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JP3255586B2 - Electrode plate for plasma etching - Google Patents
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JP3255586B2 - Electrode plate for plasma etching - Google Patents

Electrode plate for plasma etching

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JP3255586B2
JP3255586B2 JP04296397A JP4296397A JP3255586B2 JP 3255586 B2 JP3255586 B2 JP 3255586B2 JP 04296397 A JP04296397 A JP 04296397A JP 4296397 A JP4296397 A JP 4296397A JP 3255586 B2 JP3255586 B2 JP 3255586B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、半導体デバイスの
製造工程において、ウエハまたはウエハ表面上に形成さ
れたシリコン酸化膜などの薄膜をプラズマエッチング加
工する際に用いられる電極板、特に8インチ以上の大型
ウエハの処理において均一なエッチングレートが得られ
るとともにプラズマによる電極表面の消耗が少なく、長
期間に亘って安定して使用することのできるガラス状カ
ーボン板で構成されたプラズマエッチング用電極板に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrode plate used for plasma etching a thin film such as a silicon oxide film formed on a wafer or a wafer surface in a semiconductor device manufacturing process. The present invention relates to a plasma etching electrode plate made of a glassy carbon plate that can be used stably for a long period of time while obtaining a uniform etching rate in the processing of a large-sized wafer and reducing the consumption of the electrode surface by plasma.

【0002】プラズマエッチング加工は、一対の並行平
面電極を設置したエッチング装置内に反応性ガス(CF4,A
r,O2等) を導入しながら電極間に高周波電力を印加して
放電させ、生じたガスプラズマを用いて被フォトレジス
ト部分をエッチングすることにより高精度で微細な回路
パターンを形成することにより行われる。このプラズマ
エッチング加工に用いられる平面電極には、優れた導電
性の他、ウエハを汚染しない高純度性ならびに容易にエ
ッチングされない化学的安定性が必要とされており、現
状ではこれらの材質要件を満たすものとしてガラス状カ
ーボン材で形成された電極板が有用されている。
In a plasma etching process, a reactive gas (CF 4 , A
(r, O 2 etc.) by applying high frequency power between the electrodes while discharging, and etching the photoresist part using the generated gas plasma to form a fine circuit pattern with high precision Done. The planar electrode used for this plasma etching process needs to have not only excellent conductivity, but also high purity that does not contaminate the wafer and chemical stability that is not easily etched, and currently satisfy these material requirements. For example, an electrode plate formed of a glassy carbon material has been useful.

【0003】ガラス状カーボン材は、熱硬化性樹脂を炭
化して得られる巨視的に無孔組織の硬質炭素物質で、高
強度、低化学反応性、ガス不透過性、自己潤滑性、堅牢
性などに優れ、不純物が少ない等の特性を有している
が、特にプラズマエッチング処理中にウエハーを汚染す
る原因となる微細パーティクルが組織から離脱し難い材
質上の利点がある。
A glassy carbon material is a macroscopically nonporous hard carbon material obtained by carbonizing a thermosetting resin, and has high strength, low chemical reactivity, gas impermeability, self-lubricating property, and robustness. It has characteristics such as low impurity content and the like, but there is an advantage in that fine particles which cause contamination of the wafer during the plasma etching process are hardly separated from the tissue.

【0004】[0004]

【従来の技術】しかしながら、半導体の集積度が増大す
るに伴ってプラズマエッチング用の電極材にも厳しい材
質要求が課せられており、ウエハ面に付着するパーティ
クルレベルや消耗度合の低減化が厳しく要求されてい
る。このため、プラズマエッチング用のガラス状カーボ
ン電極を対象とする材質的な改良の試みが数多く提案さ
れている。
2. Description of the Related Art However, as the degree of integration of semiconductors has increased, strict material requirements have also been imposed on electrode materials for plasma etching, and it has been strictly required to reduce the level of particles attached to the wafer surface and the degree of wear. Have been. For this reason, many attempts to improve the material properties of glassy carbon electrodes for plasma etching have been proposed.

【0005】例えば、純度、気孔率、気孔径、結晶構造
などの材質性状を改良対象とするものとして、気孔率が
0.0002〜0.0020%で結晶子がX線回析で検
出されず、かつ不純物含有量が5ppm 以下のガラス状カ
ーボン材料からなるプラズマ装置用カーボン部材(特開
平3−33007 号公報)、最大気孔径1μm 以下、平均気
孔径0.7μm 以下で気孔率が1%以下の組織特性を有
する高純度ガラス状カーボンからなるプラズマエッチン
グ用電極板(特開平3−119723号公報)、高純度のガラ
ス状カーボンからなる厚さ2mm以上の板状体であり、表
面および内部組織に粒界が実質的に存在せず、最大気孔
径が1μm 以下のプラズマエッチング用電極板(特開平
3−285086号公報)、純度特性が総灰分5ppm 以下、金
属不純物2ppm 以下、総硫黄分30ppm 以下で、結晶特
性が結晶面間隔(002) 0.375nm以下、結晶子(002)
の大きさが1.3nm以上で、かつ材質特性が比重1.5
0以上、曲げ強度が1100kg/cm2以上のガラス状カー
ボンからなるプラズマエッチング用電極板(特開平5−
320955号公報)、格子定数C0 が6.990オングスト
ローム以下の結晶子を有するガラス状炭素からなるプラ
ズマエッチング用電極板(特開平6−128761号公報)、
プラズマにより消耗する部位の表面平滑度がRmax6μm
以下であるガラス状炭素からなるプラズマエッチング用
電極板(特開平6−128762号公報)などが提案されてい
る。
For example, in order to improve the material properties such as purity, porosity, pore diameter, and crystal structure, crystallites having a porosity of 0.0002 to 0.0020% are not detected by X-ray diffraction. A carbon member for a plasma device comprising a glassy carbon material having an impurity content of 5 ppm or less (Japanese Patent Laid-Open No. 3-33007), a maximum pore diameter of 1 μm or less, an average pore diameter of 0.7 μm or less, and a porosity of 1% or less. An electrode plate for plasma etching made of high-purity glassy carbon having the following structural characteristics (Japanese Patent Laid-Open No. 3-119723), a plate made of high-purity glassy carbon and having a thickness of 2 mm or more, having a surface and internal structure Electrode plate for plasma etching having substantially no grain boundaries and having a maximum pore diameter of 1 μm or less (JP-A-3-285086), having a purity characteristic of 5 ppm or less in total ash, 2 ppm or less in metal impurities, and 3 ppm in total sulfur. ppm or less, the crystal characteristic lattice spacing (002) 0.375Nm or less, crystallite (002)
Has a size of 1.3 nm or more and material properties of specific gravity 1.5
0 or more, and an electrode plate for plasma etching made of glassy carbon having a bending strength of 1100 kg / cm 2 or more
JP-A-320955), an electrode plate for plasma etching made of glassy carbon having a crystallite having a lattice constant C 0 of 6.990 Å or less (JP-A-6-128761).
Surface smoothness of the part consumed by plasma is Rmax6μm
The following electrode plates for plasma etching made of glassy carbon (JP-A-6-128762) have been proposed.

【0006】また、ガラス状炭素を製造する原料樹脂を
特定するものとして、フェノール樹脂およびポリカルボ
ジイミド樹脂を原料として製造したガラス状炭素材から
なるプラズマエッチング用電極板(特開平5−347276号
公報)や、ポリカルボジイミド樹脂を原料として製造し
たガラス状炭素材からなるプラズマエッチング用電極板
(特開平5−347278号公報)なども提案されている。
Further, as a material for specifying a raw material resin for producing glassy carbon, an electrode plate for plasma etching comprising a glassy carbon material produced from phenol resin and polycarbodiimide resin (Japanese Patent Laid-Open No. 5-347276). Also, an electrode plate for plasma etching made of a glassy carbon material manufactured using a polycarbodiimide resin as a raw material (Japanese Patent Laid-Open No. 5-347278) has been proposed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】プラズマエッチング加
工において重要な技術的要素の一つにエッチングレート
(速度)があり、加工精度を高めるためにはこのエッチ
ングレートの均一性を確保する必要がある。エッチング
レートの均一化は反応部の温度、とくに電極板表面の温
度分布に著しく支配され、この表面温度に変動があると
均一かつ安定なエッチングレートを得ることができなく
なる。したがって、従来、プラズマ照射により発熱する
電極板の温度を均一に保持するために電極板の裏面に金
属製の冷却板を密着した積層状態で使用されている。
One of the important technical elements in the plasma etching process is an etching rate (speed), and it is necessary to ensure the uniformity of the etching rate in order to increase the processing accuracy. The uniformization of the etching rate is remarkably governed by the temperature of the reaction part, especially the temperature distribution on the surface of the electrode plate. If the surface temperature fluctuates, a uniform and stable etching rate cannot be obtained. Therefore, conventionally, in order to keep the temperature of the electrode plate generating heat by plasma irradiation uniform, a metal cooling plate is used in a stacked state in which a metal cooling plate is closely attached to the back surface of the electrode plate.

【0008】更に、半導体デバイスの高集積度化ととも
に回路パターンがますます微細となり、またウエハサイ
ズが8インチ以上、更には12インチを越えるようにな
っているため、エッチングレートの均一化は大型ウエハ
を高精度でエッチング加工する上でも重要な技術的課題
とされている。
[0008] Furthermore, with the increase in the degree of integration of semiconductor devices, circuit patterns have become increasingly finer, and since the wafer size has become more than 8 inches, and even more than 12 inches, the uniformity of the etching rate has been required for large wafers. It is considered to be an important technical issue in performing high-precision etching.

【0009】また、近時、半導体デバイスの集積度が高
度化するに伴い、組織から離脱する微細パーティクルの
一層の低減化が要求されており、プラズマエッチング処
理時における電極板表面の消耗を抑制することがますま
す重要となっている。ガラス状カーボン材は化学的安定
性に優れているが、エッチング時においてプラズマガス
との反応により電極板の表面から徐々に消耗するため
に、通常数百時間の使用で数mm消耗した時点で電極板を
交換している。したがって、電極板表面の消耗が少な
く、長時間に亘って安定して使用することのできるプラ
ズマエッチング用電極板を開発することは、ウエハー汚
染の原因となる微細パーティクルの離脱を低減化する上
で、更に経済性の面からも極めて重要である。
In recent years, as the degree of integration of semiconductor devices has increased, it has been required to further reduce fine particles detached from the tissue, thereby suppressing the consumption of the electrode plate surface during plasma etching. Is becoming increasingly important. Although the glassy carbon material has excellent chemical stability, it gradually depletes from the surface of the electrode plate due to the reaction with the plasma gas during etching. The board has been replaced. Therefore, to develop an electrode plate for plasma etching that can be used stably for a long time with less consumption of the electrode plate surface is necessary to reduce detachment of fine particles that cause wafer contamination. It is extremely important from the viewpoint of economy.

【0010】本発明者らは、上記の課題、すなわちエッ
チングレートの均一化および電極板表面の消耗を抑制す
るためにガラス状カーボン材の材質性状について多角的
に研究を進めた結果、エッチッグレートの均一化を図る
ためには電極板表面の温度分布を均等に保持することが
重要であり、電極板を構成するガラス状カーボン材の熱
伝導率が特定値以上にあり、かつ電極板の厚さが一定値
以上である場合には電極板表面の温度分布が均等化し、
常に優れたエッチングレートにより加工し得ることを知
見した。
The present inventors have conducted various studies on the above-mentioned problems, that is, the material properties of the glassy carbon material in order to make the etching rate uniform and suppress the consumption of the electrode plate surface. It is important to keep the temperature distribution on the surface of the electrode plate uniform in order to make the electrode plate uniform, the thermal conductivity of the glassy carbon material constituting the electrode plate is above a specified value, and the thickness of the electrode plate is Is more than a certain value, the temperature distribution on the electrode plate surface is equalized,
It has been found that processing can always be performed with an excellent etching rate.

【0011】また、ガラス状カーボン材のかさ密度が特
定値以上にあると電極板表面の温度上昇を抑制すること
ができ、更にガラス状カーボン板の形状をプラズマエッ
チングを行う電極板表面の反応面積に対して相対的に肉
厚に設定すると、電極板表面の温度上昇を効果的に抑制
できる事実を解明した。
When the bulk density of the glassy carbon material is above a specific value, the temperature rise on the surface of the electrode plate can be suppressed, and the shape of the glassy carbon plate can be reduced by the reaction area of the electrode plate surface where plasma etching is performed. It was clarified that the temperature rise on the surface of the electrode plate can be effectively suppressed by setting the thickness relatively to the thickness.

【0012】本発明は上記の知見に基づいて完成された
ものであり、その目的とする解決課題は、電極板表面の
温度分布を均等化し、また電極板表面の温度上昇を抑制
することによって、エッチングレートの均一性の改善な
らびに消耗速度の低減化を図り、8インチを越える大型
ウエハを対象とした場合にも長期間に亘って安定したエ
ッチング加工を行うことができるガラス状カーボン板か
らなるプラズマエッチング用電極板を提供することにあ
る。
The present invention has been completed based on the above findings, and an object of the present invention is to equalize the temperature distribution on the electrode plate surface and to suppress the temperature rise on the electrode plate surface. A plasma made of a glassy carbon plate capable of improving the uniformity of the etching rate and reducing the consumption rate, and performing a stable etching process for a long period even for a large wafer exceeding 8 inches. It is to provide an electrode plate for etching.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の請求項1によるプラズマエッチング用電極
板は、精製したフェノールおよびホルマリンを原料とし
て縮合反応させて得られるフェノール樹脂初期縮合物
に、フランまたはその誘導体化合物を混合して樹脂組成
物を形成し、該樹脂組成物を成形して加熱硬化させた
後、炭化焼成することにより製造されるガラス状カーボ
ン板からなり、該ガラス状カーボン板は、温度300K
における熱伝導率が5W/m・K以上の特性を有し、か
つ厚さが4.5mm以上であることを特徴とする。また
請求項2によるプラズマエッチング用電極板は、請求項
1において、ガラス状カーボンのかさ密度が1.53g
/cm3 以上の特性を有すること、請求項3によるプラ
ズマエッチング用電極板は、請求項1または2におい
て、直径/厚さ比が65以下の形状特性を備えることを
特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an electrode plate for plasma etching according to the present invention, wherein a phenol resin precondensate obtained by a condensation reaction using purified phenol and formalin as raw materials. A resin composition formed by mixing furan or a derivative compound thereof, forming the resin composition, heating and curing, and then carbonizing and calcining a glassy carbon plate produced by firing. The temperature of the carbon plate is 300K
Are characterized by having a thermal conductivity of 5 W / m · K or more and a thickness of 4.5 mm or more. In the electrode plate for plasma etching according to the second aspect, the bulk density of the glassy carbon is 1.53 g.
/ Cm 3 to have the above characteristics, the plasma etching electrode plate according to claim 3, in claim 1 or 2, characterized in that the diameter / thickness ratio comprises a 65 following shape characteristics.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明のプラズマエッチング用電
極板は、熱硬化性樹脂を焼成炭化して得られる均一組織
を有し、円板形状のガラス状カーボン板からなることを
前提とするが、純度特性として総灰分5ppm 以下、金属
不純物2ppm 以下、総硫黄分30ppm以下の高純度材質
を有し、可及的に表面平滑度の高い平面板であることが
好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The electrode plate for plasma etching of the present invention has a uniform structure obtained by firing and carbonizing a thermosetting resin, and is premised on a disk-shaped glassy carbon plate. It is preferable that the flat plate is made of a high-purity material having a total ash content of 5 ppm or less, a metal impurity of 2 ppm or less, and a total sulfur content of 30 ppm or less and having as high a surface smoothness as possible.

【0015】上記のガラス状カーボン板において、温度
300Kでの熱伝導率が5 W/m・K以上の特性を有して
いることが本発明の特徴の1つである。熱伝導率の大き
なガラス状カーボン板は、熱伝導が良好なため、電極板
の温度変動が少なくなって表面温度分布を均等化するた
めに寄与する。すなわち、温度300Kでの熱伝導率が
5 W/m・K 以上の特性を備えている場合には熱伝導が円
滑に行われ、電極板の温度分布を均等に保持するために
有効機能する。しかし、温度300Kでの熱伝導率が5
W/m・K 未満のガラス状カーボン板ではプラズマエッチ
ングに伴う発熱などによって電極板の温度が変化し易く
温度分布が均等になり難いことから、結果的にエッチン
グレートの均一性を減退させる要因となる。また、電極
板の温度分布が冷却板に与える応力歪により密着性が減
退して僅かな間隙を生じ、電極板の温度分布をさらに広
げ、表面温度を変動させてエッチングレートの均一性を
減退させる。
One of the features of the present invention is that the above-mentioned glassy carbon plate has a characteristic that the thermal conductivity at a temperature of 300 K is 5 W / m · K or more. A glassy carbon plate having a large thermal conductivity has good thermal conductivity, and thus contributes to reducing the temperature fluctuation of the electrode plate and equalizing the surface temperature distribution. In other words, when the thermal conductivity at a temperature of 300 K has a characteristic of 5 W / m · K or more, the heat conduction is performed smoothly, and it effectively functions to maintain the temperature distribution of the electrode plate uniformly. However, the thermal conductivity at a temperature of 300 K is 5
With glassy carbon plates of less than W / m · K, the temperature of the electrode plate tends to change due to the heat generated by plasma etching and the temperature distribution is difficult to be uniform. Become. In addition, the temperature distribution of the electrode plate reduces the adhesiveness due to the stress strain applied to the cooling plate, causing a slight gap, further expanding the temperature distribution of the electrode plate, and changing the surface temperature to reduce the uniformity of the etching rate. .

【0016】この特性に加えて、電極板として厚さが
4.5mm以上のガラス状カーボン板を選択する本発明の
要件は、肉厚の大きなガラス状カーボン板からなる電極
板を意味する。このように肉厚のガラス状カーボン板
は、熱容量が大きくなり、また電極板に若干の反りがあ
って冷却板との密着性が損なわれた場合においても表面
温度分布の変動は効果的に抑制され、実用上充分なエッ
チングレートの均一性を得ることが可能となる。しか
し、厚さが4.5mm未満のガラス状カーボン板からなる
電極板では、前記した機能が発揮されず、エッチングレ
ートの均一性が低下する。また、肉厚の電極板は大型ウ
エハ処理用としてハンドリング性に優れ、消耗に対する
電極寿命が長くなる等の派生的効果もあるが、厚さが
4.5mm未満の肉厚となると、製造時に工夫を凝らさな
いと直径の大きな電極板として反りのないガラス状カー
ボン板を得ることが困難となる。なお、プラズマエッチ
ング用電極板として求められる組織性状を備えるガラス
状カーボン板として安定的に製造可能な厚さは現状技術
では8mm程度である。
In addition to these characteristics, the requirement of the present invention to select a glassy carbon plate having a thickness of 4.5 mm or more as an electrode plate means an electrode plate made of a thick glassy carbon plate. In this way, the thick glassy carbon plate has a large heat capacity and effectively suppresses the fluctuation of the surface temperature distribution even when the electrode plate has a slight warp and the adhesion to the cooling plate is impaired. Thus, it is possible to obtain practically sufficient uniformity of the etching rate. However, in the case of an electrode plate made of a glassy carbon plate having a thickness of less than 4.5 mm, the above-mentioned function is not exhibited, and the uniformity of the etching rate is reduced. A thick electrode plate is excellent for handling large-sized wafers and has a secondary effect such as prolonging the life of the electrode against consumption. However, if the thickness is less than 4.5 mm, it is devised during manufacturing. It is difficult to obtain a glass-like carbon plate without warpage as an electrode plate having a large diameter unless stiffening is performed. The thickness that can be stably manufactured as a glassy carbon plate having the texture required for an electrode plate for plasma etching is about 8 mm in the state of the art.

【0017】また、ガラス状カーボン板のかさ密度が
1.53 g/cm3以上の特性を有していることが本発明の
他の特徴の1つである。1.53 g/cm3以上のかさ密度
は通常のガラス状カーボン材に比べて高位にあり、材質
組織が緻密である点に特徴があり、その結果熱容量が大
きくなって、プラズマエッチング時の発熱による電極板
の温度上昇を抑制するために効果的に機能する。したが
って、プラズマ反応による電極板表面の温度上昇が少な
くなり、消耗速度の低減化が図られる。しかし、かさ密
度が1.53 g/cm3未満のガラス状カーボン材では、電
極板の温度上昇の抑制が充分でないために電極板表面の
温度が高くなり、消耗反応がより速く進行することとな
る。
Another feature of the present invention is that the glassy carbon plate has a bulk density of 1.53 g / cm 3 or more. The bulk density of 1.53 g / cm 3 or more is higher than that of a normal glassy carbon material, and is characterized by the fact that the material structure is dense. As a result, the heat capacity is increased, and the heat generated during plasma etching is increased. This effectively functions to suppress a rise in the temperature of the electrode plate. Therefore, the temperature rise on the electrode plate surface due to the plasma reaction is reduced, and the consumption rate is reduced. However, with a glassy carbon material having a bulk density of less than 1.53 g / cm 3 , the temperature of the electrode plate surface increases due to insufficient suppression of the temperature rise of the electrode plate, and the consumption reaction proceeds more rapidly. Become.

【0018】更に、ガラス状カーボン板を直径/厚さ比
が65以下の形状特性とすることが本発明の他の特徴の
1つである。この形状特性は、プラズマ反応に関与する
電極板表面の面積に対して肉厚が相対的に厚いことに特
徴があり、単位表面積当たりの発熱量に対する熱容量を
相対的に大きくすることができるために電極板表面の温
度上昇が効果的に抑制され、消耗速度を低位に保持する
ことが可能となる。また、相対的に肉厚であるために電
極板に若干の反りがあっても冷却板との熱移動が円滑に
行われ、電極板表面の温度分布の変動ならびに温度上昇
を効果的に抑制することができる。しかしながら、直径
/厚さ比が65を越える場合には電極板表面の温度上昇
を抑制することが充分でないために、消耗速度を低く保
持することができなくなる。
Further, another feature of the present invention is that the glassy carbon plate has a shape characteristic having a diameter / thickness ratio of 65 or less. This shape characteristic is characterized in that the thickness is relatively large with respect to the area of the electrode plate surface involved in the plasma reaction, and the heat capacity with respect to the calorific value per unit surface area can be relatively increased. The temperature rise on the electrode plate surface is effectively suppressed, and the consumption rate can be kept low. In addition, even if the electrode plate is slightly warped due to its relatively large thickness, heat transfer with the cooling plate is performed smoothly, and fluctuations in temperature distribution and temperature rise on the surface of the electrode plate are effectively suppressed. be able to. However, if the diameter / thickness ratio exceeds 65, it is not enough to suppress the temperature rise on the surface of the electrode plate, so that the consumption rate cannot be kept low.

【0019】このように本発明は、温度300Kにおけ
る熱伝導率が5 W/m・K 以上の特性を有し、かつ厚さが
4.5mm以上のガラス状カーボン板を用いてプラズマエ
ッチング用の電極板を構成することにより、エッチング
レートの均一化ならびに消耗速度の低減化を図ることが
できる。更にガラス状カーボン板のかさ密度が1.53
g/cm3以上の特性を有し、また直径/厚さ比が65以下
の形状特性を備えている場合には、これらの特性が相乗
的に機能してエッチングレートの均一性に加えて特に消
耗速度の低減化をより一層図ることが可能となる。
As described above, the present invention uses a glassy carbon plate having a thermal conductivity of not less than 5 W / m · K at a temperature of 300 K and a thickness of not less than 4.5 mm for plasma etching. By configuring the electrode plate, the etching rate can be made uniform and the consumption rate can be reduced. Further, the bulk density of the glassy carbon plate is 1.53.
g / cm 3 or more, and having a shape characteristic with a diameter / thickness ratio of 65 or less, these characteristics act synergistically to provide uniform etching rate and especially It is possible to further reduce the consumption speed.

【0020】上記の性状を備えるガラス状カーボン板
は、例えば、分子量100以上、ゲル化時間5〜60分
のフェノール樹脂にフランあるいはその誘導体化合物を
混合して粘度1〜100ポイズ、樹脂分50重量%以上
の樹脂組成物を形成し、該樹脂組成物を成形、硬化した
のち非酸化性雰囲気中で焼成炭化する方法により製造す
ることができる。通常、ガラス状カーボン板は内部と外
部との炭素結晶の発達度合い、緻密性などの構造差が大
きくなる傾向を示し、特に肉厚が厚くなるにしたがって
この傾向が顕著になり熱処理過程で割れなどの発生率が
増加するが、前記の製造プロセスにおいて、原料系の設
計、樹脂組成物の硬化昇温速度、最終硬化温度、焼成炭
化時の均一加熱、昇温速度、加圧条件、最終焼成温度な
どを厳密に制御することによって本発明の物性的要件を
満たすガラス状カーボン板を製造することが可能とな
る。なお、原料樹脂系としては従来から用いられている
フェノール系樹脂、フラン系樹脂をはじめ、ポリイミド
系樹脂、ポリカルボジイミド系樹脂などを出発原料とし
ても、その製造プロセスの条件を厳密に制御することに
より、本発明の特性要件を充足するガラス状カーボン材
を得ることができる。
The glassy carbon plate having the above-mentioned properties can be prepared, for example, by mixing furan or a derivative compound thereof with a phenol resin having a molecular weight of 100 or more and a gelling time of 5 to 60 minutes, having a viscosity of 1 to 100 poise and a resin content of 50 weight. % Or more of the resin composition, molded and cured, and then calcined and carbonized in a non-oxidizing atmosphere. Normally, glassy carbon sheets tend to have a large difference in structure, such as the degree of development of carbon crystals between the inside and the outside, and denseness. In particular, this tendency becomes more pronounced as the thickness increases, and cracks occur during the heat treatment process. However, in the above-described manufacturing process, the design of the raw material system, the rate of temperature rise for curing the resin composition, the final curing temperature, uniform heating during calcined carbonization, the rate of temperature rise, the pressure conditions, and the final firing temperature By strictly controlling such factors, it becomes possible to produce a glassy carbon plate satisfying the physical requirements of the present invention. In addition, as a raw material resin, including a conventionally used phenolic resin, furan resin, polyimide resin, polycarbodiimide resin, etc. as a starting material, by strictly controlling the conditions of the manufacturing process, Thus, a glassy carbon material satisfying the characteristic requirements of the present invention can be obtained.

【0021】具体的な製造工程の例を以下に示す。ま
ず、精製したフェノールおよびホルマリンを原料として
縮合反応させて得られた分子量100以上、ゲル化時間
5〜60分のフェノール樹脂初期縮合物に、フランある
いはその誘導体化合物を混合して炭化収率が65〜75
%の2成分系樹脂組成物を形成する。この際、用いるフ
ラン誘導体化合物としては、フルフリルアルコール、フ
ルフラール、フランカルボン酸メチルエステルなどフェ
ノール樹脂と相溶性のあるものを単独もしくは2種以上
混合して使用に供される。フェノール樹脂に対するフラ
ン系成分の混合比率は樹脂性状に応じて適宜に設定さ
れ、粘度1〜100ポイズ、樹脂分50%以上の性状に
整える。
An example of a specific manufacturing process will be described below. First, furan or a derivative compound thereof is mixed with a phenol resin initial condensate obtained by a condensation reaction using purified phenol and formalin as raw materials and having a molecular weight of 100 or more and a gelation time of 5 to 60 minutes to obtain a carbonization yield of 65%. ~ 75
% Of the two-component resin composition. In this case, as the furan derivative compound to be used, one having a compatibility with a phenol resin such as furfuryl alcohol, furfural, methyl furancarboxylate, or a mixture of two or more thereof is used. The mixing ratio of the furan-based component to the phenolic resin is appropriately set according to the properties of the resin, and is adjusted to a property having a viscosity of 1 to 100 poise and a resin content of 50% or more.

【0022】ついで、樹脂組成物を注型成形、遠心成
形、射出成形などにより円板状に成形し、大気中で加熱
硬化する。この段階の硬化成形体に組織構造上の内外差
があると最終的に得られるガラス状カーボン板にも同様
に炭素結晶の発達度合に内外差が発現することから、硬
化の条件を厳密に制御する必要がある。一般に熱硬化性
樹脂の硬化は発熱反応であって、肉厚が厚くなるほど内
部蓄熱が増す関係で、表層部に比べて蓄熱度の高い内部
の方が硬化が進行し易い。このような硬化の不均一性を
避けるために、加熱硬化時の昇温速度を10℃/hr以
下、好ましくは5℃/hr以下、更に好ましくは2℃/hr
以下に調整する。ついで、加熱温度を硬化反応が終了す
る温度まで上昇し、十分な時間保持して完全に硬化させ
る。硬化温度は、樹脂の組成、硬化剤の種類、配合等に
よって異なるが、通常140〜200℃の温度範囲に保
持される。最終硬化温度が低い場合には長時間の保持が
必要であり、硬化温度が高い場合であっても3時間以上
の温度保持が好ましい。
Next, the resin composition is molded into a disk by cast molding, centrifugal molding, injection molding, or the like, and is heated and cured in the atmosphere. If there is a difference in the internal structure of the cured molded body at this stage, the difference in the degree of development of the carbon crystal also appears in the finally obtained glassy carbon plate, so the curing conditions are strictly controlled. There is a need to. In general, the curing of a thermosetting resin is an exothermic reaction, and as the thickness increases, the internal heat storage increases. Therefore, the inside of the heat storage resin having a higher heat storage degree is more easily cured than the surface layer. In order to avoid such non-uniformity of curing, the rate of temperature rise during heating and curing is 10 ° C./hr or less, preferably 5 ° C./hr or less, more preferably 2 ° C./hr.
Adjust to the following. Next, the heating temperature is increased to a temperature at which the curing reaction is completed, and the composition is held for a sufficient time to be completely cured. The curing temperature varies depending on the composition of the resin, the type of the curing agent, the composition, and the like, but is usually kept in a temperature range of 140 to 200 ° C. When the final curing temperature is low, holding for a long time is necessary. Even when the curing temperature is high, it is preferable to keep the temperature for 3 hours or more.

【0023】硬化後の樹脂成形体は、非酸化性雰囲気に
保持された加熱炉に詰め、800℃以上の温度域で焼成
炭化処理してガラス状カーボン板に転化する。樹脂硬化
物は熱伝導率が低いので、肉厚となると焼成炭化の過程
で表層部近傍に対して内部組織の分解炭化反応に遅れが
生じる。このため、表層部近傍における炭化の先行に伴
って内部が緊張を受けた状態で炭化が進行する結果、表
層部と内部とで熱伝導率に差が生じ易い。このような現
象を緩和するためには焼成炭化の昇温速度を4℃/hr以
下に設定し、緩徐に温度上昇させることにより内外層は
均等な速度で炭化が進行するようになる。更に、樹脂成
形体を黒鉛板の間に挟んだ加圧状態で黒鉛ルツボに詰め
て加熱炉中にセットし、炉内を加圧条件下に保持しなが
ら焼成炭化温度を1000〜2500℃の範囲で調整す
ることにより熱伝導率、かさ密度などの異なる物性のガ
ラス状カーボン板が製造される。
The cured resin article is packed in a heating furnace maintained in a non-oxidizing atmosphere, and calcined at a temperature of 800 ° C. or more to be converted into a glassy carbon plate. Since the cured resin has a low thermal conductivity, if the thickness is increased, the decomposition and carbonization reaction of the internal structure is delayed in the vicinity of the surface layer during the firing and carbonization. For this reason, as a result of carbonization progressing in a state where the inside is under tension with the preceding of carbonization in the vicinity of the surface layer, a difference in thermal conductivity between the surface layer and the interior is likely to occur. In order to alleviate such a phenomenon, the temperature rise rate of the calcined carbonization is set to 4 ° C./hr or less, and the inner and outer layers are carbonized at a uniform rate by gradually increasing the temperature. Furthermore, the resin molded body is packed in a graphite crucible in a pressurized state sandwiched between graphite plates and set in a heating furnace, and the calcined carbonization temperature is adjusted within a range of 1000 to 2500 ° C. while maintaining the inside of the furnace under pressurized conditions. By doing so, a glassy carbon plate having different physical properties such as thermal conductivity and bulk density is manufactured.

【0024】このほか、焼成炭化時の昇温過程で、炭化
分解の激しい温度域、ガス発生の激しい温度域、炭化が
終了して構造変化が起きる温度域の各段階において温度
保持を行うことが内外構造差を低減させるために有効な
手段となる。具体的には、300〜400℃、400〜
500℃および500〜600℃の各温度段階において
それぞれ5時間以上保持する。
In addition, during the heating process during the firing carbonization, the temperature may be maintained at each stage of a temperature range in which carbonization is severe, a temperature range in which gas is intense, and a temperature range in which carbonization is completed and a structural change occurs. This is an effective means for reducing the difference between the inner and outer structures. Specifically, 300-400 ° C, 400-
Each of the temperature steps of 500 ° C. and 500 to 600 ° C. is held for 5 hours or more.

【0025】焼成炭化後は、必要に応じて炉内に塩素の
ようなハロゲンガスを導入しながら1400℃以上の高
温処理することによりガラス状カーボン板を高純度化す
る。また、電極板に設けるガス流通用の貫通小孔は、樹
脂成形段階の硬化樹脂板に予め炭化時の寸法収縮率を見
込んで穿設するか、焼成後のガラス状カーボン板に放電
加工により穿設するかのいずれかの方法で行う。
After the calcination and carbonization, the glassy carbon plate is highly purified by performing a high temperature treatment at 1400 ° C. or more while introducing a halogen gas such as chlorine into the furnace as necessary. The gas flow through holes provided in the electrode plate may be drilled in the cured resin plate at the resin molding stage in advance in view of the dimensional shrinkage ratio at the time of carbonization, or may be formed in the fired glassy carbon plate by electric discharge machining. Or one of two methods.

【0026】[0026]

【実施例】以下、本発明の実施例を比較例と対比して具
体的に説明するが、本発明の実施態様はこれら実施例に
限定されるものではない。
EXAMPLES Examples of the present invention will be specifically described below in comparison with comparative examples, but the embodiments of the present invention are not limited to these examples.

【0027】実施例1〜13、比較例1〜6 (1)プラズマエッチング用電極板の製造 減圧蒸留により精製したフェノールおよびホルマリンを
アンモニアの存在下で縮合反応させ、表1に示した分子
量、ゲル化時間のフェノール樹脂初期縮合物を調製し
た。このフェノール樹脂100重量部に対しフルフリル
アルコール30重量部を添加混合して粘度40ポイズ、
樹脂分55%の樹脂組成物を得た。この樹脂組成物をポ
リエチレン製のバットに流し込み、真空デシケータに入
れて10Torrの減圧下で脱泡処理を行ったのち、電気オ
ーブンに移し4℃/hrの昇温速度で200℃まで加熱
し、この温度に5時間保持する条件で硬化処理を施して
直径および厚さの異なる円板状成形体を作製した。
Examples 1 to 13 and Comparative Examples 1 to 6 (1) Production of electrode plate for plasma etching Phenol and formalin purified by distillation under reduced pressure were subjected to a condensation reaction in the presence of ammonia, and the molecular weight and gel shown in Table 1 were obtained. A phenolic resin precondensate of the aging time was prepared. 30 parts by weight of furfuryl alcohol was added to and mixed with 100 parts by weight of this phenol resin, and the viscosity was 40 poise.
A resin composition having a resin content of 55% was obtained. The resin composition was poured into a polyethylene vat, placed in a vacuum desiccator, subjected to a defoaming treatment under a reduced pressure of 10 Torr, transferred to an electric oven, and heated to 200 ° C. at a rate of 4 ° C./hr. A hardening treatment was performed under the condition of keeping the temperature for 5 hours to produce disc-shaped molded articles having different diameters and thicknesses.

【0028】ついで、各円板状成形体の両側面を厚さ1
0mmの黒鉛板〔東海カーボン(株)製、G347〕で挟
み付けて黒鉛ルツボに入れ、これをアルゴン雰囲気に保
持された電気炉中に詰めて焼成炭化処理を行った。この
際、電気炉のアルゴンガスによる加圧状態を変動させ、
1〜4℃/hrの昇温速度で緩徐に昇温して焼成途中の3
50℃、450℃および550℃の各温度段階でそれぞ
れ5時間保持し、最終的に所定の温度で処理する焼成炭
化条件を設定した。更に、塩素ガスを炉内に流通させな
がら焼成炭化時の最終処理温度と同じ温度で高純度処理
を施して直径と厚さの異なる平滑表面のガラス状カーボ
ン板を製造した。得られたガラス状カーボン板の中央部
に、2mmの等間隔で直径0.6mmの貫通孔を放電加工に
より穿設してプラズマエッチング用電極板を得た。
Next, both side surfaces of each disk-shaped molded product were
It was sandwiched between graphite plates of 0 mm (G347, manufactured by Tokai Carbon Co., Ltd.), placed in a graphite crucible, packed in an electric furnace maintained in an argon atmosphere, and subjected to a calcination carbonization treatment. At this time, the pressurized state of the electric furnace with argon gas was changed,
Slowly raise the temperature at a rate of 1 to 4 ° C./hr and
The calcined carbonization conditions for holding at each of the temperature stages of 50 ° C., 450 ° C., and 550 ° C. for 5 hours and finally treating at a predetermined temperature were set. Furthermore, a high purity treatment was performed at the same temperature as the final treatment temperature during calcining and carbonization while flowing chlorine gas through the furnace to produce glassy carbon plates having smooth surfaces with different diameters and thicknesses. In the center of the obtained glassy carbon plate, through holes having a diameter of 0.6 mm were formed at equal intervals of 2 mm by electric discharge machining to obtain an electrode plate for plasma etching.

【0029】得られた各ガラス状カーボン板の物性を、
表2に示した。物性のうち熱伝導率はJIS R161
1−1991に従って測定した。なお、比熱容量は標準
試料として高純度α−アルミナ、受光板として黒化処理
アルミニウムを用い、熱拡散率は標準試料として高純度
銅を用いた。また、かさ密度はJIS Z8807−1
987に従いアルキメデス法(液体中で秤量する方法)
により測定した。
The physical properties of each of the obtained glassy carbon plates were
The results are shown in Table 2. Thermal conductivity is JIS R161 among physical properties
It was measured according to 1-191. The specific heat capacity used was high-purity α-alumina as a standard sample, blackened aluminum was used as a light-receiving plate, and the heat diffusivity was high-purity copper as a standard sample. The bulk density is JIS Z8807-1.
Archimedes method according to 987 (method of weighing in liquid)
Was measured by

【0030】[0030]

【表1】 [Table 1]

【0031】[0031]

【表2】 [Table 2]

【0032】(2)電極板の性能評価 表2の物性を有するガラス状カーボン板からなる各電極
板をプラズマエッチング装置にセットし、処理時間が1
00時間および200時間経過後におけるシリコンウエ
ハのエッチングレートの均一性および電極板の消耗量を
測定し、その結果を表3に示した。なお、エッチング処
理は、反応ガス;CF4 、キャリアーガス;アルゴン、
反応チャンバー内のガス圧;1Torr、電源周波数;1
3.56MHz の条件で8インチのシリコンウエハー酸化
膜について行った。電極の消耗量は処理後の電極板の肉
厚減少量、エッチングレートの均一性(E/R 均一性) は
ウエハ中心を含む9点のエッチングレートから下式によ
り算出した。
(2) Evaluation of Performance of Electrode Plate Each electrode plate made of a glassy carbon plate having the physical properties shown in Table 2 was set in a plasma etching apparatus, and the processing time was 1 hour.
The uniformity of the etching rate of the silicon wafer and the consumption of the electrode plate after the lapse of 00 hours and 200 hours were measured, and the results are shown in Table 3. In addition, the etching process is performed using a reaction gas; CF 4 , a carrier gas;
Gas pressure in reaction chamber; 1 Torr, power supply frequency; 1
The test was performed on an 8-inch silicon wafer oxide film under the condition of 3.56 MHz. The amount of electrode consumption was calculated by the following equation from the thickness reduction of the electrode plate after processing, and the uniformity of the etching rate (E / R uniformity) was calculated from the nine etching rates including the center of the wafer.

【0033】[0033]

【表3】 [Table 3]

【0034】表2、3の結果から、200時間経過時の
エッチングレートの均一性と電極板表面の消耗量をそれ
ぞれ図1、2に示した。温度300Kにおける熱伝導率
が5W/m・K 以上の特性を有し、厚さが4.5mm以上の
ガラス状カーボン板からなる実施例によるガラス状カー
ボンからなるプラズマエッチング用電極板は、本発明の
いずれかの特性要件を外れる比較例の電極板に比べて長
時間エッチング処理してもエッチングレートの均一性が
優れており、また電極板表面の消耗量も少ないことが判
る。更に、実施例においてもガラス状カーボン板のかさ
密度が1.53g/cm3 以上の特性、および/または直径
/厚さ比が65以下の形状特性を備えている場合には図
3、4に示すように、エッチングレートの均一性に加え
て特に消耗速度の低減下において、一層優れた性能を示
すことが認められる。
From the results in Tables 2 and 3, the uniformity of the etching rate and the amount of consumption of the electrode plate surface after 200 hours are shown in FIGS. The electrode plate for plasma etching made of glassy carbon according to the embodiment, which has a thermal conductivity of 5 W / m · K or more at a temperature of 300 K and a thickness of 4.5 mm or more, is provided by the present invention. It can be seen that the uniformity of the etching rate is excellent even when the etching process is performed for a long time, and the amount of consumption of the electrode plate surface is small, as compared with the electrode plate of the comparative example which does not satisfy any one of the characteristic requirements. Furthermore, in the case where the glassy carbon plate also has a characteristic of a bulk density of 1.53 g / cm 3 or more and / or a shape characteristic of a diameter / thickness ratio of 65 or less in the examples, FIGS. As shown, in addition to the uniformity of the etching rate, it is recognized that more excellent performance is exhibited, particularly under a reduced consumption rate.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上のとおり、本発明によれば熱伝導率
が特定値以上にあり、かつ厚さが一定値以上のガラス状
カーボン板を選択することにより、大型半導体ウエハを
均一なエッチングレートで処理することができ、また電
極板表面の消耗が少なく耐用期間の長い、優れたプラズ
マエッチング用電極板を提供することができる。更に、
かさ密度を特定値以上とし、直径/厚さ比が一定値以下
のガラス状カーボン板を選択使用することによりエッチ
ングレートや電極板表面の消耗速度をより一層改善する
ことが可能となる。したがって、長期間に亘って安定し
たエッチング加工が保証されるうえ、電極板の耐久寿命
を大幅に改善することが可能となるから、産業上に貢献
するところ頗る大である。
As described above, according to the present invention, by selecting a glassy carbon plate having a thermal conductivity of a specific value or more and a thickness of a certain value or more, a large semiconductor wafer can be uniformly etched. Thus, it is possible to provide an excellent electrode plate for plasma etching, in which the surface of the electrode plate is less consumed and has a long service life. Furthermore,
By selecting and using a glassy carbon plate having a bulk density of a specific value or more and a diameter / thickness ratio of a certain value or less, it becomes possible to further improve the etching rate and the consumption rate of the electrode plate surface. Therefore, stable etching is ensured over a long period of time, and the durable life of the electrode plate can be greatly improved. This greatly contributes to the industry.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】熱伝導率とエッチングレートの均一性との関係
を示したグラフである。
FIG. 1 is a graph showing a relationship between thermal conductivity and uniformity of an etching rate.

【図2】熱伝導率と電極板表面の消耗量との関係を示し
たグラフである。
FIG. 2 is a graph showing a relationship between a thermal conductivity and a consumption amount of an electrode plate surface.

【図3】かさ密度と電極板表面の消耗量との関係を示し
たグラフである。
FIG. 3 is a graph showing a relationship between a bulk density and a consumption amount of an electrode plate surface.

【図4】直径/厚さ比と電極板表面の消耗量との関係を
示したグラフである。
FIG. 4 is a graph showing a relationship between a diameter / thickness ratio and a consumption amount of an electrode plate surface.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−260078(JP,A) 特開 平4−50108(JP,A) 特開 平5−129241(JP,A) 特開 平5−347276(JP,A) 特開 平7−292484(JP,A) 実開 平5−48333(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/3065 C04B 35/52 C23F 4/00 C01B 31/02 101 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-3-260078 (JP, A) JP-A-4-50108 (JP, A) JP-A-5-129241 (JP, A) JP-A-5-129241 347276 (JP, A) JP-A-7-292484 (JP, A) JP-A-5-48333 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/3065 C04B 35 / 52 C23F 4/00 C01B 31/02 101

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 精製したフェノールおよびホルマリンを
原料として縮合反応させて得られるフェノール樹脂初期
縮合物に、フランまたはその誘導体化合物を混合して樹
脂組成物を形成し、該樹脂組成物を成形して加熱硬化さ
せた後、炭化焼成することにより製造されるガラス状カ
ーボン板からなり、該ガラス状カーボン板は、温度30
0Kにおける熱伝導率が5W/m・K以上の特性を有
し、かつ厚さが4.5mm以上であることを特徴とする
プラズマエッチング用電極板。
1. A resin composition is formed by mixing furan or a derivative compound thereof with a phenol resin precondensate obtained by performing a condensation reaction using purified phenol and formalin as raw materials, and forming the resin composition. After heating and curing, it is made of a glassy carbon plate manufactured by carbonization and firing.
An electrode plate for plasma etching, having a characteristic that the thermal conductivity at 0K is 5 W / m · K or more and the thickness is 4.5 mm or more.
【請求項2】 ガラス状カーボン板のかさ密度が1.5
3 g/cm3以上の特性を有する請求項1記載のプラズマエ
ッチング用電極板。
2. A glassy carbon plate having a bulk density of 1.5
2. The electrode plate for plasma etching according to claim 1, wherein the electrode plate has a characteristic of 3 g / cm 3 or more.
【請求項3】 ガラス状カーボン板の直径/厚さ比が6
5以下の形状特性を備える請求項1又は2記載のプラズ
マエッチング用電極板。
3. A glassy carbon plate having a diameter / thickness ratio of 6
3. The electrode plate for plasma etching according to claim 1, wherein the electrode plate has a shape characteristic of 5 or less.
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