction, according to the incident angle, the interval, and the height of the mask. Controlling the etching rate of the body.

【0012】[0012]

【作用】ポール部を含む空気ベアリング面の表面に、少
なくともポール部の端面の一部と、その周りに間隔を隔
ててスライダ基体とを覆うパターンを有するように、マ
スクを付着させた後、ドライエッチングを施すことによ
り、ポール部の端面の一部と、その周りに間隔を隔てて
スライダ基体とを、マスクのパターンに従った高精度の
パターンとなるようにエッチングすることができる。
After the mask is attached to the surface of the air bearing surface including the pole portion so as to have a pattern covering at least a part of the end surface of the pole portion and the slider base with a space therearound at an interval, the mask is then dried. By performing the etching, it is possible to etch a part of the end face of the pole portion and the slider base with a space around the end portion so as to form a highly accurate pattern according to the pattern of the mask.

【0013】ドライエッチングを行うに当たり、マスク
を付着させた後、空気ベアリング面の法線に対して入射
角度を有するように、斜め方向から異方性ドライエッチ
ングを施し、入射角度、間隔及びマスクの高さに応じ
て、前記ポール部及び前記スライダ基体のエッチングレ
ートを制御する。これにより、効果的なエッチング速度
及び良好な加工面状態を保ったまま、ポール部とスライ
ダ基体でなる空気ベアリング面とを、同時プロセスにお
いて、意図する形状及び深さとなるように加工し得る。
In performing the dry etching, after attaching a mask, anisotropic dry etching is performed from an oblique direction so as to have an incident angle with respect to a normal line of the air bearing surface, and the incident angle, the interval and the mask. An etching rate of the pole portion and the slider base is controlled according to the height. Thereby, the pole portion and the air bearing surface formed of the slider base can be processed to have the intended shape and depth in a simultaneous process while maintaining an effective etching rate and a good processed surface state.

【0014】ポール部とスライダ基体でなる空気ベアリ
ング面とを同時に加工し得るので、工程数減少、処理能
力の増大及び歩留の向上等を達成し、それによってコス
トダウンが達成される。
Since the pole portion and the air bearing surface formed of the slider base can be simultaneously processed, the number of steps can be reduced, the processing capacity can be increased, the yield can be improved, and the cost can be reduced.

【0015】しかも、ドライエッチングによって加工す
るので、反応ガスを用いる場合と異なって、エッチング
速度バラツキを生じにくく、一定の深さを有する凹部を
容易に得ることができる。排ガス処理設備等は不要であ
るから、設備コストが安価になること、安全な作業環境
を保つことができること等の利点が得られる。
Moreover, since processing is performed by dry etching, unlike the case of using a reaction gas, variations in the etching rate hardly occur, and a concave portion having a constant depth can be easily obtained. Since an exhaust gas treatment facility or the like is not required, advantages such as a low facility cost and a safe working environment can be obtained.

【0016】[0016]

【実施例】図1は本発明に係る製造方法が適用され得る
薄膜磁気ヘッドの斜視図、図2は図1に示した薄膜磁気
ヘッドの磁気変換素子部分の拡大斜視図、図3は図1に
示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子部分の拡大断面
図、図4は図1に示した薄膜磁気ヘッドポール部の拡大
断面図、図5は図1に示した薄膜磁気ヘッドのポール部
を媒体対向面側から見た拡大図である。各図において、
寸法は誇張されている。図を参照すると、スライダ1は
媒体対向面側にレール部101、102を有している。
レール部101、102は表面が空気ベアリング面10
3を構成している。レール部101、102は2本に限
らない。1本または3本設けられることもある。
1 is a perspective view of a thin-film magnetic head to which the manufacturing method according to the present invention can be applied, FIG. 2 is an enlarged perspective view of a magnetic transducer element of the thin-film magnetic head shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is an enlarged sectional view of a pole portion of the thin film magnetic head shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a sectional view showing a pole portion of the thin film magnetic head shown in FIG. It is the enlarged view seen from the opposing surface side. In each figure,
The dimensions are exaggerated. Referring to the drawing, the slider 1 has rail portions 101 and 102 on the medium facing surface side.
The rail portions 101 and 102 have an air bearing surface 10
3. The number of rail portions 101 and 102 is not limited to two. One or three may be provided.

【0017】薄膜磁気変換素子2は、下部磁性膜21、
上部磁性膜23及びコイル膜24を含む薄膜磁気回路を
有し、レール部101、102の一方または両者に対
し、その空気流出方向aの端縁に設けられている。 薄
膜磁気変換素子2の構造は、図3に詳細に示されてい
る。図3において、スライダ1は、ALTIC等で構成
される基体部分110に、Al23等でなる絶縁膜12
0をスパッタ等の手段によって付着させた構造となって
いて、薄膜磁気変換素子2は絶縁膜120の上に設けら
れている。薄膜磁気変換素子2はIC製造テクノロジと
同様のプロセスにしたがって形成された薄膜素子であ
る。21はパーマロイ等でなる下部磁性膜、22はAl
23等で形成されたギャップ膜、23はパーマロイ等で
なる上部磁性膜、24はコイル膜、251〜253はフ
ォトレジスト等で形成された膜間絶縁膜、26はAl2
3等の保護膜、27、28はリード導体である。
The thin-film magnetic transducer 2 includes a lower magnetic film 21,
It has a thin-film magnetic circuit including the upper magnetic film 23 and the coil film 24, and is provided at one end or both of the rail portions 101 and 102 at the edge in the air outflow direction a. The structure of the thin-film magnetic transducer 2 is shown in detail in FIG. In FIG. 3, a slider 1 has an insulating film 12 made of Al 2 O 3 or the like on a base 110 made of ALTIC or the like.
0 is attached by means of sputtering or the like, and the thin-film magnetic transducer 2 is provided on the insulating film 120. The thin-film magnetic transducer 2 is a thin-film element formed according to a process similar to the IC manufacturing technology. 21 is a lower magnetic film made of permalloy or the like, 22 is Al
A gap film made of 2 O 3 or the like, 23 is an upper magnetic film made of permalloy or the like, 24 is a coil film, 251 to 253 are interlayer insulating films made of photoresist or the like, and 26 is Al 2
Protective films such as O 3 , and 27 and 28 are lead conductors.

【0018】下部磁性膜21及び上部磁性膜23は、先
端面にギャップ膜22を介して対向する下部ポール部P
1及び上部ポール部P2を有している。下部ポール部P
1及び上部ポール部P2の先端面は空気ベアリング面1
03に現れている。下部磁性膜21及び上部磁性膜23
は、下部ポール部P1及び上部ポール部P2の後方に連
続するヨーク部211、231を有しており、ヨーク部
211、231は後方の結合部において磁気回路を完成
するように互いに結合されている。コイル膜24は結合
部のまわりを渦巻状にまわるように形成されている。コ
イル膜24の両端はリード導体27、28に接続されて
いる。リード導体27、28は取出電極41、42を形
成する領域まで導出され、その端縁に取出電極41、4
2を有している。取出電極41、42の周りは薄膜磁気
変換素子2の全体を保護する保護膜26によって覆われ
ている。
The lower magnetic film 21 and the upper magnetic film 23 are connected to a lower pole portion P which is opposed to a front end surface via a gap film 22.
1 and an upper pole portion P2. Lower pole part P
1 and the tip of the upper pole portion P2 are air bearing surfaces 1
Appears at 03. Lower magnetic film 21 and upper magnetic film 23
Has yoke portions 211 and 231 that are continuous behind the lower pole portion P1 and the upper pole portion P2, and the yoke portions 211 and 231 are connected to each other to complete a magnetic circuit at a rear connection portion. . The coil film 24 is formed so as to spiral around the joint. Both ends of the coil film 24 are connected to lead conductors 27 and 28. The lead conductors 27 and 28 are led out to the region where the extraction electrodes 41 and 42 are formed, and the extraction electrodes 41 and 4
Two. The periphery of the extraction electrodes 41 and 42 is covered with a protective film 26 that protects the entire thin-film magnetic transducer 2.

【0019】図4を参照すると、下部ポール部P1は凹
部104を有し、凹部104はギャップ膜22とは反対
側において、ポール先端面を部分的に削除して形成され
ている。凹部104は先端面との境界である端縁がギャ
ップ膜22と非平行となっている。上部ポール部P2も
同様に凹部104を有し、凹部104はギャップ膜22
とは反対側において、ポール先端面を部分的に削除して
形成されている。凹部104は先端面との境界である端
縁がギャップ膜22と非平行となっている。本発明は上
述のような凹部104を形成するための技術を開示する
ものである。凹部104は適当な非磁性充填材、例えば
セラミックによって埋めることもできる。
Referring to FIG. 4, the lower pole portion P1 has a concave portion 104, and the concave portion 104 is formed on the side opposite to the gap film 22 by partially removing the pole tip surface. The edge of the recess 104, which is the boundary with the tip surface, is not parallel to the gap film 22. Similarly, the upper pole portion P2 has a concave portion 104, and the concave portion 104
On the opposite side, the pole tip surface is partially removed. The edge of the recess 104, which is the boundary with the tip surface, is not parallel to the gap film 22. The present invention discloses a technique for forming the recess 104 as described above. Recess 104 can also be filled with a suitable non-magnetic filler, for example, ceramic.

【0020】ポール部P1及びP2の少なくとも一方
は、ギャップ膜22とは反対側の端縁がギャップ膜22
と非平行となっている。この構造は、ポール部P1また
はP2の磁気特性を、磁気記録媒体の走行方向aに沿っ
て徐々に低下させ、疑似ギャップを消滅させたのと等価
である。このため、サブパルスが時間軸上で分散され、
サブパルスを殆ど含まなくなり、ローレンツパルスに近
い出力波形が得られる。これによりパーシャル.レスポ
ンス信号方式を適用することの可能な薄膜磁気ヘッドが
得られる。
At least one of the pole portions P 1 and P 2 has an edge opposite to the gap film 22.
And non-parallel. This structure is equivalent to gradually reducing the magnetic characteristics of the pole portion P1 or P2 along the running direction a of the magnetic recording medium to eliminate the pseudo gap. Therefore, the sub-pulses are dispersed on the time axis,
Almost no sub-pulses are included, and an output waveform close to a Lorentz pulse is obtained. This allows partial. A thin-film magnetic head to which the response signal method can be applied is obtained.

【0021】凹部104による削除の後退量dは0.5
μm〜2.0μmの範囲に設定することが望ましい。後
退量dが0.5μm以下ではオーバーライト特性の劣化
が起こり、本発明の構造が実質的に機能しなくなり、2
μm以上では磁極側の絶縁膜の露出等による信頼性上の
問題が起こる。
The retreat amount d of the deletion by the concave portion 104 is 0.5
It is desirable to set in the range of μm to 2.0 μm. When the receding amount d is 0.5 μm or less, the overwrite characteristics deteriorate, and the structure of the present invention does not substantially function.
Above μm, there is a problem in reliability due to exposure of the insulating film on the magnetic pole side.

【0022】凹部104は、ポール部P1及びP2の深
さである後退量dが、本発明の構造が機能する一定の深
さのまま、空気ベアリング面103の深さを浮上特性を
満足する任意の値になるように設定するのが理想である
が、空気ベアリング面103を構成するスライダは、例
えばALTIC等で構成され、ポール部P1及びP2は
例えばパーマロイ等によって構成されるため、イオンミ
リング時のエッチングレートが両者間で著しく異なる。
このため、ポール部P1及びP2の後退量dを一定値に
保ったまま、その周りにおいて空気ベアリング面103
を構成するスライダ1の後退量を任意に設定することが
困難であり、本発明は、そのような困難性を解決し得る
手段を開示するものであることは、既に述べた通りであ
る。次に、図1〜図5に示した薄膜磁気ヘッドについ
て、本発明を適用した具体例を、図6〜図8を参照して
説明する。
The recessed portion 104 is formed such that the retreating amount d, which is the depth of the pole portions P1 and P2, maintains the depth of the air bearing surface 103 at a certain depth at which the structure of the present invention functions, and satisfies the floating characteristics. Is ideal, the slider constituting the air bearing surface 103 is made of, for example, ALTIC, and the pole portions P1 and P2 are made of, for example, Permalloy. Are significantly different between the two.
For this reason, while keeping the retreat amount d of the pole portions P1 and P2 at a constant value, the air bearing surface 103
As described above, it is difficult to arbitrarily set the retreat amount of the slider 1 that constitutes the above-described configuration, and the present invention discloses means capable of solving such difficulty. Next, a specific example to which the present invention is applied to the thin film magnetic head shown in FIGS. 1 to 5 will be described with reference to FIGS.

【0023】まず、図6を参照すると、治具3の上に薄
膜磁気ヘッド5が配置されている。薄膜磁気ヘッド5の
それぞれは治具3の上に配列され、かつ、接着等の手段
によって固定されている。図示では、薄膜磁気ヘッド5
は既に個々に分離された状態となっているが、分離され
る前の集合体の状態であってもよい。薄膜磁気ヘッド5
の接着面とは反対側に現れる空気ベアリング面103は
既に研磨工程の終了した平面度の高い面となっている。
そして、ポール部P1及びP2を含む空気ベアリング面
103の表面に、少なくともポール部P1及びP2の端
面の一部と、その周りに間隔を隔ててスライダ1とを覆
うパターンを有するように、マスク61、62を付着さ
せる。
First, referring to FIG. 6, a thin film magnetic head 5 is arranged on a jig 3. Each of the thin-film magnetic heads 5 is arranged on the jig 3 and fixed by means such as bonding. In the illustration, the thin-film magnetic head 5
Are already individually separated, but may be in an aggregate state before being separated. Thin film magnetic head 5
The air bearing surface 103 which appears on the opposite side to the adhesive surface is a surface having a high degree of flatness after the polishing process has been completed.
Then, the mask 61 is formed on the surface of the air bearing surface 103 including the pole portions P1 and P2 so as to have a pattern for covering at least a part of the end surfaces of the pole portions P1 and P2 and the slider 1 at intervals therearound. , 62 are deposited.

【0024】図7はマスク付着の具体例を示している。
マスク61、62はポール部P1及びP2の端面の一部
と、その周りにマスク間隔Xを隔ててスライダ1とを覆
うパターンを有するように付着させてある。マスク6
1、62は有機レジストによって構成されており、その
パターニングは周知のフォトリソグラフィ工程によって
行われている。
FIG. 7 shows a specific example of mask attachment.
The masks 61 and 62 are attached so as to have a pattern that covers a part of the end surfaces of the pole portions P1 and P2 and the slider 1 with a mask interval X around the portions. Mask 6
Reference numerals 1 and 62 are made of an organic resist, and the patterning is performed by a well-known photolithography process.

【0025】次に、マスク61、62を付着させた後、
図8及び図9に示すように、空気ベアリング面103の
法線nに対して入射角度θを有するように、斜め方向か
ら異方性ドライエッチングを施す。ドライエッチングの
具体例はイオンミリングである。このときのポール部P
1及びP2及びスライダ1のエッチングレートは、入射
角度θ、マスク間隔X及びマスク61、62の高さY
(図9参照)に応じて制御される。従って、入射角度
θ、マスク間隔X及びマスク61、62の高さYを適切
に選定することにより、ポール部P1及びP2及びスラ
イダ1のエッチングレート比を変化させ、ポール部P1
及びP2の後退量dを一定値に保ったまま、スライダ1
の後退量を同時プロセスにおいて任意に設定することが
可能になる。
Next, after attaching the masks 61 and 62,
As shown in FIGS. 8 and 9, anisotropic dry etching is performed from an oblique direction so as to have an incident angle θ with respect to a normal line n of the air bearing surface 103. A specific example of dry etching is ion milling. The pole part P at this time
1 and P2 and the etching rate of the slider 1 are the incident angle θ, the mask interval X, and the height Y of the masks 61 and 62.
(See FIG. 9). Therefore, by appropriately selecting the incident angle θ, the mask interval X, and the height Y of the masks 61 and 62, the etching rate ratio of the pole portions P1 and P2 and the slider 1 is changed, and the pole portion P1
While the retraction amount d of P2 and P2 is maintained at a constant value,
Can be arbitrarily set in the simultaneous process.

【0026】図10はミリング・レートと入射角度θ、
マスク間隔X及びマスク61、62の高さYとの関係を
示す実測データである。図において、縦軸にミリング・
レート(×10Å/min)をとり、横軸に入射角度θ
をとって示している。マスク61、62の高さYは4.
9μmとした。マスク61、62間の距離Xは、NiF
e(X)として図10に図示されている。ALTICの
データは十分にマスク間隔が広いときのデータである。
FIG. 10 shows the milling rate and the incident angle θ,
It is actual measurement data showing the relationship between the mask interval X and the height Y of the masks 61 and 62. In the figure, the vertical axis represents milling
Rate (× 10 ° / min), and the horizontal axis indicates the incident angle θ
Is shown. The height Y of the masks 61 and 62 is 4.
It was 9 μm. The distance X between the masks 61 and 62 is NiF
This is illustrated in FIG. 10 as e (X). The ALTIC data is data when the mask interval is sufficiently wide.

【0027】図10によると、例えば、入射角度θが約
50度の時に、スライダ1であるALTICのミリング
・レート曲線とNiFe(X=5)のミリング・レート
曲線とが交叉している。即ち、マスク61、62の高さ
を4.9μmに設定した場合、入射角度θを50度前後
に選定し、マスク61、62間の距離Xを5μmに選定
すると、ポール部P1及びP2を構成するNiFeのミ
リング・レートと、スライダ1を構成するALTICの
ミリング・レートを一致させ、凹部104の深さである
後退量dを、ポール部P1及びP2と、スライダ1とで
同じ値に設定することが可能になる。ポール部P1及び
P2と、スライダ1のミリング・レート比を任意に設定
できることは言うまでもない。
According to FIG. 10, for example, when the incident angle θ is about 50 degrees, the milling rate curve of the ALTIC as the slider 1 and the milling rate curve of NiFe (X = 5) intersect. That is, when the height of the masks 61 and 62 is set to 4.9 μm, the incident angle θ is selected to be about 50 degrees, and when the distance X between the masks 61 and 62 is selected to 5 μm, the pole portions P1 and P2 are formed. The milling rate of NiFe to be made coincides with the milling rate of the ALTIC constituting the slider 1, and the retreat amount d, which is the depth of the recess 104, is set to the same value in the pole portions P 1 and P 2 and the slider 1. It becomes possible. It goes without saying that the milling rate ratio between the pole portions P1 and P2 and the slider 1 can be set arbitrarily.

【0028】マスク高さYを4.9μmに設定した場
合、入射角度θが0〜30度未満の領域では、入射角度
θが増大するにつれてNiFe及びALTICのミリン
グ・レートがほぼ同じように増大する。これに対して、
入射角度θが30度を越えると、NiFeのミリング・
レートが入射角度θの増大とともに急激に低下する領域
がある。この間、スライダ部であるALTICのミリン
グ・レートは入射角度θの増大と共に増大するか、また
は横ばい状態を保つ。従って、入射角度θが30度を越
すと、NiFeのミリング・レートがスライダ部のAL
TICのミリング・レートに近づく方向となるから、入
射角度θは30度以上に選定する。入射角度θが60度
を越すと、ミリング・レートが小さくなり過ぎ、作業効
率が低下する。よって、入射角度θは30〜60度の範
囲に設定することが望ましい。また、このQ値において
良好なALTICのマッチング面精度を維持できる。
When the mask height Y is set to 4.9 μm, in the region where the incident angle θ is less than 0 to 30 degrees, the milling rates of NiFe and ALTIC increase almost the same as the incident angle θ increases. . On the contrary,
When the incident angle θ exceeds 30 degrees, milling of NiFe
There is a region where the rate sharply decreases as the incident angle θ increases. During this time, the milling rate of the slider, that is, the ALTIC increases with an increase in the incident angle θ, or remains flat. Therefore, when the incident angle θ exceeds 30 degrees, the milling rate of NiFe becomes
The incident angle θ is selected to be 30 degrees or more because the direction approaches the milling rate of the TIC. When the incident angle θ exceeds 60 degrees, the milling rate becomes too small, and the working efficiency is reduced. Therefore, it is desirable to set the incident angle θ in the range of 30 to 60 degrees. Further, at this Q value, good matching surface accuracy of ALTIC can be maintained.

【0029】マスク高さYを4.9μmに設定した場
合、マスク間隔Xが5〜12.5μm、入射角度θが3
0〜60度の範囲で、NiFeのミリング・レートとA
LTICのミリング・レートとの間のずれを、実用上許
容できる範囲に押さえることができる。等価的には、入
射角度θを30〜60度の範囲に設定した場合、1≦
(X/Y)≦3.0を満たすと、NiFeのミリング・
レートとALTICのミリング・レートとの間のずれ
を、実用上許容できる範囲に押さえることができる。
When the mask height Y is set to 4.9 μm, the mask interval X is 5 to 12.5 μm and the incident angle θ is 3
In the range of 0 to 60 degrees, the milling rate of NiFe and A
The deviation from the LTIC milling rate can be kept within a practically acceptable range. Equivalently, when the incident angle θ is set in the range of 30 to 60 degrees, 1 ≦
When (X / Y) ≦ 3.0 is satisfied, milling of NiFe
The deviation between the rate and the milling rate of the ALTIC can be kept within a practically acceptable range.

【0030】しかも、ポール部P1及びP2とスライダ
基体1でなる空気ベアリング面103とを同時に加工し
得るので、工程数減少、処理能力の増大及び歩留の向上
等を達成し、それによってコストダウンが達成される。
Moreover, since the pole portions P1 and P2 and the air bearing surface 103 formed of the slider base 1 can be simultaneously processed, the number of steps can be reduced, the processing capacity can be increased, the yield can be improved, and the cost can be reduced. Is achieved.

【0031】更に、ドライエッチングによって加工する
ので、反応ガスを用いる場合と異なって、エッチング速
度バラツキを生じにくく、一定の深さを有する凹部10
4を容易に得ることができる。排ガス処理設備等は不要
であるから、設備コストが安価になること、安全な作業
環境を保つことができること等の利点が得られる。
Furthermore, since processing is performed by dry etching, unlike the case of using a reactive gas, there is little variation in the etching rate, and the concave portion 10 having a certain depth is formed.
4 can be easily obtained. Since an exhaust gas treatment facility or the like is not required, advantages such as a low facility cost and a safe working environment can be obtained.

【0032】本実施例は、図面を参照して具体的に説明
したが、空気ベアリング面103に微細加工を施す必要
のある場合に広く適用できる。例えば、TPC型スライ
ダやシュイプトレールなどを得る場合に用いることがで
きる。
Although the present embodiment has been described in detail with reference to the drawings, it can be widely applied when it is necessary to perform fine processing on the air bearing surface 103. For example, it can be used when obtaining a TPC type slider, a sweep rail, or the like.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果を得ることができる。 (a)ポール部の端面の一部と、その周りのスライダ基
体とを、マスクのパターンに従った高精度のパターンと
なるようにエッチングし得る薄膜磁気ヘッドの製造方法
を提供することができる。 (b)効果的なエッチング速度及び良好な加工面状態を
保ったまま、ポール部とスライダ基体でなる空気ベアリ
ング面とを同時に任意の深さになるように加工し得る薄
膜磁気ヘッドの製造方法を提供することができる。 (c)工程数減少、処理能力の増大及び歩留の向上等を
達成し、それによってコストダウンを達成し得る薄膜磁
気ヘッドの製造方法を提供することができる。 (d)一定の深さを有する凹部を容易に得ることがで
き、設備コストが安価で、安全な作業環境を保ち得る薄
膜磁気ヘッドの製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) It is possible to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head capable of etching a part of an end face of a pole portion and a slider base surrounding the end portion so as to form a highly accurate pattern according to a mask pattern. (B) A method for manufacturing a thin-film magnetic head capable of simultaneously processing the pole portion and the air bearing surface formed of the slider base body to an arbitrary depth while maintaining an effective etching rate and a favorable processed surface state. Can be provided. (C) It is possible to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head capable of achieving a reduction in the number of steps, an increase in processing capacity, an improvement in yield, and the like, thereby achieving a cost reduction. (D) It is possible to provide a method of manufacturing a thin-film magnetic head that can easily obtain a concave portion having a certain depth, has low equipment costs, and can maintain a safe working environment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る製造方法が適用され得る薄膜磁気
ヘッドの斜視図である
FIG. 1 is a perspective view of a thin-film magnetic head to which a manufacturing method according to the present invention can be applied.

【図2】図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子部
分の拡大斜視図である。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of a magnetic conversion element portion of the thin-film magnetic head shown in FIG.

【図3】図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子部
分の拡大断面図である。
FIG. 3 is an enlarged sectional view of a magnetic transducer element of the thin-film magnetic head shown in FIG.

【図4】図1に示した薄膜磁気ヘッドポール部の拡大断
面図である。
FIG. 4 is an enlarged sectional view of a pole portion of the thin-film magnetic head shown in FIG.

【図5】図1に示した薄膜磁気ヘッドのポール部を媒体
対向面側から見た拡大図である。
5 is an enlarged view of a pole portion of the thin-film magnetic head shown in FIG. 1 as viewed from a medium facing surface side.

【図6】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造方法の工程
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention.

【図7】図6に示した製造工程の一部を拡大して示す平
面図である。
FIG. 7 is an enlarged plan view showing a part of the manufacturing process shown in FIG. 6;

【図8】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの製造方法の次工
程を示す図である。
FIG. 8 is a view showing the next step of the method for manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention.

【図9】図8に示した製造工程の一部を拡大して示す平
面図である。
FIG. 9 is an enlarged plan view showing a part of the manufacturing process shown in FIG. 8;

【図10】ミリング・レートと入射角度θ、マスク間隔
X及びマスクの高さYとの関係を示す実測データであ
る。
FIG. 10 is actually measured data showing a relationship between a milling rate, an incident angle θ, a mask interval X, and a mask height Y.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スライダ 101、102 レール部 103 空気ベアリング面 104 凹部 2 磁気変換素子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Slider 101, 102 Rail part 103 Air bearing surface 104 Depression 2 Magnetic transducer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 5/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 5/60

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 磁気変換素子を支持したスライダ基体の
空気ベアリング面に加工を施す工程を含む薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法であって、 前記磁気変換素子は、ポール部を含み、前記ポール部の
端面が前記スライダ基体によって構成された前記空気ベ
アリング面の表面に現れており、 前記工程は、前記ポール部を含む前記空気ベアリング面
の表面に、少なくとも前記ポール部の端面の一部と、そ
の周りに間隔を隔ててスライダ基体とを覆うパターンを
有するように、マスクを付着させた後、空気ベアリング
面の法線に対して入射角度を有するように、斜め方向か
ら異方性ドライエッチングを施し、前記入射角度、前記
間隔及び前記マスクの高さに応じて、前記ポール部及び
前記スライダ基体のエッチングレートを制御する薄膜磁
気ヘッドの製造方法。
1. A method for manufacturing a thin-film magnetic head, comprising a step of processing an air bearing surface of a slider base supporting a magnetic transducer, wherein the magnetic transducer includes a pole part, and an end face of the pole part. Appears on the surface of the air bearing surface formed by the slider base, and the step includes, on the surface of the air bearing surface including the pole portion, at least a part of an end surface of the pole portion, and around the end portion. After attaching a mask so as to have a pattern covering the slider base at intervals, anisotropic dry etching is performed from an oblique direction so as to have an incident angle with respect to the normal line of the air bearing surface, Manufacturing of a thin-film magnetic head for controlling an etching rate of the pole portion and the slider base in accordance with an incident angle, the interval, and the height of the mask Law.
【請求項2】 前記入射角度は、30〜60度の範囲に
設定される請求項1に記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
法。
2. The method according to claim 1, wherein the incident angle is set in a range of 30 to 60 degrees.
【請求項3】 前記間隔をXとし、前記マスクの高さを
Yとしたとき、1≦(X/Y)≦3.0を満たす請求項
1または2に記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
3. The method of manufacturing a thin-film magnetic head according to claim 1, wherein when the interval is X and the height of the mask is Y, 1 ≦ (X / Y) ≦ 3.0.
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