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JP3307262B2 - Method of forming solder bumps - Google Patents
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JP3307262B2 - Method of forming solder bumps - Google Patents

Method of forming solder bumps

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JP3307262B2 JP04193697A JP4193697A JP3307262B2 JP 3307262 B2 JP3307262 B2 JP 3307262B2 JP 04193697 A JP04193697 A JP 04193697A JP 4193697 A JP4193697 A JP 4193697A JP 3307262 B2 JP3307262 B2 JP 3307262B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、チップのアルミニ
ウムの電極上に半田バンプを形成する半田バンプの形成
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a solder bump on an aluminum electrode of a chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、チップの電極を基板の回路パター
ンに半田付けするために、予めチップの電極上に半田バ
ンプを形成することが行われる。
2. Description of the Related Art In recent years, in order to solder an electrode of a chip to a circuit pattern of a substrate, a solder bump is formed on the electrode of the chip in advance.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところがチップの電極
がアルミニウム電極の場合には、アルミニウムは半田ぬ
れ性が悪いため、アルミニウム電極上には半田バンプを
形成しにくい。そこで従来は、半田バンプを形成する以
前の半導体ウェハ工程において、チップの表面に半田ぬ
れ性がよい銅などの金属層をバリヤ層として形成し、こ
の金属層のうち、アルミニウム電極以外の部分をエッチ
ングで取り除いて電極を形成させることが行われてい
た。しかしながらこのような方法では、チップの表面に
金属層を形成したり、また金属層をエッチングにより除
去して電極を形成させる工程が新たに必要であるため、
工程が面倒であって生産性が上がらず、またコストアッ
プにもなるという問題点があった。
However, when the electrode of the chip is an aluminum electrode, it is difficult to form a solder bump on the aluminum electrode because aluminum has poor solder wettability. Therefore, conventionally, in a semiconductor wafer process before forming solder bumps, a metal layer such as copper having good solder wettability is formed as a barrier layer on the surface of the chip, and portions of this metal layer other than the aluminum electrode are etched. To form an electrode. However, such a method requires a new step of forming a metal layer on the surface of the chip or removing the metal layer by etching to form an electrode.
There is a problem that the process is troublesome, the productivity is not increased, and the cost is increased.

【0004】ところで、フリップチップなどをバンプに
より基板に接着する場合、バンプの高さはより高いこと
が望まれる。これは、高いバンプの方が、接合後に基板
とチップの熱膨張の差によって生じる熱変形をより吸収
しやすいこと、また基板のうねりなどによる高低差をよ
り吸収できることによる。
When a flip chip or the like is bonded to a substrate by bumps, it is desired that the height of the bumps be higher. This is because the higher bumps can more easily absorb the thermal deformation caused by the difference in thermal expansion between the substrate and the chip after bonding, and can more effectively absorb the difference in elevation due to the undulation of the substrate.

【0005】また、バンプとして半田バンプを形成する
場合がある。半田バンプの材料である半田を電極上に形
成する方法としては、クリーム半田をスクリーン印刷に
より電極上に塗布する方法が広く行われている。スクリ
ーン印刷法により電極上にクリーム半田を塗布して電極
上に半田バンプを形成する場合、半田バンプの高さを高
くするためには、より多量のクリーム半田を電極上に塗
布しなければならない。
In some cases, solder bumps are formed as bumps. As a method of forming solder, which is a material of a solder bump, on an electrode, a method of applying cream solder on the electrode by screen printing is widely used. When cream solder is applied on an electrode by screen printing to form a solder bump on the electrode, a larger amount of cream solder must be applied on the electrode to increase the height of the solder bump.

【0006】このためには、印刷マスクの厚さを厚くし
てパターン孔に充てんされるクリーム半田の量を多くし
なければならないが、印刷マスクの厚さを厚くするとパ
ターン孔からのクリーム半田の版抜け性が悪くなること
から、印刷マスクの厚さには限界があった。従ってスク
リーン印刷法では、電極上に多量のクリーム半田を塗布
して高い半田バンプを形成することは困難であった。
For this purpose, it is necessary to increase the thickness of the print mask to increase the amount of cream solder filled in the pattern holes. However, when the thickness of the print mask is increased, the cream solder from the pattern holes is increased. There was a limit to the thickness of the print mask due to poor plate-out performance. Therefore, in the screen printing method, it was difficult to form a high solder bump by applying a large amount of cream solder on the electrode.

【0007】また、上記の銅などの金属層で覆われた電
極上に半田バンプを形成する場合には、以下に述べるよ
うに電極の大きさによって半田バンプの高さがばらつく
という問題があった。すなわちチップによっては同一の
チップに異なる大きさの電極が形成されることがあり、
あるいは製造過程の誤差によっても各電極の大きさはば
らつくことがある。一般に、電極上に同一厚さのクリー
ム半田を塗布し溶融固化によって半田バンプを形成した
場合、半田バンプの底面形状や底面積はこれが付着する
電極の大きさで決定されるため、大きな電極上に形成さ
れる半田バンプの高さは、小さな電極上に形成される半
田バンプの高さより低くなる。このため同一のチップに
大きさの異なる電極が形成されている場合には、電極の
大きさによっては半田バンプの高さが異なり、実装に不
具合を生じるという問題点があった。
Further, when a solder bump is formed on an electrode covered with a metal layer such as copper, there is a problem that the height of the solder bump varies depending on the size of the electrode as described below. . That is, depending on the chip, electrodes of different sizes may be formed on the same chip,
Alternatively, the size of each electrode may vary due to an error in the manufacturing process. In general, when cream solder of the same thickness is applied on electrodes and solder bumps are formed by melting and solidifying, the bottom shape and bottom area of the solder bumps are determined by the size of the electrode to which they are attached. The height of the formed solder bump is lower than the height of the solder bump formed on the small electrode. For this reason, when electrodes having different sizes are formed on the same chip, the height of the solder bumps differs depending on the size of the electrodes, and there has been a problem that a failure occurs in mounting.

【0008】そこで本発明は、チップのアルミニウム電
極上に、高さが高く、しかも高さの均一な半田バンプを
形成できる半田バンプの形成方法を提供することを目的
とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a solder bump forming method capable of forming a solder bump having a high height and a uniform height on an aluminum electrode of a chip.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の半田バンプの形
成方法は、チップのアルミニウムの電極上にワイヤボン
ディングにより上方へ突出するテールを有する銅バンプ
を形成する工程と、電極の位置に合わせて複数のパター
ン孔が形成された印刷マスクをチップの上に重ね、印刷
マスク上をスキージを摺動させてパターン孔の中にクリ
ーム半田を充てんし、次いで印刷マスクをチップから分
離することにより前記銅バンプをコアとして前記銅バン
及び前記電極を被覆するクリーム半田を塗布する工程
と、チップを加熱してクリーム半田を溶融させて前記電
極上で溶融したクリーム半田を前記銅バンプ上に吸い寄
、次いで冷却固化させることにより前記電極上に半田
バンプを形成する工程と、を含む。
According to the present invention, there is provided a method of forming a solder bump, comprising the steps of forming a copper bump having a tail projecting upward by wire bonding on an aluminum electrode of a chip, and adjusting the position of the electrode. The printing mask having a plurality of pattern holes formed thereon is overlaid on a chip, a squeegee is slid over the printing mask to fill the pattern holes with cream solder, and then the printing mask is separated from the chip by removing the copper from the chip. a step of the cream solder to the coating fabric for covering the copper bumps and the electrode bump as a core, the photoelectrically by heating the chips to melt the solder paste
The cream solder melted on the extreme is sucked onto the copper bump.
It was followed and forming a solder bump on the electrode by cooling and solidifying.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】上記構成の本発明によれば、チッ
プのアルミニウムの電極上に上方へ突出するテールを有
する銅バンプを形成し、この銅バンプを覆うように印刷
マスクによりクリーム半田を塗布するので、印刷マスク
の厚さを厚くして塗布されるクリーム半田の量を増やし
た場合にも、クリーム半田は電極上の銅バンプの表面に
しっかり付着する。しかもこの場合、銅バンプの形状は
球状であって、その表面積は大きいので、クリーム半田
は銅バンプの表面にきわめてしっかり付着することとな
り、その結果クリーム半田を版抜け性よくかつ形崩れな
く電極上に塗布できる。また電極上の半田バンプの体積
は、銅バンプとクリーム半田の体積の和となるので、高
さが高く、しかも高さの均一な半田バンプを形成するこ
とができる。
According to the present invention having the above-mentioned structure, a tail which projects upward on the aluminum electrode of the chip is provided.
Since the copper solder is formed and cream solder is applied by a print mask so as to cover the copper bump, even if the thickness of the print mask is increased and the amount of applied cream solder is increased, the cream solder is It adheres firmly to the surface of the copper bump on the electrode. In addition, in this case, the shape of the copper bump is spherical and its surface area is large, so that the cream solder adheres very firmly to the surface of the copper bump, and as a result, the cream solder is easily removed from the electrode and is not deformed on the electrode. Can be applied to In addition, the volume of the solder bump on the electrode is the sum of the volume of the copper bump and the volume of the cream solder, so that a solder bump having a high height and a uniform height can be formed.

【0011】次に、図面を参照して本発明の実施の形態
を説明する。図1、図2、図3、図4、図5、図6は、
本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法の工程説
明図である。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1, 2, 3, 4, 5, and 6 are:
FIG. 4 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to one embodiment of the present invention.

【0012】図1において、1はチップであり、その上
面にはアルミニウムの電極2が形成されている。また、
チップ1上面の電極2以外の部分は、SiO2等を成分
とする保護膜3が形成されている。4は、ワイヤボンダ
のキャピラリツールであって、ワイヤ5が挿通されてい
る。ワイヤボンダは、キャピラリツール4の下端部から
導出するワイヤ5の下端部にトーチ(電極)を近づけて
トーチとの間に電気的スパークを発生させ、ワイヤ5の
下端部にボール5a形成した後、このボール5aをキャ
ピラリツール4の下面でチップ1の電極2に押しつけて
ボンディングし(図1)、次いでキャピラリツール4を
上昇させるとともに、ワイヤ5を引き上げてワイヤ5を
切断するものである。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a chip, on which an aluminum electrode 2 is formed. Also,
On a portion other than the electrode 2 on the upper surface of the chip 1, a protective film 3 containing SiO2 or the like as a component is formed. Reference numeral 4 denotes a capillary tool of a wire bonder, through which a wire 5 is inserted. The wire bonder brings the torch (electrode) close to the lower end of the wire 5 drawn out from the lower end of the capillary tool 4 to generate an electric spark between the wire bonder and the torch. The ball 5a is pressed against the electrode 2 of the chip 1 on the lower surface of the capillary tool 4 for bonding (FIG. 1), and then the capillary tool 4 is raised and the wire 5 is pulled up to cut the wire 5.

【0013】図2は、このようにして電極2上に銅バン
プ(ボール)5aが形成された状態を示す。5’はワイ
ヤを切断することによって生じたワイヤ5の切れ端(以
下、「テール」という)である。
FIG. 2 shows a state in which copper bumps (balls) 5a are formed on the electrodes 2 in this manner. 5 'is a cut end (hereinafter, referred to as "tail") of the wire 5 generated by cutting the wire.

【0014】次に、銅バンプ5aが形成された電極2上
に次のようにしてクリーム半田10が塗布される。図3
において、6は印刷マスクであり、電極2の位置に合わ
せて複数のパターン孔7が設けられている。印刷マスク
6はチップ1上に位置合わせして重ねられ、印刷マスク
6の上面にはクリーム半田10が供給される。図4に示
すように、スキージ9を印刷マスク6上を右方へ摺動さ
せることにより、パターン孔7内には銅バンプ5aを覆
うようにクリーム半田10が充てんされる。
Next, the cream solder 10 is applied on the electrode 2 on which the copper bumps 5a are formed as follows. FIG.
In the figure, reference numeral 6 denotes a printing mask, in which a plurality of pattern holes 7 are provided in accordance with the positions of the electrodes 2. The print mask 6 is positioned and overlapped on the chip 1, and cream solder 10 is supplied to the upper surface of the print mask 6. As shown in FIG. 4, by sliding the squeegee 9 rightward on the print mask 6, the cream solder 10 is filled in the pattern holes 7 so as to cover the copper bumps 5a.

【0015】次に、図5に示すように、印刷マスク6が
チップ1から分離され、パターン孔7内のクリーム半田
10は電極2上に塗布される。この場合、電極2上に塗
布されたクリーム半田10は表面積の大きい球状の銅バ
ンプ5aやこれから上方へ突出するテール5’の表面に
付着するので、クリーム半田10を版抜け性よく電極2
側に転写して形崩れなく電極2上に塗布できる。このた
め、従来よりも印刷マスク6の厚さをより厚くして、よ
り多量のクリーム半田10を塗布できる。
Next, as shown in FIG. 5, the print mask 6 is separated from the chip 1, and the cream solder 10 in the pattern hole 7 is applied on the electrode 2. In this case, the cream solder 10 applied to the electrode 2 adheres to the surface of the spherical copper bump 5a having a large surface area and the surface of the tail 5 'projecting upward therefrom.
It can be transferred to the side and can be applied on the electrode 2 without deformation. For this reason, the thickness of the print mask 6 can be made thicker than before, and a larger amount of cream solder 10 can be applied.

【0016】この後、チップ1はリフロー工程に送られ
る。そこでクリーム半田10は加熱されて溶融し、その
表面張力により電極2上で球状となり、次いで冷却固化
されることにより、電極2上に半田バンプ10aが形成
される。図6は、半田バンプ10aが形成された状態を
示す。この場合、電極2の材質であるアルミニウムは半
田ぬれ性が悪いことから、リフローで溶融したクリーム
半田は電極2の上面からはじかれ、ぬれ性のよい銅バン
プ5aに吸い寄せられる。すなわち半田バンプ10aの
底面の形状は銅バンプ5aの底面の形状によって決定さ
れ、電極2の大きさや形状には影響されない。したがっ
て、銅バンプ5aが均一に形成されていれば、電極2の
大きさのばらつきにかかわらず常に高さや体積が均一な
半田バンプ10aが形成される。
Thereafter, the chip 1 is sent to a reflow process. Then, the cream solder 10 is heated and melted, becomes spherical on the electrode 2 by its surface tension, and then cooled and solidified to form a solder bump 10 a on the electrode 2. FIG. 6 shows a state where the solder bumps 10a are formed. In this case, since aluminum as a material of the electrode 2 has poor solder wettability, the cream solder melted by reflow is repelled from the upper surface of the electrode 2 and is attracted to the copper bump 5a having good wettability. That is, the shape of the bottom surface of the solder bump 10a is determined by the shape of the bottom surface of the copper bump 5a, and is not affected by the size or shape of the electrode 2. Therefore, if the copper bumps 5a are formed uniformly, the solder bumps 10a having a uniform height and volume are always formed regardless of the variation in the size of the electrodes 2.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、電極上に上方へ突出す
るテールを有する銅バンプを形成した上で、印刷マスク
によりクリーム半田を塗布するようにしているので、ク
リーム半田は電極上の銅バンプの表面に付着し、したが
って印刷マスクのパターン孔からの版抜け性がよく、ク
リーム半田を形崩れなく十分な厚さで電極上に塗布でき
る。しかも銅バンプの形状は表面積の大きい球状であ
り、かつ銅バンプは一般に上方へ突出するテールを有す
るので、クリーム半田は銅バンプの表面にきわめてしっ
かり付着することとなり、その結果、クリーム半田をき
わめて版抜け性よく電極に塗布できる。また電極上に形
成されるバンプの体積は、銅バンプとクリーム半田の体
積の和となるので、バンプの体積を大きくして高さの高
い半田バンプを形成できる。また、クリーム半田を加熱
して溶融させると、溶融したクリーム半田はぬれ性の悪
いアルミニウムの電極にはじかれてぬれ性のよい銅バン
プに吸い寄せられるので、バンプの底面積はアルミニウ
ムの電極の大きさには左右されず、従ってアルミニウム
の電極の大きさにばらつきがあっても、高さのばらつき
のないバンプを形成することができる。さらには、従来
必要であったバリヤ層としての金属膜の形成設備やエッ
チング設備などの高価な設備を必要としないので、コス
トを低減し、生産性を上げることができる。
According to the present invention, the electrode projects upward on the electrode.
Since the cream solder is applied by the print mask after forming the copper bump with the tail , the cream solder adheres to the surface of the copper bump on the electrode, and thus the printing mask is removed from the pattern hole of the print mask. It has good properties and can apply cream solder on electrodes with sufficient thickness without shape loss. In addition, since the shape of the copper bump is spherical with a large surface area, and the copper bump generally has a tail protruding upward, the cream solder adheres very firmly to the surface of the copper bump. It can be applied to electrodes with good removability. Since the volume of the bump formed on the electrode is the sum of the volume of the copper bump and the volume of the cream solder, the volume of the bump can be increased to form a high-height solder bump. Also, when the cream solder is heated and melted, the melted cream solder is repelled by the poorly wettable aluminum electrode and attracted to the wettable copper bump, so the bottom area of the bump is the size of the aluminum electrode. Therefore, even if the size of the aluminum electrode varies, a bump having no variation in height can be formed. Furthermore, since expensive facilities such as a facility for forming a metal film as a barrier layer and an etching facility that are conventionally required are not required, costs can be reduced and productivity can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 1 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention;

【図2】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 2 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention;

【図3】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 3 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention;

【図4】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 4 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention;

【図5】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 5 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention;

【図6】本発明の一実施の形態の半田バンプの形成方法
の工程説明図
FIG. 6 is a process explanatory view of a method for forming a solder bump according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チップ 2 電極 3 保護膜 4 キャピラリツール 5 ワイヤ 5a 銅バンプ 5’ テール 6 印刷マスク 9 スキージ 10 クリーム半田 10a 半田バンプ Reference Signs List 1 chip 2 electrode 3 protective film 4 capillary tool 5 wire 5a copper bump 5 'tail 6 print mask 9 squeegee 10 cream solder 10a solder bump

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】チップのアルミニウムの電極上にワイヤボ
ンディングにより上方へ突出するテールを有する銅バン
プを形成する工程と、電極の位置に合わせて複数のパタ
ーン孔が形成された印刷マスクをチップの上に重ね、印
刷マスク上をスキージを摺動させてパターン孔の中にク
リーム半田を充てんし、次いで印刷マスクをチップから
分離することにより前記銅バンプをコアとして前記銅バ
ンプ及び前記電極を被覆するクリーム半田を塗布する工
程と、チップを加熱してクリーム半田を溶融させて前記
電極上で溶融したクリーム半田を前記銅バンプ上に吸い
寄せ、次いで冷却固化させることにより前記電極上に半
田バンプを形成する工程と、を含むことを特徴とする半
田バンプの形成方法。
A step of forming a copper bump having a tail protruding upward by wire bonding on an aluminum electrode of the chip; and forming a print mask having a plurality of pattern holes in accordance with the position of the electrode on the chip. , A squeegee is slid over the print mask to fill the pattern holes with cream solder, and then the print mask is separated from the chip to cover the copper bumps and the electrodes with the copper bumps as cores. a step of coating the fabric solder, said heated tip is melted cream solder
Suck cream solder melted on the electrodes onto the copper bumps
Asked, then the method of forming the solder bump, characterized in that it comprises a step of forming a solder bump on the electrode by cooling and solidifying.
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