JP3259124B2 - パスの切替動作監視方式 - Google Patents
パスの切替動作監視方式Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、入力データが通過する
複数系統のパスを有し、通常は一方のパスを選択し、異
常時には他方のパスに切り替えるような冗長構成を採用
するデジタル伝送装置におけるパスの切替動作監視方式
に関する。
複数系統のパスを有し、通常は一方のパスを選択し、異
常時には他方のパスに切り替えるような冗長構成を採用
するデジタル伝送装置におけるパスの切替動作監視方式
に関する。
【０００２】
【従来の技術】冗長構成を採用したデータ伝送装置のパ
スの切替動作監視方式として、例えば特開平５−１９９
２１０号公報及び特開平５−２１９０３３号公報に記載
された「パスチェック回路」、あるいは特開平３−１９
５２２８号公報に記載された「冗長系選択回路」があ
る。これら従来例を例えば０／１冗長系に適用すると、
その概略構成は、図４のようになる。
スの切替動作監視方式として、例えば特開平５−１９９
２１０号公報及び特開平５−２１９０３３号公報に記載
された「パスチェック回路」、あるいは特開平３−１９
５２２８号公報に記載された「冗長系選択回路」があ
る。これら従来例を例えば０／１冗長系に適用すると、
その概略構成は、図４のようになる。
【０００３】図４において、符号１は０系データを入力
するための０系データ入力端子、符号２は１系データを
入力するための１系データ入力端子、符号３は系選択信
号を入力するための入力端子である。０系データと１系
データには、予め決められたフレーム長の予め決められ
た位置に、パスパタン領域＃１，＃２とが設けられ、各
領域に、０系データであればパスパタンＡ、１系データ
であればパスパタンＢが、パスパタンＡ挿入器４，パス
パタンＢ挿入器５により、それぞれ２回挿入される。図
５上段は、このようにしてパスパタンが挿入されたパタ
ンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂのデータ構造を示
すものである。これら信号ａ，ｂは、それぞれ切替器７
に入力される。
するための０系データ入力端子、符号２は１系データを
入力するための１系データ入力端子、符号３は系選択信
号を入力するための入力端子である。０系データと１系
データには、予め決められたフレーム長の予め決められ
た位置に、パスパタン領域＃１，＃２とが設けられ、各
領域に、０系データであればパスパタンＡ、１系データ
であればパスパタンＢが、パスパタンＡ挿入器４，パス
パタンＢ挿入器５により、それぞれ２回挿入される。図
５上段は、このようにしてパスパタンが挿入されたパタ
ンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂのデータ構造を示
すものである。これら信号ａ，ｂは、それぞれ切替器７
に入力される。
【０００４】一方、系選択信号入力端子３から入力され
た系選択信号に基づき、切替器制御パルス発生器６で
は、パスパタン領域＃１の区間では論理“０”、パスパ
タン領域＃２の区間では論理“１”、それ以外のデータ
領域では入力された系選択信号のレベル、となる切替制
御パルスｃを生成する。図５中段は、この切替制御パル
スｃのデータ構造を示すものである。
た系選択信号に基づき、切替器制御パルス発生器６で
は、パスパタン領域＃１の区間では論理“０”、パスパ
タン領域＃２の区間では論理“１”、それ以外のデータ
領域では入力された系選択信号のレベル、となる切替制
御パルスｃを生成する。図５中段は、この切替制御パル
スｃのデータ構造を示すものである。
【０００５】パタンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂ
は、前記切替制御パルスｃのレベルに応じて切替器７に
おいて選択される。従って、パスパタン領域＃１，＃２
についてのみ切替器７を常時動作させることにより、そ
の出力（切替器出力データｄ）には、０系、１系のいず
れを選択した場合も、それぞれの系で挿入したパスパタ
ンが両方とも同じ順番で出力される。図５下段は、この
切替器出力データｄの構造を示すものである。
は、前記切替制御パルスｃのレベルに応じて切替器７に
おいて選択される。従って、パスパタン領域＃１，＃２
についてのみ切替器７を常時動作させることにより、そ
の出力（切替器出力データｄ）には、０系、１系のいず
れを選択した場合も、それぞれの系で挿入したパスパタ
ンが両方とも同じ順番で出力される。図５下段は、この
切替器出力データｄの構造を示すものである。
【０００６】パスパタン照合器８では、パスパタン領域
＃１，＃２におけるパタン組合せと予め決められたパタ
ン組合せとをそれぞれ照合し、照合結果に基づいて故障
評定を行う。図６に、上記照合結果と故障評定結果との
相関例を示す。図示の例では、パスパタン領域＃１にパ
スパタンＡ、パスパタン領域＃２にパスパタンＢが挿入
されているときのみ切替器７が正常動作していることを
示している。この評定結果は、評定結果出力端子１１へ
出力される。なお、信号出力端子９には切替器出力デー
タｄがそのまま出力される。
＃１，＃２におけるパタン組合せと予め決められたパタ
ン組合せとをそれぞれ照合し、照合結果に基づいて故障
評定を行う。図６に、上記照合結果と故障評定結果との
相関例を示す。図示の例では、パスパタン領域＃１にパ
スパタンＡ、パスパタン領域＃２にパスパタンＢが挿入
されているときのみ切替器７が正常動作していることを
示している。この評定結果は、評定結果出力端子１１へ
出力される。なお、信号出力端子９には切替器出力デー
タｄがそのまま出力される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種のデ
ータ伝送装置では、例えば０系が故障して１系に切り替
わった場合、０系のハードウエアを正常なものに交換で
きるように、図４の破線で示した部分でハードウエア構
成（例えばプリント基板）が分かれているのが通常であ
る。しかしながら、従来の方式は切替器７の故障の有無
を評定するに止まるため、異常評定のときにその原因が
当該切換器７自体の故障によるものか、あるいは切換器
７より前の区間で発生した故障によるものかが判らな
い。そのため、どのハードウエアを交換すれば良いかの
判断ができず、ハードウエアを交換する際に、正常なも
のまでも全て交換してみなければならなかった。
ータ伝送装置では、例えば０系が故障して１系に切り替
わった場合、０系のハードウエアを正常なものに交換で
きるように、図４の破線で示した部分でハードウエア構
成（例えばプリント基板）が分かれているのが通常であ
る。しかしながら、従来の方式は切替器７の故障の有無
を評定するに止まるため、異常評定のときにその原因が
当該切換器７自体の故障によるものか、あるいは切換器
７より前の区間で発生した故障によるものかが判らな
い。そのため、どのハードウエアを交換すれば良いかの
判断ができず、ハードウエアを交換する際に、正常なも
のまでも全て交換してみなければならなかった。
【０００８】本発明の課題は、かかる問題点を解消し、
パスの切替動作監視を行う際に、故障発生部位の評定能
力を高めて保守効率を向上させることにある。
パスの切替動作監視を行う際に、故障発生部位の評定能
力を高めて保守効率を向上させることにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、入力データが通過する複数系統のパスの
いずれかを選択的に切り替えるデータ伝送系に於いて各
パスを通過する入力データの所定領域に当該系統固有の
パスパタンを各々系統数回挿入するパスパタン挿入手段
と、特定のパスの系統を選択するための選択制御信号を
生成する手段と、前記選択制御信号に基づき前記パスの
系統を前記特定のものに切り替えるとともに当該データ
に挿入された前記パスパタン群を所定の組み合せに再編
して出力する切替器と、該切替器から出力される可能性
のあるパスパタン群の組合せと実際に出力されたパスパ
タン群の組合せとを照合してその一致性を判定するパス
パタン照合手段と、該パスパタン照合手段による判定結
果と前記切替器から出力されたパスパタン群の組合せと
に基づいてパス区間毎の故障の有無を評定する故障評定
器と、を有する切替動作監視方式を提供する。
決するために、入力データが通過する複数系統のパスの
いずれかを選択的に切り替えるデータ伝送系に於いて各
パスを通過する入力データの所定領域に当該系統固有の
パスパタンを各々系統数回挿入するパスパタン挿入手段
と、特定のパスの系統を選択するための選択制御信号を
生成する手段と、前記選択制御信号に基づき前記パスの
系統を前記特定のものに切り替えるとともに当該データ
に挿入された前記パスパタン群を所定の組み合せに再編
して出力する切替器と、該切替器から出力される可能性
のあるパスパタン群の組合せと実際に出力されたパスパ
タン群の組合せとを照合してその一致性を判定するパス
パタン照合手段と、該パスパタン照合手段による判定結
果と前記切替器から出力されたパスパタン群の組合せと
に基づいてパス区間毎の故障の有無を評定する故障評定
器と、を有する切替動作監視方式を提供する。
【００１０】上記構成において、前記故障評定器は、例
えば、前記切替器から出力される可能性のあるパスパタ
ン群の組合せと前記パスパタン照合手段により判定され
る可能性のある結果情報との組合せによりパス区間毎の
故障の有無を表す評定情報をリスト化して格納した記憶
装置と、前記パスパタン照合手段の判定結果と前記切替
器から出力されたパスパタン群の組合せとを識別する識
別手段と、この識別手段が識別した組合せに対応する評
定情報を前記記憶装置から抽出する評定情報抽出手段と
を備えることが、評定結果をより迅速に出力する上で有
効となる。
えば、前記切替器から出力される可能性のあるパスパタ
ン群の組合せと前記パスパタン照合手段により判定され
る可能性のある結果情報との組合せによりパス区間毎の
故障の有無を表す評定情報をリスト化して格納した記憶
装置と、前記パスパタン照合手段の判定結果と前記切替
器から出力されたパスパタン群の組合せとを識別する識
別手段と、この識別手段が識別した組合せに対応する評
定情報を前記記憶装置から抽出する評定情報抽出手段と
を備えることが、評定結果をより迅速に出力する上で有
効となる。
【００１１】
【作用】本発明では、複数系統の入力データの所定領域
に当該系統固有のパスパタンを各々系統数回挿入して切
替器に入力し、ここでパスの系統を特定のものに切り替
え、さらに当該データに挿入されたパスパタン群を所定
の組合せに再編して出力する。このとき、予め切替器か
ら出力される可能性のあるパスパタン群の組合せと実際
に出力されたパスパタン群の組合せとを照合するととも
に、その照合結果と切替器から出力されたパスパタン群
の組合せとに基づいて故障評定器がパス区間毎の故障の
有無を評定する。これにより、故障の有無のみでなく、
故障が発生した場合には原因となったパス区間ないし構
成要素が特定される。
に当該系統固有のパスパタンを各々系統数回挿入して切
替器に入力し、ここでパスの系統を特定のものに切り替
え、さらに当該データに挿入されたパスパタン群を所定
の組合せに再編して出力する。このとき、予め切替器か
ら出力される可能性のあるパスパタン群の組合せと実際
に出力されたパスパタン群の組合せとを照合するととも
に、その照合結果と切替器から出力されたパスパタン群
の組合せとに基づいて故障評定器がパス区間毎の故障の
有無を評定する。これにより、故障の有無のみでなく、
故障が発生した場合には原因となったパス区間ないし構
成要素が特定される。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１は、本発明の一実施例の構成図であ
り、従来例と同様、０／１冗長系に適用した場合の例を
示している。なお、図１において、従来例を示した図４
の構成と同一要素については同一符号を付してある。
に説明する。図１は、本発明の一実施例の構成図であ
り、従来例と同様、０／１冗長系に適用した場合の例を
示している。なお、図１において、従来例を示した図４
の構成と同一要素については同一符号を付してある。
【００１３】本実施例では、従来例と同様、０系データ
と１系データの先頭部にパスパタン領域＃１，＃２とを
設け、各領域に、０系データであればパスパタンＡ、１
系データであればパスパタンＢを、パスパタンＡ挿入器
４，パスパタンＢ挿入器５により、それぞれ２回挿入し
てパタンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂを得る。ま
た、切替器制御パルス発生器６が、パスパタン領域＃１
の区間では論理“０”、パスパタン領域＃２の区間では
論理“１”、それ以外のデータ領域では入力された系選
択信号のレベル、となる切替制御パルスｃを生成して切
替器７に入力し、各パスパタン領域＃１，＃２の部分に
ついてのみ切替器７を常時動作させることにより、切替
器出力データｄには、０系、１系のいずれを選択した場
合も、それぞれの系で挿入したパスパタンが両方とも同
じ順番で出力される点も従来と同様となる。
と１系データの先頭部にパスパタン領域＃１，＃２とを
設け、各領域に、０系データであればパスパタンＡ、１
系データであればパスパタンＢを、パスパタンＡ挿入器
４，パスパタンＢ挿入器５により、それぞれ２回挿入し
てパタンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂを得る。ま
た、切替器制御パルス発生器６が、パスパタン領域＃１
の区間では論理“０”、パスパタン領域＃２の区間では
論理“１”、それ以外のデータ領域では入力された系選
択信号のレベル、となる切替制御パルスｃを生成して切
替器７に入力し、各パスパタン領域＃１，＃２の部分に
ついてのみ切替器７を常時動作させることにより、切替
器出力データｄには、０系、１系のいずれを選択した場
合も、それぞれの系で挿入したパスパタンが両方とも同
じ順番で出力される点も従来と同様となる。
【００１４】本実施例では、切替器出力データｄのパス
パタン領域＃１，＃２におけるパタン組合せと予め決め
られたパタン組合せとをパスパタン照合器８で照合して
第１段階の故障評定を行うとともに、その結果を切替器
出力データｄと共に故障評定器１０に出力する。
パタン領域＃１，＃２におけるパタン組合せと予め決め
られたパタン組合せとをパスパタン照合器８で照合して
第１段階の故障評定を行うとともに、その結果を切替器
出力データｄと共に故障評定器１０に出力する。
【００１５】故障評定器１０は、例えばプログラムされ
たコンピュータにより実現するもので、本実施例では、
図２に示すように、記憶装置１０１と、識別処理部１０
２と、リスト照合部１０３と、リスト情報生成部１０４
とで構成している。記憶装置１０１には、切替器７から
出力される可能性のあるパスパタン群の組合せとパスパ
タン照合器８から出力される可能性のある評定結果との
組合せによりパス区間毎の故障の有無を表す故障評定リ
ストが格納されている。識別処理部１０２は、パスパタ
ン照合器８から送られた故障評定結果と切替器出力デー
タｄのパスパタン領域＃１，＃２のパタン組合せとを識
別するものであり、リスト照合部１０３は、上記識別処
理部１０２に於いて識別された組合せに基づいて記憶装
置１０１内の故障評定リストを照合し、対応する評定情
報を抽出する。リスト情報出力部１０４は、この抽出さ
れた評定情報に基づき第２段階の故障評定結果を表す信
号ｆを生成してこれを評定結果出力端子１１へ出力す
る。この評定結果信号ｆは、例えば評定区間別の並列信
号である。
たコンピュータにより実現するもので、本実施例では、
図２に示すように、記憶装置１０１と、識別処理部１０
２と、リスト照合部１０３と、リスト情報生成部１０４
とで構成している。記憶装置１０１には、切替器７から
出力される可能性のあるパスパタン群の組合せとパスパ
タン照合器８から出力される可能性のある評定結果との
組合せによりパス区間毎の故障の有無を表す故障評定リ
ストが格納されている。識別処理部１０２は、パスパタ
ン照合器８から送られた故障評定結果と切替器出力デー
タｄのパスパタン領域＃１，＃２のパタン組合せとを識
別するものであり、リスト照合部１０３は、上記識別処
理部１０２に於いて識別された組合せに基づいて記憶装
置１０１内の故障評定リストを照合し、対応する評定情
報を抽出する。リスト情報出力部１０４は、この抽出さ
れた評定情報に基づき第２段階の故障評定結果を表す信
号ｆを生成してこれを評定結果出力端子１１へ出力す
る。この評定結果信号ｆは、例えば評定区間別の並列信
号である。
【００１６】本実施例で用いる故障評定リストの一例を
図３に示す。図示の例は、図１の破線で示した部分でハ
ードウエア構成（例えばプリント基板）が分割可能であ
ることを前提とするものである。また、図中、「パスパ
タンＡ挿入器」，「パスパタンＢ」とあるのは各パスパ
タン挿入器４，５と切替器７の入力部までの故障評定結
果を表し、「切替器内部」とあるのは切替器７の内部の
故障評定結果、「切替器出力」とあるのは切替器７の出
力部とパスパタン照合器８の入力部までの故障評定結果
である。また、「パスパタン照合器の領域＃１」，「パ
スパタン照合器の領域＃２」とあるのは、図示しないパ
スパタン照合器８内部の各領域照合回路の故障評定結果
を表す。さらに、「正常」は正常動作、「故障」は故障
動作、「故障＊」はいずれかの要素が故障、「不明」は
評定ができないことを表す。
図３に示す。図示の例は、図１の破線で示した部分でハ
ードウエア構成（例えばプリント基板）が分割可能であ
ることを前提とするものである。また、図中、「パスパ
タンＡ挿入器」，「パスパタンＢ」とあるのは各パスパ
タン挿入器４，５と切替器７の入力部までの故障評定結
果を表し、「切替器内部」とあるのは切替器７の内部の
故障評定結果、「切替器出力」とあるのは切替器７の出
力部とパスパタン照合器８の入力部までの故障評定結果
である。また、「パスパタン照合器の領域＃１」，「パ
スパタン照合器の領域＃２」とあるのは、図示しないパ
スパタン照合器８内部の各領域照合回路の故障評定結果
を表す。さらに、「正常」は正常動作、「故障」は故障
動作、「故障＊」はいずれかの要素が故障、「不明」は
評定ができないことを表す。
【００１７】リスト情報出力部１０４は、リスト照合部
１０３による上記内容の故障評定リストの照合結果によ
り下記の評定結果を表す信号ｆを出力する。 （１）パスパタン領域＃１がパスパタンＡと一致し、パ
スパタン領域＃２がパスパタンＢと一致した場合は、全
ての評定区間で異常なし（項番２）。 （２）パスパタン領域＃１がパスパタンＢと一致し、パ
スパタン領域＃２がパスパスパタンＡと一致した場合
は、冗長切換器７自体が故障している（項番４）。 （３）パスパタン領域＃１，＃２がいずれもパスパタン
Ａと一致した場合は、切換器７が故障している。その原
因としてパスが０系側に張り付いた（１系統に切り替わ
らない）と評定することも出来るが、パスパタン照合器
８における領域＃２の照合回路の評定は不明となる。こ
の場合は、切換器７を含むハードウェアを交換し、再度
評定結果を参照すればよい（項番１）。 （４）パスパタン領域＃１がパスパタンＡと一致する
が、パスパタン領域＃２がパスパタンＡ，Ｂどちらにも
一致しない場合は、パスパタンＢ挿入器５が故障してい
る。しかし、パスパタン照合器８の領域＃２の照合回路
の故障の余地もある。この場合は、まずパスパタンＢ挿
入器５を含むハードウエアを交換し、再度評定結果を参
照すればよい（項番３）。その他の項番についても同様
にして故障評定が可能となる。
１０３による上記内容の故障評定リストの照合結果によ
り下記の評定結果を表す信号ｆを出力する。 （１）パスパタン領域＃１がパスパタンＡと一致し、パ
スパタン領域＃２がパスパタンＢと一致した場合は、全
ての評定区間で異常なし（項番２）。 （２）パスパタン領域＃１がパスパタンＢと一致し、パ
スパタン領域＃２がパスパスパタンＡと一致した場合
は、冗長切換器７自体が故障している（項番４）。 （３）パスパタン領域＃１，＃２がいずれもパスパタン
Ａと一致した場合は、切換器７が故障している。その原
因としてパスが０系側に張り付いた（１系統に切り替わ
らない）と評定することも出来るが、パスパタン照合器
８における領域＃２の照合回路の評定は不明となる。こ
の場合は、切換器７を含むハードウェアを交換し、再度
評定結果を参照すればよい（項番１）。 （４）パスパタン領域＃１がパスパタンＡと一致する
が、パスパタン領域＃２がパスパタンＡ，Ｂどちらにも
一致しない場合は、パスパタンＢ挿入器５が故障してい
る。しかし、パスパタン照合器８の領域＃２の照合回路
の故障の余地もある。この場合は、まずパスパタンＢ挿
入器５を含むハードウエアを交換し、再度評定結果を参
照すればよい（項番３）。その他の項番についても同様
にして故障評定が可能となる。
【００１８】このように、本実施例では、パスパタン照
合器８による第１段階の故障評定結果と切替器７から出
力されたパスパタン群の組合せとに基づいてパス区間毎
の故障評定を行うようにしたので、切替器７の機能（切
り替わるかどうか）を監視できるばかりでなく、障部位
（区間）の評定が可能になり、従来の問題点を一挙に解
消することができる。また、故障が発生した場合にはそ
の原因となったパス区間ないしハードウェアを特定する
ことができるので、故障発生時における保守作業の効率
が従来に比べて格段に向上する。特に、故障評定器１０
を、本実施例のように情報処理にて実現することにより
故障発生時のより迅速な対応が可能になる。なお、以上
は０／１系の冗長構成を採用するデータ伝送装置の説明
であるが、必ずしも上述の例に限定されるものでなく、
図３に示した故障評定リストの内容も任意に設定するこ
とが可能である。
合器８による第１段階の故障評定結果と切替器７から出
力されたパスパタン群の組合せとに基づいてパス区間毎
の故障評定を行うようにしたので、切替器７の機能（切
り替わるかどうか）を監視できるばかりでなく、障部位
（区間）の評定が可能になり、従来の問題点を一挙に解
消することができる。また、故障が発生した場合にはそ
の原因となったパス区間ないしハードウェアを特定する
ことができるので、故障発生時における保守作業の効率
が従来に比べて格段に向上する。特に、故障評定器１０
を、本実施例のように情報処理にて実現することにより
故障発生時のより迅速な対応が可能になる。なお、以上
は０／１系の冗長構成を採用するデータ伝送装置の説明
であるが、必ずしも上述の例に限定されるものでなく、
図３に示した故障評定リストの内容も任意に設定するこ
とが可能である。
【００１９】
【発明の効果】以上の説明から明かなように、本発明に
よれば、パスパタン照合結果の組み合わせも考慮される
ので、故障が発生した場合に、切換器の故障なのか切換
器より前の区間で故障したのか等の詳細な判定が出来、
故障部位の評定能力が高まる効果がある。これにより、
必要最低限のハードウエア交換で故障部位の修復が可能
になり、従来方式に比べて保守効率を向上させることが
できる。
よれば、パスパタン照合結果の組み合わせも考慮される
ので、故障が発生した場合に、切換器の故障なのか切換
器より前の区間で故障したのか等の詳細な判定が出来、
故障部位の評定能力が高まる効果がある。これにより、
必要最低限のハードウエア交換で故障部位の修復が可能
になり、従来方式に比べて保守効率を向上させることが
できる。
【図１】本発明の一実施例のブロック構成図。
【図２】本実施例による故障評定器の詳細ブロック構成
図。
図。
【図３】本実施例で用いる故障評定リストの一例を示す
説明図。
説明図。
【図４】従来例のブロック構成図。
【図５】パスパタンの挿入過程を示す説明図であり、上
段はパタンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂのデータ
構造、中段は切替制御パルスｃのデータ構造、（ｃ）は
切替器出力データｄの構造の例を示す。
段はパタンＡ挿入信号ａとパタンＢ挿入信号ｂのデータ
構造、中段は切替制御パルスｃのデータ構造、（ｃ）は
切替器出力データｄの構造の例を示す。
【図６】従来の故障評定結果を示す説明図。
４ パスパタンＡ挿入器 ５ パスパタンＢ挿入器 ６ 切替器制御パルス発生器 ７ 切替器 ８ パスパタン照合器 ９ データ出力端子 １０ 故障評定器 １１ 故障評定結果出力端子 １０１ 記憶装置 １０２ 識別処理部 １０３ リスト照合部 １０４ リスト情報出力部
Claims (2)
- 【請求項１】 入力データが通過する複数系統のパスの
いずれかを選択的に切り替えるデータ伝送系に於いて各
パスを通過する入力データの所定領域に当該系統固有の
パスパタンを各々系統数回挿入するパスパタン挿入手段
と、 特定のパスの系統を選択するための選択制御信号を生成
する手段と、 前記選択制御信号に基づき前記パスの系統を前記特定の
ものに切り替えるとともに当該データに挿入された前記
パスパタン群を所定の組み合せに再編して出力する切替
器と、 該切替器から出力される可能性のあるパスパタン群の組
合せと実際に出力されたパスパタン群の組合せとを照合
してその一致性を判定するパスパタン照合手段と、 該パスパタン照合手段による判定結果と前記切替器から
出力されたパスパタン群の組合せとに基づいてパス区間
毎の故障の有無を評定する故障評定器と、 を有することを特徴とするパスの切替動作監視方式。 - 【請求項２】 前記故障評定器は、 前記切替器から出力される可能性のあるパスパタン群の
組合せと前記パスパタン照合手段により判定される可能
性のある結果情報との組合せによりパス区間毎の故障の
有無を表す評定情報をリスト化して格納した記憶装置
と、 前記パスパタン照合手段の判定結果と前記切替器から出
力されたパスパタン群の組合せとを識別する識別手段
と、 この識別手段が識別した組合せに対応する評定情報を前
記記憶装置から抽出する評定情報抽出手段と、を備える
ことを特徴とする請求項１記載のパスの切替動作監視方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03783095A JP3259124B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | パスの切替動作監視方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03783095A JP3259124B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | パスの切替動作監視方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08237332A JPH08237332A (ja) | 1996-09-13 |
| JP3259124B2 true JP3259124B2 (ja) | 2002-02-25 |
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ID=12508455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03783095A Expired - Fee Related JP3259124B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | パスの切替動作監視方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3259124B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2624210B2 (ja) | 1995-02-01 | 1997-06-25 | 日本電気株式会社 | 装置内監視回路 |
-
1995
- 1995-02-27 JP JP03783095A patent/JP3259124B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2624210B2 (ja) | 1995-02-01 | 1997-06-25 | 日本電気株式会社 | 装置内監視回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08237332A (ja) | 1996-09-13 |
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