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JP3247453B2 - Circuit connection information extraction method from integrated circuit mask pattern - Google Patents
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JP3247453B2 - Circuit connection information extraction method from integrated circuit mask pattern - Google Patents

Circuit connection information extraction method from integrated circuit mask pattern

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JP3247453B2
JP3247453B2 JP28383492A JP28383492A JP3247453B2 JP 3247453 B2 JP3247453 B2 JP 3247453B2 JP 28383492 A JP28383492 A JP 28383492A JP 28383492 A JP28383492 A JP 28383492A JP 3247453 B2 JP3247453 B2 JP 3247453B2
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mask pattern
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circuit
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、集積回路マスクパター
ンからの回路接続情報抽出方法、特に、マスクパターン
をデジタルデータとして取り込み、コンピュータを用い
て回路接続情報を抽出する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for extracting circuit connection information from an integrated circuit mask pattern, and more particularly to a method for extracting a mask pattern as digital data and extracting circuit connection information using a computer.

【0002】[0002]

【従来の技術】集積回路を設計する場合、まず、回路図
を作成し、この回路図に基づいて集積回路マスクパター
ンが設計される。この集積回路マスクパターン上に表現
された回路についての検討(たとえば、もとの回路図と
の照合)を行う場合、マスクパターン上の各回路素子が
どのような接続関係にあるかを示す回路接続情報を抽出
する必要がある。集積回路の集積度は年々高くなってお
り、このような回路接続情報の抽出作業を手作業で行う
ことは非常に困難である。したがって、通常は、コンピ
ュータを利用した抽出作業が行われる。
2. Description of the Related Art When designing an integrated circuit, first, a circuit diagram is created, and an integrated circuit mask pattern is designed based on the circuit diagram. When examining a circuit represented on the integrated circuit mask pattern (for example, collation with the original circuit diagram), a circuit connection indicating how each circuit element on the mask pattern is connected Information needs to be extracted. The degree of integration of integrated circuits is increasing year by year, and it is very difficult to manually extract such circuit connection information. Therefore, usually, an extraction operation using a computer is performed.

【0003】コンピュータを利用した回路接続情報の抽
出処理は、次のようなプロセスで行われる。まず、設計
された集積回路マスクパターンをデジタイズして、デジ
タルデータ(図形データ)としてコンピュータ内に取り
込む。マスクパターンが階層構造をもって定義されてい
る場合には、階層情報を展開し、すべての図形パターン
が平面上に展開された状態にする。続いて、この展開さ
れた図形パターンに対して、各回路素子を認識する演算
を行う。たとえば、MOS集積回路については、拡散層
の図形パターンとポリシリコン層の図形パターンとの間
でAND演算を行うことにより得られる図形パターン
を、ゲートチャネル層として認識することができる。こ
のような図形演算により各回路素子を認識したら、続い
て、各節点について等電位の認識を行えば、各回路素子
相互の接続情報が得られる。この等電位の認識は、マス
クパターンの各層間の位相演算によって行われる。たと
えば、2つの異なる導電層の重なった部分に、コンタク
トホール図形が存在すれば、この2つの導電層は等電位
であると認識できる。
The process of extracting circuit connection information using a computer is performed by the following process. First, a designed integrated circuit mask pattern is digitized and taken into a computer as digital data (graphic data). When the mask pattern is defined with a hierarchical structure, the hierarchical information is expanded, and all the graphic patterns are expanded on a plane. Subsequently, an operation for recognizing each circuit element is performed on the developed graphic pattern. For example, for a MOS integrated circuit, a figure pattern obtained by performing an AND operation between a figure pattern of a diffusion layer and a figure pattern of a polysilicon layer can be recognized as a gate channel layer. After recognizing each circuit element by such a graphic operation, subsequently, the equipotential of each node is recognized, so that connection information between the circuit elements can be obtained. The recognition of the equipotential is performed by calculating the phase between the layers of the mask pattern. For example, if there is a contact hole graphic in an overlapping portion of two different conductive layers, it can be recognized that the two conductive layers have the same potential.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】集積回路の大規模化、
微細化により、集積回路マスクパターンは非常に複雑に
なってきている。そこで、効率的なマスクパターン設計
を行うために、階層的な設計方式が採られている。すな
わち、単純なものの組み合わせから、より複雑なものへ
段階をおって設計を進めてゆき、下位レベルの回路をマ
クロ化することによって、更に上位レベルの回路を設計
するのである。たとえば、下位レベルのトランジスタ素
子を組み合わせて、NORゲート、NANDゲートとい
った基本的な論理ゲートを設計し、これらの論理ゲート
を組み合わせて、ALUといったユニットを設計してゆ
く。更に、このようなユニットを組み合わせて、マイク
ロプロセッサのような複雑な機能をもったユニットが設
計できる。このような大規模な回路も、階層的な表現を
採ることにより、データ量を減少させることができる。
このような方式で設計された集積回路マスクパターンは
階層構造をもったものになる。
SUMMARY OF THE INVENTION Large scale integrated circuits,
With miniaturization, integrated circuit mask patterns have become very complex. Therefore, a hierarchical design method is employed in order to efficiently design a mask pattern. In other words, the design is advanced step by step from a combination of simple ones to a more complex one, and a higher-level circuit is designed by converting the lower-level circuit into a macro. For example, basic logic gates such as a NOR gate and a NAND gate are designed by combining lower-level transistor elements, and a unit such as an ALU is designed by combining these logic gates. Further, by combining such units, a unit having a complicated function such as a microprocessor can be designed. The data amount of such a large-scale circuit can be reduced by employing a hierarchical expression.
An integrated circuit mask pattern designed in such a manner has a hierarchical structure.

【0005】しかしながら、集積回路マスクパターンに
対する従来の回路接続情報抽出方法では、上述したよう
に、マスクパターンをデジタイズして取り込んだ後、階
層情報をすべて展開し、すべての図形パターンが平面上
に展開された状態で、図形演算や位相演算を行っている
ため、非常に多くの処理時間を有する。また、抽出され
る回路接続情報は、最下位レベルの階層についての接続
情報に限定されてしまう。
However, in the conventional circuit connection information extracting method for an integrated circuit mask pattern, as described above, after the mask pattern is digitized and taken in, all the hierarchical information is expanded, and all the graphic patterns are expanded on a plane. Since the graphic operation and the phase operation are performed in this state, it takes a very long processing time. Also, the extracted circuit connection information is limited to the connection information for the lowest level hierarchy.

【0006】そこで本発明は、効率的な演算を行うこと
により、短い処理時間で、所望の回路接続情報を抽出す
ることができる方法を提供することを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a method capable of extracting desired circuit connection information in a short processing time by performing an efficient operation.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】(1) 本願第1の発明
は、集積回路マスクパターンから、マスクパターンとし
て表現された回路についての接続情報を抽出する処理を
実行する集積回路マスクパターンからの回路接続情報抽
出方法において、 集積回路マスクパターンをデジタイズ
してデジタルデータとして取り込むデジタイズ手段と、
集積回路マスクパターン上の特定のセルを指定するセル
指定手段と、 指定セルのセル外部に接続するための各端
子について、等電位となる端子については同じテキスト
名となるように、それぞれテキスト名を入力し、各端子
の位置情報を抽出する位置情報抽出手段と、 指定セルの
外部に存在するマスクパターンおよび指定セル内部を通
過する配線に関するマスクパターンならびにテキスト名
が付与された各端子を対象として、回路接続情報を抽出
する接続情報抽出手段と、 抽出した回路接続情報におい
て、同一のテキスト名が付与された複数の端子について
は、相互に導通する接続関係が確保されるように回路接
続情報を修正する修正処理手段と、 を有する回路接続情
報抽出装置を用意し、 デジタイズ手段により、集積回路
マスクパターンをデジタルデータとして取り込む第1の
段階を行い、 セル指定手段により、オペレータの指示に
基づいて、特定のセルの指定を入力する第2の段階を行
い、 位置情報抽出手段により、オペレータの指示に基づ
いて、各端子についてのテキスト名を入力し、各端子の
位置情報を抽出する第3の段階を行い、 接続情報抽出手
段により、回路接続情報を抽出する第4の段階を行い、
修正処理手段により、回路接続情報を修正する第5の段
階を行うようにしたものである。
Means for Solving the Problems (1) The first invention of the present application is to convert a mask pattern from an integrated circuit mask pattern into a mask pattern.
Processing to extract connection information for circuits represented by
Extract circuit connection information from integrated circuit mask pattern to be executed
In output method, digitizing an integrated circuit mask pattern
Digitizing means to capture as digital data
A cell that specifies a specific cell on the integrated circuit mask pattern
Designating means and each end for connecting to the outside of the designated cell
Same text for terminals that are equipotential for
Enter a text name for each terminal
Position information extracting means for extracting position information of
Through the mask pattern existing outside and inside the designated cell
Mask pattern and text name for wiring that passes
Extracts circuit connection information for each terminal with
Connection information extraction means for extracting
For multiple terminals with the same text name
Circuit connections to ensure a mutually conductive connection.
Circuit connection information having correction processing means for correcting connection information.
Prepare an information extraction device, and digitize the integrated circuit
The first to capture the mask pattern as digital data
Perform the steps and use the cell designator to
Perform a second step of entering the specification of a particular cell based on
Based on the operator's instruction
Enter the text name for each terminal,
Perform third step of extracting the position information, the connection information extracting hands
Performing a fourth stage of extracting circuit connection information by the stage;
Fifth stage in which the circuit connection information is corrected by the correction processing means
It is designed to be on the floor.

【0008】(2) 本願第2の発明は、集積回路マスク
パターンから、マスクパターンとして表現された回路に
ついての接続情報を抽出する処理を実行する集積回路マ
スクパターンからの回路接続情報抽出方法において、
端子のテキスト名が文字コードとして付加されている集
積回路マスクパターンをデジタイズして、集積回路マス
クパターンとともに各端子のテキスト名をデジタルデー
タとして取り込むデジタイズ手段と、 集積回路マスクパ
ターン上の特定のセルを指定するセル指定手段と、 指定
セルのセル外部に接続するための各端子について、それ
ぞれ位置情報を抽出する位置情報抽出手段と、 指定セル
の外部に存在するマスクパターンおよび指定セル内部を
通過する配線に関するマスクパターンならびに各端子を
対象として、回路接続情報を抽出する接続情報抽出手段
と、 抽出した回路接続情報において、同一のテキスト名
が付与された複数の端子については、相互に導通する接
続関係が確保されるように回路接続情報を修正する修正
処理手段と、 を有する回路接続情報抽出装置を用意し、
デジタイズ手段により、等電位となる端子については同
じテキスト名が付加されている集積回路マスクパターン
をデジタルデータとして取り込む第1の段階を行い、
ル指定手段により、オペレータの指示に基づいて、特定
のセルの指定を入力する第2の段階を行い、 位置情報抽
出手段により、セル外部に接続するための各端子につい
て、それぞれ位置情報を抽出する第3の段階を行い、
続情報抽出手段により、回路接続情報を抽出する第4の
段階を行い、 修正処理手段により、回路接続情報を修正
する第5の段階を行うようにしたものである。
(2) The second invention of the present application is an integrated circuit mask.
From patterns to circuits expressed as mask patterns
IC that executes a process of extracting connection information about
In the circuit connection information extracting method of the disk pattern, each
A collection in which the text name of the terminal is added as a character code
Digitize integrated circuit mask pattern
The text name of each terminal together with the
Digitizing means for capturing data as an
Cell designation means to designate a specific cell on the turn, and designation
For each terminal that connects to the outside of the cell,
Position information extracting means for extracting position information, and a designated cell
Mask pattern outside the specified area and inside the specified cell
The mask pattern and each terminal for the wiring that passes
Connection information extraction means for extracting circuit connection information as an object
And the same text name in the extracted circuit connection information
For multiple terminals marked with,
Modify the circuit connection information so that the connection relationship is secured
Processing means, providing a circuit connection information extracting device having,
Terminals that have the same potential due to digitizing means are the same.
Integrated circuit mask pattern with the same text name
The performing a first step of capturing a digital data, Se
Specified by the operator
Performing a second step of inputting the specified cell position information extraction
Of each terminal for connection to the outside of the cell
Te performs third step of extracting each position information, contact
A fourth connection information extracting unit for extracting circuit connection information;
Perform the steps and correct the circuit connection information by the correction processing means
The fifth step is performed.

【0009】(3) 本願第3の発明は、上述の各発明に
係る方法において、修正処理手段が、複数の指定セルが
隣接していた場合には、各端子の位置情報に基づいて、
互いに接触する端子が存在するかどうかを確認し、互い
に接触する端子については、相互に導通する接続関係が
確保されるように回路接続情報を修正するようにしたも
のである。
(3) The third invention of the present application is the method according to each of the above inventions, wherein the correction processing means comprises a plurality of designated cells.
If adjacent, based on the position information of each terminal,
Check if there are terminals that touch each other, and
For terminals that come into contact with
Modified the circuit connection information to secure
It is.

【0010】[0010]

【作 用】本発明に係る方法では、回路接続情報抽出の
ための種々の演算処理を行う前に、オペレータによっ
て、所定のセルが指定される。回路接続情報の抽出処理
は、この指定セルの外部の回路についてのみ行われ、セ
ル内部の回路については行われない。ただ、指定セルの
外部接続端子についてはテキスト名が付与され、このテ
キスト名に基づいて等電位処理がなされる。こうして、
指定セルの外部については、従来の方法と同様に、最下
位レベルの階層についての回路接続情報が抽出される
が、指定セルの内部についての回路接続情報の抽出は行
われない。別言すれば、指定セルの外部については素子
レベルの接続情報が得られるが、指定セルについてはそ
のままセルという形で残ることになり、素子とセルとが
混在した状態での接続情報が抽出できる。このため、必
要な部分のみについての効率的な演算が可能になり、短
い処理時間で、所望の回路接続情報を抽出することがで
きる。
In the method according to the present invention, a predetermined cell is designated by an operator before performing various arithmetic processes for extracting circuit connection information. The circuit connection information extraction processing is performed only for circuits outside the specified cell, and not performed for circuits inside the cell. However, a text name is given to the external connection terminal of the designated cell, and an equipotential process is performed based on the text name. Thus,
As for the outside of the designated cell, the circuit connection information for the lowest level hierarchy is extracted as in the conventional method, but the circuit connection information for the inside of the designated cell is not extracted. In other words, the connection information at the element level can be obtained outside the specified cell, but the specified cell remains as a cell as it is, and the connection information in a state where the element and the cell are mixed can be extracted. . For this reason, an efficient operation can be performed only on a necessary portion, and desired circuit connection information can be extracted in a short processing time.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて詳
述する。図1は、本発明の一実施例に係る集積回路マス
クパターンからの回路接続情報抽出方法の手順を示す図
である。まず、第1段階のステップS1では、集積回路
マスクパターン1をデジタイズして、コンピュータ内に
デジタルデータとして取り込む処理が行われる。集積回
路マスクパターン1は、原回路図に基づいて設計された
ものであるが、通常は、階層的な設計が行われるため、
マスクパターンも階層構造をもったものとなる。従来の
方法では、デジタルデータとして入力したマスクパター
ンについて、階層構造の展開を行い、一平面上に最下位
階層のすべての図形パターンを展開する処理が行われる
が、本発明の方法では、このように階層構造をすべて展
開する処理は行う必要がなく、後述するように、必要な
部分についての展開が行われるだけである。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. FIG. 1 is a diagram showing a procedure of a method for extracting circuit connection information from an integrated circuit mask pattern according to one embodiment of the present invention. First, in step S1 of the first stage, a process of digitizing the integrated circuit mask pattern 1 and taking it as digital data in a computer is performed. The integrated circuit mask pattern 1 is designed based on the original circuit diagram. However, since the integrated circuit mask pattern 1 is usually designed hierarchically,
The mask pattern also has a hierarchical structure. In the conventional method, a hierarchical structure is developed for a mask pattern input as digital data, and processing for developing all graphic patterns of the lowest hierarchy on one plane is performed. It is not necessary to perform the processing of expanding the entire hierarchical structure, but only the necessary parts are expanded as described later.

【0012】ここでは、説明の便宜上、図2に示すよう
な簡単なマスクパターンを例にとって、以下の説明を行
うことにする。このマスクパターンは、図3に示すよう
な階層構造をもって設計されている。すなわち、最上位
の階層である全体の回路にはTOPなる名がつけられ、
その下の階層にはセルAおよびセルBが定義され、更に
その下の階層として、セルCおよびセルDが定義されて
いる。図2における各セルの左下の黒点は、各セルの上
位階層への面付けの原点位置を示している。各セルのマ
スクパターン上の空間的な位置は、上位階層のセルに対
する原点の座標値で示すことができる。具体的には、図
4に示すような面付け位置を示す座標値が定義される。
階層構造をもって設計されたマスクパターンでは、この
ようなセルの階層構造を容易に認識することができる。
Here, for convenience of explanation, the following description will be made taking a simple mask pattern as shown in FIG. 2 as an example. This mask pattern is designed with a hierarchical structure as shown in FIG. That is, the entire circuit, which is the highest hierarchy, is given the name TOP.
A cell A and a cell B are defined in the lower hierarchy, and a cell C and a cell D are defined as the lower hierarchy. The black dot at the lower left of each cell in FIG. 2 indicates the origin position of the imposition of each cell on the upper hierarchy. The spatial position of each cell on the mask pattern can be indicated by the coordinate value of the origin with respect to the cell in the upper hierarchy. Specifically, coordinate values indicating the imposition position as shown in FIG. 4 are defined.
In a mask pattern designed with a hierarchical structure, such a hierarchical structure of cells can be easily recognized.

【0013】さて、第2段階のステップS2では、所望
のセルの指定が行われる。このセルの指定は、オペレー
タからのセル指定入力に基づいて行われる。ここでは、
オペレータが、セルAとセルDとを指定したものとして
以下の説明を続け、指定されたセルA,Dを「指定セ
ル」と呼ぶことにする。どのセルを指定するかは、オペ
レータの意思に基づいて決定されるが、通常は、内部の
回路接続情報を抽出する必要のないセルを指定すること
になる。具体的には、過去に何度も利用されている使用
頻度の高い基本的なセルであって、そのセルの回路動作
については何ら問題はないという保証がなされているよ
うなセルが指定されることになろう。このようなセルに
ついては、あらためて回路接続情報を抽出する必要はな
い。こうして、セルの指定が完了したら、指定セルの外
部についてのみ、階層構造の展開を行い、指定セルの内
部についての階層構造は無視する。たとえば、セルA,
Dが指定された場合、図5に示すように、実線で示す指
定セルA,Dの外部についてのみ、階層構造の展開が行
われ、指定セルA,D内部の階層構造は無視される。こ
の結果、セルBが展開され、セルCは無視されることに
なり、図3に示した階層構造は、図6に示すような構造
に変更される。展開されたセルBは、TOPに含まれた
形となる。
In step S2 of the second stage, a desired cell is specified. This cell designation is performed based on the cell designation input from the operator. here,
The following description will be continued assuming that the operator has designated the cells A and D, and the designated cells A and D will be referred to as “designated cells”. Which cell is specified is determined based on the operator's intention, but usually specifies a cell for which it is not necessary to extract internal circuit connection information. Specifically, a cell that is a basic cell that has been used many times in the past and that is used frequently and is guaranteed to have no problem with the circuit operation of the cell is specified. It will be. For such a cell, there is no need to extract circuit connection information again. When the specification of the cell is completed, the hierarchical structure is expanded only outside the specified cell, and the hierarchical structure inside the specified cell is ignored. For example, cell A,
When D is designated, as shown in FIG. 5, the hierarchical structure is expanded only outside designated cells A and D indicated by solid lines, and the hierarchical structure inside designated cells A and D is ignored. As a result, the cell B is expanded and the cell C is ignored, and the hierarchical structure shown in FIG. 3 is changed to a structure as shown in FIG. The expanded cell B has a form included in the TOP.

【0014】続く、第3段階のステップS3では、指定
セルのセル外部に接続するための各端子にテキスト名を
付与し、各端子の位置情報を抽出する処理が行われる。
この処理を具体例で説明しよう。いま、ステップS2に
おいて指定された指定セルAおよびDが、図7の(a) お
よび(b) に示すような構造のセルであったとする。指定
セルAは、下位階層のセルCを包含しており、内部に配
線層CWを有し、セル外部の配線層W1〜W4と接続し
ている。一方、指定セルDは、内部に2つのトランジス
タ素子TRを有し、セル外部の配線層W5,W6と接続
している。このように、セル外部の各配線層に接続する
ための各端子に、それぞれテキスト名を付与するのであ
る。このとき、等電位となる端子については同じテキス
ト名を付与するようにする。たとえば、セルAに関して
は、図7(a) に示すように、配線層W1に接続する端子
と、配線層W2に接続する端子とは、配線層CWによっ
て接続されているため等電位となる。したがって、これ
らの端子には同じ「a」なるテキスト名が付与される。
こうして、セルAの4つの端子は、それぞれ、a,a,
b,cなるテキスト名が付与され、セルDの2つの端子
は、それぞれa,bなるテキスト名が付与される。同時
に、これら各端子についての位置情報が、各セルの原点
(この例では、左下の点)に関する座標値として抽出さ
れる。こうして、図8に示すような結果が得られること
になる。なお、上述の例では、テキスト名の入力は、オ
ペレータが行うようになっているが、通常、マスクパタ
ーンには、各端子のテキスト名が文字コードとして付加
されており、しかも、等電位の端子には同じテキスト名
が付されている。したがって、このマスクパターンに文
字コードとして付加されているテキスト名を自動的に取
り込むようにしておけば、オペレータがいちいちテキス
ト名の入力を行う必要はなくなる。
In the subsequent step S3 of the third stage, a process of assigning a text name to each terminal for connection to the outside of the designated cell and extracting position information of each terminal is performed.
This process will be described with a specific example. Now, it is assumed that the designated cells A and D designated in step S2 are cells having a structure as shown in FIGS. 7A and 7B. The designated cell A includes a lower-level cell C, has a wiring layer CW inside, and is connected to wiring layers W1 to W4 outside the cell. On the other hand, the designated cell D has two transistor elements TR inside and is connected to wiring layers W5 and W6 outside the cell. In this way, a text name is given to each terminal for connecting to each wiring layer outside the cell. At this time, the same text name is assigned to the terminals having the same potential. For example, regarding the cell A, as shown in FIG. 7A, the terminal connected to the wiring layer W1 and the terminal connected to the wiring layer W2 are connected to each other by the wiring layer CW and thus have the same potential. Therefore, the same text name “a” is given to these terminals.
Thus, the four terminals of cell A are a, a,
Text names b and c are given, and two terminals of cell D are given text names a and b, respectively. At the same time, the position information of each of these terminals is extracted as coordinate values for the origin (the lower left point in this example) of each cell. Thus, a result as shown in FIG. 8 is obtained. In the above-described example, the input of the text name is performed by the operator. However, usually, the text name of each terminal is added as a character code to the mask pattern. Have the same text name. Therefore, if the text name added as the character code to the mask pattern is automatically taken in, the operator does not need to input the text name each time.

【0015】次の、第4段階のステップS4では、指定
セルの外部のマスクパターンについて回路接続情報の抽
出処理が行われる。上述の例では、セルA,Dが指定さ
れているため、図9にハッチングを施して示した指定セ
ルA,Dの外側の部分を対象として、回路接続情報が抽
出される。この回路接続情報の抽出処理は、従来の方法
と全く同じ方法を用いればよい。具体的には、ます、各
回路素子を認識する演算を行う。たとえば、MOS集積
回路については、拡散層の図形パターンとポリシリコン
層の図形パターンとの間でAND演算を行うことにより
得られる図形パターンを、ゲートチャネル層として認識
することができる。このような図形演算により各回路素
子を認識したら、続いて、各節点について等電位の認識
を行えば、各回路素子相互の接続情報が得られる。この
等電位の認識は、マスクパターンの各層間の位相演算に
よって行われる。たとえば、図10に示すように、2つ
の異なる図形パターンとして与えられた配線層W1,W
2の重なり領域において、コンタクトホールの図形パタ
ーンCTが存在すれば、配線層W1,W2は等電位であ
ると認識することができる。
In the next step S4 of the fourth stage, the circuit connection information is extracted from the mask pattern outside the designated cell. In the above example, since the cells A and D are designated, the circuit connection information is extracted for the portion outside the designated cells A and D shown by hatching in FIG. This circuit connection information extraction processing may use exactly the same method as the conventional method. More specifically, an operation for recognizing each circuit element is performed. For example, for a MOS integrated circuit, a figure pattern obtained by performing an AND operation between a figure pattern of a diffusion layer and a figure pattern of a polysilicon layer can be recognized as a gate channel layer. After recognizing each circuit element by such a graphic operation, subsequently, the equipotential of each node is recognized, so that connection information between the circuit elements can be obtained. The recognition of the equipotential is performed by calculating the phase between the layers of the mask pattern. For example, as shown in FIG. 10, wiring layers W1 and W provided as two different graphic patterns
If the figure pattern CT of the contact hole exists in the overlapping region of 2, the wiring layers W1 and W2 can be recognized as having the same potential.

【0016】このように、ステップS4の処理は、従来
の回路接続情報抽出処理と全く同じ処理となるが、た
だ、抽出処理の対象となる領域が、指定セルの外側の部
分だけに限定されている点が異なる。具体的には、指定
セルA,Dの内部のマスクパターンデータに関してはマ
スクをかけた状態にして、抽出処理が行われる。このよ
うな抽出処理では、指定セルの内部については回路接続
情報の抽出処理は行われないので、指定セルの輪郭にあ
たる境界部分において、回路接続情報が分断されること
になる。たとえば、図11(a) に示すように、配線層W
1についてのセルAの内部の素子に関する接続関係は得
られないので、配線層W1の接続情報は、このセルAの
境界線で分断された状態になる。図11(b) に示すセル
Dについても同様である。そこで、この分断部分につい
ては、ステップS3において抽出した端子位置情報に基
づいて、セルの各端子との接続関係を得る。すなわち、
図4に示すように、各セルの面付け位置座標に関する情
報を用いれば、最上位の階層であるTOPに対する各セ
ルの面付け位置の絶対座標を得ることができる。たとえ
ば、指定セルAおよびDについてのTOPへの面付け位
置の絶対座標は図12に示すようになる。結局、図8に
示す各端子の端子座標(そのセル内での座標値)をTO
Pに対する絶対座標に変換することが可能である。した
がって、たとえば、図11(a) における端子a,a,
b,cの絶対位置座標が求まるので、配線層W1〜W4
の端部が端子a,a,b,cに接続していることが認識
できる。こうして、たとえば、配線層W1は、セルAの
端子aに接続しており、配線層W5は、セルDの端子a
に接続している、といった接続情報が得られることにな
る。
As described above, the process of step S4 is exactly the same as the conventional circuit connection information extraction process, except that the region to be extracted is limited to only the portion outside the designated cell. Are different. More specifically, the extraction processing is performed with the mask pattern data inside the designated cells A and D kept masked. In such an extraction process, the circuit connection information is not extracted inside the designated cell, so that the circuit connection information is divided at the boundary portion corresponding to the contour of the designated cell. For example, as shown in FIG.
Since the connection relation of the element 1 inside the cell A cannot be obtained, the connection information of the wiring layer W1 is separated at the boundary of the cell A. The same applies to the cell D shown in FIG. Therefore, for this divided portion, the connection relationship with each terminal of the cell is obtained based on the terminal position information extracted in step S3. That is,
As shown in FIG. 4, the absolute coordinates of the imposition position of each cell with respect to TOP, which is the highest hierarchy, can be obtained by using the information on the imposition position coordinates of each cell. For example, the absolute coordinates of the imposition position on the TOP for the designated cells A and D are as shown in FIG. After all, the terminal coordinates (coordinate values in the cell) of each terminal shown in FIG.
It is possible to convert to absolute coordinates for P. Therefore, for example, the terminals a, a, and
Since the absolute position coordinates of b and c are obtained, the wiring layers W1 to W4
Are connected to the terminals a, a, b, and c. Thus, for example, the wiring layer W1 is connected to the terminal a of the cell A, and the wiring layer W5 is connected to the terminal a of the cell D.
Connection information, such as connection to the server.

【0017】ところで、集積回路を構成する各セル内に
は、電源配線層が通っているのが一般的である。たとえ
ば、図13に示すセルD´は、図7(b) に示すセルDに
更に、電源配線層VddおよびGndを加えたものであ
り、これらの電源配線層は、それぞれセルD´内を通過
するために配されている。このような電源配線層は、セ
ルD´の機能に関しては何ら意味のない層であるが、セ
ルD´の外部の回路にとっては重要な意味をもつ。すな
わち、図13において、配線層W7,W8,W9,W1
0が、セルD´の境界で分断されたままの状態になって
いると、正しい回路接続情報は得られない。そこで、こ
のような電源配線層Vdd,Gndについては、セルD
´の内部のマスクパターンではあるが、ステップS4に
おける回路接続情報抽出処理の対象とするようにすれば
都合がよい。通常、このような電源配線層Vdd,Gn
dは、電源配線専用のレイヤー上に配されたマスクパタ
ーンとして与えられるので、セルD´内の他のマスクパ
ターンとは区別して、回路接続情報抽出処理の対象に入
れることは容易である。結局、セルD´については、図
14に示すように、端子a,bおよび電源配線層Vd
d,Gndのみを回路接続情報抽出処理の対象に入れれ
ばよい。一般に、電源配線層以外の配線層であってもセ
ル内を単に通過するだけのものが存在する。このように
セル内を通過する配線層については、電源配線層以外で
あっても回路接続情報抽出処理の対象に入れるようにす
るとよい。このように、セル内を通過する配線層を抽出
処理対象に入れておけば、等電位処理を行う際に、図1
4の例では、配線層W7,Vdd,W8が等電位であ
り、同様に、配線層W9,Gnd,W10が等電位であ
ると認識される。
Incidentally, a power supply wiring layer generally passes through each cell constituting an integrated circuit. For example, the cell D 'shown in FIG. 13 is obtained by adding the power supply wiring layers Vdd and Gnd to the cell D shown in FIG. 7B, and these power supply wiring layers pass through the cell D', respectively. Arranged to be. Such a power supply wiring layer has no meaning with respect to the function of the cell D ', but has an important meaning for circuits outside the cell D'. That is, in FIG. 13, the wiring layers W7, W8, W9, W1
If 0 remains disconnected at the boundary of cell D ', correct circuit connection information cannot be obtained. Therefore, for such power supply wiring layers Vdd and Gnd, the cell D
Although it is a mask pattern inside ', it is convenient if it is set as a target of the circuit connection information extraction processing in step S4. Usually, such power supply wiring layers Vdd, Gn
Since d is given as a mask pattern arranged on a layer dedicated to power supply wiring, it is easy to distinguish it from other mask patterns in the cell D ′ and to include it in the circuit connection information extraction processing. As a result, regarding the cell D ′, as shown in FIG. 14, the terminals a and b and the power supply wiring layer Vd
Only d and Gnd may be included in the circuit connection information extraction processing. Generally, some wiring layers other than the power supply wiring layer simply pass through the cell. As described above, the wiring layer passing through the inside of the cell may be included in the circuit connection information extraction processing even if it is other than the power supply wiring layer. As described above, if the wiring layer passing through the cell is included in the extraction processing target, when performing the equipotential processing, FIG.
In the example of No. 4, it is recognized that the wiring layers W7, Vdd, and W8 have the same potential, and similarly, the wiring layers W9, Gnd, and W10 have the same potential.

【0018】最後に、第5段階のステップS5で、ステ
ップS4で得られた回路接続情報に対する修正を行う。
すなわち、同一の指定セル内で同一のテキスト名が付与
されている端子については、等電位であるとし、相互に
導通する接続関係が得られるような修正を施すのであ
る。たとえば、図11において、配線層W1とW2と
は、いずれも指定セルAの同一のテキスト名aが付与さ
れた端子に接続されているという接続情報が得られるこ
とになる。この場合は、配線層W1,W2は等電位であ
るので、これらの配線層は互いに導通する接続関係に修
正されることになる。
Finally, in a fifth step S5, the circuit connection information obtained in the step S4 is corrected.
In other words, terminals to which the same text name is assigned in the same designated cell are assumed to be at the same potential, and a correction is made so that a mutually conductive connection relationship is obtained. For example, in FIG. 11, connection information indicating that both of the wiring layers W1 and W2 are connected to the terminal of the designated cell A to which the same text name a is assigned is obtained. In this case, since the wiring layers W1 and W2 have the same potential, these wiring layers are modified to have a connection relationship of conducting each other.

【0019】また、たとえば、図15に示すように、2
つの指定セルX,Yが互いに隣接する場合には、各指定
セルの端子の絶対位置座標に基づいて、互いに接触する
端子があるかどうかを確認し、互いに接触する端子につ
いては、相互に導通する接続関係が確保されるように、
回路接続情報に対する修正を行う。図15の例では、両
セルの境界線Z上において、端子aと端子dとが接触し
ている。したがって、端子aと端子dとは導通する接続
関係が確保される。その結果、配線層W1,W3,W
7,W8は、いずれも導通するという接続関係が得られ
るように、回路接続情報が修正されることになる。
For example, as shown in FIG.
When two designated cells X and Y are adjacent to each other, it is checked whether there is a terminal that contacts each other based on the absolute position coordinates of the terminal of each designated cell, and the terminals that contact each other are electrically connected to each other. To ensure the connection relationship,
Modify the circuit connection information. In the example of FIG. 15, the terminals a and d are in contact with each other on the boundary line Z between the two cells. Therefore, a conductive connection between the terminal a and the terminal d is ensured. As a result, the wiring layers W1, W3, W
7 and W8, the circuit connection information is corrected so as to obtain a connection relationship of conducting.

【0020】こうして、最終的な回路接続情報が得られ
ることになる。この回路接続情報は、いわば、素子レベ
ルの接続情報とセルレベルの接続情報とが混在した情報
となる。すなわち、図9のハッチング部分の回路につい
ては素子レベルの接続情報が示されるが、指定セルA,
Dについては、セルA,Dがこの位置に存在するという
情報と、セルA,Dの外部接続端子とハッチング部分の
回路との接続関係を示す情報と、が示されているだけで
あり、セルA,Dの内部の回路の素子レベルの接続情報
は省略されている。このように、細かな内部情報が不要
なセルA,Dについての接続情報の抽出を省略すること
により、短時間で効率的な抽出作業が可能になる。
Thus, the final circuit connection information is obtained. This circuit connection information is, so to speak, information in which element-level connection information and cell-level connection information are mixed. That is, the connection information at the element level is shown for the circuit in the hatched portion in FIG.
For D, only information indicating that the cells A and D are present at this position and information indicating the connection relationship between the external connection terminals of the cells A and D and the circuit in the hatched portion are shown. The connection information at the element level of the circuits inside A and D is omitted. By omitting the extraction of connection information for cells A and D that do not require detailed internal information, efficient extraction can be performed in a short time.

【0021】以上、本発明を図示する実施例に基づいて
説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるもの
ではない。特に、上述の実施例は、説明の便宜上、非常
に単純なモデルについてのものであり、実際にはより複
雑なマスクパターンに対して本発明は適用されることに
なる。
Although the present invention has been described based on the illustrated embodiment, the present invention is not limited to this embodiment. In particular, the above-described embodiment is for a very simple model for convenience of explanation, and the present invention is actually applied to a more complicated mask pattern.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上のとおり本発明によれば、集積回路
マスクパターンからの回路接続情報抽出方法において、
予め所定のセルを指定し、この指定セルの外側の部分に
ついてのみ回路接続情報の抽出処理を行うようにしたた
め、効率的な演算を行うことにより、短い処理時間で、
所望の回路接続情報を抽出することができるようにな
る。
As described above, according to the present invention, in a method for extracting circuit connection information from an integrated circuit mask pattern,
A predetermined cell is designated in advance, and the circuit connection information is extracted only for the portion outside the designated cell.
Desired circuit connection information can be extracted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る集積回路マスクパター
ンからの回路接続情報抽出方法の処理手順を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a processing procedure of a circuit connection information extraction method from an integrated circuit mask pattern according to one embodiment of the present invention.

【図2】図1の手順を説明するために用いる階層構造を
もった具体的なマスクパターンの一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a specific mask pattern having a hierarchical structure used for explaining the procedure of FIG. 1;

【図3】図2に示すマスクパターンの階層構造を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing a hierarchical structure of the mask pattern shown in FIG. 2;

【図4】図2に示すマスクパターンについて、各セルの
面付け位置を示す表である。
FIG. 4 is a table showing imposition positions of cells in the mask pattern shown in FIG. 2;

【図5】図2に示すマスクパターンについて、セル指定
を行った状態を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a state where a cell is specified for the mask pattern shown in FIG. 2;

【図6】図5に示すセル指定後の階層構造を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a hierarchical structure after the cell designation shown in FIG. 5;

【図7】指定セルAおよびDの内部構造を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing an internal structure of designated cells A and D.

【図8】図7に示す指定セルAおよびDについて、外部
接続用端子に関するデータを抽出した例を示す表であ
る。
FIG. 8 is a table showing an example of extracting data relating to external connection terminals for designated cells A and D shown in FIG. 7;

【図9】回路接続情報抽出処理の対象となるセルAおよ
びDの外部の部分を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a portion outside cells A and D to be subjected to circuit connection information extraction processing.

【図10】回路接続情報抽出処理における等電位認識の
一方法を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing one method of equipotential recognition in circuit connection information extraction processing.

【図11】回路接続情報抽出処理を行う際に、指定セル
AおよびDに関して残された情報を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing information left on designated cells A and D when performing circuit connection information extraction processing.

【図12】図4に示す表に基づいて得られた、指定セル
AおよびDのTOPへの面付け位置を示す表である。
FIG. 12 is a table showing imposition positions of designated cells A and D on a TOP obtained based on the table shown in FIG. 4;

【図13】電源配線層が内部を通過しているセルD´を
示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a cell D ′ in which a power supply wiring layer passes.

【図14】図13に示すセルD´について、回路接続情
報抽出処理を行う際に残された情報を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing information left when performing circuit connection information extraction processing for the cell D ′ shown in FIG. 13;

【図15】隣接する2つの指定セルが存在する場合に隣
接する端子を等電位と認識する処理を説明する図であ
る。
FIG. 15 is a diagram illustrating processing for recognizing adjacent terminals as equipotentials when two adjacent designated cells exist.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…集積回路マスクパターン A〜D,X,Y…セル a〜d…外部接続端子 W1〜W10…配線層 CT…コンタクトホール TR…トランジスタ Vdd,Gnd…電源配線層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Integrated circuit mask pattern A-D, X, Y ... Cell ad ... External connection terminal W1-W10 ... Wiring layer CT ... Contact hole TR ... Transistor Vdd, Gnd ... Power supply wiring layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−182873(JP,A) 特開 昭63−129466(JP,A) 特開 平4−304562(JP,A) 特開 平4−172564(JP,A) 寺尾淳子、外3名、”超LSIレイア ウト検証システムFRIENDにおける 階層的な接続検証”、電子情報通信学会 技術研究報告、電子情報通信学会、昭和 62年、Vol.86、No.328、p.9 −15(CAS86−204) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 17/50 666 JICSTファイル(JOIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-4-182873 (JP, A) JP-A-63-129466 (JP, A) JP-A-4-304562 (JP, A) JP-A-4- 172564 (JP, A) Junko Terao, et al., "Hierarchical Connection Verification in VLSI Layout Verification System FRIEND," IEICE Technical Report, IEICE, 1987, Vol. 86, No. 328, p. 9-15 (CAS86-204) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G06F 17/50 666 JICST file (JOIS)

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 集積回路マスクパターンをデジタイズし
てデジタルデータとして取り込むデジタイズ手段と、 前記集積回路マスクパターン上の特定のセルを指定する
セル指定手段と、 前記指定セルのセル外部に接続するための各端子につい
て、等電位となる端子については同じテキスト名となる
ように、それぞれテキスト名を入力し、前記各端子の位
置情報を抽出する位置情報抽出手段と、 前記指定セルの外部に存在するマスクパターンおよび前
記指定セル内部を通過する配線に関するマスクパターン
ならびに前記テキスト名が付与された各端子を対象とし
て、回路接続情報を抽出する接続情報抽出手段と、 抽出した回路接続情報において、同一のテキスト名が付
与された複数の端子については、相互に導通する接続関
係が確保されるように前記回路接続情報を修正する修正
処理手段と、 を有する回路接続情報抽出装置が、集積回路マスクパタ
ーンから、マスクパターンとして表現された回路につい
ての接続情報を抽出する処理を実行する方法であって、 前記デジタイズ手段が、集積回路マスクパターンをデジ
タルデータとして取り込む第1の段階と、 前記セル指定手段が、オペレータの指示に基づいて、特
定のセルの指定を入力する第2の段階と、 前記位置情報抽出手段が、オペレータの指示に基づい
て、各端子についてのテキスト名を入力し、各端子の位
置情報を抽出する第3の段階と、 前記接続情報抽出手段が、回路接続情報を抽出する第4
の段階と、 前記修正処理手段が、回路接続情報を修正する第5の段
階と、 を実行する ことを特徴とする集積回路マスクパターンか
らの回路接続情報抽出方法。
An integrated circuit mask pattern is digitized.
Digitizing means for taking in as digital data, and specifying a specific cell on the integrated circuit mask pattern
Cell designating means and each terminal for connection to the outside of the designated cell
Therefore, terminals with the same potential have the same text name
Enter the text name for each
Position information extracting means for extracting position information; a mask pattern existing outside the designated cell;
Mask pattern for wiring passing inside the specified cell
And each terminal to which the above-mentioned text name is assigned
The connection information extracting means for extracting the circuit connection information and the same text name are added to the extracted circuit connection information.
For a given set of terminals, the connection
Modification to modify the circuit connection information so as to secure the engagement
And processing means, the circuit connection information extracting device having an integrated circuit mask pattern
From the diagram, the circuit expressed as a mask pattern
A method for extracting all connection information, wherein the digitizing means digitizes an integrated circuit mask pattern.
A first step of taking a barrel data, said cell specifying means, based on the instruction of the operator, especially
A second step of inputting the specification of the constant of the cell, said position information extracting means, based on the instruction of the operator
Enter the text name for each terminal,
A third step of extracting the connection information; and a fourth step of extracting the circuit connection information by the connection information extracting means.
And a fifth step in which the correction processing means corrects the circuit connection information.
Circuit connection information extraction method from the integrated circuit mask pattern and to execute the floor, the.
【請求項2】 各端子のテキスト名が文字コードとして
付加されている集積回路マスクパターンをデジタイズし
て、集積回路マスクパターンとともに各端子のテキスト
名をデジタルデータとして取り込むデジタイズ手段と、 前記集積回路マスクパターン上の特定のセルを指定する
セル指定手段と、 前記指定セルのセル外部に接続するための各端子につい
て、それぞれ位置情報を抽出する位置情報抽出手段と、 前記指定セルの外部に存在するマスクパターンおよび前
記指定セル内部を通過する配線に関するマスクパターン
ならびに前記各端子を対象として、回路接続情報を抽出
する接続情報抽出手段と、 抽出した回路接続情報において、同一のテキスト名が付
与された複数の端子については、相互に導通する接続関
係が確保されるように前記回路接続情報を修正する修正
処理手段と、 を有する回路接続情報抽出装置が、集積回路マスクパタ
ーンから、マスクパターンとして表現された回路につい
ての接続情報を抽出する処理を実行する方法であって、 前記デジタイズ手段が、等電位となる端子については同
じテキスト名が付加されている集積回路マスクパターン
をデジタルデータとして取り込む第1の段階と、 前記セル指定手段が、オペレータの指示に基づいて、特
定のセルの指定を入力する第2の段階と、 前記位置情報抽出手段が、セル外部に接続するための各
端子について、それぞれ位置情報を抽出する第3の段階
と、 前記接続情報抽出手段が、回路接続情報を抽出する第4
の段階と、 前記修正処理手段が、回路接続情報を修正する第5の段
階と、 を実行する ことを特徴とする集積回路マスクパターンか
らの回路接続情報抽出方法。
2. The text name of each terminal is represented by a character code.
Digitizes the added integrated circuit mask pattern
And the text of each terminal together with the integrated circuit mask pattern
Digitizing means for capturing a name as digital data, and designating a specific cell on the integrated circuit mask pattern
Cell designating means and each terminal for connection to the outside of the designated cell
A position information extracting unit for extracting position information, and a mask pattern existing outside the designated cell and
Mask pattern for wiring passing inside the specified cell
And extract circuit connection information for each terminal
The same text name is assigned to the connection information extracting means to be connected and the extracted circuit connection information.
For a given set of terminals, the connection
Modification to modify the circuit connection information so as to secure the engagement
And processing means, the circuit connection information extracting device having an integrated circuit mask pattern
From the diagram, the circuit expressed as a mask pattern
A process for extracting all connection information, wherein the digitizing means performs the same for terminals having the same potential.
Integrated circuit mask pattern with the same text name
A first step of capturing a digital data, said cell specifying means, based on the instruction of the operator, especially
A second step of inputting the designation of a fixed cell, and the position information extracting means includes
Third stage of extracting position information for each terminal
And a fourth step in which the connection information extracting means extracts circuit connection information.
And a fifth step in which the correction processing means corrects the circuit connection information.
Circuit connection information extraction method from the integrated circuit mask pattern and to execute the floor, the.
【請求項3】 請求項1または2に記載の抽出方法にお
いて、修正処理手段が、複数の指定セルが隣接していた場合に
は、各端子の位置情報に基づいて、互いに接触する端子
が存在するかどうかを確認し、互いに接触する端子につ
いては、相互に導通する接続関係が確保されるように回
路接続情報を修正することを特徴とする集積回路マスク
パターンからの回路接続情報抽出方法。
3. The extraction method according to claim 1, wherein the correction processing means determines whether the plurality of designated cells are adjacent to each other.
Are terminals that contact each other based on the position information of each terminal
Check for the presence of
In order to ensure a mutually conductive connection,
Integrated circuit mask for correcting circuit connection information
A method for extracting circuit connection information from patterns.
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寺尾淳子、外3名、"超LSIレイアウト検証システムFRIENDにおける階層的な接続検証"、電子情報通信学会技術研究報告、電子情報通信学会、昭和62年、Vol.86、No.328、p.9−15(CAS86−204)

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